軟件工程-第八章 軟件測(cè)試

1、軟件工程軟件工程第第8章章 軟件測(cè)試軟件測(cè)試8.1 軟件測(cè)試概論8.2 軟件測(cè)試模型8.3 黑盒測(cè)試方法8.4 白盒測(cè)試方法8.5 灰盒測(cè)試方法8.6 測(cè)試過(guò)程與測(cè)試文檔8.1 軟件測(cè)試概論 為了發(fā)現(xiàn)程序中的錯(cuò)誤而執(zhí)行程序的過(guò)程稱為測(cè)試。軟件開(kāi)發(fā)的前幾個(gè)階段是構(gòu)建軟件系統(tǒng)，而軟件測(cè)試則盡力找出軟件的失敗和不足之處，表面上看設(shè)計(jì)是建設(shè)性的，測(cè)試是破壞性的。事實(shí)上這兩個(gè)過(guò)程都是為了提高軟件的質(zhì)量。測(cè)試是保證軟件質(zhì)量的重要手段之一。8.1.1 測(cè)試的目的 軟件測(cè)試是對(duì)軟件計(jì)劃、軟件設(shè)計(jì)和軟件編碼進(jìn)行差錯(cuò)和糾錯(cuò)的活動(dòng)，測(cè)試的目的是找出軟件開(kāi)發(fā)整個(gè)周期中各個(gè)階段的錯(cuò)誤，分析錯(cuò)誤的性質(zhì)和位置而加以糾正。8

2、.1 軟件測(cè)試概論8.1.2 測(cè)試的基本原則測(cè)試人員在進(jìn)行程序測(cè)試時(shí)，應(yīng)該遵循一些測(cè)試原則：測(cè)試前要認(rèn)定被測(cè)試的軟件有錯(cuò)，不要認(rèn)為被測(cè)試的程序是正確的。盡量避免測(cè)試自己編寫(xiě)的程序。測(cè)試時(shí)要考慮合理的輸入和不合理的輸入數(shù)據(jù)。測(cè)試時(shí)應(yīng)以軟件需求規(guī)格說(shuō)明書(shū)中的需求為標(biāo)準(zhǔn)。要確定找到的新錯(cuò)與已找到的舊錯(cuò)成正比。G.Myers認(rèn)為“一個(gè)或多個(gè)模塊中存在錯(cuò)誤的概率與其中已經(jīng)發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤個(gè)數(shù)成正比”，因此，應(yīng)該對(duì)已經(jīng)發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤集中的模塊進(jìn)行重點(diǎn)測(cè)試，以找出相關(guān)的可能錯(cuò)誤，提高測(cè)試效率。所有的測(cè)試用例，應(yīng)該記錄下來(lái)，以供后來(lái)的測(cè)試和維護(hù)使用。8.1 軟件測(cè)試概論 1. V模型:最廣為人知的模型，和瀑布開(kāi)發(fā)模型有著

3、一些共同的特征，它從左到右，描述了基本開(kāi)發(fā)過(guò)程和測(cè)試行為。8.2 軟件測(cè)試模型 1. V模型優(yōu)缺點(diǎn): 優(yōu)點(diǎn)：明確地標(biāo)明了測(cè)試過(guò)程中存在的不同級(jí)別，并且清楚地描述了這些測(cè)試階段和開(kāi)發(fā)過(guò)程期間各個(gè)階段的對(duì)應(yīng)關(guān)系。 缺點(diǎn)：它把測(cè)試作為編碼后的最后一個(gè)活動(dòng)，需求分析等前期產(chǎn)生的錯(cuò)誤直到后期的驗(yàn)收測(cè)試才能被發(fā)現(xiàn)。8.2 軟件測(cè)試模型 2. W模型：比V更科學(xué)，強(qiáng)調(diào)測(cè)試伴隨著整個(gè)軟件開(kāi)發(fā)周期。8.2 軟件測(cè)試模型 W模型局限性：把軟件的開(kāi)發(fā)視為需求、設(shè)計(jì)、編碼等一系列串行的活動(dòng)，無(wú)法支持迭代自發(fā)性以及變更調(diào)整。8.2 軟件測(cè)試模型 3. X模型：對(duì)V模型的改進(jìn)，X模型提出針對(duì)單獨(dú)的程序片段進(jìn)行相互分離的編

