半導(dǎo)體集成電路霍爾電路測(cè)試方法

1、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體集成電路 霍爾電路測(cè)試方法 （征求意見稿 ）編制說明1 工作簡(jiǎn)況1.1 任務(wù)來源本項(xiàng)目是國(guó)家質(zhì)量基礎(chǔ)（ NQI ）項(xiàng)目中的一項(xiàng)。本國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的制定任務(wù)已列入2018年國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)制修訂項(xiàng)目，項(xiàng)目名稱為半導(dǎo)體集成電路 霍爾電路測(cè)試方法，項(xiàng)目編號(hào)為： 20192059-T-339 。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院負(fù)責(zé)組織制定，標(biāo)準(zhǔn)歸口單位為全國(guó) 半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)集成電路分技術(shù)委員會(huì)（TC78/SC2 ）。1.2 起草單位簡(jiǎn)介中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院是工業(yè)和信息化部直屬事業(yè)單位， 專業(yè)從事工業(yè)和電子信息 技術(shù)領(lǐng)域標(biāo)準(zhǔn)化科研工作 。中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院緊緊圍繞部中心工作 ，立足

2、標(biāo)準(zhǔn)化工 作核心，研究工業(yè)和電子信息技術(shù)領(lǐng)域標(biāo)準(zhǔn)化發(fā)展戰(zhàn)略，提出相關(guān)規(guī)劃和政策建議；組織建 立和完善電子信息、軟件服務(wù)等領(lǐng)域技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)體系，開展共性、基礎(chǔ)性標(biāo)準(zhǔn)的研究制定和應(yīng) 用推廣；承擔(dān)電子產(chǎn)品的試驗(yàn)檢測(cè)、質(zhì)量控制和技術(shù)評(píng)價(jià)、質(zhì)量監(jiān)督檢查和質(zhì)量爭(zhēng)議鑒定等 工作；負(fù)責(zé)電子工業(yè)最高計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)的建立、維護(hù)和量值傳遞工作；開展管理體系認(rèn)證、產(chǎn)品 認(rèn)證、評(píng)估服務(wù)等相關(guān)活動(dòng)；建立和維護(hù)標(biāo)準(zhǔn)信息資源，開展標(biāo)準(zhǔn)信息服務(wù)、技術(shù)咨詢?cè)u(píng)估 和培訓(xùn)活動(dòng)。1.3 主要工作過程接到編制任務(wù)， 項(xiàng)目牽頭單位中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院成立了標(biāo)準(zhǔn)編制組 ，中國(guó)電子 技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院、 南京中旭電子科技有限公司中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第

3、四十三研究所、 中 國(guó)航天科技集團(tuán)公司第九研究院第七七二研究所、 北京燕東微電子有限公司等相關(guān)單位參與 標(biāo)準(zhǔn)編制工作。編制組落實(shí)了各單位職責(zé)，并制定編制計(jì)劃。編制組查找了國(guó)際、 國(guó)內(nèi)集成電路相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)， 認(rèn)真研究了現(xiàn)行集成電路標(biāo)準(zhǔn)體系和相關(guān) 標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)內(nèi)容，在此基礎(chǔ)上形成了標(biāo)準(zhǔn)草案。2 標(biāo)準(zhǔn)編制原則和確定主要內(nèi)容的論據(jù)及解決的主要問題2.1 本標(biāo)準(zhǔn)制定原則本標(biāo)準(zhǔn)遵循 “科學(xué)性、實(shí)用性、統(tǒng)一性、規(guī)范性 ”的原則進(jìn)行編制，依據(jù) GB/T 1.1-2009 規(guī)則起草，確立了標(biāo)準(zhǔn)范圍、規(guī)范性引用文件、術(shù)語和定義、一般要求、靜態(tài)參數(shù)測(cè)試、動(dòng) 態(tài)參數(shù)測(cè)試等內(nèi)容。2.2 標(biāo)準(zhǔn)的主要內(nèi)容與依據(jù)2.2.1 本標(biāo)準(zhǔn)的

