基于三個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)的點(diǎn)云拼接對齊方法_混合對齊_第1頁
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文檔簡介

1、基于三個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)的點(diǎn)云拼接對齊方法_混合對齊論文導(dǎo)讀::在逆向工程技術(shù)應(yīng)用中,我們經(jīng)常需要得到物體內(nèi)、外表面幾何形狀的完整數(shù)據(jù)。測量儀器往往不便于在同一定位狀態(tài)(同一坐標(biāo)系)下完成整個(gè)內(nèi)、外表面的測量工作。為了得到完整數(shù)據(jù)模型,常用的方法是采用多視拼合技術(shù)。本文首先討論了對齊拼接的算法。然后根據(jù)此原理,提出粘貼帶有孔的薄壁塑料片的新辦法,在不同的定位狀態(tài)下對物體內(nèi)、外表面進(jìn)行多次測量獲得多視點(diǎn)云,并利用Imageware 逆向軟件的數(shù)據(jù)對齊技術(shù)實(shí)現(xiàn)其多視點(diǎn)云拼合。論文關(guān)鍵詞:逆向工程,多視拼合Imageware,混合對齊引言在逆向工程中實(shí)際過程中,對實(shí)物樣件實(shí)行數(shù)字化時(shí),往往不能在同一坐標(biāo)系下將

2、產(chǎn)品的幾何數(shù)據(jù)一次測出。其原因一是產(chǎn)品尺寸超出掃描儀的掃描范圍,二是在部分區(qū)域掃描光線受被測實(shí)物幾何形狀的干涉阻礙以及不能觸及產(chǎn)品的反面,這時(shí)就需要在不同的定位狀態(tài)(不同的坐標(biāo)系)下測量產(chǎn)品的各個(gè)部分,得到的數(shù)據(jù)為多次測量建模數(shù)據(jù)。這兩種情況的數(shù)據(jù)都稱為多視數(shù)據(jù),由于在幾何模型重構(gòu)時(shí)必須將這些不同坐標(biāo)系下的多視數(shù)據(jù)變換或統(tǒng)一到同一個(gè)坐標(biāo)系中,這個(gè)數(shù)據(jù)處理過程稱為多視數(shù)據(jù)的對齊,或數(shù)據(jù)拼合、重定位等1。處理多視數(shù)據(jù)對齊的方法:一是通過專用的測量裝置實(shí)現(xiàn)測量數(shù)據(jù)的直接對齊,二是事后的數(shù)據(jù)處理方法?;跍y量裝置的對齊,不需要事后的數(shù)據(jù)處理,快速方便,但需要增加精密輔助裝置,使系統(tǒng)復(fù)雜,而且不能完全滿

3、足任何視角的探測,仍需要合適的事后數(shù)據(jù)對齊處理。事后數(shù)據(jù)對齊處理即多次測量數(shù)據(jù)的拼合問題最終歸結(jié)為非線性的優(yōu)化問題,在20世紀(jì)80年代中期,很多學(xué)者開始對點(diǎn)集數(shù)據(jù)的配準(zhǔn)(拼接、注冊)進(jìn)行了大量研究。目前已提出的算法有ICP算法、四元數(shù)法、SVD法等。在逆向工程的點(diǎn)云或CAD數(shù)據(jù)重定位中,一般采用ICP算法進(jìn)行拼合2。本文采用粘貼帶有孔的薄壁塑料片的辦法分兩次測量零件的內(nèi)、外表面幾何形狀,獲得多視點(diǎn)云,然后基于參考點(diǎn)與特征,利用Imageware逆向軟件的數(shù)據(jù)對齊技術(shù)在誤差允許情況下快速實(shí)現(xiàn)其多視點(diǎn)云拼合,實(shí)現(xiàn)實(shí)物樣件數(shù)字化。1多視拼合算法實(shí)現(xiàn)三維數(shù)據(jù)點(diǎn)集的對齊方法混合對齊,首先是建立對應(yīng)點(diǎn)集距

4、離的最小二乘目標(biāo)函數(shù),利用四元組法、矩陣的奇異值分解法求取剛體運(yùn)動的旋轉(zhuǎn)和平移矩陣。測量數(shù)據(jù)的多視統(tǒng)一可以看做是一種剛體移動,因此可以利用上述數(shù)據(jù)對齊方法來處理。由于三點(diǎn)可以建立一個(gè)坐標(biāo)關(guān)系,如果我們測量時(shí),在不同視圖中建立用于對齊的三個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn),通過三個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)的對齊就能實(shí)現(xiàn)三維測量數(shù)據(jù)的多視統(tǒng)一,實(shí)際上是將數(shù)據(jù)對齊轉(zhuǎn)換為坐標(biāo)變換問題期刊網(wǎng)。31.1基準(zhǔn)點(diǎn)測量測量時(shí),在零件上設(shè)立基準(zhǔn)點(diǎn),取不同位置的三個(gè)點(diǎn),用記號標(biāo)記,在進(jìn)行零件表面數(shù)據(jù)測量時(shí),如果需變動零件位置,每次變動必須重復(fù)測量基準(zhǔn)點(diǎn)。在不同測量坐標(biāo)下得到的數(shù)據(jù),通過三個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)移動對齊,就能將數(shù)據(jù)統(tǒng)一在一個(gè)造型坐標(biāo)下,數(shù)據(jù)變換問題就歸結(jié)為基