4、碼和測(cè)試，此后通過(guò)頻繁地交接，通過(guò)集成最終合成可執(zhí)行的程序。8.2 軟件測(cè)試模型 4. H模型：軟件測(cè)試過(guò)程活動(dòng)完全獨(dú)立，貫穿于整個(gè)產(chǎn)品周期，與其他流程并發(fā)地進(jìn)行，當(dāng)某個(gè)測(cè)試點(diǎn)準(zhǔn)備就緒時(shí)，就可以從測(cè)試準(zhǔn)備階段進(jìn)入測(cè)試執(zhí)行階段。8.2 軟件測(cè)試模型 4. H模型揭示了一個(gè)原理：軟件測(cè)試是一個(gè)獨(dú)立的流程，貫穿產(chǎn)品整個(gè)生命周期，與其他流程并發(fā)執(zhí)。8.2 軟件測(cè)試模型 5. 前置測(cè)試模型8.2 軟件測(cè)試模型 5. 前置測(cè)試模型特點(diǎn)： （1）、開(kāi)發(fā)和測(cè)試相結(jié)合； （2）、對(duì)每一個(gè)交付內(nèi)容進(jìn)行測(cè)試； （3）、在設(shè)計(jì)階段進(jìn)行計(jì)劃和測(cè)試設(shè)計(jì)； （4）、測(cè)試和開(kāi)發(fā)結(jié)合在一起； （5）、讓驗(yàn)收測(cè)試和技術(shù)測(cè)試保持相

5、互獨(dú)立； （6）、反復(fù)交替的開(kāi)發(fā)和測(cè)試； （7）、發(fā)現(xiàn)內(nèi)在價(jià)值。8.2 軟件測(cè)試模型 黑盒測(cè)試也稱功能測(cè)試，它是通過(guò)測(cè)試來(lái)檢測(cè)每個(gè)功能是否都能正常使用。在測(cè)試中，把程序看作一個(gè)不能打開(kāi)的黑盒子，在完全不考慮程序內(nèi)部結(jié)構(gòu)和內(nèi)部特性的情況下，在程序接口進(jìn)行測(cè)試，它只檢查程序功能是否按照需求規(guī)格說(shuō)明書(shū)的規(guī)定正常使用，程序是否能適當(dāng)?shù)亟邮蛰斎霐?shù)據(jù)而產(chǎn)生正確的輸出信息。8.3 黑盒測(cè)試方法8.3.1 等價(jià)類(lèi)劃分法 等價(jià)類(lèi)劃分的辦法是把程序的輸入域劃分成若干部分（子集），然后從每個(gè)部分中選取少數(shù)代表性數(shù)據(jù)作為測(cè)試用例。每一類(lèi)的代表性數(shù)據(jù)在測(cè)試中的作用等價(jià)于這一類(lèi)中的其他值。8.3 黑盒測(cè)試方法8.3.2

6、邊界值分析法 長(zhǎng)期的測(cè)試工作經(jīng)驗(yàn)證明，大量的錯(cuò)誤是發(fā)生在輸入或輸出范圍的邊界上，而不是發(fā)生在輸入輸出范圍的內(nèi)部。因此針對(duì)各種邊界情況設(shè)計(jì)測(cè)試用例，可以查出更多的錯(cuò)誤。8.3 黑盒測(cè)試方法8.3.3 錯(cuò)誤推測(cè)法 錯(cuò)誤推測(cè)法是基于經(jīng)驗(yàn)和直覺(jué)推測(cè)程序中所有可能存在的各種錯(cuò)誤，從而有針對(duì)性的設(shè)計(jì)測(cè)試用例的方法。8.3 黑盒測(cè)試方法8.3.4 因果圖法 因果圖（也稱邏輯模型）方法最終生成的判定表，它適合檢查程序輸入條件的各種組合情況。 步驟：1、分析軟件規(guī)格說(shuō)明描述； 2、分析軟件規(guī)格說(shuō)明描述； 3、為表明一些特殊情況，應(yīng)在因果圖上用一些記號(hào)標(biāo)明約束條件或限制條件； 4、把因果圖轉(zhuǎn)換為判定表； 5、把判

