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文檔簡介

1、 場效應(yīng)晶體管(場效應(yīng)晶體管(Field Effect Transistor,F(xiàn)ET)是另一類)是另一類重要的微電子器件。這是一種重要的微電子器件。這是一種,又稱,又稱為為。與雙極型晶體管相比,有以下優(yōu)點:。與雙極型晶體管相比,有以下優(yōu)點: 輸入阻抗高;輸入阻抗高; 溫度穩(wěn)定性好;溫度穩(wěn)定性好; 噪聲??;噪聲??; 大電流特性好;大電流特性好; 無少子存儲效應(yīng),開關(guān)速度高;無少子存儲效應(yīng),開關(guān)速度高; 制造工藝簡單;制造工藝簡單; 各管之間存在天然隔離,適宜于制作各管之間存在天然隔離,適宜于制作 VLSI 。結(jié)型柵場效應(yīng)晶體管結(jié)型柵場效應(yīng)晶體管(J FET)肖特基勢壘柵場效應(yīng)晶體管(肖特基勢壘柵

2、場效應(yīng)晶體管(MESFET)絕緣柵場效應(yīng)晶體管絕緣柵場效應(yīng)晶體管(IGFET 或或 MOSFET) 根據(jù)溝道導(dǎo)電類型的不同,每類根據(jù)溝道導(dǎo)電類型的不同,每類 FET 又可分為又可分為 和和。 JFET 和和 MESFET 的工作原理相同。以的工作原理相同。以 JFET 為例,用低摻為例,用低摻雜的半導(dǎo)體作為導(dǎo)電溝道,在半導(dǎo)體的一側(cè)或兩側(cè)制作雜的半導(dǎo)體作為導(dǎo)電溝道,在半導(dǎo)體的一側(cè)或兩側(cè)制作 PN 結(jié),結(jié),并加上反向電壓。并加上反向電壓。兩種兩種 FET 的不同之處是,的不同之處是,J FET 利用利用 PN 結(jié)作為控制柵,而結(jié)作為控制柵,而 MESFET 則是利用金則是利用金- 半結(jié)(肖特基勢壘

3、結(jié))來作為控制柵。半結(jié)(肖特基勢壘結(jié))來作為控制柵。 IGFET 的工作原理略有不同,利用電場能來控制半導(dǎo)體的的工作原理略有不同,利用電場能來控制半導(dǎo)體的表面狀態(tài),從而控制溝道的導(dǎo)電能力。表面狀態(tài),從而控制溝道的導(dǎo)電能力。 J FET 的基本結(jié)構(gòu)與工作原理的基本結(jié)構(gòu)與工作原理源、漏源、漏利用利用 PN 結(jié)勢壘區(qū)寬度隨反向電壓而變化的特點來控制導(dǎo)電結(jié)勢壘區(qū)寬度隨反向電壓而變化的特點來控制導(dǎo)電溝道的截面積,從而控制溝道的導(dǎo)電能力。溝道的截面積,從而控制溝道的導(dǎo)電能力。 MESFET 的基本結(jié)構(gòu)與工作原理的基本結(jié)構(gòu)與工作原理 利用金利用金 - 半結(jié)(肖特基勢壘結(jié))來作為控制柵。半結(jié)(肖特基勢壘結(jié))來

4、作為控制柵。 絕緣柵場效應(yīng)晶體管絕緣柵場效應(yīng)晶體管按其早期器件的縱向結(jié)構(gòu)按其早期器件的縱向結(jié)構(gòu)又被稱為又被稱為 ,簡稱為,簡稱為 , 但現(xiàn)在這種器件的柵電極實際不一定是金屬,但現(xiàn)在這種器件的柵電極實際不一定是金屬,絕緣絕緣柵柵也不一定也不一定是是氧化物,但氧化物,但仍被習(xí)慣地稱為仍被習(xí)慣地稱為 MOSFET。 MOSFET 的立體結(jié)構(gòu)的立體結(jié)構(gòu)溝道溝道P 型襯底型襯底 N 溝道溝道 MOSFET 的剖面圖的剖面圖 當(dāng)當(dāng) VGS VT 時,柵時,柵下的下的 P 型硅表面發(fā)生型硅表面發(fā)生 ,形成連通源、漏區(qū)的,形成連通源、漏區(qū)的 N 型型 ,在在 VDS 作用下產(chǎn)生漏極電流作用下產(chǎn)生漏極電流 ID

