半導(dǎo)體集成電路射頻發(fā)射器_接收器測試方法

1、國家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體集成電路射頻發(fā)射器 /接收器測試方法（征求意見稿）編制說明一、工作簡況國家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體集成電路射頻發(fā)射器/接收器測試方法編制項(xiàng)目工作的 下達(dá)計(jì)劃任務(wù)主管部門為國標(biāo)委、歸口為全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會集成 電路分技術(shù)委員會（SAC/TC/748/SC2、項(xiàng)目計(jì)劃發(fā)布文件號：XXXXXX-X-XXX 本項(xiàng)目的計(jì)劃代號：20182269-T-339、主要起草單位：重慶西南集成電路設(shè)計(jì)有 限責(zé)任公司、中國電子科技集團(tuán)第二十四研究所。工作過程，歸納總結(jié)行業(yè)內(nèi)半 導(dǎo)體集成電路射頻發(fā)射器 /接收器測試的測試方法，并借鑒國外ADI、TI、SKYWORKQORVO公司系列產(chǎn)品技術(shù)手冊為參考，主要

2、針對射頻發(fā)射器/接收器 通道的幅頻特性參數(shù)、相位參數(shù)和時(shí)間參數(shù)為基礎(chǔ)進(jìn)行編制， 編制測試項(xiàng)經(jīng)過實(shí) 際測試驗(yàn)證。主要起草人蘇良勇、王露、劉丹、許娟負(fù)責(zé)標(biāo)準(zhǔn)的編制，陽潤、唐 景磊、戚園負(fù)責(zé)測試項(xiàng)的測試驗(yàn)證及技術(shù)實(shí)現(xiàn)。二、標(biāo)準(zhǔn)編制原則和確定主要內(nèi)容的論據(jù)及解決的主要問題目前針對射頻發(fā)射器件和接收器件的測試，沒有現(xiàn)行的國家標(biāo)準(zhǔn)可以參照。 在各科研和企業(yè)機(jī)構(gòu)的測試人員對于射頻發(fā)射器件和接收器件的測試方法的掌 握主要是通過測試測量設(shè)備廠商的培訓(xùn)或傳幫帶的方式進(jìn)行繼承來逐漸學(xué)習(xí)各 個(gè)參數(shù)指標(biāo)的測試方法。經(jīng)過長時(shí)間測試方法的積累，形成了業(yè)內(nèi)不成文的統(tǒng)一 的測試方法。但缺乏整理和歸納，沒有形成正式的國家標(biāo)準(zhǔn)，各

3、方對于各種測試 方法的理解以及測試結(jié)果可能存在差異。本標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)最新的儀器研究成果及相關(guān) 理論，采用行業(yè)內(nèi)均認(rèn)可的測試方法，通過收集和整理，形成一套關(guān)于射頻發(fā)射 器件及接收器件電參數(shù)測試的國家標(biāo)準(zhǔn)。隨著集成電路工藝和設(shè)計(jì)技術(shù)的進(jìn)步，與上世紀(jì)90年代相比，射頻發(fā)射器件、 接收器件的性能指標(biāo)發(fā)生了翻天覆地的變化， 主要體現(xiàn)在頻率范圍的拓展、帶寬 的提高、基底噪聲的降低等方面，測試?yán)碚摵蜏y試方法均有較大的發(fā)展， 傳統(tǒng)的 測試方法不能覆蓋新的指標(biāo)參數(shù)，測試儀器以及測試方法也有了較大的進(jìn)步。比如內(nèi)置參考源和接收機(jī)可檢測相位一致性測試；X 參數(shù)功能可表征和測試放大器的非線性指標(biāo)；冷源法排除了失配的影響，提高

4、了噪聲系數(shù)的測試精度等，這都 是最近幾年才發(fā)展起來的。根據(jù)目前技術(shù)的發(fā)展和以往積累的測試技術(shù)經(jīng)驗(yàn)， 現(xiàn)編制了半導(dǎo)體集成電 路射頻發(fā)射器/接收器測試方法，此方法是基于最常用、最新的測試方法和測 試設(shè)備，并緊跟最新的測試技術(shù)發(fā)展，對常用參數(shù)的基本概念進(jìn)行了解釋， 參數(shù) 覆蓋典型接收器件和發(fā)射器件最常用的指標(biāo)參數(shù)，如增益、噪聲系數(shù)、P1dB±縮點(diǎn)、三階交調(diào)等二十幾種參數(shù)，為工程設(shè)計(jì)和測試人員提供測試參考。射頻收發(fā)機(jī)測試參數(shù)通常包含常規(guī)模擬指標(biāo)參數(shù)、調(diào)制解調(diào)參數(shù)兩大類，由 于調(diào)制解調(diào)參數(shù)多，測試方法較為復(fù)雜，并且還在不斷地高速發(fā)展，各個(gè)測試儀 器廠家測試方法不盡相同，因此此標(biāo)準(zhǔn)未包含調(diào)制解調(diào)

5、類參數(shù)。 另外，涉及頻率 源及頻率合成器的參數(shù)相對具有獨(dú)立性，也未包含在內(nèi)。以上內(nèi)容留待以后繼續(xù) 進(jìn)行研究，逐步推出新的測試標(biāo)準(zhǔn)來完善。三、主要試驗(yàn)或驗(yàn)證情況分析半導(dǎo)體集成電路射頻發(fā)射器/接收器測試方法中包含了增益、抗燒毀功率、噪聲系數(shù)、帶內(nèi)波動、輸出三階交調(diào)、通道建立時(shí)間、通道隔離度、群時(shí)延、 通道相位一致性等二十幾種參數(shù)。為了驗(yàn)證測試方法的可重復(fù)性和準(zhǔn)確性，我司 與國內(nèi)用戶及儀器廠商進(jìn)行了充分的溝通，按照半導(dǎo)體集成電路射頻發(fā)射器/接收器測試方法規(guī)定的方法對自己公司生產(chǎn)的電路，以及國外ADI、TI、SKYWORKgORV公司的電路涉及的參數(shù)進(jìn)行逐一測試驗(yàn)證，測試結(jié)果與各生產(chǎn) 廠家對應(yīng)產(chǎn)品的說明書的技術(shù)指標(biāo)參數(shù)相吻合。四、知識產(chǎn)權(quán)情況說明測試項(xiàng)的試驗(yàn)方法、操作步驟未檢索到涉及相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域?qū)＠?。五、采用國際標(biāo)準(zhǔn)和國外先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)情況由于國際上對射頻發(fā)射器/接收器的測試沒有獨(dú)立的國家標(biāo)準(zhǔn)借鑒，因此借鑒了國外ADI、TI、SKYWORKS、QORVO等公司系列產(chǎn)品技術(shù)手冊和射頻測 試儀器資料為參考，歸納總結(jié)國內(nèi)外半導(dǎo)體行業(yè)內(nèi)，現(xiàn)行的通用的測試方法編制 而成，本標(biāo)準(zhǔn)的測試原理、方法、線路與國外先進(jìn)的測試方法保持一致。六、與現(xiàn)行相關(guān)法律、法規(guī)、規(guī)章及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的協(xié)調(diào)性本標(biāo)準(zhǔn)符合現(xiàn)行法律、法規(guī)和規(guī)章的要求。七、重大分歧意見的處理經(jīng)過和依據(jù)暫無。八、標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)的建議建議本標(biāo)準(zhǔn)為推薦性標(biāo)準(zhǔn)。九、貫徹