超聲檢測UT工藝題與綜合題解析與課件

1、工藝題工藝題11、對一在制高壓容器機加工鍛造、對一在制高壓容器機加工鍛造封頭進行超聲波檢測，具體尺寸封頭進行超聲波檢測，具體尺寸見下圖，鍛件材料號見下圖，鍛件材料號:20MnMo；超聲波檢測及驗收標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行超聲波檢測及驗收標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行JB/T4730.3-2005承壓設(shè)備無承壓設(shè)備無損檢測損檢測 第第3部分：超聲檢測部分：超聲檢測；鍛件合格等級按鍛件合格等級按級驗收。級驗收。解釋：解釋：1、探頭：、探頭：(1)、JB/T4730.3-2005要求：要求： 4.2.2雙晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用雙晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用5MHz。探頭晶片面積不小于探頭晶片面積不小于150mm2；單晶單晶直探頭的公稱頻率

2、應(yīng)選用直探頭的公稱頻率應(yīng)選用25MHz，探頭晶片一般為探頭晶片一般為1425mm。(2)、選擇探頭選擇探頭2.5P25Z2、檢測方向：、檢測方向：(1)、JB/T4730.3-2005要求：要求：4.2.5.2 縱波檢測縱波檢測a) 原則上應(yīng)從兩個相互垂直的方向進行檢原則上應(yīng)從兩個相互垂直的方向進行檢測，盡可能地檢測到鍛件的全體積。主要測，盡可能地檢測到鍛件的全體積。主要檢測方向如圖檢測方向如圖7所示。其他形狀的鍛件也可所示。其他形狀的鍛件也可參照執(zhí)行；參照執(zhí)行；b） 鍛件厚度超過鍛件厚度超過400mm時，應(yīng)從相對兩時，應(yīng)從相對兩端面進行端面進行100%的掃查。的掃查。(2)、檢測方向見工藝卡

3、，檢測深度、檢測方向見工藝卡，檢測深度350mm, 600mm.3、試塊、試塊(1)、JB/T4730.3-2005要求：要求：4.2.3.1 單直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊單直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊采用采用CS試塊，其形狀和尺寸應(yīng)符合圖試塊，其形狀和尺寸應(yīng)符合圖4和表和表4的的規(guī)定規(guī)定。.2.6.1 單直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定單直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的三倍近場區(qū)長度，且探測面與底的三倍近場區(qū)長度，且探測面與底面平行時，原則上可采用底波計算面平行時，原則上可采用底波計算法確定基準(zhǔn)靈敏度。對由于幾何形法確定基準(zhǔn)靈敏度。對由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于狀

4、所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的三倍近場區(qū)時，可直接采用探頭的三倍近場區(qū)時，可直接采用CS標(biāo)準(zhǔn)試塊確定基準(zhǔn)靈敏度。標(biāo)準(zhǔn)試塊確定基準(zhǔn)靈敏度。(2) 探頭探頭2.5P25Z，近場區(qū)長度近場區(qū)長度N=D2/4=252/42.3666.2mm, 3N197mm。鍛件厚度鍛件厚度350mm, 所以可所以可用底波計算法確定基準(zhǔn)靈敏度。用底波計算法確定基準(zhǔn)靈敏度。 檢測深度檢測深度350mm, dB=20lgPB/Pf=20lg2X/DX/Df f2 2=20lg2=20lg22.36350/3.142242dB,檢測深度檢測深度600mm, dB=20lgPB/Pf=20lg2XXf f2 2/D/Df

5、 f2 2X XB B=20lg=20lg2 22.366002/3.142235052dB。也可以使用也可以使用CS-4試塊校驗靈敏度。試塊校驗靈敏度。檢測深度檢測深度350mm, dB=20lgPf1/Pf2=40lgX2/X/X1 1=40lg=40lg350/20010dB,檢測深度檢測深度600mm, dB=20lgPf1/Pf2=40lgX2/X/X1 1=40lg=40lg600/20019dB. 4、耦合補償耦合補償試塊或?qū)崪y，大平底試塊或?qū)崪y，大平底。l2、有一塊、有一塊16MnR鋼板規(guī)格為鋼板規(guī)格為4200270090mm，用于制作壓，用于制作壓力容器筒節(jié)，下料尺寸為力容器

6、筒節(jié)，下料尺寸為40002700mm，要求進行縱波和橫，要求進行縱波和橫波超聲波檢測，檢測標(biāo)準(zhǔn)為波超聲波檢測，檢測標(biāo)準(zhǔn)為JB/T4730.3-2005承壓設(shè)備無損檢承壓設(shè)備無損檢測測 第第3部分：超聲檢測部分：超聲檢測，級合格?，F(xiàn)有設(shè)備如下：級合格。現(xiàn)有設(shè)備如下：l(1)、儀器設(shè)備：、儀器設(shè)備：CTS-22型型l(2)、探頭：、探頭：2.5P12Z 2.5P20Z 2.5P30Z 5.0P12Z 5.0P20Z 5.0P30Zl2.5P1414K1 2.5P2020K1 2.5P2525K1 5.0P1414K1l5.0P2020K1 5.0P2525K1l(3)、試塊：、試塊：CB-1 CB

7、-2 CB-3 CB-4 CB-5 CB-6 CBIl(4)、耦合劑：水、化學(xué)漿糊、機油、耦合劑：水、化學(xué)漿糊、機油l請對下列工藝卡進行審核，發(fā)現(xiàn)錯誤的地方請予以糾正并把正確請對下列工藝卡進行審核，發(fā)現(xiàn)錯誤的地方請予以糾正并把正確的結(jié)果寫在相對應(yīng)的的結(jié)果寫在相對應(yīng)的“訂正訂正”空格里?？崭窭?。JB/T4730.3-2005關(guān)于鋼板超聲檢測的解釋：關(guān)于鋼板超聲檢測的解釋：、縱波檢測：、縱波檢測：1）、探頭：）、探頭：板厚板厚620mm, 雙晶直探頭雙晶直探頭, 5MHz, 晶片面積不晶片面積不小于小于150mm2;2040mm, 單晶直探頭單晶直探頭, 5MHz, 1420 mm;40250mm

