內(nèi)存ATE測試介紹

1、 技術(shù)交流技術(shù)交流 內(nèi)存內(nèi)存ATE測試測試什么是ATE測試？qATE 是 Automated Test Equipment 的簡稱，即自動測試設(shè)備，它是對內(nèi)存條或SDRAM芯片的品質(zhì)進行檢測的測試設(shè)備。qATE 測試 即使用自動測試設(shè)備對內(nèi)存條或SDRAM芯片的品質(zhì)進行測試。 ATE 的工作原理： 被測器件被測器件（DUT）測試系統(tǒng)測試系統(tǒng)（ATE）Test ProgramResultsInputOutputq高檔的ATE測試設(shè)備有： Verigy公司的93K系統(tǒng) Advantest公司的T5581/T5585/T5592系統(tǒng) KINGTIGER公司的KT2A PRO系統(tǒng)q 特點： 精度高 速

2、度快 完整的電性能、功能和時序測試及分析 價格昂貴 專業(yè)的廠商使用 T5592測試系統(tǒng)簡介q 能夠測試各種存儲器（專用）q 最高測試頻率可以達到1.066GHzq 定時精度達到150ps(OTA)q 最大可測試芯片64顆，DDR內(nèi)存條16條（2Station)q Driver與雙向口分開，節(jié)約成本（存儲器特點專門設(shè)計）硬件部分 ATE測試簡介測試簡介T5592測試項目測試項目q 連接性測試q 漏電流測試q 電源電流測試q 功能測試q 重要DC AC參數(shù)測試q SPD的讀寫測試 圖形文件圖形文件RESULT: P/F DC參數(shù)測試參數(shù)測試電壓參數(shù)測試電壓參數(shù)測試電流參數(shù)測試電流參數(shù)測試 DC測試

3、測試 目的：檢測芯片的各項電氣性能目的：檢測芯片的各項電氣性能 電壓參數(shù)測試電壓參數(shù)測試q主要電壓參數(shù)電源電壓VDD、VDDQ、VREF輸入電壓VIL、VIH輸出電壓VOL、VOHq測試目的：評估DUT能正常工作的電壓范圍評估輸入管腳區(qū)分輸入邏輯狀態(tài)的能力評估輸出管腳的輸出相應邏輯電壓的能力 電流參數(shù)測試電流參數(shù)測試q主要電流參數(shù) 電源電流IDD輸入漏電流IIL、IIH輸出漏電流IOL、IOH、IOZq測試目的：評估DUT的漏電流大小評估供給DUT工作時所需的電源電流大小 AC參數(shù)測試參數(shù)測試AC參數(shù)測試基本原理： 改變需要測試的參數(shù)，重復執(zhí)行功能 測試，直到測試結(jié)果由PASS轉(zhuǎn)為FAIL 為止。記錄PASS/FAIL轉(zhuǎn)換點，進行必 要的數(shù)學運算，得出需要測試的參數(shù)實 際數(shù)值。實質(zhì)是以時間條件為基礎(chǔ)來執(zhí) 行功能測試。 AC參數(shù)測試參數(shù)測試qAC參數(shù)測試目的：保證器件的時序參數(shù)滿足器件SPEC的要求保證器件在不同的時序條件限制下可正常工作分析器件時序參數(shù)解決故障問題Debug/優(yōu)化測試程序的工具 Shmoo 圖例圖例-Margin Test (潛力測試）潛力測試） 用于評價芯片實際能力，通常使用用于評價芯片實際能力，通常使用SHMOO PLOT 工具進行分析工具進行分析 Shmoo 圖例圖例 二維Shmoo 同時改變兩個 相互關(guān)聯(lián)的參