電氣設(shè)備的預(yù)防性試驗

1、電氣設(shè)備的預(yù)防性試驗預(yù)防性試驗意義及方法預(yù)防性試驗意義及方法l電氣設(shè)備絕緣的預(yù)防性試驗：掌握設(shè)備絕緣電氣設(shè)備絕緣的預(yù)防性試驗：掌握設(shè)備絕緣情況，及早發(fā)現(xiàn)缺陷，以進行相應(yīng)的維護與情況，及早發(fā)現(xiàn)缺陷，以進行相應(yīng)的維護與檢修。檢修。l絕緣缺陷：集中性缺陷和分布性缺陷絕緣缺陷：集中性缺陷和分布性缺陷l預(yù)防性試驗方法：破壞性試驗（耐壓試驗）預(yù)防性試驗方法：破壞性試驗（耐壓試驗）和非破壞性試驗和非破壞性試驗 電力設(shè)備的絕緣系統(tǒng)是電力設(shè)備的關(guān)鍵部電力設(shè)備的絕緣系統(tǒng)是電力設(shè)備的關(guān)鍵部位，也是較易發(fā)生故障的部位。電力設(shè)備的位，也是較易發(fā)生故障的部位。電力設(shè)備的預(yù)防性試驗是及時發(fā)現(xiàn)電力設(shè)備絕緣缺陷的預(yù)防性試驗是及

2、時發(fā)現(xiàn)電力設(shè)備絕緣缺陷的必要的、有效的手段。必要的、有效的手段。本章共分下列幾部分試驗：本章共分下列幾部分試驗：（1）絕緣電阻、吸收比、極化指數(shù)。）絕緣電阻、吸收比、極化指數(shù)。（2）泄漏電流試驗和直流耐壓。）泄漏電流試驗和直流耐壓。（3）介質(zhì)損失角正切值或功率因數(shù)試驗。）介質(zhì)損失角正切值或功率因數(shù)試驗。（4）交流耐壓。）交流耐壓。（5）絕緣油試驗。）絕緣油試驗。（6）油中溶解氣體的色譜分析。）油中溶解氣體的色譜分析。（7）六氟化硫氣體的現(xiàn)場測試。）六氟化硫氣體的現(xiàn)場測試。第一節(jié)第一節(jié) 絕緣電阻、吸收比、極化指數(shù)的測量絕緣電阻、吸收比、極化指數(shù)的測量 電氣設(shè)備的絕緣電阻，是指其電氣絕電氣設(shè)備的絕

3、緣電阻，是指其電氣絕緣材料上所施加的直流電壓緣材料上所施加的直流電壓U和通過它總的和通過它總的電導(dǎo)電流的比值，即電導(dǎo)電流的比值，即R=UI。通過測量電。通過測量電氣設(shè)備的絕緣電阻，可以檢查設(shè)備絕緣狀氣設(shè)備的絕緣電阻，可以檢查設(shè)備絕緣狀態(tài)。如：是否態(tài)。如：是否受潮、老化受潮、老化等。等。測量電氣設(shè)測量電氣設(shè)備的絕緣電阻是絕緣試驗中最基本、最簡備的絕緣電阻是絕緣試驗中最基本、最簡便的方法。使用一臺兆歐表就可以進行。便的方法。使用一臺兆歐表就可以進行。兆歐表輸出的是直流電壓。而兆歐表輸出的是直流電壓。而測量絕緣電測量絕緣電阻、吸收比、極化指數(shù)的區(qū)別是在時間的阻、吸收比、極化指數(shù)的區(qū)別是在時間的讀數(shù)上

4、。讀數(shù)上。 這三種方法的特點是：這三種方法的特點是： （1）絕緣電阻絕緣電阻。讀數(shù)時間為。讀數(shù)時間為1min。數(shù)值應(yīng)歸算到。數(shù)值應(yīng)歸算到同一溫度和過去值相比較，即存在一個溫度修正同一溫度和過去值相比較，即存在一個溫度修正的問題。它可以發(fā)現(xiàn)絕緣的整體和貫通性受潮、的問題。它可以發(fā)現(xiàn)絕緣的整體和貫通性受潮、貫通性的集中缺陷。對局部缺陷反映不靈敏。貫通性的集中缺陷。對局部缺陷反映不靈敏。（2）吸收比吸收比。采用讀數(shù)為。采用讀數(shù)為1min和和15S（或（或30S）絕緣電阻的比值。我國采用絕緣電阻的比值。我國采用15S。該值和溫度無。該值和溫度無關(guān)，不用進行溫度的換算，便于比較?？梢暂^好關(guān)，不用進行溫度