8、, 單晶直探頭單晶直探頭, 2.5MHz, 2025 mm.2）、試塊）、試塊用單直探頭檢測厚度大于用單直探頭檢測厚度大于20mm的鋼板時，的鋼板時，CB標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)符合圖圖2和表和表2的規(guī)定。試塊厚度應(yīng)與的規(guī)定。試塊厚度應(yīng)與被檢鋼板厚度相近。經(jīng)合同雙方被檢鋼板厚度相近。經(jīng)合同雙方同意，也可采用雙晶直探頭進行同意，也可采用雙晶直探頭進行檢測。檢測。圖圖2 CB標(biāo)準(zhǔn)試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊表表2 2 CBCB標(biāo)準(zhǔn)試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊 mmmm試塊編號試塊編號 鋼板厚度鋼板厚度 距離距離s 試塊厚度試塊厚度T CB-1 2040 15 20CB-2 4060 30 40CB-3 60100 50 65CB

9、-4 100160 90 110CB-5 160200 140 170CB-6 200250 190 2203）、靈敏度校驗）、靈敏度校驗4.1.4.2 板厚大于板厚大于20mm時，應(yīng)將時，應(yīng)將CB試塊試塊5平底孔第一次反射波高調(diào)整平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的到滿刻度的50%作為基準(zhǔn)靈敏度。作為基準(zhǔn)靈敏度。4.1.4.3 板厚不小于探頭的三倍近場區(qū)板厚不小于探頭的三倍近場區(qū)時，也可取鋼板無缺陷完好部位的第時，也可取鋼板無缺陷完好部位的第一次底波來校準(zhǔn)靈敏度，其結(jié)果應(yīng)與一次底波來校準(zhǔn)靈敏度，其結(jié)果應(yīng)與4.1.4.2的要求相一致。的要求相一致。）、）、 掃查方式掃查方式 a) 探頭沿垂直于鋼

10、板壓延方向，探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不大于間距不大于100mm的平行線進行掃查。的平行線進行掃查。在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（當(dāng)當(dāng)板厚超過板厚超過100mm時，以板厚的一半為時，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)作準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)作100%掃查，掃查示意圖掃查，掃查示意圖見圖見圖3；b) 根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查要求，也可采用其他形式的掃查、橫波檢測、橫波檢測）、探頭）、探頭B.2.1 原則上選用原則上選用K1斜探頭，圓晶片斜探頭，圓晶片直徑應(yīng)在直徑應(yīng)在13mm25mm之間，方晶之間，方晶片面積應(yīng)不小于片面積應(yīng)不小于200

11、mm2。如有特殊如有特殊需要也可選用其他尺寸和需要也可選用其他尺寸和K值的探頭。值的探頭。B.2.2 檢測頻率為檢測頻率為2 MHz5MHz。）、對比試塊）、對比試塊B.3.1 對比試塊用鋼板應(yīng)與被檢鋼板厚度相同，對比試塊用鋼板應(yīng)與被檢鋼板厚度相同，聲學(xué)特性相同或相似。聲學(xué)特性相同或相似。B.3.2 對比試塊上的人工缺陷反射體為對比試塊上的人工缺陷反射體為V形槽，形槽，角度為角度為60，槽深為板厚的，槽深為板厚的3%，槽的長度至少，槽的長度至少為為25mm。B.3.3 對比試塊的尺寸、對比試塊的尺寸、V形槽位置應(yīng)符合圖形槽位置應(yīng)符合圖B.1的規(guī)定。的規(guī)定。B.3.4 對于厚度超過對于厚度超過5

12、0mm的鋼板，要在鋼板的的鋼板，要在鋼板的底面加工第二個如底面加工第二個如B.3.3所述的校準(zhǔn)槽。所述的校準(zhǔn)槽。 圖圖B.1 對比試塊對比試塊 ）、基準(zhǔn)靈敏度的確定）、基準(zhǔn)靈敏度的確定B.4.1 厚度小于或等于厚度小于或等于50mm的鋼板的鋼板B.4.1.1 把探頭置于試塊有槽的一面，使聲束把探頭置于試塊有槽的一面，使聲束對準(zhǔn)槽的寬邊，找出第一個全跨距反射的最大對準(zhǔn)槽的寬邊，找出第一個全跨距反射的最大波幅，調(diào)整儀器，使該反射波的最大波幅為滿波幅，調(diào)整儀器，使該反射波的最大波幅為滿刻度的刻度的80%，在熒光屏上記錄下該信號的位置。，在熒光屏上記錄下該信號的位置。B.4.1.2 移動探頭，得到第二

13、個全跨距信號，移動探頭，得到第二個全跨距信號，并找出信號最大反射波幅，記下這一信號幅值并找出信號最大反射波幅，記下這一信號幅值點在熒光屏上的位置，將熒光屏上這兩個槽反點在熒光屏上的位置，將熒光屏上這兩個槽反射信號幅值點連成一直線，此線即為距離射信號幅值點連成一直線，此線即為距離-波波幅曲線。幅曲線。B.4.2 厚度大于厚度大于50mm150mm的鋼板的鋼板B.4.2.1 將探頭聲束對準(zhǔn)試塊背面的槽，并找出將探頭聲束對準(zhǔn)試塊背面的槽，并找出第一個第一個1/2跨距反射的最大波幅。調(diào)節(jié)儀器，使跨距反射的最大波幅。調(diào)節(jié)儀器，使反射波幅為滿刻度的反射波幅為滿刻度的80%，在熒光屏上記下這，在熒光屏上記下

14、這個信號的位置。不改變儀器調(diào)整狀態(tài)，在個信號的位置。不改變儀器調(diào)整狀態(tài)，在3/2跨跨距上重復(fù)該項操作。距上重復(fù)該項操作。B.4.2.2 不改變儀器調(diào)整狀態(tài)，把探頭再次置于不改變儀器調(diào)整狀態(tài)，把探頭再次置于試塊表面，使波束對準(zhǔn)試塊表面上的槽，并找試塊表面，使波束對準(zhǔn)試塊表面上的槽，并找出全跨距最大反射波的位置。在熒光屏上記下出全跨距最大反射波的位置。在熒光屏上記下這一幅值點。這一幅值點。B.4.2.3 在熒光屏上將在熒光屏上將B.4.2.1和和B.4.2.2所確定的所確定的點相連接，此線即為距離點相連接，此線即為距離-波幅曲線。波幅曲線。B.4.3 厚度大于厚度大于150mm250mm的鋼板的鋼