5、 。對于恒定的。對于恒定的 VDS ,VGS 越大越大 ,溝道中的電子就越多,溝道電阻就越小,溝道中的電子就越多,溝道電阻就越小,ID 就越大。就越大。 所以所以 MOSFET 是通過改變是通過改變 VGS 來控制溝道的導(dǎo)電性,從而來控制溝道的導(dǎo)電性,從而控制漏極電流控制漏極電流 ID ,是一種電壓控制型器件。,是一種電壓控制型器件。 :VDS 恒定時的恒定時的 VGS ID 曲線。曲線。MOSFET 的的轉(zhuǎn)移特性反映了柵源電壓轉(zhuǎn)移特性反映了柵源電壓 VGS 對漏極電流對漏極電流 ID 的控制能力的控制能力。 N 溝道溝道 MOSFET 當(dāng)當(dāng)VT 0 時,稱為時,稱為 ,為,為 。VT 0 時

6、,稱為時,稱為 ,為,為 。IDVGSVT0IDVGSVT0 P 溝道溝道 MOSFET 的特性與的特性與 N 溝道溝道 MOSFET 相對稱,即相對稱,即 (1) 襯底為襯底為 N 型,源漏區(qū)為型,源漏區(qū)為 P+ 型。型。 (2) VGS 、VDS 的極性以及的極性以及 ID 的方向均與的方向均與 N 溝道相反。溝道相反。 (3) 溝道中的可動載流子為空穴。溝道中的可動載流子為空穴。 (4) VT 0 時稱為耗盡型時稱為耗盡型(常開型)。(常開型)。 VDS 很小時,溝道近似為一個阻值與很小時,溝道近似為一個阻值與 VDS 無關(guān)的無關(guān)的 ,這時這時 ID 與與 VDS 成線性關(guān)系,如圖中的成

7、線性關(guān)系,如圖中的 OA 段所示。段所示。 VGS VT 且恒定時的且恒定時的 VDS ID 曲線??煞譃榍€??煞譃橐韵乱韵?4 段:段: 隨著隨著 VDS 增大,漏附近的溝道變薄,溝道電阻增大,曲線增大,漏附近的溝道變薄,溝道電阻增大,曲線逐漸下彎。當(dāng)逐漸下彎。當(dāng) VDS 增大到增大到 時,漏端處的時,漏端處的可動電子消失,這稱為溝道被可動電子消失,這稱為溝道被 ,如圖中的,如圖中的 AB 段所示。段所示。 線性區(qū)與過渡區(qū)統(tǒng)稱為線性區(qū)與過渡區(qū)統(tǒng)稱為 ,有時也統(tǒng)稱為,有時也統(tǒng)稱為 。 當(dāng)當(dāng) VDS VDsat 后,溝道夾斷點左移,漏附近只剩下耗盡區(qū)。后,溝道夾斷點左移,漏附近只剩下耗盡區(qū)。這時這時 ID 幾乎與幾乎與 VDS 無關(guān)而保持常數(shù)無關(guān)而保持常數(shù) ,曲線為水平直線,如,曲線為水平直線,如圖中的圖中的 BC 段所示。段所示。 實際上實際上 ID 隨隨 VDS 的增大而略有增大,曲線略向上翹。的增大而略有增大,曲線略向上翹。 當(dāng)當(dāng) VDS 繼續(xù)增大到繼續(xù)增大到 時,漏結(jié)發(fā)生雪崩擊穿,或者漏源時,漏結(jié)發(fā)生雪崩擊穿,或者漏源間發(fā)生穿通,間發(fā)生穿通,ID 急劇增大,如圖中的急劇增大,如圖中的 CD 段所示。段所示。 將各曲線的夾斷點用虛線連接起來

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