安卓智能手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

1、深圳卓普通訊設(shè)備有限公司手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)編制：徐海編制：徐海審核：陳善根審核：陳善根 批準(zhǔn)：李建軍批準(zhǔn)：李建軍 文件編號(hào)文件編號(hào): : WI-QA-001 發(fā)布日期：發(fā)布日期：2012.6.27文件編號(hào)：WI-QA-001WI-QA-001ISO9000 質(zhì)量管理體系文件深圳卓普通訊設(shè)備有限公司深圳卓普通訊設(shè)備有限公司版本 ：A01A01生效日期：2012.6.27手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)次 ：第 2 頁(yè) 共 19 頁(yè)文件信息文件信息1. 部門(mén)審批/日期：相關(guān)部門(mén)審核：硬件部：軟件部：生產(chǎn)部：品質(zhì)部：總經(jīng)理：2. 修訂記錄版本日期修訂記錄修訂者

2、審核批準(zhǔn)3. 文件發(fā)放接收者部門(mén)時(shí)間接收者部門(mén)時(shí)間文件編號(hào)：WI-QA-001WI-QA-001ISO9000 質(zhì)量管理體系文件深圳卓普通訊設(shè)備有限公司深圳卓普通訊設(shè)備有限公司版本 ：A01A01生效日期：2012.6.27手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)次 ：第 3 頁(yè) 共 19 頁(yè)目錄目錄0.短語(yǔ)和參考文獻(xiàn)短語(yǔ)和參考文獻(xiàn).50.1縮略語(yǔ).50.2術(shù)語(yǔ)和定義.50.3參考文獻(xiàn).51.目的目的.62.編制依據(jù)編制依據(jù).63.適用范圍適用范圍.64.術(shù)語(yǔ)，定義術(shù)語(yǔ)，定義.65.職責(zé)描述職責(zé)描述.66.可靠性測(cè)試（可靠性測(cè)試（ART）標(biāo)準(zhǔn)）標(biāo)準(zhǔn).76.1加速壽命測(cè)試 （Acceler

3、ated Life Test）.76.1.1室溫下功能測(cè)試 （Functional Test）.76.1.2跌落測(cè)試（Drop Test）.76.1.3溫度沖擊測(cè)試（Thermal Shock）.76.1.4濕熱測(cè)試（Humidity Test）.76.1.5振動(dòng)測(cè)試（Vibration Test）.86.1.6靜電測(cè)試（ESD Test） .86.2氣候適應(yīng)性測(cè)試 （Climatic Stress Test） .96.2.1室溫下參數(shù)測(cè)試 （Parametric Test） .96.2.2高溫/低溫工作測(cè)試（Parametric Test）.96.2.3濕熱測(cè)試（Parametric Tes

4、t）.錯(cuò)誤！未定義書(shū)簽。錯(cuò)誤！未定義書(shū)簽。6.2.4高溫/低溫存儲(chǔ)功能測(cè)試（Functional Test）.96.2.5灰塵測(cè)試（Dust Test） .106.2.6鹽霧測(cè)試（Salt Fog Test）.106.3結(jié)構(gòu)耐久測(cè)試 （Mechanical Endurance Test）.106.3.1側(cè)鍵測(cè)試（Side Key Test） .106.3.2充電器插拔測(cè)試（Charger Test）.106.3.3電池/電池蓋拆裝測(cè)試（Battery/Battery Cover Test）.116.3.4耳機(jī)插拔測(cè)試 （Headset Test）.116.3.5SD 卡/SIM 卡插拔測(cè)試（S

5、D Card Test）.116.3.6水滴實(shí)驗(yàn)（針對(duì)電容屏） .126.3.7喇叭壽命測(cè)試（Speaker life test）.126.3.8馬達(dá)壽命測(cè)試（Vibration durability test） .126.4表面裝飾測(cè)試（Decorative Surface Test）.126.4.1外殼表面處理測(cè)試 .12文件編號(hào)：WI-QA-001WI-QA-001ISO9000 質(zhì)量管理體系文件深圳卓普通訊設(shè)備有限公司深圳卓普通訊設(shè)備有限公司版本 ：A01A01生效日期：2012.6.27手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)次 ：第 4 頁(yè) 共 19 頁(yè)6.4.2TP 表面硬

6、度測(cè)試（TP Hardness Test）.146.4.3鋼球沖擊測(cè)試（Ball Drop Test） .146.5特殊條件測(cè)試（Special Stress Test）.156.5.1扭曲測(cè)試（Twist Test）.156.5.2 軟壓測(cè)試（Press Test） .156.5.3 硬壓測(cè)試.156.5.4 循環(huán)跌落測(cè)試（Micro-drop Test）.166.5.5 滾筒跌落測(cè)試（Free Fall Test）.166.6其他測(cè)試（Other Test） .166.6.1螺母測(cè)試（Nut Test）.166.6.2I/O 接口試驗(yàn) .166.6.3耳機(jī)插口強(qiáng)力插入測(cè)試（Earphone

7、 Connector Evaluation Test）.176.6.4保護(hù)蓋（耳機(jī)塞、I/O 接口塞、RF 塞、螺絲塞等）測(cè)試.176.6.5TP/LENS 測(cè)試（TP/Lens Test）.186.6.6 水煮試驗(yàn).187.最終檢驗(yàn)最終檢驗(yàn).19文件編號(hào)：WI-QA-001WI-QA-001ISO9000 質(zhì)量管理體系文件深圳卓普通訊設(shè)備有限公司深圳卓普通訊設(shè)備有限公司版本 ：A01A01生效日期：2012.6.27手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)次 ：第 5 頁(yè) 共 19 頁(yè)0.短語(yǔ)和參考文獻(xiàn)短語(yǔ)和參考文獻(xiàn)0.1縮略語(yǔ)縮略語(yǔ)無(wú)0.2術(shù)語(yǔ)和定義術(shù)語(yǔ)和定義ART：Accelera