15、板B.4.3.1 把探頭置于試塊表面，使聲束對準(zhǔn)試塊把探頭置于試塊表面，使聲束對準(zhǔn)試塊底面上的切槽，并找出第一個底面上的切槽，并找出第一個1/2跨距反射的最跨距反射的最大幅度位置。調(diào)節(jié)儀器，使這一反射波為熒光大幅度位置。調(diào)節(jié)儀器，使這一反射波為熒光屏滿刻度的屏滿刻度的80%，在熒光屏上記下這個幅值點。，在熒光屏上記下這個幅值點。B.4.3.2 不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，把探頭再次置不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，把探頭再次置于試塊表面，以全跨距對準(zhǔn)切槽獲得最大反射，于試塊表面，以全跨距對準(zhǔn)切槽獲得最大反射，在熒光屏上記下這個幅值點。在熒光屏上記下這個幅值點。B.4.3.3 在熒光屏上將在熒光屏上將B.4.3

16、.1和和B.4.3.2所確定的所確定的點連成一直線，此線即為距離點連成一直線，此線即為距離-波幅曲線波幅曲線）、掃查方法）、掃查方法B.5.1 在鋼板的軋制面上以垂直在鋼板的軋制面上以垂直和平行于鋼板主要壓延方向的格和平行于鋼板主要壓延方向的格子線進行掃查，格子線中心距為子線進行掃查，格子線中心距為200mm。l3、某電站鍋爐低再出口集箱，其規(guī)格為、某電站鍋爐低再出口集箱，其規(guī)格為D050825mm，材料牌號為，材料牌號為10CrMo910。集箱管子與端蓋對接環(huán)縫如下圖所示，焊集箱管子與端蓋對接環(huán)縫如下圖所示，焊接剖口為單面接剖口為單面V型，焊接方法為手工電弧型，焊接方法為手工電弧焊打底，埋弧

17、自動焊蓋面，請按焊打底，埋弧自動焊蓋面，請按JB/T4730.3-2005承壓設(shè)備無損檢測承壓設(shè)備無損檢測 第第3部分：超聲檢測部分：超聲檢測標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)C級檢測級檢測級合格級合格的要求，編制該對接環(huán)縫的超聲檢測工藝的要求，編制該對接環(huán)縫的超聲檢測工藝卡，并在圖上相應(yīng)部位標(biāo)注探頭位置。試卡，并在圖上相應(yīng)部位標(biāo)注探頭位置。試塊與工件表面耦合損失差為塊與工件表面耦合損失差為4dB。JB/T4730.3-2005解釋：解釋：、超聲檢測技術(shù)等級、超聲檢測技術(shù)等級1). A級檢測：級檢測：A級僅適用于母材厚度級僅適用于母材厚度8mm46mm的對接焊接接頭。可用一的對接焊接接頭。可用一種種K值探頭采用直射波法

18、和一次值探頭采用直射波法和一次反射波法在對接焊接接頭的單面反射波法在對接焊接接頭的單面單側(cè)進行檢測。一般不要求進行單側(cè)進行檢測。一般不要求進行橫向缺陷的檢測。橫向缺陷的檢測。2) B級檢測：級檢測：a) 母材厚度母材厚度8mm46mm時，一般用一時，一般用一種種K值探頭采用直射波法和一次反射波法值探頭采用直射波法和一次反射波法在對接焊接接頭的單面雙側(cè)進行檢測。在對接焊接接頭的單面雙側(cè)進行檢測。b) 母材厚度大于母材厚度大于46mm120mm時，一般時，一般用一種用一種K值探頭采用直射波法在焊接接頭值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進行檢測，如受幾何條件限制，的雙面雙側(cè)進行檢測，如受幾何條件

19、限制，也可在焊接接頭的雙面單側(cè)或單面雙側(cè)采也可在焊接接頭的雙面單側(cè)或單面雙側(cè)采用兩種用兩種K值探頭進行檢測。值探頭進行檢測。c) 母材厚度大于母材厚度大于120mm400mm時，一般用時，一般用兩種兩種K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進行檢測。兩種探頭的折射角相差面雙側(cè)進行檢測。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于應(yīng)不小于10。d) 應(yīng)進行橫向缺陷的檢測。檢測時，可在應(yīng)進行橫向缺陷的檢測。檢測時，可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接頭中心焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接頭中心線成線成1020作兩個方向的斜平行掃查，作兩個方向的斜平行掃查，見圖見圖12。如焊接接頭余高

20、磨平，探頭應(yīng)在。如焊接接頭余高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個方向的平行焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個方向的平行掃查，見圖掃查，見圖13。3) C級檢測：級檢測：采用采用C級檢測時應(yīng)將焊接接頭的余高磨級檢測時應(yīng)將焊接接頭的余高磨平，對焊接接頭兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過的平，對焊接接頭兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過的母材區(qū)域要用直探頭進行檢測，檢測方母材區(qū)域要用直探頭進行檢測，檢測方法見法見5.1.4.4。a). 母材厚度母材厚度8mm46mm時，一般用時，一般用兩種兩種K值探頭采用直射波法和一次反射波值探頭采用直射波法和一次反射波法在焊接接頭的單面雙側(cè)進行檢測。兩法在焊接接頭的單面雙側(cè)進行檢測。兩種探頭的折射

21、角相差應(yīng)不小于種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10，其，其中一個折射角應(yīng)為中一個折射角應(yīng)為45。 b). 母材厚度大于母材厚度大于4646mm400mm時，一時，一般用兩種般用兩種K值探頭采用直射波法在焊接值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進行檢測。兩種探頭接頭的雙面雙側(cè)進行檢測。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于的折射角相差應(yīng)不小于10。對于單。對于單側(cè)坡口角度小于側(cè)坡口角度小于5的窄間隙焊縫，如的窄間隙焊縫，如有可能應(yīng)增加對檢測與坡口表面平行有可能應(yīng)增加對檢測與坡口表面平行缺陷有效的檢測方法。缺陷有效的檢測方法。c). 應(yīng)進行橫向缺陷的檢測。檢測時，應(yīng)進行橫向缺陷的檢測。檢測時，將探頭放在與焊縫及

22、熱影響區(qū)上作兩將探頭放在與焊縫及熱影響區(qū)上作兩個方向的平行掃查，見圖個方向的平行掃查，見圖13。2）、試塊）、試塊采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為CSK-A、CSK-A、CSK-A和和CSK-A。CSK-A、CSK-A和和CSK-A試塊適用試塊適用壁厚范圍為壁厚范圍為6mm120mm的焊接接頭，的焊接接頭，CSK-A和和CSK-A系列試塊適用壁厚范系列試塊適用壁厚范圍大于圍大于120mm400mm的焊接接頭。在滿的焊接接頭。在滿足靈敏度要求時，試塊上的人工反射體根足靈敏度要求時，試塊上的人工反射體根據(jù)檢測需要可采取其他布置形式或添加，據(jù)檢測需要可采取其他布置形式或添加，也可采用其他型式的等效試

