內(nèi)存ATE測(cè)試介紹

1、 技術(shù)交流技術(shù)交流 內(nèi)存內(nèi)存ATE測(cè)試測(cè)試什么是ATE測(cè)試？qATE 是 Automated Test Equipment 的簡(jiǎn)稱，即自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，它是對(duì)內(nèi)存條或SDRAM芯片的品質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)的測(cè)試設(shè)備。qATE 測(cè)試 即使用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備對(duì)內(nèi)存條或SDRAM芯片的品質(zhì)進(jìn)行測(cè)試。 ATE 的工作原理： 被測(cè)器件被測(cè)器件（DUT）測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)（ATE）Test ProgramResultsInputOutputq高檔的ATE測(cè)試設(shè)備有： Verigy公司的93K系統(tǒng) Advantest公司的T5581/T5585/T5592系統(tǒng) KINGTIGER公司的KT2A PRO系統(tǒng)q 特點(diǎn)： 精度高 速

2、度快 完整的電性能、功能和時(shí)序測(cè)試及分析 價(jià)格昂貴 專業(yè)的廠商使用 T5592測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)介q 能夠測(cè)試各種存儲(chǔ)器（專用）q 最高測(cè)試頻率可以達(dá)到1.066GHzq 定時(shí)精度達(dá)到150ps(OTA)q 最大可測(cè)試芯片64顆，DDR內(nèi)存條16條（2Station)q Driver與雙向口分開，節(jié)約成本（存儲(chǔ)器特點(diǎn)專門設(shè)計(jì)）硬件部分 ATE測(cè)試簡(jiǎn)介測(cè)試簡(jiǎn)介T5592測(cè)試項(xiàng)目測(cè)試項(xiàng)目q 連接性測(cè)試q 漏電流測(cè)試q 電源電流測(cè)試q 功能測(cè)試q 重要DC AC參數(shù)測(cè)試q SPD的讀寫測(cè)試 圖形文件圖形文件RESULT: P/F DC參數(shù)測(cè)試參數(shù)測(cè)試電壓參數(shù)測(cè)試電壓參數(shù)測(cè)試電流參數(shù)測(cè)試電流參數(shù)測(cè)試 DC測(cè)試

3、測(cè)試 目的：檢測(cè)芯片的各項(xiàng)電氣性能目的：檢測(cè)芯片的各項(xiàng)電氣性能 電壓參數(shù)測(cè)試電壓參數(shù)測(cè)試q主要電壓參數(shù)電源電壓VDD、VDDQ、VREF輸入電壓VIL、VIH輸出電壓VOL、VOHq測(cè)試目的：評(píng)估DUT能正常工作的電壓范圍評(píng)估輸入管腳區(qū)分輸入邏輯狀態(tài)的能力評(píng)估輸出管腳的輸出相應(yīng)邏輯電壓的能力 電流參數(shù)測(cè)試電流參數(shù)測(cè)試q主要電流參數(shù) 電源電流IDD輸入漏電流IIL、IIH輸出漏電流IOL、IOH、IOZq測(cè)試目的：評(píng)估DUT的漏電流大小評(píng)估供給DUT工作時(shí)所需的電源電流大小 AC參數(shù)測(cè)試參數(shù)測(cè)試AC參數(shù)測(cè)試基本原理： 改變需要測(cè)試的參數(shù)，重復(fù)執(zhí)行功能 測(cè)試，直到測(cè)試結(jié)果由PASS轉(zhuǎn)為FAIL 為止。記錄PASS/FAIL轉(zhuǎn)換點(diǎn)，進(jìn)行必 要的數(shù)學(xué)運(yùn)算，得出需要測(cè)試的參數(shù)實(shí) 際數(shù)值。實(shí)質(zhì)是以時(shí)間條件為基礎(chǔ)來執(zhí) 行功能測(cè)試。 AC參數(shù)測(cè)試參數(shù)測(cè)試qAC參數(shù)測(cè)試目的：保證器件的時(shí)序參數(shù)滿足器件SPEC的要求保證器件在不同的時(shí)序條件限制下可正常工作分析器件時(shí)序參數(shù)解決故障問題Debug/優(yōu)化測(cè)試程序的工具 Shmoo 圖例圖例-Margin Test (潛力測(cè)試）潛力測(cè)試） 用于評(píng)價(jià)芯片實(shí)際能力，通常使用用于評(píng)價(jià)芯片實(shí)際能力，通常使用SHMOO PLOT 工具進(jìn)行分析工具進(jìn)行分析 Shmoo 圖例圖例 二維Shmoo 同時(shí)改變兩個(gè) 相互關(guān)聯(lián)的參