HP3070操作教學(xué)講解

1、HP3070 ICT操作訓(xùn)練教學(xué)大綱及要求制作人：徐華2005年11月15日、ICT設(shè)備基本認(rèn)識(shí)1、ICT設(shè)備的整體結(jié)構(gòu)每一臺(tái)HP3070測(cè)試機(jī)都包括兩大部分：測(cè)試控制電腦(Controller)和測(cè)試機(jī)本體(Testhead)。測(cè)試控制電腦包括電腦主機(jī)、顯示器、打印機(jī)、鍵盤(pán)、鼠標(biāo)、掃描器等。它們主要完成測(cè)試的軟 件支援、程序的提供和人工控制?，F(xiàn)大部分HP3070的測(cè)試控制電腦所裝的都是HP-UX操作系統(tǒng)，最新的裝的是 Windows2000操作系統(tǒng)。而測(cè)試軟件是BT-BASIC ( Board Test Basic)語(yǔ)言。測(cè)試機(jī)本體則有電源供應(yīng)器(Support Bay)和測(cè)試頭(Testh

2、ead)。3070系列產(chǎn)品不同它的電源供應(yīng)器 和測(cè)試頭都是不一樣的(以下說(shuō)明都是以3073為例)。電源供應(yīng)器由部電源(Ma in Power)、電源分配器(Power Distribution Un it )和測(cè)試電源供應(yīng)器(DUT Supply )組成。這些都存在一個(gè)大 箱子里，由專用的電纜線和固定的形式連在一起。測(cè)試頭是測(cè)試機(jī)的主體，它由四個(gè)測(cè)試模組(Module )組成(我們公司現(xiàn)每臺(tái)機(jī)只有兩個(gè)模組)。它們被安置在一個(gè)可以旋轉(zhuǎn)的箱子里，通過(guò)測(cè)試系統(tǒng)卡(System Card)連接到測(cè)試控制電腦，每一個(gè)電源供應(yīng)器對(duì)應(yīng)一個(gè)測(cè)試模組，從而 構(gòu)成了整個(gè)HP3070測(cè)試機(jī)。2、ICT附屬設(shè)備HP3

3、070的附屬設(shè)備有四組真空氣壓( Vacuum)、一組壓縮空氣(Compress Air )、自檢盒 (Diagnostics Box )、找點(diǎn)筆(Probe Finder)、腳踏開(kāi)關(guān)(Foot Switch )和一些測(cè)試備件 (Spare Parts)等。、ICT治具的基本結(jié)構(gòu)現(xiàn)代ICT治具各式各樣，以下以本公司現(xiàn)有治具為例介紹。一臺(tái)ICT治具包括一套針床、一個(gè)載板、上蓋、下蓋、真空口、多工卡(MUX )、TestJet、探針(probe)、P-P ins、定位柱(Tolli ng Pi ns)、繞線等組成。ICT測(cè)試不良報(bào)告分析r401 HAS FAILEDr57 HAS FAILEDr5

4、7 HAS FAILEDMeasured:153.42KMeasured:161.71Measured:75.240Nomi nal:33.000Nomi nal:124.00Nomi nal:124.00High Limit:36.300High Limit:156.62High Limit:155.62Low Limit:29.700Low Limit:92.008Low Limit:92.008Resista nee in OHMSResista nee in OHMSResista nee in OHMS上面是三種常見(jiàn)的在測(cè)試電阻時(shí)可能出現(xiàn)的錯(cuò)誤，1表示測(cè)試值已遠(yuǎn)遠(yuǎn)的超出允許范圍，主要

5、有下面幾種原因：1.此物料缺件；2.此物料虛焊或立件之類；3板底測(cè)試錫點(diǎn)未上錫或植錫不良；4若是重復(fù)出現(xiàn)，則可能探針有問(wèn)題。2表示測(cè)試值微大于允許上限，此類不良有：1板底測(cè)試錫點(diǎn)植錫不良或探針磨損，基本上可斷定為NDF ； 2板子本身有問(wèn)題，送維修。3表示測(cè)試值稍微低于允許下限，此類不良一般一說(shuō)都是不良品，可直接送維修。有一種特殊情況，若測(cè)試值是實(shí)際值的一半左右(62.000)時(shí)，則有可能是兩邊同時(shí)放板的原因，請(qǐng)拿出治具另外一邊的板即可。當(dāng)然，上面三種都有可能是測(cè)試程序未調(diào)試好，測(cè)試員可叫TE人員進(jìn)行調(diào)試，只是這種情況很少，因?yàn)橥ǔＧ闆r下，TE人員會(huì)把所有的測(cè)試程序調(diào)試好之后才讓生產(chǎn)直接人員去