8、ted Reliability Test（可靠性實(shí)驗(yàn)）0.3參考文獻(xiàn)參考文獻(xiàn)序號(hào)文件編號(hào)日期作者文件題目1YD/T 1539-2006中華人民共和國(guó)通信行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)移動(dòng)通信手持機(jī)可靠性技術(shù)要求和測(cè)試方法234文件編號(hào)：WI-QA-001WI-QA-001ISO9000 質(zhì)量管理體系文件深圳卓普通訊設(shè)備有限公司深圳卓普通訊設(shè)備有限公司版本 ：A01A01生效日期：2012.6.27手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)次 ：第 6 頁(yè) 共 19 頁(yè)1.目的目的評(píng)估產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。2.編制依據(jù)編制依據(jù)2.1 GB/T 2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第一部分：總則2.2 GB/T

9、15844.2-1995 移動(dòng)通信調(diào)頻無(wú)線電話機(jī)環(huán)境要求和實(shí)驗(yàn)方法2.3 GB/T 15844.3-1995 移動(dòng)通信調(diào)頻無(wú)線電話機(jī)可靠性要求及實(shí)驗(yàn)方法2.4 GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 1 部分：實(shí)驗(yàn)方法 試驗(yàn) A：低溫2.5 GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分：實(shí)驗(yàn)方法 試驗(yàn) B：高溫2.6 GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分：實(shí)驗(yàn)方法 試驗(yàn) Ed：自由跌落2.7 GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分：實(shí)驗(yàn)方法 試驗(yàn) Fc 和導(dǎo)則：振動(dòng)2.8 GB/T 2423.3

10、-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法2.9 信息產(chǎn)業(yè)部科技司- 移動(dòng)電話機(jī)入網(wǎng)檢驗(yàn)細(xì)則，2000 年 10 月發(fā)布3.適用范圍適用范圍適用于卓普通訊研發(fā)的所有產(chǎn)品及其配件。4.術(shù)語(yǔ)，定義術(shù)語(yǔ)，定義 ART：Accelerated Reliability Test（可靠性實(shí)驗(yàn)）。 5.職責(zé)描述職責(zé)描述5.1 可靠性測(cè)試工程師5.1.1 產(chǎn)品可靠性具體測(cè)試項(xiàng)目的執(zhí)行、跟蹤； 5.1.2 可靠性實(shí)驗(yàn)室的日常管理； 5.1.3 實(shí)驗(yàn)機(jī)器的日常維護(hù)； 5.1.4 實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)庫(kù)的管理。 5.1.5 制定可靠性測(cè)試程序及標(biāo)準(zhǔn)； 5.1.6 定義產(chǎn)品可靠性測(cè)試計(jì)劃； 5.1.7

11、可靠性測(cè)試設(shè)備的開(kāi)發(fā)、維護(hù)。 5.1.8 跟蹤可靠性測(cè)試報(bào)告，并跟進(jìn)失效問(wèn)題的分析和解決；。 5.2 項(xiàng)目工程師 5.2.1 提出可靠性測(cè)試的需求； 5.2.2 對(duì)可靠性測(cè)試出現(xiàn)的問(wèn)題及時(shí)解決和反饋。 文件編號(hào)：WI-QA-001WI-QA-001ISO9000 質(zhì)量管理體系文件深圳卓普通訊設(shè)備有限公司深圳卓普通訊設(shè)備有限公司版本 ：A01A01生效日期：2012.6.27手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)次 ：第 7 頁(yè) 共 19 頁(yè)6. 可靠性測(cè)試（可靠性測(cè)試（ART）標(biāo)準(zhǔn)）標(biāo)準(zhǔn)6.1 加速壽命測(cè)試加速壽命測(cè)試 （Accelerated Life Test） 6.1.1 室溫下

12、功能測(cè)試室溫下功能測(cè)試 （Functional Test） 測(cè)試環(huán)境：室溫（25C） 測(cè)試數(shù)量：10臺(tái) 測(cè)試方法：將手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)，然后在室溫下進(jìn)行功能檢查。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)各項(xiàng)功能正常。 6.1.2 跌落跌落測(cè)試測(cè)試（Drop Test） 測(cè)試條件：室溫，大理石地面，2.4寸及以下的顯示屏：1.2m； 2.42.8寸： 1.0m；3.03.5： 0.8；3.5以上：0.6m 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：將手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)，進(jìn)行6個(gè)面的自由跌落實(shí)驗(yàn)，每個(gè)面的跌落次數(shù)為1次，跌落兩個(gè)循環(huán)，跌落之后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。手機(jī)跌落順序如下：正面-背面-左側(cè)-右側(cè)-頂部-底部。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)各