23、塊。也可采用其他型式的等效試塊。3）、探頭）、探頭K值（角度）值（角度） 斜探頭的斜探頭的K值（角度）選取可參照表值（角度）選取可參照表18的規(guī)定。條件的規(guī)定。條件允許時，應(yīng)盡量采用較大允許時，應(yīng)盡量采用較大K值探頭。值探頭。表表18 推薦采用的斜探頭推薦采用的斜探頭K值值板厚板厚T,mm K值值625 3.02.0（7260）2546 2.51.5（6856）46120 2.01.0（6045）120400 2.01.0（6045） 4）、檢測頻率）、檢測頻率檢測頻率一般為檢測頻率一般為2MHz5MHz。5)、母材的檢測、母材的檢測 對于對于C級檢測，斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域，級檢測，斜

24、探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測，以便檢測是否有影響斜探頭檢應(yīng)先用直探頭檢測，以便檢測是否有影響斜探頭檢測結(jié)果的分層或其他種類缺陷存在。該項檢測僅作測結(jié)果的分層或其他種類缺陷存在。該項檢測僅作記錄，不屬于對母材的驗收檢測。母材檢測的要點記錄，不屬于對母材的驗收檢測。母材檢測的要點如下：如下： a） 檢測方法：接觸式脈沖反射法，采用頻率檢測方法：接觸式脈沖反射法，采用頻率2MHz5MHz的直探頭，晶片直徑的直探頭，晶片直徑10mm25mm。 b） 檢測靈敏度：將無缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒檢測靈敏度：將無缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的光屏滿刻度的100%。 c） 凡缺陷信號幅度超

25、過熒光屏滿刻度凡缺陷信號幅度超過熒光屏滿刻度20%的部位，的部位，應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記，并予以記錄。應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記，并予以記錄。6)、距離、距離- -波幅曲線的靈敏度選擇波幅曲線的靈敏度選擇a） 壁厚為壁厚為6mm120mm的焊接接頭，的焊接接頭，其距離其距離- -波幅曲線靈敏度按表波幅曲線靈敏度按表19的規(guī)的規(guī)定。定。b） 壁厚大于壁厚大于120mm400mm的焊的焊接接頭，其距離接接頭，其距離- -波幅曲線靈敏度按波幅曲線靈敏度按表表20的規(guī)定。的規(guī)定。c） 檢測橫向缺陷時，應(yīng)將各線靈敏檢測橫向缺陷時，應(yīng)將各線靈敏度均提高度均提高6dB。工藝題工藝題44、某鍛件如圖、某鍛件如圖1所示

26、，材質(zhì)所示，材質(zhì)SA387Gr22Cl3（低合金鋼），機加（低合金鋼），機加工后要求進行超聲檢測，執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)工后要求進行超聲檢測，執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730.3-2005承壓設(shè)備無損檢承壓設(shè)備無損檢測測 第第3部分：超聲檢測部分：超聲檢測，驗收標(biāo)準(zhǔn)：，驗收標(biāo)準(zhǔn)：底波降低量底波降低量級、其它缺陷級、其它缺陷級。請級。請?zhí)顚懸韵鹿に嚳ǎ禾顚懸韵鹿に嚳ǎ?解釋：解釋：1、 鍛件檢測特點：鍛件檢測特點：1)、曲率較大，、曲率較大，360mm, 515mm;2)、T=31mm,65mm,108.5mm,165mm.3)、298/360=0.82, 298/515=0.574)需要用直探頭，雙晶探頭，斜探頭。

27、需要用直探頭，雙晶探頭，斜探頭。5)2.5P14Z, N21mm, 3N63mm; 2.5P20Z, N42mm, 3N126mm2、雙晶直探頭試塊、雙晶直探頭試塊 a) 工件檢測距離小于工件檢測距離小于45mm時，應(yīng)采用時，應(yīng)采用CS標(biāo)準(zhǔn)試塊。標(biāo)準(zhǔn)試塊。 b) CS試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合圖試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合圖5和表和表5的規(guī)定。的規(guī)定。表表5 CS標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸 mm試塊序號試塊序號 孔徑孔徑CS-1 2 CS-2 3CS-3 4CS-4 6檢測距離檢測距離L=5,10,15,20,25,30,35,40,45.圖圖5 CS標(biāo)準(zhǔn)試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊3、雙晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定、雙晶直

28、探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定使用使用CS 試塊，依次測試一組不同試塊，依次測試一組不同檢測距離的檢測距離的3平底孔（至少三個）。平底孔（至少三個）。調(diào)節(jié)衰減器，作出雙晶直探頭的距離調(diào)節(jié)衰減器，作出雙晶直探頭的距離-波幅曲線，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。波幅曲線，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。掃查靈敏度一般不得低于最大檢測距掃查靈敏度一般不得低于最大檢測距離處的離處的2mm平底孔當(dāng)量直徑。平底孔當(dāng)量直徑。4、鋼鍛件超聲橫波檢測鋼鍛件超聲橫波檢測附錄適用于內(nèi)、外徑之比大于或等于附錄適用于內(nèi)、外徑之比大于或等于80%的承壓設(shè)備用環(huán)形和筒形鍛件的超聲的承壓設(shè)備用環(huán)形和筒形鍛件的超聲橫波檢測。橫波檢測。 C.2 探頭探頭C.