7、定表的每一列拿出來(lái)作為依據(jù)，設(shè)計(jì)測(cè)試用例。8.3 黑盒測(cè)試方法 白盒測(cè)試也稱結(jié)構(gòu)測(cè)試或邏輯驅(qū)動(dòng)測(cè)試，它是按照程序內(nèi)部的結(jié)構(gòu)測(cè)試程序，通過(guò)測(cè)試來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品內(nèi)部動(dòng)作是否按照設(shè)計(jì)規(guī)格說(shuō)明書(shū)的規(guī)定正常進(jìn)行，檢驗(yàn)程序中的每條通路是否都能按預(yù)定要求正確工作。8.4 白盒測(cè)試方法8.4.1 邏輯覆蓋 語(yǔ)句覆蓋：設(shè)計(jì)若干測(cè)試用例，運(yùn)行要測(cè)試的程序，使得每一個(gè)可執(zhí)行的語(yǔ)句至少執(zhí)行一遍。 判定覆蓋：設(shè)計(jì)若干測(cè)試用例，運(yùn)行被執(zhí)行程序，使得程序中每判定的取真分支和取假分支至少被評(píng)價(jià)一次。 條件覆蓋：選擇足夠的測(cè)試用例，使得運(yùn)行這些測(cè)試用例后，要使每個(gè)判定中每個(gè)條件的可能取值至少滿足一次。8.4 白盒測(cè)試方法8.4.1

8、邏輯覆蓋 判定/條件覆蓋：?jiǎn)为?dú)使用判定或條件覆蓋，測(cè)試結(jié)果都不夠全面，將二者結(jié)合，會(huì)起到補(bǔ)充的作用。 條件組合覆蓋：應(yīng)選擇足夠的測(cè)試用例，使得每個(gè)判定條件中的各種可能組合都至少出現(xiàn)一次。 路徑覆蓋：覆蓋了程序中所有可能的路徑。8.4 白盒測(cè)試方法8.4.2 基本路徑測(cè)試 基本路徑測(cè)試設(shè)計(jì)測(cè)試用例的方法是在給出程序控制流的基礎(chǔ)上，分析控制結(jié)構(gòu)的環(huán)路復(fù)雜性，導(dǎo)出基本的可執(zhí)行路徑，并把覆蓋的路徑壓縮到一定限度內(nèi)，保證程序中的循環(huán)體最多只執(zhí)行一次。8.4 白盒測(cè)試方法8.4.3 條件測(cè)試 條件測(cè)試方法注重于測(cè)試程序中的條件，通過(guò)檢測(cè)程序條件中的錯(cuò)誤來(lái)發(fā)現(xiàn)程序中的其他錯(cuò)誤。 條件測(cè)試的目的不僅是檢測(cè)程序條件中的錯(cuò)誤，而且是檢測(cè)程序中的其他錯(cuò)誤。8.4 白盒測(cè)試方法8.4.4 循環(huán)測(cè)試 循環(huán)測(cè)試專注于測(cè)試循環(huán)結(jié)構(gòu)的有效性，根據(jù)循環(huán)的復(fù)雜性，可分為簡(jiǎn)單循環(huán)、嵌套循環(huán)和串接循環(huán)三種。8.4 白盒測(cè)試方法 灰盒測(cè)試，是介于白盒測(cè)試與黑盒