5、的換算，便于比較。可以較好地判斷絕緣是否受潮，適用于容量較大的設(shè)備。地判斷絕緣是否受潮，適用于容量較大的設(shè)備。（3）極化指數(shù)極化指數(shù)。采用讀數(shù)為。采用讀數(shù)為10min和和1min的絕緣的絕緣電阻的比值。該值和溫度無關(guān)，不用進行溫度的電阻的比值。該值和溫度無關(guān)，不用進行溫度的換算，便于比較。可以很好地判斷絕緣受潮。適換算，便于比較?？梢院芎玫嘏袛嘟^緣受潮。適用于各種電氣設(shè)備絕緣系統(tǒng)，特別是干式絕緣系用于各種電氣設(shè)備絕緣系統(tǒng)，特別是干式絕緣系統(tǒng)，如旋轉(zhuǎn)電機、電纜、干式變壓器等。統(tǒng)，如旋轉(zhuǎn)電機、電纜、干式變壓器等。二、測量原理二、測量原理 在直流電壓的作用下，絕緣中將通在直流電壓的作用下，絕緣中將通

6、過電流，其變化是開始瞬間通過一個過電流，其變化是開始瞬間通過一個很高的電流，并很快地下降，然后緩很高的電流，并很快地下降，然后緩慢地減少到接近恒定值為止?？偟碾娐販p少到接近恒定值為止?？偟碾娏鹘M成如下：流組成如下：（1）泄漏電流泄漏電流。它包括表面泄漏和容積泄漏。它包括表面泄漏和容積泄漏電流。這是絕緣中帶電質(zhì)點在電場力的作用電流。這是絕緣中帶電質(zhì)點在電場力的作用下發(fā)生而形成的。電流增加，絕緣的電阻就下發(fā)生而形成的。電流增加，絕緣的電阻就減少。它基本上和時間無關(guān)。減少。它基本上和時間無關(guān)。（2）電容電流電容電流。它是由快速極化（電子、離。它是由快速極化（電子、離子極化）而形成的，是時間的函數(shù)，

7、隨時間子極化）而形成的，是時間的函數(shù)，隨時間的增大而快速地減少，直至零。的增大而快速地減少，直至零。（3）吸收電流吸收電流。它是由緩慢極化而形成的。它是由緩慢極化而形成的（自由離子的移動），也是時間的函數(shù)，隨（自由離子的移動），也是時間的函數(shù)，隨時間的增長而緩慢地減少，它和被試設(shè)備的時間的增長而緩慢地減少，它和被試設(shè)備的受潮情況有關(guān)。受潮情況有關(guān)。 這三種電流的合成便是總電流。這三種電流的合成便是總電流。多層介質(zhì)的吸收現(xiàn)象多層介質(zhì)的吸收現(xiàn)象初始電壓分布U1/U2=C2/C1穩(wěn)態(tài)電壓分布U1/U2=R1/R21 21212()R RCCR R 吸收和泄漏電流及絕緣電阻變化過渡過程時間常數(shù)吸收比

8、在判斷高壓設(shè)備的絕緣狀況時，為什么在判斷高壓設(shè)備的絕緣狀況時，為什么還要測量吸收比？還要測量吸收比？ 電氣設(shè)備的絕緣受潮后，其絕緣電阻降低，通過后極化電氣設(shè)備的絕緣受潮后，其絕緣電阻降低，通過后極化過程加快，而由極化過程決定的吸收電流衰減速度也變快。過程加快，而由極化過程決定的吸收電流衰減速度也變快。因此，隨著測量時間的增加，絕緣電阻迅速上升，在這種情因此，隨著測量時間的增加，絕緣電阻迅速上升，在這種情況下，只要測出不同測量時間下的絕緣電阻，并進行比較就況下，只要測出不同測量時間下的絕緣電阻，并進行比較就能判斷絕緣是否受潮，以及受潮的程度。能判斷絕緣是否受潮，以及受潮的程度。 因此，對于電力變