13、項(xiàng)功能正常，內(nèi)存無(wú)丟失，外殼無(wú)變形、破裂、掉漆，顯示屏無(wú)破碎，內(nèi)部元件無(wú)脫落。備注：電池備注：電池/電池蓋脫落、掉卡（重裝后可以識(shí)卡）為參考，可以不記錄為問(wèn)題電池蓋脫落、掉卡（重裝后可以識(shí)卡）為參考，可以不記錄為問(wèn)題6.1.3 溫度沖擊測(cè)試（溫度沖擊測(cè)試（Thermal Shock） 測(cè)試環(huán)境：低溫箱：-30C ；高溫箱：+70C 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：將手機(jī)設(shè)置成關(guān)機(jī)狀態(tài)放置于高溫箱內(nèi)持續(xù)60分鐘后，在15秒內(nèi)迅速移入低溫箱并持續(xù)60分鐘，循環(huán)24次。實(shí)驗(yàn)結(jié)束后將樣機(jī)從溫度沖擊箱中取出，并恢復(fù)2小時(shí)后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)各項(xiàng)功能正常，內(nèi)存無(wú)丟失，結(jié)構(gòu)及外殼無(wú)異變。

14、6.1.4 濕熱測(cè)試（濕熱測(cè)試（Humidity Test） 測(cè)試環(huán)境：+60C，90%RH 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：將手機(jī)處于帶電池關(guān)機(jī)狀態(tài)（不插卡），手機(jī)斜放45度角（一半顯示屏朝上，一半顯示屏朝下）在溫度實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)的架子上，持續(xù)48個(gè)小時(shí)之后取出，將手機(jī)放置在常溫環(huán)境下恢復(fù)4小文件編號(hào)：WI-QA-001WI-QA-001ISO9000 質(zhì)量管理體系文件深圳卓普通訊設(shè)備有限公司深圳卓普通訊設(shè)備有限公司版本 ：A01A01生效日期：2012.6.27手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)次 ：第 8 頁(yè) 共 19 頁(yè)時(shí)，然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)各項(xiàng)功能正常，

15、內(nèi)存無(wú)丟失，結(jié)構(gòu)及外殼無(wú)異變。6.1.5 振動(dòng)測(cè)試（振動(dòng)測(cè)試（Vibration Test） 測(cè)試數(shù)量：3臺(tái) 測(cè)試條件：振幅：0.38mm/振頻：1030Hz；振幅：0.19mm/振頻：3055Hz 測(cè)試方法：將手機(jī)開(kāi)機(jī)放入振動(dòng)箱。X、Y、Z三個(gè)軸向分別振動(dòng)1個(gè)小時(shí)之后取出然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)各項(xiàng)功能正常，內(nèi)存無(wú)丟失，尤其是顯示屏和SPL，外殼無(wú)嚴(yán)重?fù)p傷（如掉漆），內(nèi)部元件無(wú)脫落。6.1.6 靜電測(cè)試（靜電測(cè)試（ESD Test） 測(cè)試環(huán)境：周圍溫度：15C35C，相對(duì)濕度：3060，大氣壓：86K 106KPa 測(cè)試條件：接觸放電，+/-4KV，+/-6KV；空氣

16、放電， +/-8KV，+/-10KV 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法： 將樣機(jī)放置靜電測(cè)試臺(tái)的絕緣墊上，并且用充電器加電使手機(jī)處于充電狀態(tài)（樣機(jī)與絕緣墊邊緣距離至少 2 英寸；兩個(gè)樣機(jī)之間的距離也是至少 2 英寸） 打開(kāi)靜電槍，綜測(cè)儀（如果條件允許連接綜測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)試，否則實(shí)網(wǎng)呼叫“112”或拔打“10086”/“10010”進(jìn)行測(cè)試）。手機(jī)連接綜測(cè)試儀，調(diào)節(jié)放電方式，分別選擇接觸放電和空氣放電的對(duì)應(yīng)級(jí)別，空氣放電是先按住開(kāi)關(guān)再讓圓形槍頭靠近測(cè)試位置（距離小于 3mm，但不能碰觸到），松開(kāi)放電；接觸放電是先讓尖形槍頭接觸放電位置，再按開(kāi)關(guān)放電。對(duì)手機(jī)指定部位放電 10 次，每測(cè)試一次，同時(shí)手機(jī)對(duì)地放

17、電一次。做完一個(gè)部位的測(cè)試，檢查手機(jī)功能、內(nèi)存、信號(hào)和靈敏度，并觀察手機(jī)在測(cè)試過(guò)程中有無(wú)死機(jī)，通信鏈路中斷，LCD 顯示異常，自動(dòng)關(guān)機(jī)及其他異?，F(xiàn)象 樣機(jī)應(yīng)與綜測(cè)儀建立起呼叫連接的狀態(tài)下進(jìn)行各個(gè)放電方式、級(jí)別和極性的測(cè)試，建立呼叫時(shí)可呼“112”或拔打“10086”/“10010” 建立起呼叫。 樣機(jī)放電點(diǎn)的定義：接觸放電僅對(duì)于樣機(jī)的金屬部件、金屬裝飾件、金屬材料或有金屬性能的涂層，Lens 等放電；空氣放電對(duì)于樣機(jī)經(jīng)常被直接接觸到的有縫隙的地方,如對(duì)翻蓋底殼/面殼、大小 LCD 四周、受話器、主機(jī)按鍵、側(cè)鍵、主機(jī)底殼、耳機(jī)口&尾插口、轉(zhuǎn)軸處等?？諝夥烹娗?，去除所有的塞子，如充電器耳機(jī)

