京東方CellTest流程介紹

1、 cell test cell test 工藝介紹工藝介紹 制造制造testtest 何寶何寶 2007.92007.9月月 1.cell test入門 2.cell test不良分析 3.visual inspection spec. 1.1.制定良否的標(biāo)準(zhǔn)制定良否的標(biāo)準(zhǔn) 由工程師來制定良品還是不良品之間的標(biāo)準(zhǔn)，這一標(biāo)準(zhǔn)一丁 點(diǎn)的偏差都可能造成對眾多panel定級(jí)上的錯(cuò)誤，這是test工 作最重要的地方。 2.2.提高成品率：修理任務(wù)提高成品率：修理任務(wù) 量產(chǎn)過程中，成品率中有大約10的比例通過repair工序， 可見repair工作的重要性 3.及時(shí)反饋不良信息及時(shí)反饋不良信息 test在

2、制定了優(yōu)劣的標(biāo)準(zhǔn)后重要的是及時(shí)將不良發(fā)生情況向 制造技術(shù)以及研發(fā)等相關(guān)部門溝通 1.cell test入門 cell testcell test任務(wù)任務(wù) cell test 任務(wù)流程 cell test cell repair cell sorter cell testcutting module cell test 1st ct1st ct test 設(shè)備點(diǎn)燈 test 時(shí)所有不良檢出： 電器性，目視性不良；確定 l/r address 并傳 送panel grade 區(qū)分: p,s,t, q, repair, ng sortersorter 根據(jù)目的對混合的panel進(jìn)行分類： l/r,

3、q級(jí), e-ng, v-ng etc. laser repairlaser repair 在 laser 設(shè)備實(shí)施 repair，輸入不良類型 data 2nd ct2nd ct判定l/r或rework 成功與否，區(qū)分可再次 repair 的panel，同時(shí)檢出新不良 bubble reworkbubble reworkv-ngv-ng e-nge-ng 對小型bubble進(jìn)行 加熱以消除之 ct in shipping cutting scrap cell test flow:cell test flow: cell shipping 15100 cell test a p/s/t grad

4、e 1510415102 cell repair1 ng scrap 15105 cell rework pixel repair (p) no repair (h) y-rework p/s/t/q grade 15109 x-rework reliability 14110 visual inspection manual sampling (?) laser repair () 15106 other repair ( p) cell repair2 15103 ng bank r,s q/n grade pnl sorter 電算系統(tǒng)流程圖 cell test設(shè)備 中所示，中所示，”c

5、ontact” button 控制設(shè)備控制設(shè)備 contact/align position; “align” realign 設(shè)備設(shè)備 重新重新contact 中所示，中所示，” button shift move ap 的的w/t,使使contact 狀態(tài)達(dá)到最好狀態(tài)達(dá)到最好,shift 單位分別單位分別 為為5m,10m；”start” 控制設(shè)備控制設(shè)備 running/pause 中所示，中所示，”uncontact” button 控制設(shè)備控制設(shè)備 contact/align position; “realign” 設(shè)備重新設(shè)備重新 contact 中所示，中所示，” button

6、shift move ap 的的w/t,使使contact 狀態(tài)達(dá)到最好狀態(tài)達(dá)到最好,shift 單位分別單位分別 為為5m,10m；”start” 控制設(shè)備控制設(shè)備 online/offline 中中”reset”為設(shè)備發(fā)生為設(shè)備發(fā)生error時(shí)，處理之后，時(shí)，處理之后， 點(diǎn)擊使設(shè)備恢復(fù)到正常量產(chǎn)狀態(tài)；進(jìn)入其他點(diǎn)擊使設(shè)備恢復(fù)到正常量產(chǎn)狀態(tài)；進(jìn)入其他 mode時(shí)，點(diǎn)擊時(shí)，點(diǎn)擊”pause” button 設(shè)備操作軟件 align error時(shí)，進(jìn)入時(shí)，進(jìn)入unit mode，adjust 中的中的” 根據(jù)中間的數(shù)值，進(jìn)行調(diào)整；根據(jù)中間的數(shù)值，進(jìn)行調(diào)整； 左右旋轉(zhuǎn)按鈕即按照中間數(shù)值移動(dòng)左右旋轉(zhuǎn)按