29、2.1 探頭公稱頻率主要為探頭公稱頻率主要為2.5MHz。C.2.2 探頭晶片面積為探頭晶片面積為140 mm2400mm2。C.2.3 原則上應(yīng)采用原則上應(yīng)采用K1探頭，但根據(jù)工件探頭，但根據(jù)工件幾何形狀的不同，也可采用其他的幾何形狀的不同，也可采用其他的K值探值探頭。頭。C.3 靈敏度校準(zhǔn)試塊靈敏度校準(zhǔn)試塊為了調(diào)整檢測靈敏度，可利用被檢工件為了調(diào)整檢測靈敏度，可利用被檢工件壁厚或長度上的加工余量部分制作對比壁厚或長度上的加工余量部分制作對比試塊。在鍛件的內(nèi)外表面，分別沿軸向試塊。在鍛件的內(nèi)外表面，分別沿軸向和周向加工平行的和周向加工平行的V形槽作為標(biāo)準(zhǔn)溝槽。形槽作為標(biāo)準(zhǔn)溝槽。V形槽長度為形

30、槽長度為25mm，深度為鍛件壁厚的深度為鍛件壁厚的1%，角度為，角度為60。也可采用其他等效的。也可采用其他等效的反射體（如邊角反射等）。反射體（如邊角反射等）。C.4 檢測方法檢測方法C.4.1 掃查方式掃查方式C.4.1.1 掃查方向見圖掃查方向見圖C.1。C.4.2 基準(zhǔn)靈敏度的確定基準(zhǔn)靈敏度的確定從鍛件外圓面將探頭對準(zhǔn)內(nèi)圓面的標(biāo)準(zhǔn)從鍛件外圓面將探頭對準(zhǔn)內(nèi)圓面的標(biāo)準(zhǔn)溝槽，調(diào)整增益，使最大反射高度為滿溝槽，調(diào)整增益，使最大反射高度為滿刻度的刻度的80%，將該值標(biāo)在面板上，以其，將該值標(biāo)在面板上，以其為基準(zhǔn)靈敏度；不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，為基準(zhǔn)靈敏度；不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，再移動探頭測定外圓面

31、的標(biāo)準(zhǔn)溝槽，并再移動探頭測定外圓面的標(biāo)準(zhǔn)溝槽，并將最大的反射高度也標(biāo)在面板上，將上將最大的反射高度也標(biāo)在面板上，將上述兩點用直線連接并延長，繪出距離述兩點用直線連接并延長，繪出距離-波波幅曲線，并使之包括全部檢測范圍。內(nèi)幅曲線，并使之包括全部檢測范圍。內(nèi)圓面檢測時基準(zhǔn)靈敏度也按上述方法確圓面檢測時基準(zhǔn)靈敏度也按上述方法確定，但探頭斜楔應(yīng)與內(nèi)圓曲率一致。定，但探頭斜楔應(yīng)與內(nèi)圓曲率一致。工藝題工藝題55、有一筒形鍛件，尺寸、有一筒形鍛件，尺寸Di (內(nèi)徑內(nèi)徑) 3800120mm，長度，長度2000mm，材料，材料SA508-，要求按，要求按JB/T4730.3-2005承承壓設(shè)備無損檢測壓設(shè)備無

32、損檢測 第第3部分：超聲檢測部分：超聲檢測標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)進行超聲檢測，驗收級別為準(zhǔn)進行超聲檢測，驗收級別為級?，F(xiàn)有級。現(xiàn)有CTS-22超聲波探傷儀，直探頭超聲波探傷儀，直探頭2.5P20Z，斜探頭斜探頭2.5P2020K1，耦合劑為化學(xué)漿，耦合劑為化學(xué)漿糊或機油。請編制工藝卡。糊或機油。請編制工藝卡。 請回答下列問題：(1)、按法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定對變換爐上的焊縫要進行哪些無損檢測？比例各是多少？答：1) A1、A2、A3、A4、B1、B2、B3、B4、B5 100%RT+20%UT，或100%UT+20%RT2) D1、D2、D3 100%MT2)、D3角焊縫結(jié)構(gòu)和尺寸如圖角焊縫結(jié)構(gòu)和尺寸如圖2所示，要求用

33、直探頭所示，要求用直探頭和兩種和兩種K值斜探頭檢測該焊縫，請?zhí)顚懴铝谐暡z值斜探頭檢測該焊縫，請?zhí)顚懴铝谐暡z測工藝卡并在圖上注明掃查方向。測工藝卡并在圖上注明掃查方向。l圖圖2 D3角焊縫結(jié)構(gòu)和尺寸示意圖角焊縫結(jié)構(gòu)和尺寸示意圖JB/T4730.3-2005解釋：解釋：、管座角焊縫的檢測管座角焊縫的檢測 a） 一般原則。一般原則。在選擇檢測面和探頭時應(yīng)考慮到各種類型缺陷在選擇檢測面和探頭時應(yīng)考慮到各種類型缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于該焊接接頭的可能性，并使聲束盡可能垂直于該焊接接頭結(jié)構(gòu)中的主要缺陷。結(jié)構(gòu)中的主要缺陷。b） 檢測方式。檢測方式。根據(jù)結(jié)構(gòu)形式，管座角焊縫的檢測有如下五種根

34、據(jù)結(jié)構(gòu)形式，管座角焊縫的檢測有如下五種檢測方式，可選擇其中一種或幾種方式組合實檢測方式，可選擇其中一種或幾種方式組合實施檢測。檢測方式的選擇應(yīng)由合同雙方商定，施檢測。檢測方式的選擇應(yīng)由合同雙方商定，并應(yīng)考慮主要檢測對象和幾何條件的限制。并應(yīng)考慮主要檢測對象和幾何條件的限制。1）在接管內(nèi)壁采用直探頭檢測，見圖）在接管內(nèi)壁采用直探頭檢測，見圖22位置位置1。2）在容器內(nèi)壁采用直探頭檢測，見圖）在容器內(nèi)壁采用直探頭檢測，見圖23位置位置1。在容器內(nèi)壁采用斜探頭檢測，見圖在容器內(nèi)壁采用斜探頭檢測，見圖22位置位置4。3）在接管外壁采用斜探頭檢測，見圖）在接管外壁采用斜探頭檢測，見圖23位置位置2。4）

35、在接管內(nèi)壁采用斜探頭檢測，見圖）在接管內(nèi)壁采用斜探頭檢測，見圖22位置位置3和圖和圖23位置位置3。5）在容器外壁采用斜探頭檢測，見圖）在容器外壁采用斜探頭檢測，見圖22位置位置2。圖圖22 插入式管座角焊縫插入式管座角焊縫圖圖23 安放式管座角焊縫安放式管座角焊縫 C C） 管座角焊縫以直探頭檢測為主，必要時管座角焊縫以直探頭檢測為主，必要時應(yīng)增加斜探頭檢測的內(nèi)容。探頭頻率、尺寸應(yīng)應(yīng)增加斜探頭檢測的內(nèi)容。探頭頻率、尺寸應(yīng)按按4.2.2和和5.1.4的規(guī)定執(zhí)行，管座角焊縫斜探頭的規(guī)定執(zhí)行，管座角焊縫斜探頭的距離的距離-波幅曲線靈敏度按表波幅曲線靈敏度按表19的規(guī)定，直探的規(guī)定，直探頭的距離頭的