18、塞子等。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：文件編號(hào)：WI-QA-001WI-QA-001ISO9000 質(zhì)量管理體系文件深圳卓普通訊設(shè)備有限公司深圳卓普通訊設(shè)備有限公司版本 ：A01A01生效日期：2012.6.27手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)次 ：第 9 頁(yè) 共 19 頁(yè) 接觸放電標(biāo)準(zhǔn)：6KV，手機(jī)要求功能正常工作，不允許有屏閃，屏抖，黑線，橫紋，豎紋，屏無(wú)顯示，變暗，變黑，重新啟動(dòng)，關(guān)機(jī)，通訊鏈路斷等以及其它未描述到的現(xiàn)象，如出現(xiàn)以上現(xiàn)象在不重新開(kāi)機(jī)的情況下可很快自我恢復(fù)則判定為通過(guò)，否則視為不通過(guò)； 空氣放電標(biāo)準(zhǔn)：10KV，手機(jī)要求能正常工作，不允許有屏閃，屏抖，黑線，橫紋，豎紋，屏無(wú)顯示，

19、變暗，變黑，重新啟動(dòng)，關(guān)機(jī)，通訊鏈路斷等以及其它未描述到的現(xiàn)象，如出現(xiàn)以上現(xiàn)象在不重新開(kāi)機(jī)的情況下可很快自我恢復(fù)則判定為通過(guò)，否則視為不通過(guò)。備注：靜電釋放位置的確定要依據(jù)產(chǎn)品的具體情況進(jìn)行定義，并不局限于上述所列位置。備注：靜電釋放位置的確定要依據(jù)產(chǎn)品的具體情況進(jìn)行定義，并不局限于上述所列位置。 6.2氣候適應(yīng)性測(cè)試氣候適應(yīng)性測(cè)試 （Climatic Stress Test）A： 一般氣候性測(cè)試：一般氣候性測(cè)試：6.2.1 室溫下參數(shù)測(cè)試室溫下參數(shù)測(cè)試 （Parametric Test） 測(cè)試環(huán)境：室溫 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：使用參數(shù)測(cè)試儀，參照附件（1）項(xiàng)目列表，對(duì)所有樣品進(jìn)行電性能指

20、標(biāo)測(cè)試。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：所有附件（1）中電性能指標(biāo)正常，功能正常。6.2.2 高溫高溫/低溫低溫工作工作測(cè)試（測(cè)試（Parametric Test） 測(cè)試環(huán)境：-20C/+55C 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：將手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)，放入溫度實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)的架子上。分別持續(xù)4個(gè)小時(shí)之后（與環(huán)境溫度平衡），然后在此環(huán)境下進(jìn)行電性能檢查，檢查項(xiàng)目見(jiàn)附表（1）。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)電性能指標(biāo)滿足要求，功能正常，內(nèi)存無(wú)丟失，外殼無(wú)變形。6.2.3 高溫高溫/低溫存儲(chǔ)功能測(cè)試（低溫存儲(chǔ)功能測(cè)試（Functional Test） 測(cè)試環(huán)境：-30C/+70C 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：將手機(jī)處于關(guān)機(jī)狀態(tài)，放入溫度實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)的架子

21、上。在高溫持續(xù)24個(gè)小時(shí)后轉(zhuǎn)至低溫持續(xù)24個(gè)小時(shí)后取出，并放置2小時(shí)恢復(fù)至常溫，然后進(jìn)行功能檢查。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)功能正常，內(nèi)存無(wú)丟失，外殼無(wú)變形。文件編號(hào)：WI-QA-001WI-QA-001ISO9000 質(zhì)量管理體系文件深圳卓普通訊設(shè)備有限公司深圳卓普通訊設(shè)備有限公司版本 ：A01A01生效日期：2012.6.27手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)次 ：第 10 頁(yè) 共 19 頁(yè)B：惡劣氣候性測(cè)試：惡劣氣候性測(cè)試 6.2.4 灰塵測(cè)試（灰塵測(cè)試（Dust Test） 測(cè)試環(huán)境：35C 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：將手機(jī)關(guān)機(jī)放入灰塵實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)?；覊m大小130目，持續(xù)3個(gè)小時(shí)之后，然

22、后將手機(jī)從實(shí)驗(yàn)箱中取出，進(jìn)行檢查。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)各項(xiàng)功能正常，所有活動(dòng)元器件運(yùn)轉(zhuǎn)自如，顯示區(qū)域沒(méi)有明顯灰塵。6.2.5 鹽霧測(cè)試（鹽霧測(cè)試（Salt Fog Test） 測(cè)試環(huán)境：35C 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法： 溶液含量：5%的氯化鈉溶液。水流量：600 立方厘米/小時(shí)。 噴霧水壓：80Kpa 將手機(jī)安裝電池、電池蓋以及塞子等處于關(guān)機(jī)狀態(tài)放在鹽霧試驗(yàn)箱內(nèi)，樣機(jī)用繩子懸掛起來(lái)或斜放，以免溶液噴灑不均或有的表面噴不到。 樣機(jī)需立即被放入測(cè)試箱。實(shí)驗(yàn)周期是 36 個(gè)小時(shí)。測(cè)試中每 12h，24h、36h 檢查一次手機(jī)的外觀。實(shí)驗(yàn)過(guò)程中樣機(jī)不得被中途取出，如果急需取出測(cè)試，要嚴(yán)格記錄測(cè)試時(shí)間，該