5、準(zhǔn)點(diǎn)的對齊,可以利用幾何圖形的坐標(biāo)變換方法來實(shí)現(xiàn)。1.2三點(diǎn)對齊坐標(biāo)變換方法在實(shí)物表面的數(shù)字化過程中,由于物體的移動造成測量坐標(biāo)的定位變化,相同的位置在不同的測量過程中,數(shù)據(jù)是不同的,但對同一個(gè)點(diǎn)來說,相當(dāng)于從一個(gè)坐標(biāo)系變換到另一個(gè)坐標(biāo)系,因此可以將問題表述為坐標(biāo)系的變換問題。三維圖形的坐標(biāo)變換包括平移、比例、旋轉(zhuǎn)、錯(cuò)切等幾何變換,這里測量數(shù)據(jù)點(diǎn)的對齊問題僅是平移和旋轉(zhuǎn)變換。因?yàn)槿c(diǎn)表示一個(gè)完整的坐標(biāo),因此多次測量數(shù)據(jù)變換只需由三個(gè)不同的基準(zhǔn)點(diǎn)就能實(shí)現(xiàn)。三點(diǎn)幾何坐標(biāo)變換方法為:測量基準(zhǔn)點(diǎn)p1、p2、p3。第二次測量時(shí),基準(zhǔn)點(diǎn)坐標(biāo)變?yōu)閝1、q2、q3,剛體變換可通過三個(gè)步驟實(shí)現(xiàn):(1)變換p1到

6、q1(2)變換矢量(p2-p1)到(q2-q1)(只考慮方向)(3)變換包含三點(diǎn)p1、p2與p3的平面到包含q1、q2與q3的平面。算法為:Step1:作矢量(p2- p1)、(p3- p1)、(q2- q1)與(q3- q1);Step2:令V1= p2- p1,W1= q2- q1;Step3:作矢量V3與W3;Step4:作矢量V2與W2;顯然,矢量V1、V2與V3構(gòu)成右手正交系,矢量W1、W2與W3同樣構(gòu)成右手正交系。Step5:作單位矢量,;,;Step6:把系統(tǒng)的任一點(diǎn)變換到系統(tǒng),用變換關(guān)系式;Step7:因?yàn)楹褪菃挝皇噶烤仃嚕?,于是所求的關(guān)于系統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)矩陣為:;Step8:使

7、和,把方程代入,可得平移矩陣T:;3Step9:將方程改寫為;2多視點(diǎn)云拼合的實(shí)現(xiàn)Imageware是著名的逆向工程軟件,廣泛應(yīng)用于航空、航天、汽車、模具、通用機(jī)械和電子等工業(yè)領(lǐng)域。它作為UG軟件中專門為逆向工程設(shè)計(jì)的模塊,具有強(qiáng)大的測量數(shù)據(jù)處理、曲面造型和誤差檢測的功能;可以處理幾萬至幾百萬的點(diǎn)云數(shù)據(jù)。Imageware中提供了多種對齊點(diǎn)云數(shù)據(jù)的模式,如點(diǎn)與點(diǎn)對齊、321對齊模式、交互式對齊模式、混合對齊模式等,本文選用適合上述算法的混合對齊模式,即將一個(gè)實(shí)體群組與另一個(gè)實(shí)體群組通過匹配將對應(yīng)的實(shí)體對齊,這樣得到的每個(gè)匹配對的精確度都去平均值,所有的匹配對都是近似的混合對齊,每個(gè)實(shí)體對的誤差也近似相等。只要在誤差允許的范圍內(nèi)就可以對對齊所得的整合點(diǎn)云進(jìn)行模型重構(gòu)。2掃描儀采用天遠(yuǎn)二代三維掃描儀OKIO-V-400,它本身有點(diǎn)云自動對齊功能,只要在掃描零件上貼上標(biāo)志點(diǎn),并且在兩次掃描過程中至少有三個(gè)公共點(diǎn),那么在掃描控制軟件上點(diǎn)一下自動對齊按鈕,軟件就會自動把二塊點(diǎn)云對齊。但是要直接出掃描零件的內(nèi)、外表面,不太容易,因?yàn)閺耐獗砻孢^渡到內(nèi)表面的掃描過程中,要做到兩次掃描過程中至少有

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