36、距離- -波幅曲線靈敏度按表波幅曲線靈敏度按表21的規(guī)定。距的規(guī)定。距離離- -波幅曲線的制作詳見波幅曲線的制作詳見5.1.5.1。表表21 管座角焊縫直探頭距離管座角焊縫直探頭距離-波幅曲線的靈敏波幅曲線的靈敏度度評定線評定線 定量線定量線 判廢線判廢線2mm平底孔平底孔 3mm平底孔平底孔 6mm平底孔平底孔 答：1) 焊縫兩側(cè)母材區(qū)先用直探頭2.5P20Z進行檢測；2) 在焊縫的雙面雙側(cè)用兩種K值2.5P2020K1和2.5P2020K2斜探頭進行檢測；3) 應(yīng)進行橫向缺陷檢測，把探頭放在焊縫內(nèi)、外表面上作正反兩個方向掃查，并把各線靈敏度提高6dB；(4)、該焊縫結(jié)構(gòu)的斜面對超聲波檢測有

37、哪些影響？從斜面掃查時，可采用哪些方法確定缺陷位置？答：1) 斜面對檢測的影響相當(dāng)于減小了探頭K值，因此，應(yīng)采用較大K值的探頭進行檢測；2) 對缺陷定位時應(yīng)進行修正，可采用計算法或圖表法確定缺陷位置。(2)、下降管角焊縫結(jié)構(gòu)和尺寸如圖3所示，請按JB/T4730.3-2005承壓設(shè)備無損檢測 第3部分：超聲檢測標(biāo)準(zhǔn)，確定合適的超聲檢測方法和參數(shù)（探頭種類、探頭參數(shù)、檢測面），并說明依據(jù)或理由。答；1) 檢測方法：接管內(nèi)壁用2.5MHz、14直探頭檢測(應(yīng)使用小尺寸直探頭以提高耦合效果)，筒體內(nèi)外壁分別用2.5MHz、K1和K2斜探頭檢測。2) 按JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)5.1.6.3

38、條，下降管角焊縫應(yīng)以接管內(nèi)壁直探頭檢測為主，主要是有利于檢測坡口未熔合和垂直于表面的裂紋類缺陷；在筒體內(nèi)外壁增加斜探頭檢測，主要是檢測焊縫內(nèi)缺陷。3)、按JB/T4730.3-2005承壓設(shè)備無損檢測 第3部分：超聲檢測標(biāo)準(zhǔn)，用直探頭檢測下降管角焊縫，是否可以采用底波調(diào)節(jié)法校準(zhǔn)檢測靈敏度？（說明理由）。如果可以，試敘述其校準(zhǔn)方法（焊縫寬度50mm）。答：1) 如果底波聲程大于等于探頭的3N，則可采用底波調(diào)節(jié)法，對2.5MHz、14探頭，N21mm,下降管底波聲程為75mm，大于3N，所以可以采用底波調(diào)節(jié)法校準(zhǔn)檢測靈敏度。 2) 按JB4730.3-2005承壓設(shè)備無損檢測 第3部分：超聲檢測標(biāo)

39、準(zhǔn)，評定線為2平底孔，則檢測靈敏度為2/（75+50+10）,Bf=20（PB/Pf）-10（d/D）41dB，校準(zhǔn)時把底波高度設(shè)置在熒光屏滿刻度的80%，提高靈敏度41dB，即為2檢測靈敏度。4)、按JB/T4730.3-2005承壓設(shè)備無損檢測 第3部分：超聲檢測標(biāo)準(zhǔn)C級要求，填寫鍋筒對接接頭的超聲檢測工藝卡。 (2)、筒體鍛件的尺寸為：內(nèi)徑 4400mm、厚度132mm、長度3200mm。請按JB/T4730.3-2005承壓設(shè)備無損檢測 第3部分：超聲檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，確定其檢測方法和工藝參數(shù)，包括探頭參數(shù)、試塊種類和反射體參數(shù)、基準(zhǔn)靈敏度和調(diào)校方法以及掃查方向。答:1) 直探頭：2.5P

40、20Z； 試塊：工件或CS試塊； 反射體：大平底或2mm平底孔； 基準(zhǔn)靈敏度：2mm平底孔； 基準(zhǔn)靈敏度調(diào)校方法1：徑向檢測時，把 探頭放在外圓周面上，調(diào)節(jié)儀器，把第一 次底波調(diào)至80%熒光屏高，然后增益34dB，即為2mm平底孔靈敏度。 基準(zhǔn)靈敏度調(diào)校方法2：用CS試塊做距離波幅曲線。 掃查方向：外圓周面和兩端面。2) 斜探頭：2.5P2022K1； 試塊：60V型槽試塊； 反射體參數(shù)：深度1.32mm；長度25mm； 基準(zhǔn)靈敏度及調(diào)校方法：從鍛件外圓面將探頭對準(zhǔn)內(nèi)圓面的V型槽，調(diào)整增益，使最大反射高度為滿刻度的80%，將該值標(biāo)在面板上，以其為基準(zhǔn)靈敏度；不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，再移動探頭測定

41、外圓面的V型槽，并將最大的反射高度標(biāo)在面板上，將上述兩點用直線連接并延長，繪出距離-波幅曲線，并使之包括全部檢測范圍。掃查方向：軸向正反兩個方向，周向正反兩個方向，共進行4個方向掃查。3)、筒體奧氏體不銹鋼堆焊層如圖2所示，請按JB/T4730.3-2005承壓設(shè)備無損檢測 第3部分：超聲檢測標(biāo)準(zhǔn)，確定從母材側(cè)檢測和從堆焊層側(cè)檢測的工藝參數(shù)，包括探頭、試塊以及掃查方向，并比較這兩種檢測方法的優(yōu)缺點。JB/T4730.3-2005解釋：解釋：、堆焊層超聲檢測和質(zhì)量分級堆焊層超聲檢測和質(zhì)量分級5.2.1 檢測范圍和一般要求檢測范圍和一般要求本條適用于承壓設(shè)備用奧氏體不銹鋼、鎳合金本條適用于承壓設(shè)備

