半導體集成電路霍爾電路測試方法

1、國家標準半導體集成電路 霍爾電路測試方法 （征求意見稿 ）編制說明1 工作簡況1.1 任務來源本項目是國家質量基礎（ NQI ）項目中的一項。本國家標準的制定任務已列入2018年國家標準制修訂項目，項目名稱為半導體集成電路 霍爾電路測試方法，項目編號為： 20192059-T-339 。本標準由中國電子技術標準化研究院負責組織制定，標準歸口單位為全國 半導體器件標準化技術委員會集成電路分技術委員會（TC78/SC2 ）。1.2 起草單位簡介中國電子技術標準化研究院是工業(yè)和信息化部直屬事業(yè)單位， 專業(yè)從事工業(yè)和電子信息 技術領域標準化科研工作 。中國電子技術標準化研究院緊緊圍繞部中心工作 ，立足

2、標準化工 作核心，研究工業(yè)和電子信息技術領域標準化發(fā)展戰(zhàn)略，提出相關規(guī)劃和政策建議；組織建 立和完善電子信息、軟件服務等領域技術標準體系，開展共性、基礎性標準的研究制定和應 用推廣；承擔電子產品的試驗檢測、質量控制和技術評價、質量監(jiān)督檢查和質量爭議鑒定等 工作；負責電子工業(yè)最高計量標準的建立、維護和量值傳遞工作；開展管理體系認證、產品 認證、評估服務等相關活動；建立和維護標準信息資源，開展標準信息服務、技術咨詢評估 和培訓活動。1.3 主要工作過程接到編制任務， 項目牽頭單位中國電子技術標準化研究院成立了標準編制組 ，中國電子 技術標準化研究院、 南京中旭電子科技有限公司中國電子科技集團公司第

3、四十三研究所、 中 國航天科技集團公司第九研究院第七七二研究所、 北京燕東微電子有限公司等相關單位參與 標準編制工作。編制組落實了各單位職責，并制定編制計劃。編制組查找了國際、 國內集成電路相關標準， 認真研究了現(xiàn)行集成電路標準體系和相關 標準技術內容，在此基礎上形成了標準草案。2 標準編制原則和確定主要內容的論據(jù)及解決的主要問題2.1 本標準制定原則本標準遵循 “科學性、實用性、統(tǒng)一性、規(guī)范性 ”的原則進行編制，依據(jù) GB/T 1.1-2009 規(guī)則起草，確立了標準范圍、規(guī)范性引用文件、術語和定義、一般要求、靜態(tài)參數(shù)測試、動 態(tài)參數(shù)測試等內容。2.2 標準的主要內容與依據(jù)2.2.1 本標準的

4、定位目前尚無國際標準或國外先進標準參考或采用，因此編制組查閱了相關產品的標準和資料，并結合自身的研究經驗，按照 GB/T 1.1-2009 標準化工作導則 第 1部分: 標準結構和 編寫編制了本標準。2.2.2 關于引用文件本測試方法主要引用了 GB/T 17574-1998 半導體器件集成電路第 2部分：數(shù)字集成電 路。2.2.3術語和定義術語和定義執(zhí)行 GB/T 20870.1-2007 的規(guī)定。2.2.4 一般要求給出了測試環(huán)境條件、測試儀器及計量要求、測試注意事項三個部分。2.2.5 功能測試根據(jù)規(guī)定的要求設置程序。 按器件的功能原理生成測試向量或真值表， 通過測試系統(tǒng)或 信號發(fā)生器輸

5、入到被測電路， 同時通過測試系統(tǒng)或相關儀表對輸出信號測試， 檢測被測器件 是否達到相關文件規(guī)定的真值表要求。2.2.6 靜態(tài)參數(shù)測試本標準在相關資料的基礎上結合自身的實際經驗和客戶需求， 對霍爾電路的靜態(tài)電特性 指標進行了詳細規(guī)定，包括導通磁場、截止磁場、回差、輸入漏電流、輸出低電平電壓、電 源電流、電流偏移量，每個參數(shù)從目的、原理圖、測試條件和測試程序出發(fā)，用于指導編制 詳細規(guī)范。2.2.7 開關參數(shù)測試本標準在相關資料的基礎上結合自身的實際經驗和客戶需求， 對驅動器的開關電特性指 標進行了詳細規(guī)定， 包括輸出電平上升時間、 輸出電平下降時間， 每個參數(shù)從目的、 原理圖、 測試條件和測試程序

6、出發(fā)，用于指導編制詳細規(guī)范。3 主要試驗（或驗證）情況分析無。4 知識產權說明無。5 采用國際標準和國外先進標準情況 編制組查找了相關國際標準，我國集成電路、半導體器件的標準體系是按照 IEC TC47（半導體器件）、SC47A（集成電路）建立的，分為總規(guī)范、分規(guī)范、空白詳細規(guī)范三個層 次：IEC 60748-11:1990半導體器件 集成電路 第11部分：半導體集成電路分規(guī)范（不包括 混合電路）（ idt GB/T 12750-2006 ），但該標準技術內容制定時間較久，需要更新技術內 容。本標準在制定過程中參考了上述標準的部分技術內容，并進行了部分技術內容的更新。6 與現(xiàn)行相關法律、法規(guī)、規(guī)章及相關標準的協(xié)調性本標準不違反現(xiàn)行的法律、法規(guī)和規(guī)章。與GB/T 12750-2006半導體器件 集成電路 第11部分：半導體集成電路分規(guī)范（不包括混合電路）協(xié)調一致，本標準可以作為目前國家 標準體系的補充，健全現(xiàn)有的標準體系。7 重大分歧意見的處理經過