9、壓器、電力電容器、交流電動機等高壓因此，對于電力變壓器、電力電容器、交流電動機等高壓電氣設(shè)備，為了考察其絕緣的受潮情況，除了測量它們的絕電氣設(shè)備，為了考察其絕緣的受潮情況，除了測量它們的絕緣電阻外，還要測量吸收比。吸收比通常用加壓后緣電阻外，還要測量吸收比。吸收比通常用加壓后60秒和秒和15秒時的絕緣電阻比值表示，記為秒時的絕緣電阻比值表示，記為K，即，即KR60R15。如果。如果K值大，表明絕緣干燥；如果值大，表明絕緣干燥；如果K值小，表明絕緣已受潮。一般值小，表明絕緣已受潮。一般來說，未受潮的絕緣，其來說，未受潮的絕緣，其K值大于值大于1.3；而當；而當K值接近于值接近于1時，時，則說明絕

10、緣已受潮或有局部缺陷。則說明絕緣已受潮或有局部缺陷。 測量絕緣電阻的儀表稱為兆歐表。其型式有手搖式，晶體測量絕緣電阻的儀表稱為兆歐表。其型式有手搖式，晶體管式和數(shù)字電子式。其輸出直流電壓等級有管式和數(shù)字電子式。其輸出直流電壓等級有100、250、500、1000、2500、5000V，對于不同電壓等級的電氣設(shè)備應(yīng)使用不，對于不同電壓等級的電氣設(shè)備應(yīng)使用不同電壓的兆歐表，最常用的是同電壓的兆歐表，最常用的是500、1000V和和2500V等級的。等級的。數(shù)字電子式兆歐表在已得到較多的采用。數(shù)字電子式兆歐表在已得到較多的采用。lBC2000測吸收比和極化指數(shù)絕緣表測吸收比和極化指數(shù)絕緣表三、影響因

11、素和分析判斷三、影響因素和分析判斷 1、影響因素影響因素 影響絕緣電阻的因素很多，下面分別給予簡述。影響絕緣電阻的因素很多，下面分別給予簡述。（1 1）濕度影響。濕度影響。當絕緣物在濕度較大的環(huán)境中時，其表面會當絕緣物在濕度較大的環(huán)境中時，其表面會吸收潮氣形成水膜，致使其表面電導(dǎo)電流增加，使絕緣電吸收潮氣形成水膜，致使其表面電導(dǎo)電流增加，使絕緣電阻顯著下降。此外，某些絕緣材料具有毛細管作用，會吸阻顯著下降。此外，某些絕緣材料具有毛細管作用，會吸收較多的水分，使電導(dǎo)增加，致使總體絕緣下降。針對這收較多的水分，使電導(dǎo)增加，致使總體絕緣下降。針對這一情況，應(yīng)加上等電位屏蔽。要求相對濕度小于一情況，應(yīng)

12、加上等電位屏蔽。要求相對濕度小于80%80%。（2 2）溫度影響。溫度影響。溫度上升，許多絕緣材料的絕緣電阻都會明溫度上升，許多絕緣材料的絕緣電阻都會明顯下降，因為溫度升高使絕緣材料的原子、分子運動加劇，顯下降，因為溫度升高使絕緣材料的原子、分子運動加劇，原來的分子結(jié)構(gòu)變得松散，帶電的離子在電場的作用下，原來的分子結(jié)構(gòu)變得松散，帶電的離子在電場的作用下，產(chǎn)生移動而傳遞電子，于是絕緣材料的絕緣能力下降。產(chǎn)生移動而傳遞電子，于是絕緣材料的絕緣能力下降。 針對這一因素，試驗人員應(yīng)將測試結(jié)果換算到同一溫針對這一因素，試驗人員應(yīng)將測試結(jié)果換算到同一溫度下進行縱橫向比較，如果試驗數(shù)據(jù)相差很大，且不合乎度下