7、鈕即按照中間數(shù)值移動(dòng)w/t v/w兩兩 個(gè)軸，旋轉(zhuǎn)個(gè)軸，旋轉(zhuǎn)w/t進(jìn)行調(diào)整。進(jìn)行調(diào)整。 *點(diǎn)擊點(diǎn)擊”contact”時(shí)，一定先點(diǎn)時(shí)，一定先點(diǎn)”realign” *注意使注意使w/t旋轉(zhuǎn)時(shí)單位不要設(shè)的太大旋轉(zhuǎn)時(shí)單位不要設(shè)的太大 *od value值不能太大值不能太大70um align error時(shí)，進(jìn)入時(shí)，進(jìn)入unit mode，adjust 中的中的” 根據(jù)中間的數(shù)值，進(jìn)行調(diào)整；根據(jù)中間的數(shù)值，進(jìn)行調(diào)整； 左右旋轉(zhuǎn)按鈕即按照中間數(shù)值移動(dòng)左右旋轉(zhuǎn)按鈕即按照中間數(shù)值移動(dòng)w/t v/w兩兩 個(gè)軸，旋轉(zhuǎn)個(gè)軸，旋轉(zhuǎn)w/t進(jìn)行調(diào)整。進(jìn)行調(diào)整。 *點(diǎn)擊點(diǎn)擊”contact”時(shí)，一定先點(diǎn)時(shí)，一定先點(diǎn)”ali

8、gnment” “emo” 作用：設(shè)備發(fā)生異常時(shí)，應(yīng)及時(shí)按下作用：設(shè)備發(fā)生異常時(shí)，應(yīng)及時(shí)按下 emo，按下后可使設(shè)備斷電，停止所有馬達(dá)的，按下后可使設(shè)備斷電，停止所有馬達(dá)的 運(yùn)轉(zhuǎn)，起到保護(hù)設(shè)備和操作人員免受傷害的作運(yùn)轉(zhuǎn)，起到保護(hù)設(shè)備和操作人員免受傷害的作 用。用。 注意：注意： 由于由于s/t tilting up/down 由氣缸驅(qū)動(dòng)，如該配由氣缸驅(qū)動(dòng)，如該配 件發(fā)生件發(fā)生error，“emo”不起作用，請一定注意！不起作用，請一定注意！ emo switch emo位置位置 safety sensor sub table側(cè)側(cè) 2ea work table側(cè)側(cè) 2ea 為了保證設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)下

9、操作人員的安全，為了保證設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)下操作人員的安全，c/t設(shè)備上都設(shè)置了設(shè)備上都設(shè)置了safety sensor。 當(dāng)設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)下，操作人員的任何部位或是任何物品進(jìn)入感知區(qū)域就會(huì)觸發(fā)報(bào)警，設(shè)當(dāng)設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)下，操作人員的任何部位或是任何物品進(jìn)入感知區(qū)域就會(huì)觸發(fā)報(bào)警，設(shè) 備停止運(yùn)行，起到保證安全的作用。由于設(shè)備的突然停止會(huì)對硬件部件造成損傷，所以備停止運(yùn)行，起到保證安全的作用。由于設(shè)備的突然停止會(huì)對硬件部件造成損傷，所以 應(yīng)避免頻繁觸發(fā)應(yīng)避免頻繁觸發(fā)safety sensor。 winforsys ui主界面 1 2 3 4 5 6 7 panel judge界面 注意注意:不要點(diǎn)不要點(diǎn) 錯(cuò)錯(cuò)

10、grade，以，以 及漏點(diǎn)、誤點(diǎn)及漏點(diǎn)、誤點(diǎn) defect code cell test所有的不良判定都是在這個(gè)畫面下進(jìn)行的所有的不良判定都是在這個(gè)畫面下進(jìn)行的. 判級(jí)順序?yàn)椋号袛嗯屑?jí)順序?yàn)椋号袛鄍anel級(jí)別級(jí)別點(diǎn)擊對應(yīng)的點(diǎn)擊對應(yīng)的 reasoncode， mura level，如許，如許repair的上傳地的上傳地 址，址，把把code點(diǎn)在觸摸屏點(diǎn)在觸摸屏panel模擬區(qū)的相應(yīng)位置上模擬區(qū)的相應(yīng)位置上 最后點(diǎn)擊最后點(diǎn)擊result測試測試next panel。 back light pattern generator data sourcing gate scanning appearan

11、ce inspectionlighting inspection environment -. ambient temperature : 25 3 , -. humidity : 65 20% rh -. viewing distance : 30cm from the surface of the module -. viewing angle : 40 in horizontal direction, 25 in vertical direction -. ambient illumination : 1,000 200 lux (appearance), 200 50 lux (lig