23、實(shí)驗(yàn)需向后延遲相同時(shí)間。 取出樣機(jī)，將手機(jī)和電池分開(kāi)放置 24 小時(shí)進(jìn)行常溫干燥，對(duì)其進(jìn)行外觀及功能檢查。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)各項(xiàng)功能正常，手機(jī)外殼表面及裝飾件無(wú)明顯腐蝕等異常現(xiàn)象。6.3結(jié)構(gòu)耐久測(cè)試結(jié)構(gòu)耐久測(cè)試 （Mechanical Endurance Test）6.3.1 側(cè)鍵測(cè)試（側(cè)鍵測(cè)試（Side Key Test） 測(cè)試環(huán)境：室溫 測(cè)試頻率：40-60cycles/min 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：將手機(jī)設(shè)置成關(guān)機(jī)狀態(tài)固定在測(cè)試夾具上，用7N的力對(duì)側(cè)鍵進(jìn)行5萬(wàn)次按壓測(cè)試。每1萬(wàn)次檢查手機(jī)側(cè)鍵彈性及功能。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)側(cè)鍵彈性及功能正常。6.3.2 充電器插拔測(cè)試（充電器插拔測(cè)試（Ch

24、arger Test） 測(cè)試環(huán)境：室溫文件編號(hào)：WI-QA-001WI-QA-001ISO9000 質(zhì)量管理體系文件深圳卓普通訊設(shè)備有限公司深圳卓普通訊設(shè)備有限公司版本 ：A01A01生效日期：2012.6.27手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)次 ：第 11 頁(yè) 共 19 頁(yè) 測(cè)試頻率：15-20cycles/min 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：將手機(jī)設(shè)置成開(kāi)機(jī)狀態(tài)，將充電器接上電源，連接手機(jī)充電接口，等待手機(jī)至充電界面顯示正常后，插拔充電插頭5000次。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：USB插座無(wú)焊接故障，USB插頭無(wú)損傷，手機(jī)及充電器的功能使用正常。6.3.3 電池電池/電池蓋拆裝測(cè)試（電池蓋拆裝

25、測(cè)試（Battery/Battery Cover Test） 測(cè)試環(huán)境：室溫 測(cè)試頻率：15-20cycles/min 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：將電池/電池蓋反復(fù)拆裝2000次，分別在500次、1000次、1500次以及2000次后檢查電池蓋的松緊度。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)及電池/電池蓋各項(xiàng)功能正常，電池觸片和電池連接器應(yīng)無(wú)下陷、變形及磨損的現(xiàn)象，外觀無(wú)異常。6.3.4 耳機(jī)插拔測(cè)試耳機(jī)插拔測(cè)試 （Headset Test） 測(cè)試環(huán)境：室溫 測(cè)試頻率：15-20cycles/min 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：將手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)，耳機(jī)插在手機(jī)耳機(jī)插孔內(nèi)，然后拔出，反復(fù)3000次；完成后對(duì)樣機(jī)及耳機(jī)進(jìn)

26、行結(jié)構(gòu)、功能、外觀檢查 。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：實(shí)驗(yàn)前，用手握住耳機(jī)并拉起手機(jī)，耳機(jī)能承受手機(jī)機(jī)身重量；實(shí)驗(yàn)后檢查耳機(jī)插座無(wú)焊接故障，耳機(jī)插頭無(wú)損傷，使用耳機(jī)通話接收與送話無(wú)斷續(xù)、雜音（通話過(guò)程中轉(zhuǎn)動(dòng)耳機(jī)插頭），耳機(jī)插入手機(jī)耳機(jī)插孔時(shí)不會(huì)松動(dòng)（可以承受得住手機(jī)本身的重量）。 6.3.5 SD 卡卡/SIM 卡插拔測(cè)試（卡插拔測(cè)試（SD Card Test） 測(cè)試環(huán)境：室溫 測(cè)試頻率：30-40cycles/min 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：將手機(jī)處于關(guān)機(jī)狀態(tài)，SD卡/SIM卡插在手機(jī)SD/SIM卡座內(nèi)，然后拔出，反復(fù)1000次。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：卡座應(yīng)無(wú)變形、無(wú)破損阻塞并能通過(guò)功能測(cè)試。文件編號(hào)：WI-QA-

27、001WI-QA-001ISO9000 質(zhì)量管理體系文件深圳卓普通訊設(shè)備有限公司深圳卓普通訊設(shè)備有限公司版本 ：A01A01生效日期：2012.6.27手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)次 ：第 12 頁(yè) 共 19 頁(yè)6.3.6 水滴實(shí)驗(yàn)（針對(duì)電容屏）水滴實(shí)驗(yàn)（針對(duì)電容屏） 測(cè)試環(huán)境：室溫 測(cè)試樣品數(shù)量：3臺(tái) 測(cè)試方法：滴 10 滴水在 TP 上，每?jī)纱斡檬謸軇?dòng)一次 TP，看 TP 是否出現(xiàn)錯(cuò)誤的動(dòng)作，若 TP正常，繼續(xù)滴水，若 TP 出現(xiàn)錯(cuò)誤動(dòng)作或失效的情況就擦干水晾干后，檢查 TP 是否正常，若正常就繼續(xù)滴水，若不正常就停止滴水。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：水擦干后 TP 的工作是否正常。 6