13、進行縱橫向比較，如果試驗數(shù)據(jù)相差很大，且不合乎試驗規(guī)程，應(yīng)根據(jù)試驗結(jié)果，分析絕緣是否有老化或受潮試驗規(guī)程，應(yīng)根據(jù)試驗結(jié)果，分析絕緣是否有老化或受潮現(xiàn)象。現(xiàn)象。（3 3）表面狀態(tài)的影響。表面狀態(tài)的影響。表面的污染、受潮使絕緣物的表面電阻表面的污染、受潮使絕緣物的表面電阻率下降，從而使絕緣電阻也下降。測試品表面容易附著灰塵率下降，從而使絕緣電阻也下降。測試品表面容易附著灰塵或油污等污穢物質(zhì)，這些污穢物質(zhì)大多能夠?qū)щ?，使絕緣物或油污等污穢物質(zhì)，這些污穢物質(zhì)大多能夠?qū)щ?，使絕緣物表面電阻降低，但這不代表絕緣體的真實情況。針對這一情表面電阻降低，但這不代表絕緣體的真實情況。針對這一情況，通常要用清掃手段

14、，把絕緣體表面揩拭干凈，這樣被測況，通常要用清掃手段，把絕緣體表面揩拭干凈，這樣被測試物的絕緣電阻值就會大大提高。試物的絕緣電阻值就會大大提高。 （4 4）試驗電壓大小試驗電壓大小的影響。的影響。（5 5）電氣設(shè)備上剩余電荷的影響電氣設(shè)備上剩余電荷的影響。重復(fù)測量時，由于殘余電荷。重復(fù)測量時，由于殘余電荷的存在，使重復(fù)測量時所得到的充電電流和吸收電流比前一的存在，使重復(fù)測量時所得到的充電電流和吸收電流比前一次小，造成絕緣電阻假增現(xiàn)象。因此，每測一次絕緣電阻后，次小，造成絕緣電阻假增現(xiàn)象。因此，每測一次絕緣電阻后，應(yīng)將被測試品充分放電，做到放電時間大于充電時間，以利應(yīng)將被測試品充分放電，做到放電

15、時間大于充電時間，以利于殘余電荷放盡。于殘余電荷放盡。（6 6）兆歐表容量的影響。兆歐表容量的影響。（7 7）接線和表計型式的影響。接線和表計型式的影響。操作方法操作方法 兆歐表使用不當，會兆歐表使用不當，會使得數(shù)據(jù)不準確，因此，可選擇合適電壓等級的兆歐表。接使得數(shù)據(jù)不準確，因此，可選擇合適電壓等級的兆歐表。接線要正確線要正確( (測量端接表的測量端接表的“LL端，接地端接表的端，接地端接表的“E”E”端，屏端，屏蔽端接表的蔽端接表的“G”G”端端) )，驅(qū)動轉(zhuǎn)速為，驅(qū)動轉(zhuǎn)速為120120轉(zhuǎn)分。只有通過正確轉(zhuǎn)分。只有通過正確的操作方法，才能測得一個比較真實的試驗數(shù)據(jù)。的操作方法，才能測得一個比

16、較真實的試驗數(shù)據(jù)。 2、分析判斷、分析判斷（1）絕緣電阻應(yīng)該大于規(guī)定的允許值。）絕緣電阻應(yīng)該大于規(guī)定的允許值。（2）應(yīng)將測得的值和同一設(shè)備過去的數(shù)據(jù)）應(yīng)將測得的值和同一設(shè)備過去的數(shù)據(jù)（包括出廠數(shù)據(jù)）；各相之間的數(shù)據(jù)；同類（包括出廠數(shù)據(jù)）；各相之間的數(shù)據(jù)；同類設(shè)備的數(shù)據(jù)進行比較。設(shè)備的數(shù)據(jù)進行比較。（3）在分析判斷時，應(yīng)充分地排除各種影響）在分析判斷時，應(yīng)充分地排除各種影響因素，如濕度、溫度、表面污染等。因素，如濕度、溫度、表面污染等。 第二節(jié)第二節(jié) 泄漏電流試驗和直流耐壓試驗泄漏電流試驗和直流耐壓試驗 絕緣體不導(dǎo)電只是相對的。隨著外圍環(huán)境條件絕緣體不導(dǎo)電只是相對的。隨著外圍環(huán)境條件的變化，實際