12、hting)，300 50 lux (gray) method defectpolarize, broken, burr etc.pixel, line, mura, pol etc. 1000 200 lux visual insp. visual insp. inspector inspector cell test檢查環(huán)境 30cm cell test測試范圍: 檢查用pattern no.patterndescription 1 1 checker sub2： pattern flicker檢查 2 2 raster l0 : 電學(xué)性不良:亮點(diǎn),do,go,dds,dgs,ggs,es

13、d line defect,slight line 異物性不良 zaratsuki類不良：align, p/t, domain l0 mura c/f類不良：pxl盲失，bm盲失，c/f p/t no.patterndescription 3 3 raster l60 : 電學(xué)性不良 mura類不良檢查 異物性不良，黑白點(diǎn)，黑白gap 4 4 raster l125 : mura類不良檢查 異物性不良，黑白點(diǎn)，黑白gap no.patterndescription 5 5 raster l188 : mura類不良檢查 異物性不良，黑白點(diǎn)，黑白gap 6 6 raster l255 : red

14、, green, blue 滅點(diǎn) mura類不良檢查 no.patterndescription 7 7 red l127 : red 滅點(diǎn)，連續(xù) red 色mura c/f類不良 8 8 red l255 : red 滅點(diǎn)，連續(xù)，red像素盲失 red 色mura c/f類不良 no.patterndescription 9 9 green l127 : green 滅點(diǎn)，連續(xù) green 色mura c/f類不良 1010 green l255 : green 滅點(diǎn)，連續(xù),green像素盲失 green 色mura c/f類不良 no.patterndescription 1111 blu

15、e l127 : blue 滅點(diǎn)，連續(xù) blue 色mura c/f類不良 1212 blue l255 : blue 滅點(diǎn)，連續(xù)，blue像素盲失 blue 色mura c/f類不良 no.patterndescription 1313 address: 定位不良位置 panel需要repair時(shí)，傳輸坐標(biāo) 1414 area : 不良map點(diǎn)擊時(shí)，確定不良發(fā)生區(qū)域 根據(jù)不同尺寸panel會(huì)有區(qū)別 no.patterndescription 1515 windows: cross talk檢查 zaratsuki align確認(rèn) remark.remark.根據(jù)根據(jù)testtest要求要求p

16、atternpattern會(huì)有變化會(huì)有變化 2.cell test點(diǎn)燈不良 不良的種類不良的種類 目視性不良目視性不良(visual defect)(visual defect) 電學(xué)性不良電學(xué)性不良(electrical defect)(electrical defect) 外觀性不良外觀性不良(appearance defect)(appearance defect) 2.1 目視性不良 u各種各種mura(mura(周邊，垂直周邊，垂直/ /水平線，水平線，rubbingrubbing，blockblock，obliqueoblique，未確認(rèn)，未確認(rèn)) ) u黑黑/ /白白gapgap

17、 u黑黑/ /白點(diǎn)白點(diǎn) uparticle(particle(線性線性, , 圓形圓形, , 其他）其他） uscratch (tft, cf, cellscratch (tft, cf, cell內(nèi)，內(nèi)，touch)touch) uc/fc/f不良不良(bm(bm盲失，盲失，pixelpixel盲失，色盲失，色muramura，c/f p/t)c/f p/t) uzaratsuki (align, p/t, domainzaratsuki (align, p/t, domain，etc)etc) ububble (large, small, bubble (large, small, 不定形

18、不定形) ) useal leakseal leak uetc (bnu, contact miss, cell bent,etc (bnu, contact miss, cell bent,過充進(jìn)，未充進(jìn)過充進(jìn)，未充進(jìn)) ) mura mura 類不良類不良_gap_gap性性 現(xiàn)象：現(xiàn)象：panel panel 邊緣泛白，邊緣泛白，l60 l60 下視認(rèn)性強(qiáng)下視認(rèn)性強(qiáng). . patternpattern：l60l60，l125l125 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：q q級(jí)級(jí) or ngor ng 產(chǎn)生原因：周邊部產(chǎn)生原因：周邊部gapgap異

19、常異常. . 周邊周邊muramura mura mura 類不良類不良_ _gapgap性性 現(xiàn)象現(xiàn)象:panel :panel 邊緣泛白，邊緣泛白，l0l0下視下視 認(rèn)性強(qiáng)；指壓后產(chǎn)生水波紋現(xiàn)象認(rèn)性強(qiáng)；指壓后產(chǎn)生水波紋現(xiàn)象. . patternpattern：l0l0，l60l60 view angleview angle：上視角：上視角 gradegrade：q q級(jí)級(jí) or ngor ng 產(chǎn)生原因產(chǎn)生原因:seal:seal內(nèi)或周邊異物造內(nèi)或周邊異物造 成成gapgap異常異常. . 周邊白周邊白gapgap mura mura 類不良類不良_ _非非gapgap性性 現(xiàn)象：現(xiàn)象：d