6、測(cè)試的。e35 HAS FAILEDe57 HAS FAILEDe57 HAS FAILEDMeasured:5.134pMeasured:684.62pMeasured:212.15pNomi nal:370.00pNomi nal:370.00pNomi nal:370.00pHigh Limit:607.91pHigh Limit:607.91pHigh Limit:607.91pLow Limit:260.85pLow Limit :260.85pLow Limit :260.85pResista nee in OHMSResista nee in OHMSResista nee in

7、 OHMS上面是三種常見(jiàn)的在測(cè)試電容時(shí)可能出現(xiàn)的錯(cuò)誤，表示測(cè)試值已遠(yuǎn)元的超出允許范圍，主要有下面幾種原因；1此物料缺件；2此物料虛焊或立件之類；3板底測(cè)試錫點(diǎn)未上錫或植錫不良；4若是重復(fù)出現(xiàn)，則可能探針有問(wèn)題。表示測(cè)試值稍微大于允許上上限，此類不良一般來(lái)說(shuō)都是不良品，可直接送維修。有一種特殊情況，若測(cè)試值是實(shí)際值的一倍左右（740.00p ）時(shí)，則有可能是兩邊同時(shí)放有板的原因，請(qǐng)拿出治具另外一邊板即可。表示測(cè)試值稍微小于允許下限，此類不良有：1板底測(cè)試錫點(diǎn)植錫不良或探針磨損，基本上要斷定為NDF ； 2板子本身有問(wèn)題，送維修。當(dāng)然，跟隨上面的電阻一樣，上面三種有可能是測(cè)試程序未調(diào)好，測(cè)試員可叫

8、TE人員進(jìn)行調(diào)試。R210 HAS FAILEDMeasured:-18.815KThreshold:20.000Jumper Resista nee in OHMS出現(xiàn)這種問(wèn)題，只有如下情況：1.此物料缺件；2.此物料虛焊或立件之類；3.板底測(cè)試錫點(diǎn)未上錫或植錫不良；4.探針有問(wèn)題。Open#1 Device u5g1Pin M4 Node GTL_A18Measured 44(BRC 22328)出現(xiàn)這種問(wèn)題，只有如下情況：1.此物料的管腳虛焊或焊接不良；2.板底測(cè)試錫點(diǎn)未上錫或植錫不良；3.探針有問(wèn)題；4.TestJet有問(wèn)題，通知TE人員。一般情況下，Measured大于10很有可能是

9、 NDF，小于10大于0為壞板，小于 0或者為負(fù)值就 要去量線路有沒(méi)有斷線或IC管腳是否空焊。四、ICT開(kāi)機(jī)和關(guān)機(jī)操作開(kāi)機(jī)1）打開(kāi)直流電源供應(yīng)器；2）打開(kāi)測(cè)試臺(tái)電源；3）打開(kāi)服務(wù)器電源。1 登入服務(wù)器Hf*2）請(qǐng)輸入testhead power on”輸入完畢后按 OK或按回車鍵。SWSft -m-vtKr. ledXCmOEJQ CN4CADTesth power onInLnrri Ex 曲 OfiT 吐h肚wr來(lái)：rks魯MwCiww1.1魚(yú)山駅tl76fi _1tnriHl 1p l uhrr U jiMkptYtnAOKmMFmfta-m: .VHt. I jptwsIEni -3）

10、啟動(dòng)測(cè)試機(jī)器后，在顯示器上方會(huì)跳出一個(gè)菜單選項(xiàng)，如下圖.| opcrainr如Ir4）此時(shí)在BT-BASIC窗口輸入程序路經(jīng)（msi ：.）（如圖）：UWihWUhIPGlMri 匸 XriiJCardJOJIEJlfK4*nCns. izczni|M77LUjiir .JnZI IZIMi 1 “7 1 Z0-ion b-BD DCTh.T&T1174W.irTMlkTwMo*IIBtHKil%：4VO 3 rILIWTheHhmiPirtns t BU-| 口中l(wèi)t：4!da vkDScwifki E H CnIr L,/C-Zlqi. I*ii X/V/b-Bai f-llh/ILTIH

11、 LJkisbMHUi LDiTiE! mnrFH D Ij 1|*區(qū) li iDS-EU V *b-a-i： 1 EIMHTklinnp-b|i Lainiih iili CKiHhll 1可Wf e1 1 li*5）此時(shí)在 BT-BASIC 窗口輸入 gettestplan6）此時(shí)在 BT-BASIC 窗口輸入 load board：7）用鼠標(biāo)點(diǎn)擊tart如圖汨7 Z M8）掃條碼9）按”START”開(kāi)始測(cè)試，或按F1開(kāi)始測(cè)試.二 關(guān)機(jī)1. 停止測(cè)試程序后，用鼠標(biāo)擊STOP按鍵退出測(cè)試程序。2. 在 BT-BASIC 窗口輸入 ”esth power off ”后回車.3. 用鼠標(biāo)擊EXI