17、上沒有一種絕緣材料是絕對不導(dǎo)電的。的變化，實際上沒有一種絕緣材料是絕對不導(dǎo)電的。任何一種絕緣材料，在其兩端施加電壓，總會有一任何一種絕緣材料，在其兩端施加電壓，總會有一定電流通過，這種電流的有功分量叫做定電流通過，這種電流的有功分量叫做泄漏電流泄漏電流，而這種現(xiàn)象也叫做絕緣體的而這種現(xiàn)象也叫做絕緣體的泄漏泄漏。 泄漏電流實際上就是電氣線路或設(shè)備在沒有故泄漏電流實際上就是電氣線路或設(shè)備在沒有故障和施加電壓的作用下，流經(jīng)絕緣部分的電流。因障和施加電壓的作用下，流經(jīng)絕緣部分的電流。因此，此，它是衡量電器絕緣性好壞的重要標志之一，是它是衡量電器絕緣性好壞的重要標志之一，是產(chǎn)品安全性能的主要指標。將泄漏

18、電流限制在一個產(chǎn)品安全性能的主要指標。將泄漏電流限制在一個很小值，這對提高產(chǎn)品安全性能具有重要作用。很小值，這對提高產(chǎn)品安全性能具有重要作用。 由于絕緣電阻測量的局限性，所以在絕由于絕緣電阻測量的局限性，所以在絕緣試驗中就出現(xiàn)了緣試驗中就出現(xiàn)了測量泄漏電流測量泄漏電流的項目。的項目。測量泄漏電流所用的設(shè)備要比兆歐表復(fù)雜，測量泄漏電流所用的設(shè)備要比兆歐表復(fù)雜，一般用高壓整流設(shè)備進行測試。由于試驗一般用高壓整流設(shè)備進行測試。由于試驗電壓高，所以就容易暴露絕緣本身的弱點，電壓高，所以就容易暴露絕緣本身的弱點，用微安表直測泄漏電流，這可以做到隨時用微安表直測泄漏電流，這可以做到隨時進行監(jiān)視，靈敏度高。

19、并且可以用電壓和進行監(jiān)視，靈敏度高。并且可以用電壓和電流、電流和時間的關(guān)系曲線來判斷絕緣電流、電流和時間的關(guān)系曲線來判斷絕緣的缺陷。因此，它屬于的缺陷。因此，它屬于非破壞性試驗非破壞性試驗的方的方法。法。 而而直流耐壓試驗直流耐壓試驗（在國外也稱為直流高電（在國外也稱為直流高電位試驗）是加到絕緣上的電壓超過了電氣設(shè)位試驗）是加到絕緣上的電壓超過了電氣設(shè)備的交流額定電壓值，在最大電壓下保持一備的交流額定電壓值，在最大電壓下保持一段時間（如段時間（如5min），它是在泄漏電流試驗的），它是在泄漏電流試驗的基礎(chǔ)上進行的。直流耐壓試驗往往可以發(fā)現(xiàn)基礎(chǔ)上進行的。直流耐壓試驗往往可以發(fā)現(xiàn)一些交流耐壓試驗中

20、不易發(fā)現(xiàn)的局部缺陷，一些交流耐壓試驗中不易發(fā)現(xiàn)的局部缺陷，如發(fā)電機的端部絕緣缺陷，同時還具有試驗如發(fā)電機的端部絕緣缺陷，同時還具有試驗設(shè)備較輕便，沒有極化損失，對絕緣的破壞設(shè)備較輕便，沒有極化損失，對絕緣的破壞比交流電壓要小得多等特點，所以得到了廣比交流電壓要小得多等特點，所以得到了廣泛的使用。它是屬于泛的使用。它是屬于破壞性的試驗破壞性的試驗。它和交。它和交流耐壓試驗是互補的，不能互相代替。而試流耐壓試驗是互補的，不能互相代替。而試驗電壓值對各種電氣設(shè)備是不同的。驗電壓值對各種電氣設(shè)備是不同的。 直流耐壓試驗電壓較高，對發(fā)現(xiàn)絕緣某直流耐壓試驗電壓較高，對發(fā)現(xiàn)絕緣某些局部缺陷具有特殊的作用，可

