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文檔簡介

1、UT超聲檢測練習題1.超聲波在介質(zhì)中傳播時,下面哪句話是錯誤的 A. 介質(zhì)由近及遠,一層一層地振動B. 能量逐層向前傳播C. 遇到妨礙物會全部反射D. 遇到很小的缺陷會產(chǎn)生衍射繞射2.下面關(guān)于機械波的說法錯誤的選項是 A.機械波產(chǎn)生的條件是首先要有一個振動波源,其次是傳播振動的彈性介質(zhì)B. 振動過程伴隨著能量的傳播和物質(zhì)的遷移C. 由于彈性力作用,振動會由近及遠向前傳播D. 超聲波是一種機械波3.在同一固體介質(zhì)中,縱波聲速CL. 橫波聲速CS與外表波聲速CR的關(guān)系是 A. CSCLCRB. CRCSCL C. CLCRCSD. CLCSCR t4. 金屬資料的超聲波探傷中,常用的探傷頻率是 t

2、A. 1025MHzB. 15MHztC. 20500KHzD. 25100MHz外表波探傷,普通只能發(fā)現(xiàn)深度在 范圍以內(nèi)的外表或近外表缺陷。 A. /4 B. /2 C. D. 2t超聲波聲速c、波長與頻率f之間的關(guān)系為 t A. c=fB. f=ct C. = cfD. c=f t超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與 有關(guān)tA. 介質(zhì)的彈性B. 介質(zhì)的密度tC. 超聲波波型D. 以上全部鋼中超聲波縱波聲速為5900m/s,假設(shè)頻率為10MHz那么其波長為: A. 59mm B. 5.9mmC. 0.59mmD. 以上都不是資料的聲速和密度的乘積稱為聲阻抗,它將影響超聲波 A.在傳播時的材質(zhì)衰減 B.

3、 從一個介質(zhì)到達另一個介質(zhì)時在界面上的反射和透射C. 在傳播時的散射D. 分散角大小超聲波傾斜入射至異質(zhì)界面時,其傳播方向的改動主要取決于 A. 界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗B. 界面兩那么介質(zhì)的聲速C. 界面兩側(cè)介質(zhì)衰減系數(shù)D. 以上全部在水/鋼界面上,水中入射角為17,在鋼中傳播的主要振動波型為 A. 外表波B. 橫波 C. 縱波D. B和C假設(shè)超聲波從水以20入射到鋼界面,那么在鋼中橫曲折射角為: A. 約48B. 約24 C. 約39D. 以上都不對第一臨界角是: A. 折射縱波等于90時的橫波入射角B. 折射橫波等于90時的縱波入射角C. 折射縱波等于90時的縱波入射角D. 入射縱波接近90

4、時的折射角第二臨界角是: A. 折射縱波等于90的橫波入射角B. 折射橫波等于90時的縱波入射角C. 折射縱波等于90時的縱波入射角D. 入射縱波接近90時的折射角要在工件中得到純橫波,探頭入射角必需: A. 大于第二臨界角 B. 大于第一臨界角 C. 在第一. 第二臨界角之間 D. 小于第二臨界角在超聲場中, 聲壓隨間隔添加單調(diào)減少。 A. 近場區(qū)B. 遠場區(qū) C. 盲 區(qū) D. 未分散區(qū)。當波源直徑一定,探頭頻率添加時,其近場區(qū)長度將 ,半分散角將 。 A. 添加B. 減少 C. 不變 D不一定波束分散角是晶片尺寸和傳播介質(zhì)中聲波波長的函數(shù)并且隨 A. 頻率添加,晶片直徑減小而減小B. 頻

5、率或晶片直徑減小而增大C. 頻率或晶片直徑減小而減小D. 頻率添加,晶片直徑減小而增大假設(shè)將用于探測鋼的K2探頭去探測鋁鋁的橫波聲速小于鋼的橫波聲速那么k值會 A. 大于2B. 小于2C. 仍等于2D. 還需其它參數(shù)才干確定5P12Z直探頭在鋼中的指向角是 A. 5.6B. 3.5C. 6.8D. 24.62.5P14Z直探頭在鋼中的近場長度是: A . 27mmB. 21mmC. 38mmD. 以上都不對 A型掃描顯示中,熒光屏上垂直顯示波高的大小表示: A. 超聲回波的幅度大小B. 缺陷的位置 C. 被探資料的厚度D. 超聲傳播時間 A型掃描顯示中,從熒光屏上直接可獲得的信息是: A 缺陷