12、T按鍵退出測(cè)試。五、設(shè)備和治具的日常保養(yǎng)1、設(shè)備的日常保養(yǎng)。2、治具的日常保養(yǎng)。仝.廿 參考。六、測(cè)試工具的使用1) board graphicsstop，然后按下 graphics按鈕，打1.首先終止測(cè)試程序，按下菜單選項(xiàng)上的紅色按鈕 開(kāi) board graphics，如圖：Agllmt 日耐r1Viewer /F=/c?ftvih;B43 DrMEfifl 口吋Tn-hrth Mi 5-Ovurvuju/T JilTIJiiTI mPrtvlous ViewLocations: JfDrviicE Outlines: Lt Krcpoul Arctic:廠j.Fille Taks Sear

13、ch Versi-on Tools廠 SlStUSNotes:Full ViewRedrawOutlines J Tooling HolesInClear Hlqhllghts!Z oom ToHl/dqhWversion: * EHlSE HDFIHII *View:Top ViewCursor:Devices with no X- data:calclCdi|；4 c-a2cl caZZcZg-b3j!； 1 caJXcZ ：.1323； 皿珈*G44C1 c *4c 2 c.ii4Zc f：rl4if：4 斗i“53 c：.ii5Z：4I cfli6/c22.查找元件在測(cè)試板上的位置。點(diǎn)

14、擊board graphics菜單的 Search按鈕下的ForDevices，如圖Xc4雄2h3Xe4aIXvl alXcZ alX3evlCE3 witli H&x-V dta:Version: IHHif IIIFHU V1Wl JU.WJ1|J1Curaf：Tench thW廠 Sl#tU3: Rc-bPlotEI：ForHde,.I?近T曽；區(qū)Bottom lop&4Xa3 4Xc-4 a5XJ 時(shí)媲 d5X3： H聃衣 asrcl3.出現(xiàn)search specification窗口，在 Designator下輸入需要查找的元件，如圖:Notes:Aflllwl: Brd Gr-1O

15、I XlHighlight DeviceVersion: * BfiView:u41caIIq calZ&4I 皿畑 caZXc3 caIi：4匚日畀c2 n：3 ca3Xr:4 calJIcI 站畑 ca4?tc3cdSXcl 匸日為匚caSJc4Specify the 1 tww f.o f ind bg il ieking on it in the 1 iat typing 1 ti nMe Io fht fl左畀叩WE口（J甘 Hjiiiwt11 fI1 d.r Stwtus: RdFesil。劌I啊 Type：J Outlines J To oling HoIeIu?7Device-

16、s with no X-V daU:Tenth Hila；Shtow D粧pF or Device4.點(diǎn)擊Highlight Device 按鈕就可以找到該元件的所在位置，點(diǎn)擊Show Data For Device可以出現(xiàn)該元件詳細(xì)的信息，如該元件的測(cè)試點(diǎn)。如圖:/VCC3_CLNo ProbeREi_aK_fiEfli3；Iwil. trilk*HinAclibHS- Option!sIsEorhr-inn合口 d 0 00*口 口口 QD nrnnnnnmnrnnrmim GEJE.ar竺 3JJ:Hldtf 莎 O 3 on5.上圖亮白色的元件就是所要查找的，Pin 1和Pin 2告訴

17、你該元件的兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)。2) fixture consultantF fix cons按鈕，打開(kāi)1.首先終止測(cè)試程序，按下菜單選項(xiàng)上的紅色按鈕stop，然后按fixture consultant，如圖:-|D| X|ntFIXi”也rKLdtMih jTF=/c?.i nib.iflB43 nOfiSSQ no；HelpHie Tks Search OptionsMotrs： This fiMture hus been laade-dFull View RedrawHrrvioLis 址iuwZoomZoomOutil川 Clear highlightsOverviewFixture Coordinates:Units:Te-nth Hila-Roardl Coordinates:View:2.查找測(cè)試點(diǎn)。點(diǎn)擊 fixture consultant菜單上的Search按鈕下的For Node按鈕，出現(xiàn) Search Specification Form窗口，輸入需要查找的測(cè)試點(diǎn)，按下Show Data按鈕，即可找到該測(cè)試點(diǎn)，如圖：3. 如果還未找到測(cè)試點(diǎn)，用鼠標(biāo)右鍵點(diǎn)擊Probe,則可以找到，如圖:ll卩辭I4.如果不了解測(cè)試點(diǎn)的具體位置，可以點(diǎn)擊Zoom In和Zoom Out按鈕放大和縮小窗口,如圖：P redout W