20、ata3data3和和4 4、data6data6和和7 7之間白之間白 色帶狀色帶狀. . patternpattern：l60l60 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：q q級(jí)級(jí) or ngor ng 產(chǎn)生原因：屬于產(chǎn)生原因：屬于array muraarray mura，array array pattern non-uniformitypattern non-uniformity造成造成. . v-block murav-block mura mura mura 類不良類不良_ _非非gapgap性性 現(xiàn)象：短的平行斜線組現(xiàn)象：短的平行斜線組 p

21、atternpattern：l60l60 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：q q級(jí)級(jí) or ngor ng 產(chǎn)生原因：產(chǎn)生原因：rubbing rubbing 工程參數(shù)確認(rèn)工程參數(shù)確認(rèn). . obliqueoblique mura mura 類不良類不良_ _非非gapgap性性 現(xiàn)象：現(xiàn)象：rubbingrubbing角方向的短線組，角方向的短線組， 以一定間隔發(fā)生以一定間隔發(fā)生. . patternpattern：l60l60 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：q q級(jí)級(jí) or ngor ng 產(chǎn)生原因：

22、產(chǎn)生原因：rubbing clothrubbing cloth上有上有 p/t.p/t. rubbing mura (a mode)rubbing mura (a mode) mura mura 類不良類不良_ _非非gapgap性性 現(xiàn)象：以一定間隔排列的長斜線現(xiàn)象：以一定間隔排列的長斜線 組組. . patternpattern：l60l60 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：q q級(jí)級(jí) or ngor ng 產(chǎn)生原因：產(chǎn)生原因：rubbing clothrubbing cloth接合接合 處的處的gapgap或設(shè)備震動(dòng)等原因造成或設(shè)備震動(dòng)等原因造

23、成. . rubbing mura (b mode)rubbing mura (b mode) mura mura 類不良類不良_ _非非gapgap性性 現(xiàn)象：現(xiàn)象：gategate側(cè)的橫向弱線組側(cè)的橫向弱線組. . patternpattern：l60l60，l125l125 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：q q級(jí)級(jí) or ngor ng 產(chǎn)生原因：解決中產(chǎn)生原因：解決中. 水平線水平線 mura (type 1)mura (type 1) mura mura 類不良類不良_ _非非gapgap性性 現(xiàn)象現(xiàn)象: gate : gate 側(cè)的弱線

24、構(gòu)成三角側(cè)的弱線構(gòu)成三角 形形. . patternpattern：l60l60 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：q q級(jí)級(jí) or ngor ng 產(chǎn)生原因：解決中產(chǎn)生原因：解決中. 水平線水平線 mura (type 2)mura (type 2) mura mura 類不良類不良_ _非非gapgap性性 現(xiàn)象：現(xiàn)象：panelpanel右側(cè)黑色的條狀不右側(cè)黑色的條狀不 良，通常伴有白條狀的周邊良，通常伴有白條狀的周邊muramura 發(fā)生發(fā)生. . patternpattern：l60l60 view angleview angle：正視：正視

25、 gradegrade：q q級(jí)級(jí) or ngor ng 產(chǎn)生原因：產(chǎn)生原因：rubbingrubbing工程時(shí)，工程時(shí)，tbatba （預(yù)傾角（預(yù)傾角) )在在glassglass的邊緣比內(nèi)部的邊緣比內(nèi)部 低，所以造成低，所以造成l/cl/c分子旋轉(zhuǎn)不完分子旋轉(zhuǎn)不完 全全. . 垂直黑線垂直黑線 muramura 現(xiàn)象：在中間灰度現(xiàn)象：在中間灰度l60l60下，下，gapgap部部 分的顏色與其他位置處相比較黑分的顏色與其他位置處相比較黑 或較白；指壓后產(chǎn)生水波紋現(xiàn)象或較白；指壓后產(chǎn)生水波紋現(xiàn)象. . patternpattern：l60l60 view angleview angle：正視