21、與泄漏電些局部缺陷具有特殊的作用，可與泄漏電流試驗同時進行。流試驗同時進行。 直流耐壓試驗與交流耐壓試驗相比，具直流耐壓試驗與交流耐壓試驗相比，具有有試驗設(shè)備輕便、對絕緣損傷小和易于發(fā)試驗設(shè)備輕便、對絕緣損傷小和易于發(fā)現(xiàn)設(shè)備的局部缺陷現(xiàn)設(shè)備的局部缺陷等優(yōu)點。與交流耐壓試等優(yōu)點。與交流耐壓試驗相比，直流耐壓試驗的主要缺點是由于驗相比，直流耐壓試驗的主要缺點是由于交、直流下絕緣內(nèi)部的電壓分布不同，直交、直流下絕緣內(nèi)部的電壓分布不同，直流耐壓試驗對絕緣的考驗不如交流更接近流耐壓試驗對絕緣的考驗不如交流更接近實際。實際。 直流高壓發(fā)生器直流高壓發(fā)生器 二、試驗原理二、試驗原理 將直流電壓加到絕緣上時，

22、其泄漏電流是不衰減將直流電壓加到絕緣上時，其泄漏電流是不衰減的，在加壓到一定時間以后，微安表的讀數(shù)就等于的，在加壓到一定時間以后，微安表的讀數(shù)就等于泄漏電流值。絕緣良好時，泄漏電流和電壓的關(guān)系泄漏電流值。絕緣良好時，泄漏電流和電壓的關(guān)系幾乎呈一直線，且上升較小；絕緣受潮時，泄漏電幾乎呈一直線，且上升較小；絕緣受潮時，泄漏電流則上升較大；當絕緣有貫通性缺陷時，泄漏電流流則上升較大；當絕緣有貫通性缺陷時，泄漏電流將猛增，和電壓的關(guān)系就不是直線了。將猛增，和電壓的關(guān)系就不是直線了。l 泄漏電流的測試泄漏電流的測試 一般直流兆歐表的電壓在一般直流兆歐表的電壓在2.5KV2.5KV以下，以下，比某些電氣

23、設(shè)備的工作電壓要低得多。如比某些電氣設(shè)備的工作電壓要低得多。如果認為兆歐表的測量電壓太低，還可以采果認為兆歐表的測量電壓太低，還可以采用加直流高壓來測量電氣設(shè)備的泄漏電流。用加直流高壓來測量電氣設(shè)備的泄漏電流。當設(shè)備存在某些缺陷時，高壓下的泄漏電當設(shè)備存在某些缺陷時，高壓下的泄漏電流要比低壓下的大得多，亦即高壓下的絕流要比低壓下的大得多，亦即高壓下的絕緣電阻要比低壓下的電阻小得多。緣電阻要比低壓下的電阻小得多。測量設(shè)備的泄漏電流和絕緣電阻本質(zhì)上沒測量設(shè)備的泄漏電流和絕緣電阻本質(zhì)上沒有多大區(qū)別，但是泄漏電流的測量有如下有多大區(qū)別，但是泄漏電流的測量有如下特點：特點： 圖1-1 某設(shè)備絕緣泄漏電流

24、曲線曲線1：絕緣良好；曲線2：絕緣受潮；曲線3：絕緣中有未貫通的集中性缺陷；曲線4：絕緣有擊穿的危險 l（1）試驗電壓比兆歐表高得多，絕緣本身的缺陷容易暴）試驗電壓比兆歐表高得多，絕緣本身的缺陷容易暴露，能發(fā)現(xiàn)一些尚未貫通的集中性缺陷。露，能發(fā)現(xiàn)一些尚未貫通的集中性缺陷。（2）通過測量泄漏電流和外加電壓的關(guān)系有助于分析絕）通過測量泄漏電流和外加電壓的關(guān)系有助于分析絕緣的缺陷類型，如圖所示。緣的缺陷類型，如圖所示。（3）泄漏電流測量用的微安表要比兆歐表精度高。）泄漏電流測量用的微安表要比兆歐表精度高。 三、影響因素和分析判斷三、影響因素和分析判斷1、影響因素、影響因素 （1）溫度的影響。當溫度升