6、的性質(zhì)和大小 B 缺陷的外形和取向 C 缺陷回波的大小和超聲傳播的時間 D 以上都是單晶片直探頭接觸法探傷中,與探測面非常接近的缺陷往往不能有效地檢出,這是由于 A. 近場干擾B. 材質(zhì)衰減C. 存在盲區(qū)D. 折射目前工業(yè)超聲波探傷運用較多的壓電資料是 A. 石英B. 鈦酸鋇C. 鋯鈦酸鉛D. 硫酸鋰 超聲檢驗中,脈沖的繼續(xù)時間稱為 a.脈沖振幅 b.脈沖外形 c.脈沖寬度 d.上述三種都不對超聲探傷系統(tǒng)區(qū)別相鄰兩缺陷的才干稱為:( )A. 檢測靈敏度B. 時基線性C. 垂直線性D. 分辨力對超聲波試塊材質(zhì)的根本要求是 A 其聲速與被探工件聲速根本一致B 資料中沒有超越2mm平底孔當量的缺陷C

7、 資料衰減小且均勻D 以上都是下面關(guān)于橫波斜探頭的說法哪一句是錯誤的 A 橫波斜探頭是由直探頭加透聲斜楔組成B 斜楔前面開槽的目的是減少反射雜波C 超聲波在斜楔中的縱波聲速應(yīng)大于工件中的橫波聲速D 橫波是在斜楔與工件的交界面上產(chǎn)生超聲檢驗中,當探傷面比較粗糙時,宜選用 A. 較低頻探頭 B. 較粘的耦合劑C. 軟維護膜探頭 D. 以上都是.超聲檢驗中,選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點是 A. 曲面探傷時可減少耦合損失B. 可減少材質(zhì)衰減損失C. 輻射聲能大且能量集中D. 以上全部探傷時采用較高的探測頻率,可有利于 A. 發(fā)現(xiàn)較小的缺陷B. 區(qū)分開相鄰的缺陷C. 改善聲束指向性D. 以上全部在頻率一定

8、和資料一樣情況下,橫波對小缺陷探測靈敏度高于縱波的緣由是 A 橫波質(zhì)點振動方向?qū)θ毕莘瓷溆欣鸅 橫波探傷雜波少C 橫波波長短D 橫波指向性好在斜探頭厚焊縫探傷時,為提高缺陷定位精度可采取的措施是 A. 提高探頭聲束指向性 B. 校準儀器掃描線性C. 提高探頭前沿長度及K值的測定精度D. 以上都對直探頭縱波探傷時,工件上下外表不平行會產(chǎn)生 A. 底面回波降低或消逝B. 底面回波正常C. 度面回波變寬D. 底面回波變窄缺陷反射聲能的大小,取決于 A. 缺陷的尺寸 B. 缺陷的類型 C. 缺陷的外形和取向D. 以上全部被檢工件晶粒粗大,通常會引起 A. 草狀回波增多B. 信噪比下降C. 底波次數(shù)減少

9、D. 以上全部關(guān)于當量法探傷說法正確的選項是 A 當量小的缺陷實踐尺寸一定小B 當量小的缺陷實踐尺寸不一定小C 當量大的缺陷實踐尺寸一定大D 以上B和C運用有人工反射體的參考試塊主要目的是 A 作為探測時的校準基準,并為評價工件中缺陷嚴重程度提供根據(jù)B 為探傷人員提供一種確定缺陷實踐尺寸的工具C 為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的一切缺陷提供保證D 提供一個能準確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體探測粗糙外表的工件時,為提高聲能傳送,應(yīng)選用 A 聲阻抗小且粘度大的耦合劑B聲阻抗小且粘度小的耦合劑C 聲阻抗大且粘度大的耦合劑D 以上都不是超聲波按原理分為( )A. 脈沖反射法B. 穿透法C. 共

10、振法D. 以上都是 72.在以下圖的方鋼超聲波檢測中,假設(shè)折射角為50,超聲波的正確傳播方式是 超聲波經(jīng)過兩種資料的界面時,假設(shè)第一種資料的聲阻抗較大,但其聲速與第二資料一樣,那么在第二種資料中的折射角 a.大于入射角 b.小于入射角 c.等于入射角 d.等于臨界角計算題1 在超聲波探傷中,當超聲波探傷儀的垂直線性較好時,儀器屏幕上的波高與聲壓成正比。這時有 = 20 lg (P2/P1) = 20 lg(H2/H1) (dB) 用分貝值表示回波幅度的相互關(guān)系,不僅可以簡化運算,而且在確定基準波高以后,可直接用儀器的增益值數(shù)字機或衰減值模擬機來表示缺陷波相對波高。計算題1 例1,超聲波示波器屏

11、上一波高為80,另一波高為20,那么前者比后者高多少分貝? = 20 lg(H2/H1) = 20 lg(80/20) = 12 dB圓盤波源輻射的縱波聲場圓盤波源輻射的縱波聲場例例2:假設(shè)用:假設(shè)用f=2.5MHz,探頭晶片直徑,探頭晶片直徑Ds=20mm的探頭的探頭檢測聲速檢測聲速CL=5900m/s的鋼工件,那么的鋼工件,那么N、 0和和b分別分別為為)(5 .694 .4264. 164. 126. 8105 . 220105900707070)(4 .421059004105 . 2204463036222mmNbfDCDmmCfDDNsLsLssArcsin(1.22/D) 例3