26、：正視 gradegrade：q q級(jí)級(jí) or ngor ng 產(chǎn)生原因：產(chǎn)生原因：panelpanel受到擠壓后受到擠壓后 cell gapcell gap異常異常(eg. ps crack).(eg. ps crack). gap gap變厚產(chǎn)生白變厚產(chǎn)生白gapgap，變窄產(chǎn)生黑，變窄產(chǎn)生黑 gapgap；也有部分；也有部分gapgap由異物引起，由異物引起， gapgap中心可見異物性亮點(diǎn)中心可見異物性亮點(diǎn). . 黑黑/ /白白gapgap 黑黑/ /白白gapgap 黑黑gapgap 白白gapgap 黑黑/ /白點(diǎn)白點(diǎn) 現(xiàn)象：黑色或白色的小斑點(diǎn)，多現(xiàn)象：黑色或白色的小斑點(diǎn)，多 為圓

27、形；形似為圓形；形似gapgap但是指壓后沒但是指壓后沒 有水波紋出現(xiàn)有水波紋出現(xiàn). . patternpattern：l60l60，l125l125，l188l188 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：q q級(jí)級(jí) or ngor ng 產(chǎn)生原因：黑點(diǎn)產(chǎn)生原因：黑點(diǎn)主要為主要為pipi膜膜 dimpledimple性性pinholepinhole或或pipi膜劃傷膜劃傷引引 起；白點(diǎn)主要為起；白點(diǎn)主要為cellcell內(nèi)異物、內(nèi)異物、 spacer clusterspacer cluster、pipi損害和污染、損害和污染、 pi coatingpi

28、coating的不完全等因素導(dǎo)致的不完全等因素導(dǎo)致. . 黑黑/ /白點(diǎn)白點(diǎn) 現(xiàn)象：一般情況下造成亮點(diǎn)或連現(xiàn)象：一般情況下造成亮點(diǎn)或連 續(xù)，并且不良部分明顯可見異物續(xù)，并且不良部分明顯可見異物. . patternpattern：l0l0，l60l60 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：q q級(jí)級(jí) or ngor ng 產(chǎn)生原因：產(chǎn)生原因：cellcell工程中的工程中的hard hard p/tp/t、lintlint和和organicorganic造成造成. . cellcell異物異物 cell cell 異物異物 現(xiàn)象：分為現(xiàn)象：分為tfttf

29、t表面表面scratch scratch 、cfcf 表面表面scratchscratch和和cellcell內(nèi)內(nèi)scratchscratch三三 種類型種類型. .三者均具有明顯的方向性，三者均具有明顯的方向性， 兩端呈尖狀兩端呈尖狀. . patternpattern：l0l0，l60l60 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：q q級(jí)級(jí) or ngor ng 產(chǎn)生原因：可以通過觀察產(chǎn)生原因：可以通過觀察scratchscratch 處的處的bmbm是否完好來判斷是否完好來判斷scratchscratch是是 發(fā)生在發(fā)生在tfttft還是還是cf.c

30、f.工藝中工藝中tfttft基板基板 或或cfcf基板受到劃傷基板受到劃傷.assy.assy工程前工程前 多為多為pipi膜膜scratchscratch；成盒后多為；成盒后多為 cuttingcutting工程造成的表面工程造成的表面scratch.scratch. scratchscratch scratchscratch類類 cellcell內(nèi)內(nèi) 表面表面 現(xiàn)象：類似被手抹過的痕跡，甚現(xiàn)象：類似被手抹過的痕跡，甚 至是手印或指印至是手印或指印. . patternpattern：l60l60 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：q q級(jí)級(jí) or

31、ngor ng 產(chǎn)生原因：產(chǎn)生原因：pi coatingpi coating后被手或后被手或 其他物品接觸過其他物品接觸過. . scratchscratch類類 touchtouch 現(xiàn)象：現(xiàn)象：bmbm盲失在黑色畫面下顯示盲失在黑色畫面下顯示 為白色的小亮點(diǎn)；為白色的小亮點(diǎn)；pixelpixel盲失部盲失部 分在相應(yīng)的色分在相應(yīng)的色patternpattern下也顯示下也顯示 為白色為白色. . patternpattern：lolo，r r，g g，b b view angleview angle：正視：正視 gradegrade：一般情況下可根據(jù)異物：一般情況下可根據(jù)異物 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行判斷

32、，標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行判斷，goodgood、q q級(jí)級(jí) or or ng.ng. 產(chǎn)生原因：大部分為產(chǎn)生原因：大部分為c/fc/f原材料原材料 不良不良. .但但bmbm和和pixelpixel盲失同時(shí)出現(xiàn)盲失同時(shí)出現(xiàn) 時(shí)，時(shí)，cfcf被被scratchscratch的可能性很大的可能性很大. . c/fc/f類類 bm bm 盲失盲失pixel pixel 盲失盲失 現(xiàn)象：色現(xiàn)象：色patternpattern下，不良區(qū)域下，不良區(qū)域 的顏色明顯與其它區(qū)域不同的顏色明顯與其它區(qū)域不同. . patternpattern：r r，g g，b b view angleview angle：正視：正視 gr