4、定位目前尚無國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)或國(guó)外先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)參考或采用，因此編制組查閱了相關(guān)產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)和資料，并結(jié)合自身的研究經(jīng)驗(yàn)，按照 GB/T 1.1-2009 標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則 第 1部分: 標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)和 編寫編制了本標(biāo)準(zhǔn)。2.2.2 關(guān)于引用文件本測(cè)試方法主要引用了 GB/T 17574-1998 半導(dǎo)體器件集成電路第 2部分：數(shù)字集成電 路。2.2.3術(shù)語和定義術(shù)語和定義執(zhí)行 GB/T 20870.1-2007 的規(guī)定。2.2.4 一般要求給出了測(cè)試環(huán)境條件、測(cè)試儀器及計(jì)量要求、測(cè)試注意事項(xiàng)三個(gè)部分。2.2.5 功能測(cè)試根據(jù)規(guī)定的要求設(shè)置程序。 按器件的功能原理生成測(cè)試向量或真值表， 通過測(cè)試系統(tǒng)或 信號(hào)發(fā)生器輸

5、入到被測(cè)電路， 同時(shí)通過測(cè)試系統(tǒng)或相關(guān)儀表對(duì)輸出信號(hào)測(cè)試， 檢測(cè)被測(cè)器件 是否達(dá)到相關(guān)文件規(guī)定的真值表要求。2.2.6 靜態(tài)參數(shù)測(cè)試本標(biāo)準(zhǔn)在相關(guān)資料的基礎(chǔ)上結(jié)合自身的實(shí)際經(jīng)驗(yàn)和客戶需求， 對(duì)霍爾電路的靜態(tài)電特性 指標(biāo)進(jìn)行了詳細(xì)規(guī)定，包括導(dǎo)通磁場(chǎng)、截止磁場(chǎng)、回差、輸入漏電流、輸出低電平電壓、電 源電流、電流偏移量，每個(gè)參數(shù)從目的、原理圖、測(cè)試條件和測(cè)試程序出發(fā)，用于指導(dǎo)編制 詳細(xì)規(guī)范。2.2.7 開關(guān)參數(shù)測(cè)試本標(biāo)準(zhǔn)在相關(guān)資料的基礎(chǔ)上結(jié)合自身的實(shí)際經(jīng)驗(yàn)和客戶需求， 對(duì)驅(qū)動(dòng)器的開關(guān)電特性指 標(biāo)進(jìn)行了詳細(xì)規(guī)定， 包括輸出電平上升時(shí)間、 輸出電平下降時(shí)間， 每個(gè)參數(shù)從目的、 原理圖、 測(cè)試條件和測(cè)試程序

6、出發(fā)，用于指導(dǎo)編制詳細(xì)規(guī)范。3 主要試驗(yàn)（或驗(yàn)證）情況分析無。4 知識(shí)產(chǎn)權(quán)說明無。5 采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)外先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)情況 編制組查找了相關(guān)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，我國(guó)集成電路、半導(dǎo)體器件的標(biāo)準(zhǔn)體系是按照 IEC TC47（半導(dǎo)體器件）、SC47A（集成電路）建立的，分為總規(guī)范、分規(guī)范、空白詳細(xì)規(guī)范三個(gè)層 次：IEC 60748-11:1990半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分：半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范（不包括 混合電路）（ idt GB/T 12750-2006 ），但該標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)內(nèi)容制定時(shí)間較久，需要更新技術(shù)內(nèi) 容。本標(biāo)準(zhǔn)在制定過程中參考了上述標(biāo)準(zhǔn)的部分技術(shù)內(nèi)容，并進(jìn)行了部分技術(shù)內(nèi)容的更新。6 與現(xiàn)行相關(guān)法律、法規(guī)、規(guī)章及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的協(xié)調(diào)性本標(biāo)準(zhǔn)不違反現(xiàn)行的法律、法規(guī)和規(guī)章。與GB/T 12750-2006半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分：半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范（不包括混合電路）協(xié)調(diào)一致，本標(biāo)準(zhǔn)可以作為目前國(guó)家 標(biāo)準(zhǔn)體系的補(bǔ)充，健全現(xiàn)有的標(biāo)準(zhǔn)體系。7 重大分歧意見的處理經(jīng)過