25、高時，泄漏電流增大。）溫度的影響。當溫度升高時，泄漏電流增大。 （2）表面污染的影響。）表面污染的影響。 （3）加壓速度的影響。加壓速度過快，將影響吸收）加壓速度的影響。加壓速度過快，將影響吸收過程的完成，對電容量大的設(shè)備就有影響。過程的完成，對電容量大的設(shè)備就有影響。 （4）微安表位置和高壓連線的影響。這主要是雜散）微安表位置和高壓連線的影響。這主要是雜散電流和電暈電流的影響。電流和電暈電流的影響。 （5）試驗電壓波形和極性的影響。要求試驗電壓的）試驗電壓波形和極性的影響。要求試驗電壓的電源波形是正弦波形（交流）。電源波形是正弦波形（交流）。 （6）濕度影響。和絕緣電阻相似，應(yīng)在空氣相對濕）

26、濕度影響。和絕緣電阻相似，應(yīng)在空氣相對濕度度80%以下進行。以下進行。 2、分析判斷、分析判斷（1）泄漏電流隨電壓不成比例顯著增長時，）泄漏電流隨電壓不成比例顯著增長時，應(yīng)注意分析。應(yīng)注意分析。（2）泄漏電流應(yīng)不隨時間的延長而增長。）泄漏電流應(yīng)不隨時間的延長而增長。（3）所測得的泄漏電流值不應(yīng)超出一般允許）所測得的泄漏電流值不應(yīng)超出一般允許值（可見下述各章）。值（可見下述各章）。（4）將數(shù)值與過去數(shù)據(jù)、各相間和同類設(shè)備）將數(shù)值與過去數(shù)據(jù)、各相間和同類設(shè)備相比較。相比較。（5）應(yīng)排除濕度、溫度、污染等影響因素。）應(yīng)排除濕度、溫度、污染等影響因素。（6）對直流耐壓試驗的判斷為：）對直流耐壓試驗的判

27、斷為： 1）被試品發(fā)生擊穿。此時微安表指示突然增）被試品發(fā)生擊穿。此時微安表指示突然增高或電壓表指示明顯下降。高或電壓表指示明顯下降。 2）被試品發(fā)生間隙性擊穿。此時微安表指示）被試品發(fā)生間隙性擊穿。此時微安表指示周期性地大幅度擺動。但應(yīng)排除電源波動、周期性地大幅度擺動。但應(yīng)排除電源波動、表面污染等影響。表面污染等影響。 3）耐壓后的絕緣電阻比耐壓前顯著降低時，）耐壓后的絕緣電阻比耐壓前顯著降低時，則絕緣有問題，甚至已擊穿。則絕緣有問題，甚至已擊穿。 4）泄漏電流比上次試驗變化很大，隨電壓升）泄漏電流比上次試驗變化很大，隨電壓升高或時間的延長而急劇上升時，應(yīng)查明原因。高或時間的延長而急劇上升時

28、，應(yīng)查明原因。l1、介質(zhì)損耗介質(zhì)損耗l 什么是介質(zhì)損耗：絕緣材料在電場作用下，由什么是介質(zhì)損耗：絕緣材料在電場作用下，由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng)，在其內(nèi)部引于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng)，在其內(nèi)部引起的能量損耗。也叫介質(zhì)損失，簡稱介損。起的能量損耗。也叫介質(zhì)損失，簡稱介損。l2、介質(zhì)損耗角介質(zhì)損耗角l 在交變電場作用下，電介質(zhì)內(nèi)流過的電流相量在交變電場作用下，電介質(zhì)內(nèi)流過的電流相量和電壓相量之間的夾角和電壓相量之間的夾角(功率因數(shù)角功率因數(shù)角)的余角的余角()。 簡稱介損角。簡稱介損角。l3、介質(zhì)損耗正切值介質(zhì)損耗正切值tgl 又稱介質(zhì)損耗因數(shù)，是指介質(zhì)損耗角正切值，又稱介質(zhì)損耗因數(shù)，是