33、adegrade：q q級(jí)級(jí) or ngor ng 產(chǎn)生原因：產(chǎn)生原因：c/fc/f原材料不良原材料不良. . 色色mura (red)mura (red) c/fc/f類類 現(xiàn)象：現(xiàn)象：r r，g g，b b的小亮點(diǎn)，多發(fā)生的小亮點(diǎn)，多發(fā)生 于于panelpanel的邊角和中心位置的邊角和中心位置. . patternpattern：l60l60 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：q q級(jí)級(jí) 發(fā)生原因：在發(fā)生原因：在rubbing rubbing 工藝進(jìn)行工藝進(jìn)行 時(shí)由于時(shí)由于 rubbing clothrubbing cloth的摩擦產(chǎn)的摩擦產(chǎn) 生

34、的較小的生的較小的pipi膜碎屑導(dǎo)致膜碎屑導(dǎo)致. . zaratsukizaratsuki類類 zaratsuki p/tzaratsuki p/t 現(xiàn)象：滿屏綠色毛絨狀，正視幾乎現(xiàn)象：滿屏綠色毛絨狀，正視幾乎 不可見不可見. . patternpattern：l60l60 view angleview angle：側(cè)視角可視性強(qiáng)：側(cè)視角可視性強(qiáng) gradegrade：q q級(jí)級(jí) or ngor ng 產(chǎn)生原因產(chǎn)生原因:rubbing:rubbing深度過淺致使此深度過淺致使此 處處pipi層的取向力減弱導(dǎo)致不良發(fā)生層的取向力減弱導(dǎo)致不良發(fā)生. . 由于由于c/fc/f上綠色的亞像素高度最高，

35、上綠色的亞像素高度最高， 且多發(fā)生于且多發(fā)生于green pxlgreen pxl的邊角處的邊角處. . zaratsukizaratsuki類類 zaratsuki domainzaratsuki domain 現(xiàn)象：現(xiàn)象：l0l0處漏光現(xiàn)象，處漏光現(xiàn)象，部分位置發(fā)部分位置發(fā) 白白pixelpixel周邊部存在漏光現(xiàn)象，有周邊部存在漏光現(xiàn)象，有 視角依賴性視角依賴性. . patternpattern：l0l0 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：q q級(jí)級(jí) or ngor ng 產(chǎn)生原因：產(chǎn)生原因：tfttft和和cfcf在在assy assy al

36、ignalign時(shí)發(fā)生時(shí)發(fā)生missmiss；array ito cdarray ito cd 大或大或cf bmcf bm過窄過窄. . zaratsukizaratsuki類類 zaratsuki alignzaratsuki align 現(xiàn)象：不點(diǎn)燈即可見，變換畫面現(xiàn)象：不點(diǎn)燈即可見，變換畫面 始終為黑色始終為黑色. . patternpattern：全部：全部 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：ngng 產(chǎn)生原因：產(chǎn)生原因：assy alignassy align工程中工程中 基板間存在基板間存在airair或或n n2 2氣泡氣泡. . bu

37、bblebubble類類 lc bubblelc bubble（l l） 現(xiàn)象：不點(diǎn)燈即可見，變換畫面始現(xiàn)象：不點(diǎn)燈即可見，變換畫面始 終為黑色終為黑色. . patternpattern：全部：全部 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：ng (8mmng (8mm可進(jìn)行可進(jìn)行reworkrework） 產(chǎn)生原因：產(chǎn)生原因：assy alignassy align工程中基工程中基 板間存在板間存在vac.vac. bubblebubble類類 lc bubblelc bubble（s s） 現(xiàn)象：不點(diǎn)燈即可見，變換畫面現(xiàn)象：不點(diǎn)燈即可見，變換畫面 始終為

38、黑色始終為黑色. . patternpattern：全部：全部 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：ng(8mmng(8mm可進(jìn)行可進(jìn)行reworkrework） 產(chǎn)生原因：產(chǎn)生原因：assy alignassy align工程中工程中 基板間存在基板間存在vac.vac. bubblebubble類類 lc bubblelc bubble（不定型）（不定型） 現(xiàn)象：現(xiàn)象：panelpanel四周不規(guī)則樹支狀，四周不規(guī)則樹支狀， 多呈深綠色或黑色；不點(diǎn)燈也可見多呈深綠色或黑色；不點(diǎn)燈也可見. . patternpattern：全部：全部 view ang