28、.3.7 喇叭壽命測(cè)試（喇叭壽命測(cè)試（Speaker life test） 測(cè)試環(huán)境：室溫 測(cè)試數(shù)量：2個(gè) 測(cè)試方法：室溫條件下，將實(shí)驗(yàn)樣機(jī)設(shè)置長(zhǎng)時(shí)間響鈴狀態(tài)，音量調(diào)到最大，試驗(yàn)時(shí)間96小時(shí)，每2小時(shí)檢查響鈴情況。 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：試驗(yàn)時(shí)間機(jī)內(nèi)及完成后響鈴正常，人耳感覺(jué)無(wú)明顯差異。 6.3.8 馬達(dá)壽命測(cè)試（馬達(dá)壽命測(cè)試（Vibration durability test） 測(cè)試環(huán)境：室溫 測(cè)試數(shù)量：2個(gè) 測(cè)試方法：室溫條件下，將實(shí)驗(yàn)樣機(jī)設(shè)置長(zhǎng)時(shí)間振動(dòng)狀態(tài)，試驗(yàn)時(shí)間96小時(shí)，每2小時(shí)檢查響鈴情況。 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：試驗(yàn)時(shí)間機(jī)內(nèi)及完成后振動(dòng)正常，無(wú)振動(dòng)減弱及振動(dòng)異響等不良。 6.4表面裝飾表面裝飾測(cè)試（測(cè)試

29、（Decorative Surface Test）6.4.1 外殼表面處理測(cè)試外殼表面處理測(cè)試6.4.1.1 附著力測(cè)試（Coating Adhesion Test） 測(cè)試環(huán)境：室溫 試驗(yàn)方法：用百格刀刻出1mm*1mm，10*10的網(wǎng)格，劃格的深度以露出底材為止，用3M600號(hào)膠帶紙貼在方格面后用橡皮擦擦平膠紙，1分鐘后迅速以90度的角度撕脫，同一位置重復(fù)三次，檢查方格表面油漆。印刷位置不劃格，直接用膠帶撕三次。文件編號(hào)：WI-QA-001WI-QA-001ISO9000 質(zhì)量管理體系文件深圳卓普通訊設(shè)備有限公司深圳卓普通訊設(shè)備有限公司版本 ：A01A01生效日期：2012.6.27手機(jī)整機(jī)

30、可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)次 ：第 13 頁(yè) 共 19 頁(yè) 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：有涂層脫落的方格數(shù)應(yīng)不大于總方格數(shù)的3%；單個(gè)方格涂層脫落面積不大于單個(gè)方格總面積的15%，印刷不允許有脫落。6.4.1.2 環(huán)境后附著力測(cè)試 測(cè)試環(huán)境：對(duì)高低溫存儲(chǔ)，濕熱和溫度沖擊測(cè)試后的樣品進(jìn)行附著力測(cè)試 試驗(yàn)方法：用百格刀刻出1mm*1mm，10*10的網(wǎng)格，劃格的深度以露出底材為止，用3M600號(hào)膠帶紙貼在方格面后用橡皮擦擦平膠紙，1分鐘后迅速以90度的角度撕脫，同一位置重復(fù)三次，檢查方格表面油漆。印刷位置不劃格，直接用膠帶撕三次。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：有涂層脫落的方格數(shù)應(yīng)不大于總方格數(shù)的3%；單個(gè)方格涂層脫落面積

31、不大于單個(gè)方格總面積的15%，印刷不允許有脫落。6.4.1.3 磨擦測(cè)試（Abrasion Test - RCA） 測(cè)試環(huán)境：室溫 測(cè)試頻率：15-20 cycles/min 試驗(yàn)方法：將手機(jī)外殼固定在RCA試驗(yàn)機(jī)上，用175g力摩擦。UV漆，電鍍件300圈PU漆，金屬漆150圈 橡膠漆50圈 印刷200圈（橡膠漆上面印刷50圈） 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：耐磨點(diǎn)涂層不能脫落，不可露出底材質(zhì)地。6.4.1.4 硬度測(cè)試（Hardness Test） 測(cè)試環(huán)境：室溫 試驗(yàn)方法：用2H(橡膠漆，素材:1H)的鉛筆（注：使用中華牌鉛筆，鉛筆削好后用砂紙垂直方向打磨成圓柱形），在45度角下，以1000g的力度在機(jī)殼表

32、面劃出5條約5mm長(zhǎng)的線條。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：劃痕用橡皮擦去鉛筆痕跡后，沒(méi)有明顯留下劃痕。6.4.1.5 酒精/橡皮耐磨測(cè)試（Alcohol Test） 測(cè)試環(huán)境：室溫 試驗(yàn)方法：用98的酒精，負(fù)荷500g，來(lái)回摩擦200循環(huán)；用測(cè)試專用7017R橡皮，負(fù)重500g，來(lái)回摩擦200循環(huán)。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：耐磨點(diǎn)涂層不能脫落，不能變色，褪色，不可露出底材質(zhì)地。6.4.1.6 汗液測(cè)試（Perspiration Test） 測(cè)試環(huán)境：40 ，90%RH文件編號(hào)：WI-QA-001WI-QA-001ISO9000 質(zhì)量管理體系文件深圳卓普通訊設(shè)備有限公司深圳卓普通訊設(shè)備有限公司版本 ：A01A01生效日期：20

33、12.6.27手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)次 ：第 14 頁(yè) 共 19 頁(yè) 測(cè)試方法：把濾紙放于酸性溶液（Acid2 PH=4.7）（酸性溶液可以按如下方式配制，NACL：11.3，磷酸二氫鈉：2.8，乳酸：1.1，水：84.8；或者按照其他方式進(jìn)行配制）充分浸透，用膠帶將浸有酸性溶液的濾紙粘在外殼噴漆表面，并且確保試紙與外殼噴漆表面充分接觸，然后放在測(cè)試環(huán)境中，24小時(shí)后將外殼從測(cè)試環(huán)境中取出，并且放置2小時(shí)后，檢查外殼表面。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：表面無(wú)變色、褪色等異常。6.4.1.7 紫外線照射測(cè)試（UV illuminant Test）（參考） 測(cè)試環(huán)境：50 測(cè)試方法：將殼體放