29、指介質(zhì)損耗角正切值，簡稱介損角正切。介質(zhì)損耗因數(shù)的定義如下簡稱介損角正切。介質(zhì)損耗因數(shù)的定義如下:第三節(jié)第三節(jié) 介質(zhì)損失角正切值或功率因數(shù)試驗介質(zhì)損失角正切值或功率因數(shù)試驗l介質(zhì)損耗因數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)tg是反映絕緣性能的基本指是反映絕緣性能的基本指標之一。介質(zhì)損耗因數(shù)標之一。介質(zhì)損耗因數(shù)tg反映絕緣損耗的反映絕緣損耗的特征參數(shù)，它可以很靈敏地發(fā)現(xiàn)電氣設(shè)備特征參數(shù)，它可以很靈敏地發(fā)現(xiàn)電氣設(shè)備絕緣整體絕緣整體受潮、劣化變質(zhì)受潮、劣化變質(zhì)以及小體積設(shè)備以及小體積設(shè)備貫通和未貫通的貫通和未貫通的局部缺陷局部缺陷。 如果取得試品的電流相量如果取得試品的電流相量 和電壓相量和電壓相量 ，則，則可以得到如下相

30、量圖：可以得到如下相量圖：l總電流可以分解為電容電流總電流可以分解為電容電流Ic和電阻電流和電阻電流IR合成，合成，因此：因此：l這正是損失角這正是損失角=(90-)的正切值。因此現(xiàn)在的的正切值。因此現(xiàn)在的數(shù)字化儀器從本質(zhì)上講，是通過測量數(shù)字化儀器從本質(zhì)上講，是通過測量或者或者得到得到介損因數(shù)。介損因數(shù)。l介質(zhì)損耗因數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)tg與絕緣電阻和泄漏電流的與絕緣電阻和泄漏電流的測試相比具有明顯的優(yōu)點，它與試驗電壓、測試相比具有明顯的優(yōu)點，它與試驗電壓、試品尺寸等因素無關(guān)，更便于判斷電氣設(shè)備試品尺寸等因素無關(guān)，更便于判斷電氣設(shè)備絕緣變化情況。因此介質(zhì)損耗因數(shù)絕緣變化情況。因此介質(zhì)損耗因數(shù)tg為高

31、為高壓電氣設(shè)備絕緣測試的最基本的試驗之一。壓電氣設(shè)備絕緣測試的最基本的試驗之一。介質(zhì)損耗因數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)tg可以有效的發(fā)現(xiàn)絕緣的下可以有效的發(fā)現(xiàn)絕緣的下列缺陷：列缺陷：（1）受潮；（）受潮；（2）穿透性導(dǎo)電通道；（）穿透性導(dǎo)電通道；（3）絕緣內(nèi)含氣泡的游離，絕緣分層、脫殼；絕緣內(nèi)含氣泡的游離，絕緣分層、脫殼；（4）絕緣有臟污、劣化老化等。）絕緣有臟污、劣化老化等。l當絕緣物上加交流電壓時，我們可以把介質(zhì)當絕緣物上加交流電壓時，我們可以把介質(zhì)看成為一個電阻和電容并聯(lián)組成的等值電路?？闯蔀橐粋€電阻和電容并聯(lián)組成的等值電路。根據(jù)等值電路可以作出電流和電壓的相量圖。根據(jù)等值電路可以作出電流和電壓的相量

32、圖。 6015aRKRl功率因數(shù)功率因數(shù)cosl 功率因數(shù)是功率因數(shù)角功率因數(shù)是功率因數(shù)角的余弦值，意義為被的余弦值，意義為被測試品的總視在功率測試品的總視在功率S中有功功率中有功功率P所占的比重。所占的比重。功率因數(shù)的定義如下功率因數(shù)的定義如下: l有的介損測試儀習(xí)慣顯示功率因數(shù)有的介損測試儀習(xí)慣顯示功率因數(shù)(PF:cos)，而不是介質(zhì)損耗因數(shù)而不是介質(zhì)損耗因數(shù)(DF:tg)。一般。一般costg，在損耗很小時這兩個數(shù)值非常接近。在損耗很小時這兩個數(shù)值非常接近。6015aRKRHJSC-10B自動抗干擾介質(zhì)損耗測試儀自動抗干擾介質(zhì)損耗測試儀HJSC-10B自動抗干擾介質(zhì)損耗測試儀自動抗干擾介質(zhì)損耗測試儀是專門為高壓