39、leview angle：正視：正視 gradegrade：ngng 產(chǎn)生原因：由于產(chǎn)生原因：由于sealant sealant dispensedispense后到后到uv cureuv cure間隔過長造間隔過長造 成成l/cl/c與與sealantsealant接觸或是接觸或是sealantsealant 的寬窄不均導(dǎo)致部分?jǐn)嚅_，空氣沖的寬窄不均導(dǎo)致部分?jǐn)嚅_，空氣沖 入也會(huì)造成入也會(huì)造成seal leak.seal leak. seal leakseal leak upixel(pixel(亮點(diǎn)、滅點(diǎn)、連續(xù)亮點(diǎn)、滅點(diǎn)、連續(xù)) ) uline defect (y-line defect (

40、y-向，向，x-x-向向) ) udodo ugogo uddsdds uggsggs udgsdgs uslight line (y-slight line (y-向，向，x-x-向向) ) uesdesd uarray array 其他其他 2.22.2電學(xué)性不良電學(xué)性不良 現(xiàn)象：現(xiàn)象：l0l0，6060下以像素為單位的下以像素為單位的 亮點(diǎn)；亮點(diǎn)；l255l255下下r r，g g，b b下對應(yīng)的下對應(yīng)的 像素暗點(diǎn)像素暗點(diǎn). .分為個(gè)數(shù)、連續(xù)和間分為個(gè)數(shù)、連續(xù)和間 距三種類型距三種類型. . patternpattern：l0l0，l60l60；r r，g g，b b view angl

41、eview angle：正視：正視 gradegrade：s s，t t，q q級(jí)級(jí) or ngor ng 產(chǎn)生原因：產(chǎn)生原因：arrayarray不良（不良（gategate、 s/ds/d、activeactive、itoito等）和等）和cellcell內(nèi)內(nèi) 異物、異物、scratchscratch等造成等造成. . pixelpixel類類 暗點(diǎn)暗點(diǎn) 暗點(diǎn)暗點(diǎn)3 3連續(xù)連續(xù) 亮點(diǎn)亮點(diǎn) 亮點(diǎn)亮點(diǎn)4 4連續(xù)連續(xù) 現(xiàn)象：現(xiàn)象：x x向或向或y y向亮線向亮線. . patternpattern：l0l0 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：ngng 產(chǎn)

42、生原因：產(chǎn)生原因：padpad部部lineline間間openopen或或 shortshort；array metal remainarray metal remain， cellcell內(nèi)金屬異物、內(nèi)金屬異物、c/fc/f突起引起突起引起 上下間上下間shortshort、common short.common short. line defectline defect y y向向l/dl/d x x向向l/dl/d 現(xiàn)象：現(xiàn)象：datadata線從中間斷開線從中間斷開. . patternpattern：l0l0 view angleview angle：正視：正視 gradegrade

43、：ngng 產(chǎn)生原因：產(chǎn)生原因：chemical attackchemical attack、 array photoarray photo工程的工程的prpr原形原形openopen， 其他其他p/tp/t及及scratchscratch等造成；在等造成；在 array cvd repairarray cvd repair如果如果dgsdgs沒有維沒有維 修成功也可能會(huì)造成修成功也可能會(huì)造成do.do. dodo 現(xiàn)象：現(xiàn)象：gategate線從中間斷開線從中間斷開. . patternpattern：l0l0 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：ng

44、ng 產(chǎn)生原因：產(chǎn)生原因：chemical attackchemical attack、 array photoarray photo工程的工程的prpr原形原形openopen， 其他其他p/tp/t及及scratchscratch等造成等造成. . gogo 現(xiàn)象：現(xiàn)象：datadata和和gate crossgate cross狀亮狀亮. . 線，交叉部分可見異物線，交叉部分可見異物 patternpattern：l0l0 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：ngng 產(chǎn)生原因：產(chǎn)生原因：shortshort處的金屬處的金屬 remainremai

45、n或?qū)щ娀驅(qū)щ妏/tp/t造成造成. . dgsdgs 現(xiàn)象：一般為現(xiàn)象：一般為gategate向相鄰的一條向相鄰的一條 亮線和一條暗線亮線和一條暗線. . patternpattern：l0l0 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：ngng 產(chǎn)生原因：產(chǎn)生原因：padpad部或部或fan-outfan-out部部 scratchscratch、p/tp/t及及array remainarray remain引引 起起padpad間間short.short. ggsggs 現(xiàn)象：一般為現(xiàn)象：一般為datadata向相鄰的一條向相鄰的一條 亮線和一條暗線亮

