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文檔簡介
1、現(xiàn)代電子技術(shù)實驗基本基本RS觸發(fā)器、觸發(fā)器、D觸發(fā)器的研究觸發(fā)器的研究現(xiàn)代電子技術(shù)實驗一、實驗?zāi)康囊弧嶒災(zāi)康?1 1、掌握基本掌握基本RS觸發(fā)器、觸發(fā)器、D觸發(fā)器的邏觸發(fā)器的邏輯功能輯功能 2、掌握掌握基本基本RS觸發(fā)器、觸發(fā)器、D觸發(fā)器觸發(fā)器的測的測試方法試方法 現(xiàn)代電子技術(shù)實驗 觸發(fā)器是一種具有記憶功能的二進(jìn)制觸發(fā)器是一種具有記憶功能的二進(jìn)制存貯器件,是構(gòu)成各種時序電路的基本邏存貯器件,是構(gòu)成各種時序電路的基本邏輯單元。輯單元。它在數(shù)字系統(tǒng)和計算機(jī)中有著廣它在數(shù)字系統(tǒng)和計算機(jī)中有著廣泛的運用。泛的運用。二、實驗原理二、實驗原理按觸發(fā)器的邏輯功能分按觸發(fā)器的邏輯功能分,有,有RS觸發(fā)器觸發(fā)
2、器D觸觸發(fā)器發(fā)器JK觸發(fā)器觸發(fā)器T觸發(fā)器和觸發(fā)器和T觸發(fā)器。觸發(fā)器。按觸發(fā)脈沖的觸發(fā)形式分按觸發(fā)脈沖的觸發(fā)形式分,有高電平觸發(fā)、,有高電平觸發(fā)、低電平觸發(fā)、上升沿觸發(fā)和下降沿觸發(fā)以低電平觸發(fā)、上升沿觸發(fā)和下降沿觸發(fā)以及主從觸發(fā)器的脈沖觸發(fā)等。及主從觸發(fā)器的脈沖觸發(fā)等。現(xiàn)代電子技術(shù)實驗觸發(fā)器具有以下基本特點:觸發(fā)器具有以下基本特點:v具有兩個穩(wěn)定的(和)狀態(tài),能存儲具有兩個穩(wěn)定的(和)狀態(tài),能存儲一位二進(jìn)制信息;一位二進(jìn)制信息;v在一定的外加信號作用下,觸發(fā)器可從一在一定的外加信號作用下,觸發(fā)器可從一種穩(wěn)定狀態(tài)轉(zhuǎn)換成另一種穩(wěn)定狀態(tài)(種穩(wěn)定狀態(tài)轉(zhuǎn)換成另一種穩(wěn)定狀態(tài)(10或或01)。)。v在一定的條
3、件下,可以維持兩個穩(wěn)定狀態(tài)在一定的條件下,可以維持兩個穩(wěn)定狀態(tài) (0或或1)之一而保持不變。)之一而保持不變?,F(xiàn)代電子技術(shù)實驗 組成:組成:用與非門組成的基本用與非門組成的基本RS觸發(fā)器觸發(fā)器 構(gòu)成:將輸入端和輸出端交叉耦合而成構(gòu)成:將輸入端和輸出端交叉耦合而成 置置 0 端端置置 1 端端邏輯符號邏輯符號 邏輯圖邏輯圖 1.基本的基本的RS觸發(fā)器觸發(fā)器現(xiàn)代電子技術(shù)實驗基本基本RS觸發(fā)器的邏輯功能觸發(fā)器的邏輯功能RD SD QnQn+10 1 00 1 11 0 0 1 0 11 1 01 1 10 0 00 0 1 RD SDQn+1功能功能01101100置置0置置1保持保持不定態(tài)不定態(tài)0
4、1Q n001101xx基本基本RS觸發(fā)器功能表觸發(fā)器功能表狀態(tài)轉(zhuǎn)換真值表狀態(tài)轉(zhuǎn)換真值表Q=Q=1,觸發(fā)器失去互補(bǔ)性,觸發(fā)器失去互補(bǔ)性現(xiàn)代電子技術(shù)實驗 波形分析波形分析 在用與非門組成的基本在用與非門組成的基本RS觸發(fā)器中,設(shè)初始狀態(tài)為觸發(fā)器中,設(shè)初始狀態(tài)為0,已知輸入已知輸入R、S的波形圖,畫出兩輸出端的波形圖。的波形圖,畫出兩輸出端的波形圖。QQ00001111111111111111現(xiàn)代電子技術(shù)實驗D觸發(fā)器只有一根輸觸發(fā)器只有一根輸入線,入線,狀態(tài)方程為:狀態(tài)方程為:Qn+1=D。 2.D觸發(fā)器觸發(fā)器 D觸發(fā)器是時序邏輯電路的基本器件之一。觸發(fā)器是時序邏輯電路的基本器件之一。在輸入信號為
5、單端的情況下,在輸入信號為單端的情況下,D觸發(fā)器用起來最觸發(fā)器用起來最為方便。為方便。 DCPQQ邏輯符號邏輯符號現(xiàn)代電子技術(shù)實驗CP上升沿觸發(fā)上升沿觸發(fā)雙觸發(fā)器雙觸發(fā)器74LS7474LS74VCCCP2RDD2Q2SD2Q2CP1RD1D1Q1SD1Q1GND123456714 13 1211 1098現(xiàn)代電子技術(shù)實驗觸發(fā)器觸發(fā)器74LS74功能表功能表現(xiàn)代電子技術(shù)實驗D觸發(fā)器簡單應(yīng)用觸發(fā)器簡單應(yīng)用: 構(gòu)成一位二進(jìn)制計數(shù)器(二分頻器)??蓱?yīng)用譯碼顯構(gòu)成一位二進(jìn)制計數(shù)器(二分頻器)??蓱?yīng)用譯碼顯示循環(huán)狀態(tài),用示波器觀察示循環(huán)狀態(tài),用示波器觀察Q波形。波形。 電路圖:電路圖: 1Q1Q1D1C