42、用奧氏體不銹鋼、鎳合金等堆焊層內(nèi)缺陷，堆焊層與母材未接合缺陷和等堆焊層內(nèi)缺陷，堆焊層與母材未接合缺陷和堆焊層層下母材再熱裂紋的超聲檢測以及檢測堆焊層層下母材再熱裂紋的超聲檢測以及檢測結(jié)果的質(zhì)量分級。結(jié)果的質(zhì)量分級。5.2.2 檢測方法檢測方法a）使用雙晶直探頭和縱波雙晶斜探頭從堆焊使用雙晶直探頭和縱波雙晶斜探頭從堆焊層側(cè)對堆焊層進行超聲檢測。層側(cè)對堆焊層進行超聲檢測。b）用單直探頭和縱波單斜探頭從母材側(cè)對堆用單直探頭和縱波單斜探頭從母材側(cè)對堆焊層進行超聲檢測。焊層進行超聲檢測。5.2.3 探頭探頭5.2.3.1 雙晶探頭雙晶探頭a）雙晶探頭（直、斜）兩聲束間的夾角應(yīng)能滿足有效雙晶探頭（直、斜）

43、兩聲束間的夾角應(yīng)能滿足有效聲場覆蓋全部檢測區(qū)域，使探頭對該區(qū)域具有最大的聲場覆蓋全部檢測區(qū)域，使探頭對該區(qū)域具有最大的檢測靈敏度。探頭總面積不應(yīng)超過檢測靈敏度。探頭總面積不應(yīng)超過325mm2，頻率頻率2.5MHz，為了達到所需的分辨力，也可采用其他頻率。為了達到所需的分辨力，也可采用其他頻率。兩晶片間隔聲效果應(yīng)保證良好。兩晶片間隔聲效果應(yīng)保證良好。 b）縱波雙晶斜探頭的縱波雙晶斜探頭的K=2.75（折射角折射角70），），焦點深度應(yīng)位于堆焊層和母材的結(jié)合部焦點深度應(yīng)位于堆焊層和母材的結(jié)合部位。位。5.2.3.2 單直探頭單直探頭探頭面積一般不應(yīng)超過探頭面積一般不應(yīng)超過625mm2，頻率為頻率為

44、2 MHz5MHz。5.2.3.3 縱波斜探頭縱波斜探頭探頭頻率為探頭頻率為2 MHz5MHz，K=1（折射角折射角45）5.2.4 對比試塊對比試塊5.2.4.1 對比試塊應(yīng)采用與被檢工件材質(zhì)相同對比試塊應(yīng)采用與被檢工件材質(zhì)相同或聲學(xué)特性相近的材料，并采用相同的焊接工或聲學(xué)特性相近的材料，并采用相同的焊接工藝制成。其母材、熔合面和堆焊層中均不得有藝制成。其母材、熔合面和堆焊層中均不得有大于或等于大于或等于2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷存平底孔當(dāng)量直徑的缺陷存在。試塊堆焊層表面的狀態(tài)應(yīng)和工件堆焊層的在。試塊堆焊層表面的狀態(tài)應(yīng)和工件堆焊層的表面狀態(tài)相同。表面狀態(tài)相同。 5.2.4.2 從堆焊層側(cè)進行

45、檢測采用從堆焊層側(cè)進行檢測采用T1型試塊，型試塊，母材厚度母材厚度T至少應(yīng)為堆焊層厚度的兩倍。至少應(yīng)為堆焊層厚度的兩倍。T1型型試塊如圖試塊如圖27所示。所示。圖圖27 T1型試塊型試塊5.2.4.3 從母材側(cè)進行檢測采用從母材側(cè)進行檢測采用T2型試塊，母材厚度型試塊，母材厚度T與被檢母材的厚度差不得超過與被檢母材的厚度差不得超過10%。T2型試塊如圖型試塊如圖28所示。如果工件厚度比較大，所示。如果工件厚度比較大，T2型試塊的長度型試塊的長度L應(yīng)能應(yīng)能滿足檢測要求。滿足檢測要求。5.2.4.4 檢測堆焊層和母材的未結(jié)合，采檢測堆焊層和母材的未結(jié)合，采用用T3型試塊。當(dāng)從母材側(cè)進行檢測時，型試

46、塊。當(dāng)從母材側(cè)進行檢測時，采用采用T3（a）型試塊，被檢測的工件母材型試塊，被檢測的工件母材厚度和試塊母材厚度差不應(yīng)超過厚度和試塊母材厚度差不應(yīng)超過10%。當(dāng)從堆焊層側(cè)進行檢測時，采用當(dāng)從堆焊層側(cè)進行檢測時，采用T3（b）型試塊，試塊的母材厚度至少應(yīng)為堆焊型試塊，試塊的母材厚度至少應(yīng)為堆焊層厚度的兩倍。層厚度的兩倍。T3型試塊如圖型試塊如圖29所示。所示。圖圖29 T3型試塊型試塊5.2.5 靈敏度校準(zhǔn)靈敏度校準(zhǔn)5.2.5.1 采用采用T1型試塊的校準(zhǔn)型試塊的校準(zhǔn)a） 縱波雙晶斜探頭靈敏度的校準(zhǔn)：將探頭放縱波雙晶斜探頭靈敏度的校準(zhǔn)：將探頭放在試塊的堆焊層表面上，移動探頭使從在試塊的堆焊層表面上

47、，移動探頭使從1.5mm橫孔獲得最大反射波幅，調(diào)節(jié)衰減器橫孔獲得最大反射波幅，調(diào)節(jié)衰減器使回波幅度為滿刻度的使回波幅度為滿刻度的80%，以此作為基準(zhǔn)靈，以此作為基準(zhǔn)靈敏度。敏度。b） 雙晶直探頭靈敏度的校準(zhǔn)：將探頭放在試雙晶直探頭靈敏度的校準(zhǔn)：將探頭放在試塊的堆焊層表面上，移動探頭使其從塊的堆焊層表面上，移動探頭使其從3mm平平底孔獲得最大波幅，調(diào)整衰減器使回波幅度為底孔獲得最大波幅，調(diào)整衰減器使回波幅度為滿刻度的滿刻度的80%，以此作為基準(zhǔn)靈敏度。，以此作為基準(zhǔn)靈敏度。5.2.5.2 采用采用T2型試塊的校準(zhǔn)型試塊的校準(zhǔn)a） 將單直探頭放在母材一側(cè)，使將單直探頭放在母材一側(cè)，使3mm平底孔回