46、線和一條暗線. . patternpattern：l0l0 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：ngng 產(chǎn)生原因：產(chǎn)生原因：padpad部或部或fan-outfan-out部部 scratchscratch、p/tp/t及及array remainarray remain引引 起起padpad間間short.short. ddsdds 現(xiàn)象：淺灰色亮或暗線，灰度不現(xiàn)象：淺灰色亮或暗線，灰度不 均，有的部分很不明顯均，有的部分很不明顯. . patternpattern：l0l0，l60l60 view angleview angle：正視：正視 gra

47、degrade：ngng 產(chǎn)生原因：產(chǎn)生原因：esdesd造成造成datadata和和repair repair lineline短接或者在短接或者在repairrepair工序?qū)ば驅(qū)odo 沒有維修成功也可能造成弱線沒有維修成功也可能造成弱線. . slight lineslight line y y向向 x x向向 現(xiàn)象：主要為現(xiàn)象：主要為gategate或或data paddata pad處發(fā)處發(fā) 生白色或黑色楔形連續(xù)亮點(diǎn)，部分生白色或黑色楔形連續(xù)亮點(diǎn)，部分 esdesd也可能會(huì)造成也可能會(huì)造成line defectline defect；對；對 vghvgh和和vglvgl調(diào)定敏感

48、調(diào)定敏感. . patternpattern：l0l0，l60l60 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：發(fā)生即：發(fā)生即ngng 產(chǎn)生原因：工程中的產(chǎn)生原因：工程中的tfttft器件發(fā)生器件發(fā)生 靜電擊穿，多發(fā)于靜電擊穿，多發(fā)于padpad部部. .合理設(shè)置合理設(shè)置 ionizerionizer及設(shè)備接地，減少人手觸及設(shè)備接地，減少人手觸 摸摸padpad部可減小部可減小esdesd的發(fā)生機(jī)率的發(fā)生機(jī)率. . esdesd esdesd upad pad 部破損部破損(gate pad & data pad)(gate pad & data pad) u

49、align mark align mark 破損破損(#1,#2,#3)(#1,#2,#3) uolb olb 破損破損 ucf cf 破損破損 uburrburr ucrack(tft & cf)crack(tft & cf) u外觀其他外觀其他(pad(pad變色、變色、id id 破損、破損、over grinding,e/g missover grinding,e/g miss等等) ) 2.32.3目視性不良目視性不良 現(xiàn)象：現(xiàn)象：pad pad 部發(fā)生破損部發(fā)生破損 patternpattern：無：無 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：g

50、oodgood or ngor ng 產(chǎn)生原因：在產(chǎn)生原因：在cuttingcutting或是或是cell cell testtest工程中被磕碰；人為因素也工程中被磕碰；人為因素也 可能造成可能造成broken.broken. pad pad 部破損部破損 gategate部部 datadata部部 破損1/2ng 現(xiàn)象：現(xiàn)象：align align 十字十字markmark破損，破損， cell testcell test設(shè)備無法設(shè)備無法contactcontact點(diǎn)燈點(diǎn)燈. . patternpattern：無：無 view angleview angle：正視：正視 gradegrad

51、e：goodgood or ngor ng 產(chǎn)生原因：一般為人為因素造成產(chǎn)生原因：一般為人為因素造成. . align#1align#1 align#2align#2align#3align#3 align mark align mark 破損破損 破損破損 1/2 - ng 1/2 - ng 現(xiàn)象：現(xiàn)象：olbolb部分破損，超過部分破損，超過1/21/2即即 ngng，無法完成，無法完成bonding.bonding. patternpattern：無：無 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：goodgood or ngor ng 產(chǎn)生原因：在產(chǎn)生原

52、因：在cuttingcutting或是或是cell cell testtest工程中被磕碰；人為因素也工程中被磕碰；人為因素也 可能造成可能造成broken.broken. olb olb 破損破損 破損破損 1/2 - ng 1/2 - ng 現(xiàn)象：現(xiàn)象：c/fc/f部分部分brokenbroken patternpattern：無：無 view angleview angle：正視：正視 gradegrade：goodgood or ngor ng 產(chǎn)生原因：在產(chǎn)生原因：在cuttingcutting或是或是cell cell testtest工程中被磕碰；人為因素也工程中被磕碰；人為因素也 可能造成可能造成broken.broken. cf cf 破損破損 tfttft側(cè)破損側(cè)破損 1aac570236 ch1aac570236 ch 現(xiàn)象：現(xiàn)象：padp