34、入實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)用夾板固定，使其殼體噴漆面朝向紫外線燈光。將氣候試驗(yàn)箱打開(kāi)升至50，開(kāi)始計(jì)時(shí)，在紫外線為340W/mm的光線下直射噴漆表面，實(shí)驗(yàn)周期48小時(shí)，取出殼體后室溫恢復(fù)2小時(shí)對(duì)殼體噴漆表面進(jìn)入判定 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：在日光燈下距30cm目視表面噴漆無(wú)褪色，變色，紋路，開(kāi)裂，剝落以及與測(cè)試前不一致的外觀。6.4.2 TP 表面硬度測(cè)試（表面硬度測(cè)試（TP Hardness Test） 測(cè)試環(huán)境：室溫 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：用2H鉛筆（中華牌），在45度角下，以1000g的力在鏡蓋表面劃出5條約5mm長(zhǎng)的線條。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：劃痕用橡皮擦去鉛筆痕跡后，沒(méi)有明顯留下劃痕。6.4.3 鋼球沖擊測(cè)試（鋼球沖擊

35、測(cè)試（Ball Drop Test） 測(cè)試環(huán)境：室溫 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試設(shè)備：采用 2 種：1.小球直徑為 32mm，135g 重，5cm 高度跌落 2小球 110g 重，35cm 高度跌落 測(cè)試方法：在設(shè)備上進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，采用110g重鋼球，35cm的高度。開(kāi)機(jī)不插卡，平放在工作臺(tái)上，從35cn高處將鋼球自由落體，跌落1次，打擊鏡片顯示區(qū)域中心點(diǎn)。 在無(wú)設(shè)備情況下，采用32mm，135g重鋼球，5cm的高度。開(kāi)機(jī)不插卡，平放在工作臺(tái)上，從35cn高處將鋼球自由落體，跌落5次，打擊到鏡片的位置描述如下：顯示區(qū)域中心一個(gè)點(diǎn)，相鄰2邊1/4處交點(diǎn)的4個(gè)點(diǎn)。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：鏡片無(wú)變形、裂縫、破損（允許鏡

36、片表面有白點(diǎn)），LCD無(wú)裂紋、無(wú)顯示功能及觸屏失效現(xiàn)象。文件編號(hào)：WI-QA-001WI-QA-001ISO9000 質(zhì)量管理體系文件深圳卓普通訊設(shè)備有限公司深圳卓普通訊設(shè)備有限公司版本 ：A01A01生效日期：2012.6.27手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)次 ：第 15 頁(yè) 共 19 頁(yè)6.5特殊條件測(cè)試（特殊條件測(cè)試（Special Stress Test）6.5.1 扭曲測(cè)試（扭曲測(cè)試（Twist Test） 測(cè)試環(huán)境：室溫 測(cè)試頻率：30-40cycles/min 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：將試驗(yàn)樣機(jī)裝配電池，關(guān)機(jī)狀態(tài)，放置在扭力測(cè)試儀上，30 次/分鐘的速率,扭矩大

37、小設(shè)置為機(jī)身厚度乘 0.08（單位 N.m），循環(huán)周期 5000 次；每500次對(duì)手機(jī)的外觀，功能進(jìn)行檢測(cè)，測(cè)試完成后拆機(jī)對(duì)殼體內(nèi)部以及主板、元器件檢查。每500次對(duì)手機(jī)的外觀，功能進(jìn)行檢測(cè)，測(cè)試完成后拆機(jī)對(duì)殼體內(nèi)部以及主板、元器件檢查。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：殼體無(wú)損傷，裂痕；手機(jī)功能正常，殼體內(nèi)部，主板以及元器件良好。 6.5.2 軟壓測(cè)試（軟壓測(cè)試（Press Test） 測(cè)試環(huán)境：室溫 測(cè)試頻率：40-60cycles/min 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：將手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)，固定在坐壓試驗(yàn)機(jī)上，用25KG的力反復(fù)擠壓手機(jī)2000次，1臺(tái)機(jī)壓正面，1臺(tái)機(jī)壓背面；500次檢查一次。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)沒(méi)有變

38、形，內(nèi)存無(wú)丟失，外觀無(wú)異常，且各項(xiàng)功能正常。 6.5.3 硬壓測(cè)試硬壓測(cè)試 測(cè)試環(huán)境：室溫 測(cè)試頻率：40-60cycles/min 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：將手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)，固定在坐壓試驗(yàn)機(jī)上，用直徑20mm鋁材桿施加13Kg的力，作用在橫軸中心，以40次/min的速率擠壓500次，正反面各200次。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)沒(méi)有變形，內(nèi)存無(wú)丟失，外觀無(wú)異常，且各項(xiàng)功能正常。文件編號(hào)：WI-QA-001WI-QA-001ISO9000 質(zhì)量管理體系文件深圳卓普通訊設(shè)備有限公司深圳卓普通訊設(shè)備有限公司版本 ：A01A01生效日期：2012.6.27手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)次 ：