12、超聲波垂直入射界面反射率r和透射率t 鋼入射到水中 水入射到鋼中 Z鋼=45 kg/ms, Z水=1.5 kg/ms C鋼=5900m/s, C水=1500m/s610610人工反射體聲壓反射系數(shù)運用 1調(diào)理探傷靈敏度 2確定缺陷當量。 3制造AVG曲線 2.6.3 AVG曲線1調(diào)理探傷靈敏度 用用2.5MHz、20直探頭,探測直探頭,探測T=300mm的鋼鍛件,要求的鋼鍛件,要求3缺陷不漏檢,問利用工件大平底如何調(diào)理探測靈敏度?如改用缺陷不漏檢,問利用工件大平底如何調(diào)理探測靈敏度?如改用材質(zhì)與工件一樣的材質(zhì)與工件一樣的200/2 人工平底孔試塊作,如何調(diào)理探測靈人工平底孔試塊作,如何調(diào)理探測

13、靈敏度?敏度?解答:解答: 1由題意可知,工件所要求的探測靈敏度為由題意可知,工件所要求的探測靈敏度為300/3即即Xf=300,f=3mm,靈敏度調(diào)理為工件大平底,所以,靈敏度調(diào)理為工件大平底,所以,Xb=300mm, 調(diào)整時將工件底面回波調(diào)至基準高度后,再用衰減器增益調(diào)整時將工件底面回波調(diào)至基準高度后,再用衰減器增益34dB,即到達即到達300/3的探測靈敏度的探測靈敏度.dB353005 . 29 . 523lg202lg20pp20lg22BffXdB1調(diào)理探傷靈敏度 2利用利用200/2 人工平底孔試塊作作為靈敏度調(diào)理基人工平底孔試塊作作為靈敏度調(diào)理基準時,準時,X=200,=2mm

14、,工件所要求的探測靈敏度仍為,工件所要求的探測靈敏度仍為300/3即即Xf=300,f=3mm,此時靈敏度調(diào)整量應(yīng)為:,此時靈敏度調(diào)整量應(yīng)為: 這個表示這個表示200/2與與300/3的靈敏度是一樣。調(diào)理時只需的靈敏度是一樣。調(diào)理時只需將將200/2人工試塊上人工試塊上2底面回波調(diào)至基準高度如底面回波調(diào)至基準高度如50%后,再用就到達后,再用就到達300/3的探測靈敏度的探測靈敏度dB030022003lg40lg40pp20lgffXXdB2確定缺陷當量。 用用2MHz、14直探頭,探測直探頭,探測T=350mm的鋼鍛件,發(fā)現(xiàn)據(jù)探測面的鋼鍛件,發(fā)現(xiàn)據(jù)探測面200mm處有一處有一缺陷,其回波高

15、度比缺陷,其回波高度比STB-GV15-2試塊的平底孔回波高試塊的平底孔回波高11dB,求缺陷的平底孔當量?求缺陷的平底孔當量?該缺陷相當于多大的橫孔直徑?該缺陷相當于多大的橫孔直徑? 解答:解答: 1由題意可知,所求缺陷的參考基準由題意可知,所求缺陷的參考基準STB-GV15-2試塊,因此,基準孔徑試塊,因此,基準孔徑=2mm,測距,測距X=150mm,缺陷聲程缺陷聲程Xf=200mm,缺陷高為,缺陷高為 dB=11dB, 此缺陷的平底孔當量為此缺陷的平底孔當量為5mm。如換算成橫孔。雖然孔型不同,但對同一個缺陷,。如換算成橫孔。雖然孔型不同,但對同一個缺陷,它的發(fā)射聲壓系數(shù)是一樣的。它的發(fā)

16、射聲壓系數(shù)是一樣的。此缺陷相當于此缺陷相當于1.8mm直徑的橫孔。闡明上述條件下,直徑的橫孔。闡明上述條件下,5mm的平底孔與的平底孔與1.8mm橫橫孔的反射聲壓相等??椎姆瓷渎晧合嗟?。mmXXdBff510150200210401140mm8 . 12002300259. 525222222222)()(,平橫孔橫孔平ffffXXXX3. 3. 適用適用AVGAVG曲線校準靈敏度和確定缺陷當量曲線校準靈敏度和確定缺陷當量 橫座標表示實踐橫座標表示實踐聲程,縱座標表聲程,縱座標表示反射體相對波示反射體相對波高的曲線。高的曲線。 用用2.5MHz、20直探頭,探測直探頭,探測T=300mm的鋼鍛件,要求的鋼鍛件,要求3缺陷不漏檢,問利用工件大平底如何調(diào)理探測靈敏度?缺陷不漏檢,問利用工件大平底如何調(diào)理探測靈敏度?以此靈敏度探測時發(fā)現(xiàn)

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