6、P1DS1DR1234567474LSVCC+147波形輸出:波形輸出:現(xiàn)代電子技術(shù)實驗 電源 1 2 3 4 5 6 7 & & & & 14 13 12 11 10 9 8 地 三、實驗內(nèi)容三、實驗內(nèi)容1、測試基本、測試基本R-S觸發(fā)器的邏輯功能觸發(fā)器的邏輯功能 由由74LS00四二輸入與非門來實現(xiàn)。四二輸入與非門來實現(xiàn)。 & & Q Q SD RD SD RD Q Q現(xiàn)代電子技術(shù)實驗R-S觸發(fā)器邏輯功能觸發(fā)器邏輯功能測試表測試表 RD SDQn+1 功能功能01101100現(xiàn)代電子技術(shù)實驗如圖是如圖是74LS74的管腳排列圖,該芯片中有兩個
7、的管腳排列圖,該芯片中有兩個D觸發(fā)器。觸發(fā)器。功能測試電路如下圖,功能測試電路如下圖, 、D接邏輯開關(guān),接邏輯開關(guān),CP接單次接單次脈沖,按表進(jìn)行其功能測試。脈沖,按表進(jìn)行其功能測試。 2、D 觸發(fā)器功能測試觸發(fā)器功能測試 現(xiàn)代電子技術(shù)實驗D觸發(fā)器觸發(fā)器74xx74功能測試表功能測試表 現(xiàn)代電子技術(shù)實驗 采用采用74xx74 觸發(fā)器構(gòu)成觸發(fā)器構(gòu)成2-4進(jìn)制計數(shù)器,其中進(jìn)制計數(shù)器,其中CP為為10KHZ TTL信號。用雙蹤示波器觀察工作信號。用雙蹤示波器觀察工作情況,記錄情況,記錄CP和和Q1、Q2的波形。的波形。3、D觸發(fā)器計數(shù)功能測試觸發(fā)器計數(shù)功能測試D觸發(fā)器計數(shù)波形觸發(fā)器計數(shù)波形現(xiàn)代電子技
8、術(shù)實驗y1y2用雙蹤示波器觀測波形時應(yīng)選擇恰當(dāng)?shù)挠|發(fā)源。level若選用若選用y1做觸發(fā)源做觸發(fā)源示波器上顯示波器上顯示的示的y2波形波形現(xiàn)代電子技術(shù)實驗y1y2level若選用若選用y2做觸發(fā)源做觸發(fā)源示波器上顯示波器上顯示的示的y2波形波形現(xiàn)代電子技術(shù)實驗故障檢查與排除故障檢查與排除做實驗時做實驗時,要做到,要做到“聽、看、摸、聞聽、看、摸、聞”。 所謂所謂“聽聽”,即聽是否有異常的聲音;,即聽是否有異常的聲音; “看看”,即看是否有冒煙、起火的現(xiàn)象;,即看是否有冒煙、起火的現(xiàn)象; “摸摸”,摸芯片是否發(fā)燙;,摸芯片是否發(fā)燙; “聞聞”,即是否聞到有燒焦的糊味。,即是否聞到有燒焦的糊味。
9、如有上述異?,F(xiàn)象發(fā)生,請及時關(guān)掉電源,檢查電源是否接錯如有上述異?,F(xiàn)象發(fā)生,請及時關(guān)掉電源,檢查電源是否接錯;電源電壓是否滿足要求。電源電壓是否滿足要求。現(xiàn)象現(xiàn)象:如各觸發(fā)器基本功能測試時不能得到理想值。用如各觸發(fā)器基本功能測試時不能得到理想值。用D觸發(fā)器觸發(fā)器構(gòu)成計數(shù)器時不能正確分頻。構(gòu)成計數(shù)器時不能正確分頻。解決方法:解決方法:請用邏輯測試筆或示波器檢查芯片電源及各輸入、請用邏輯測試筆或示波器檢查芯片電源及各輸入、輸出端是否滿足要求。特別是時鐘信號是否滿足輸出端是否滿足要求。特別是時鐘信號是否滿足TTL信號要信號要求。求?,F(xiàn)代電子技術(shù)實驗實驗完成后請注意:實驗完成后請注意:1、做完實驗拆線時,手要捏住導(dǎo)線的底部,以防、做完實驗拆線時,手要捏住導(dǎo)線的底部,以防導(dǎo)線斷開。導(dǎo)線斷開。 2、做完實驗后,要關(guān)掉電源,實驗箱上的元件不、做完實驗后,要關(guān)掉電源,實驗箱上的元件不要動,凳子放到桌子下面,桌上的實驗設(shè)備均擺放要動,凳子放到桌子下面,桌上的實驗設(shè)備均擺放整齊,方可離開。整齊,方可離開。3、保持室內(nèi)衛(wèi)生,不要亂扔紙屑和廢棄物。保持室內(nèi)衛(wèi)
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