第一講 測(cè)試流程

1、 黑黑盒測(cè)試技術(shù)盒測(cè)試技術(shù)主講人：主講人：xxxxxx12010-2011第二學(xué)期 -測(cè)試管理工具TD軟件測(cè)試實(shí)踐軟件測(cè)試實(shí)踐主講人：裴軍霞主講人：裴軍霞課程定位課程定位TDTD課程目標(biāo)課程目標(biāo) 知識(shí) 理解測(cè)試流程 掌握td站點(diǎn)管理 掌握td項(xiàng)目管理 掌握td測(cè)試過程管理TestDirectorTestDirector內(nèi)容組織內(nèi)容組織本節(jié)教學(xué)目標(biāo)本節(jié)教學(xué)目標(biāo) 掌握軟件測(cè)試流程本節(jié)課程內(nèi)容本節(jié)課程內(nèi)容軟件測(cè)試流程12 2測(cè)試設(shè)計(jì)與開發(fā)3 3制定測(cè)試計(jì)劃實(shí)施測(cè)試4測(cè)試總結(jié)5 5軟件測(cè)試流程軟件測(cè)試流程測(cè)試階段測(cè)試階段l制定測(cè)試計(jì)劃l測(cè)試設(shè)計(jì)與開發(fā)l執(zhí)行測(cè)試l測(cè)試總結(jié)本節(jié)課程內(nèi)容本節(jié)課程內(nèi)容軟件測(cè)試

2、流程12 2測(cè)試設(shè)計(jì)與開發(fā)3 3制定測(cè)試計(jì)劃實(shí)施測(cè)試4測(cè)試總結(jié)5 5制定測(cè)試計(jì)劃制定測(cè)試計(jì)劃 測(cè)試計(jì)劃階段主要處于測(cè)試的先期準(zhǔn)備工作階段，在該階段中主要是對(duì)將要進(jìn)行的測(cè)試工作做整體計(jì)劃安排。測(cè)試計(jì)劃書測(cè)試計(jì)劃書 Test plan是計(jì)劃階段的測(cè)試文檔，是指導(dǎo)測(cè)試過程的綱領(lǐng)性文件；借助測(cè)試計(jì)劃，可使測(cè)試與開發(fā)等人員明確測(cè)試任務(wù)、安排及進(jìn)度等信息，有效對(duì)測(cè)試過程進(jìn)行跟蹤和控制，保持測(cè)試實(shí)施過程的順暢溝通，應(yīng)對(duì)測(cè)試過程中的各種變更。 在需求說明書確定之后，同軟件設(shè)計(jì)同時(shí)進(jìn)行。 測(cè)試計(jì)劃書測(cè)試計(jì)劃書 主要內(nèi)容： 文件名稱 （存放位置） 測(cè)試目標(biāo)、常用術(shù)語、參考文檔 測(cè)試環(huán)境、資源和進(jìn)度 中斷、重新啟用

3、標(biāo)準(zhǔn)和通過準(zhǔn)則 測(cè)試策略和方法 測(cè)試范圍和測(cè)試重點(diǎn) 測(cè)試準(zhǔn)備 測(cè)試風(fēng)險(xiǎn)分析 共同閱讀測(cè)試計(jì)劃書本節(jié)課程內(nèi)容本節(jié)課程內(nèi)容軟件測(cè)試流程12 2測(cè)試設(shè)計(jì)與開發(fā)3 3制定測(cè)試計(jì)劃實(shí)施測(cè)試4測(cè)試總結(jié)5 5測(cè)試設(shè)計(jì)與開發(fā)測(cè)試設(shè)計(jì)與開發(fā)本節(jié)課程內(nèi)容本節(jié)課程內(nèi)容軟件測(cè)試流程12 2測(cè)試設(shè)計(jì)與開發(fā)3 3制定測(cè)試計(jì)劃實(shí)施測(cè)試4測(cè)試總結(jié)5 5實(shí)施測(cè)試實(shí)施測(cè)試執(zhí)行測(cè)執(zhí)行測(cè)試用例試用例執(zhí)行測(cè)執(zhí)行測(cè)試用例試用例執(zhí)行測(cè)執(zhí)行測(cè)試用例試用例執(zhí)行用例的過程中，發(fā)現(xiàn)缺陷，執(zhí)行用例的過程中，發(fā)現(xiàn)缺陷，提交缺陷報(bào)告。提交缺陷報(bào)告。缺陷缺陷報(bào)告報(bào)告缺陷管理缺陷管理- 缺陷模板- 缺陷嚴(yán)重性- 缺陷優(yōu)先級(jí)- 缺陷流轉(zhuǎn)過程缺陷嚴(yán)重性缺陷嚴(yán)重

4、性 缺陷嚴(yán)重性：表示軟件缺陷所造成的危害的惡劣程度 Fatal：致命的錯(cuò)誤，造成系統(tǒng)或應(yīng)用程序崩潰、死機(jī)、系統(tǒng)懸掛，或造成數(shù)據(jù)丟失、主要功能完全喪失等。 Critical：嚴(yán)重錯(cuò)誤，主要指功能或特性沒有實(shí)現(xiàn)，主要功能部分喪失，次要功能完全喪失，或致命的錯(cuò)誤聲明。 Major：主要錯(cuò)誤，這樣的缺陷雖然不影響系統(tǒng)的使用，但沒有很好地實(shí)現(xiàn)功能，沒達(dá)到預(yù)期效果。如提示信息不太準(zhǔn)確，或用戶界面差，操作時(shí)間長(zhǎng)等。 Minor：一些小問題，對(duì)功能幾乎沒有影響，產(chǎn)品及屬性仍可使用。 Suggestion：一些友好的建議。缺陷優(yōu)先級(jí)缺陷優(yōu)先級(jí) 缺陷優(yōu)先級(jí)：表示修復(fù)缺陷的先后次序的指標(biāo) 一般優(yōu)先級(jí)的劃分用ABCD或數(shù)字14表示，A或1表示最高級(jí)別，D或4表示最低級(jí)別。 最高優(yōu)先級(jí)：立即修復(fù)，停止進(jìn)一步測(cè)試 次高優(yōu)先級(jí)：在產(chǎn)品發(fā)布之前必須修復(fù) 中等優(yōu)先級(jí)：如果時(shí)間允許應(yīng)該修復(fù) 最低優(yōu)先級(jí)：可能會(huì)修復(fù)，但是也能不修復(fù)a ab bc cd d缺陷流轉(zhuǎn)過程缺陷流轉(zhuǎn)過程 測(cè)試人員 開發(fā)人員 測(cè)試人員 測(cè)試人員提交缺陷報(bào)告處理缺陷報(bào)告回歸測(cè)試關(guān)閉缺陷報(bào)告Y NY N 本節(jié)課程內(nèi)容本節(jié)課程內(nèi)容軟件測(cè)試流程12 2測(cè)試設(shè)計(jì)與開發(fā)3 3制定測(cè)試計(jì)劃實(shí)施測(cè)試4測(cè)試