48、波幅度為滿刻度的平底孔回波幅度為滿刻度的80%，以此作，以此作為基準(zhǔn)靈敏度。為基準(zhǔn)靈敏度。b） 縱波斜探頭靈敏度的校準(zhǔn)：將探頭放縱波斜探頭靈敏度的校準(zhǔn)：將探頭放在試塊的母材表面上，移動探頭使從在試塊的母材表面上，移動探頭使從1.5mm橫孔獲得最大反射波幅，調(diào)節(jié)衰橫孔獲得最大反射波幅，調(diào)節(jié)衰減器使回波幅度為滿刻度的減器使回波幅度為滿刻度的80%，以此作，以此作為基準(zhǔn)靈敏度。為基準(zhǔn)靈敏度。5.2.5.3 采用采用T3型試塊的校準(zhǔn)型試塊的校準(zhǔn)a） 雙晶直探頭靈敏度的校準(zhǔn)：將探雙晶直探頭靈敏度的校準(zhǔn)：將探頭放在堆焊層一側(cè)，使頭放在堆焊層一側(cè)，使10mm平底平底孔回波幅度為滿刻度的孔回波幅度為滿刻度的8

49、0%，以此作，以此作為基準(zhǔn)靈敏度。為基準(zhǔn)靈敏度。 b） 單直探頭靈敏度的校準(zhǔn)：將探頭單直探頭靈敏度的校準(zhǔn)：將探頭放在母材一側(cè)，使放在母材一側(cè)，使10mm平底孔回平底孔回波幅度為滿刻度的波幅度為滿刻度的80%，以此作為基，以此作為基準(zhǔn)靈敏度。準(zhǔn)靈敏度。5.2.6 掃查方法掃查方法5.2.6.1 檢測應(yīng)從母材或堆焊層一側(cè)進行。檢測應(yīng)從母材或堆焊層一側(cè)進行。如對檢測結(jié)果有懷疑時，也可從另一側(cè)如對檢測結(jié)果有懷疑時，也可從另一側(cè)進行補充檢測。進行補充檢測。5.2.6.2 掃查靈敏度應(yīng)在基準(zhǔn)靈敏度基礎(chǔ)掃查靈敏度應(yīng)在基準(zhǔn)靈敏度基礎(chǔ)上提高上提高6dB。5.2.6.3 采用雙晶斜探頭檢測時應(yīng)在堆焊采用雙晶斜探頭

50、檢測時應(yīng)在堆焊層表面按層表面按90方向進行兩次掃查；采用方向進行兩次掃查；采用雙晶直探頭檢測時應(yīng)垂直于堆焊方向進雙晶直探頭檢測時應(yīng)垂直于堆焊方向進行掃查。進行掃查時，應(yīng)保證分隔壓電行掃查。進行掃查時，應(yīng)保證分隔壓電元件的隔聲層平行于堆焊層元件的隔聲層平行于堆焊層。答：1) 母材側(cè)檢測： 1 直探頭：2.5P20Z； 試塊：T2、T3； 掃查方向：外圓周面。 2 縱波斜探頭2.5P2022k1； 試塊：T2 掃查方向：軸向正反兩個方向， 周向正反兩個方向共進行4個方向掃 查。2) 堆焊層側(cè)檢測： 1 雙晶直探頭：2.5P14FG3Z 試塊：T1、T3 掃查方式：探頭分隔面平行于堆焊 方向，垂直于

51、堆焊方向掃查。 2 雙晶斜探頭：f=2.5MHz，晶片尺寸 （510）2mm，焦點深度6mm 試塊：T1 掃查方式：互成90進行4個方向掃查3) 優(yōu)缺點比較； 母材側(cè)檢測的優(yōu)點是不受堆焊層表面狀態(tài)的影響，耦合較好；適合于在役容器堆焊層的檢測。缺點是只適合于表面平行工件的檢測；缺陷定位不準(zhǔn)確；母材材質(zhì)和表面狀態(tài)對檢測有影響;縱波斜探頭檢測效果不好。(4)、筒體堆焊層母材側(cè)檢測用T2型試塊制作時有什么要求？請按圖1和圖2確定T2型試塊的具體尺寸，畫圖表示。答：1) 對比試塊應(yīng)采用與被檢工件材質(zhì)相同或聲學(xué)特性相近的材料，并采用相同的焊接工藝制成。其母材、熔合面和堆焊層中均不得有大于或等于2mm平底孔

52、當(dāng)量的缺陷存在。試塊堆焊層表面狀態(tài)應(yīng)和工件相同。 2) 試塊尺寸：0=6mm； T=118.8mm145.2mm； L=200mm。請回答以下問題：(1)、制造過程中容器筒體縱、環(huán)縫要進行哪些無損檢測？分別寫出檢測方法、檢測比例（包括必探部位）和合格級別。 答：1）檢測方法和比例：100%RT+20%UT（或100%UT+20%RT）局部檢測應(yīng)包括所有縱環(huán)縫交叉部位、100%MT。 2）合格級別：RT-級、UT-級、MT-級。JB/T4730.3-2005解釋：解釋：、復(fù)合板超聲檢測復(fù)合板超聲檢測4.4.1 范圍范圍本條適用于基板厚度大于或等于本條適用于基板厚度大于或等于6mm的承的承壓設(shè)備用

53、不銹鋼、鈦及鈦合金、鋁及鋁合壓設(shè)備用不銹鋼、鈦及鈦合金、鋁及鋁合金、鎳及鎳合金、銅及銅合金復(fù)合板的超金、鎳及鎳合金、銅及銅合金復(fù)合板的超聲檢測和質(zhì)量分級。基板通常采用碳鋼、聲檢測和質(zhì)量分級?；逋ǔ２捎锰间?、低合金鋼板或不銹鋼板。低合金鋼板或不銹鋼板。本條主要用于復(fù)合板復(fù)合面結(jié)合狀態(tài)的超本條主要用于復(fù)合板復(fù)合面結(jié)合狀態(tài)的超聲檢測。聲檢測。4.4.2 探頭選用探頭選用4.4.2.1 探頭的選用應(yīng)按表探頭的選用應(yīng)按表1的規(guī)定進行。的規(guī)定進行。4.4.2.2 雙晶直探頭性能要求應(yīng)符合附錄雙晶直探頭性能要求應(yīng)符合附錄A（規(guī)范性附錄）的要求。規(guī)范性附錄）的要求。4.4.3 檢測方法檢測方法4.4.3.1 檢測面檢測面一般可從基板或復(fù)板側(cè)表面進行檢測。一般可從基板或復(fù)板側(cè)表面進行檢測。4.4.3.2 耦合方式耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。4.4.3.3 掃查方式掃查方式 a) 掃查方式可采用掃查方式可采用100%掃查或沿掃查或沿鋼板寬度方向，間隔為鋼板寬度方向，間隔為50mm的平行線的平行線掃查；掃查；b) 根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要根據(jù)合同