39、第 16 頁(yè) 共 19 頁(yè)6.5.4 循環(huán)跌落測(cè)試（循環(huán)跌落測(cè)試（Micro-drop Test） 測(cè)試環(huán)境：室溫，7cm高度，4mm厚PVC板 測(cè)試頻率：15-20cycles/min 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)，插入SIM卡和T卡，做手機(jī)正面及背面的重復(fù)跌落實(shí)驗(yàn)，每個(gè)面的跌落次數(shù)為5000次（即1臺(tái)手機(jī)測(cè)試1萬(wàn)次）。每1000次進(jìn)行外觀、機(jī)械和功能檢查。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)各項(xiàng)功能正常，內(nèi)存無(wú)丟失，每臺(tái)掉電、掉SIM卡、T卡不能超過(guò)2次；外殼無(wú)變形、破裂、掉漆，顯示屏無(wú)破碎，內(nèi)部元件無(wú)脫落。 6.5.5 滾筒跌落測(cè)試（滾筒跌落測(cè)試（Free Fall Test） 測(cè)試環(huán)境：室溫

40、 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：試驗(yàn)樣機(jī)插 SIM 卡，并裝配電池，手機(jī)處于正常工作狀態(tài)。將樣品放置在0.5m 的滾筒跌落試驗(yàn)機(jī)中，進(jìn)行跌落測(cè)試，每 50 次對(duì)手機(jī)的外觀，功能，結(jié)構(gòu)做檢測(cè)，累計(jì)跌落200 次（100 圈）。測(cè)試完成后，對(duì)手機(jī)進(jìn)行功能，結(jié)構(gòu)，裝配檢測(cè)（要求必須拆機(jī)檢查）。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：滾筒跌落測(cè)試后，手機(jī)各項(xiàng)功能應(yīng)正常，無(wú)合縫變大，卡扣變形等結(jié)構(gòu)不良。試驗(yàn)中，若因?yàn)樵O(shè)計(jì)原因?qū)е碌潆姵厣w松動(dòng)脫落，可采用加貼膠紙的方式固定電池蓋進(jìn)行測(cè)試。6.6其他測(cè)試（其他測(cè)試（Other Test）6.6.1 螺母螺母測(cè)試（測(cè)試（Nut Test） 測(cè)試環(huán)境：室溫 測(cè)試數(shù)量：3臺(tái) 測(cè)試方法：扭力測(cè)試

41、儀，扭力1.2kgf.cm不可轉(zhuǎn)動(dòng)；拉力測(cè)試儀，拉力7.5kgf不可脫落 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：螺母無(wú)變形、損傷、裂紋、劃絲等異常。6.6.2 I/O 接口試驗(yàn)接口試驗(yàn)6.6.3.1 I/O接口不正確插入試驗(yàn) 測(cè)試環(huán)境：室溫 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：在所有可能的方向，以7kgf的力插入插頭。文件編號(hào)：WI-QA-001WI-QA-001ISO9000 質(zhì)量管理體系文件深圳卓普通訊設(shè)備有限公司深圳卓普通訊設(shè)備有限公司版本 ：A01A01生效日期：2012.6.27手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)次 ：第 17 頁(yè) 共 19 頁(yè) 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：I/O接口無(wú)機(jī)械損傷、短路等現(xiàn)象；I/O接口具有防呆設(shè)

42、計(jì)。6.6.3.2 I/O接口插頭拉出強(qiáng)度試驗(yàn)（僅限有防脫出設(shè)計(jì)的IO接口） 測(cè)試環(huán)境：室溫 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：用5kgf的力拉出插頭。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：插頭不被拉出。6.6.3 耳機(jī)插口強(qiáng)力插入測(cè)試（耳機(jī)插口強(qiáng)力插入測(cè)試（Earphone Connector Evaluation Test） 測(cè)試環(huán)境：室溫，推拉力計(jì) 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：用5kgf的力瞬時(shí)插入耳機(jī)插口。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：耳機(jī)插口的電氣、結(jié)構(gòu)性能正常；無(wú)插頭斷裂、耳機(jī)插口斷裂、耳機(jī)線損壞等現(xiàn)象發(fā)生。6.6.4 保護(hù)蓋（耳機(jī)塞、保護(hù)蓋（耳機(jī)塞、I/O 接口塞、接口塞、RF 塞、螺絲塞等）測(cè)試塞、螺絲塞等）測(cè)試（Protect

43、Cover Evaluation Test）6.6.4.1 拉伸測(cè)試 測(cè)試環(huán)境：室溫，推拉力計(jì) 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：用1.5kgf拉伸耳機(jī)塞和I/O接口塞。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：對(duì)耳機(jī)塞、I/O接口塞，拉伸后無(wú)損傷，不脫出；對(duì)RF塞、螺絲塞無(wú)要求6.6.5.2 低溫彎折測(cè)試 測(cè)試環(huán)境：-10 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：將耳機(jī)塞和I/O接口塞放入-10溫度試驗(yàn)機(jī)中冷凍30分鐘后取出后，立即折彎耳機(jī)塞和I/O接口塞。 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：對(duì)耳機(jī)塞、I/O接口塞，無(wú)肉眼可見(jiàn)的裂紋發(fā)生；對(duì)RF塞 、螺絲塞無(wú)要求。6.6.5.3 RF 塞、螺絲塞塌陷測(cè)試 測(cè)試環(huán)境：室溫（2025），推拉力計(jì) 測(cè)試數(shù)量：2臺(tái) 測(cè)試方法：用2kgf 的力按壓螺絲塞、RF塞持續(xù)15