符合測量實驗報告

1、東北師范大學(xué)近代物理實驗實驗三 符合測量 實驗概述 符合測量技術(shù)在核物理實驗各領(lǐng)域中有著廣泛的應(yīng)用，在核反應(yīng)的研究中用來確定反應(yīng)物的能量和角分布，在核衰變測量中可以用來研究核衰變機制，級聯(lián)輻射之間的角關(guān)聯(lián)，短壽命放射性核素的半衰期等。實驗?zāi)康?、 通過調(diào)整符合系統(tǒng)參量，選定工作條件，觀察各級輸出信號波形及時間關(guān)系；2、 測量符合裝置的的分辨時間；3、 測量絕對活度。實驗裝置實驗裝置如圖所示，包括，探頭，線性放大器2個，定時單道分析器2個，高壓電源2個，精密脈沖發(fā)生器1個，低壓電源1個，符合電路1個，插件機箱1臺，三路定標器1臺，SR-8雙源示波器1臺，放射源，各1個，鋁擋片1個。實驗原理1、

2、符合法的幾個基本概念1、 符合事件 兩個或兩個以上同時發(fā)生的事件稱為符合事件。符合法就是利用符合電路來甄別選出符合事件的方法，2、 探測器輸出的脈沖總要經(jīng)過放大、整形，使之具有一定的寬度，當這樣的兩個脈沖達到符合電路的時間間隔小于這一寬度時，將被當作同時發(fā)生的時間記錄下來。時間間隔大于的兩個脈沖才能被符合電路分辨為不同時事件，小于則分辨為同時時間，稱為符合分辨時間。符合事件實際上就是指相繼發(fā)生的時間間隔小于符合分辨時間的事件。3、 延遲符合和反符合 除符合電路外，還發(fā)展了延遲符合與反符合電路， 選擇不同時的，但有一定延遲時間聯(lián)系的脈沖符合稱為延遲符合。而反符合電路與符合電路的邏輯功能相反，兩個

3、符合道同時有脈沖輸入時，反符合無輸出脈沖；兩個符合道中任一道有脈沖輸入時，反符合門有脈沖輸出。4、 真符合與偶然符合 一個原子核級聯(lián)衰變時接連放射和射線，這一對、如果分別進入兩個探測器，將兩探測器輸出的脈沖引到符合電路輸入端時，便可輸出一個符合脈沖，這種一個事件與另一個事件具有內(nèi)在因果關(guān)系(即相關(guān)性)的符合輸出稱為真符合。 對于大量的獨立事件來說，兩個探測器的輸出信號同時發(fā)生在時間內(nèi)，這時符合電路也輸出符合脈沖，但這個事件是不具有時間關(guān)聯(lián)的事件，這種符合稱偶然符合。5、 偶然符合和符合分辨時間在符合分辨時間內(nèi)的兩個事件，均可能使符合裝置產(chǎn)生一次符合計數(shù)。符合計數(shù)中包括真符合計數(shù)和偶然符合計數(shù)。

4、每當在時間間隔內(nèi)存在兩個獨立事件引起的脈沖時，就可能被符合裝置最為符合事件記錄下來，這種符合叫偶然符合。越大，偶然符合計數(shù)率也將越大。 下圖為偶然符合示意圖及發(fā)生符合的脈沖間隔。第一道平均計數(shù)： 第二道平均計數(shù)：第一道脈沖可能從到時間內(nèi)進入第二道脈沖發(fā)生偶然符合，如上圖。平均符合率： 第一道偶然符合計數(shù)為： 則有可看出，減少能夠減少偶然符合概率。但減少到一定程度會引起時間離散，造成真符合丟失。2、 測量符合分辨時間的兩種方法1、 偶然符合方法測量分辨時間2、 利用測量瞬時符合曲線的方法來測定符合的分辨時間 用脈沖發(fā)生器作脈沖信號源，人為改變兩輸入道的相對延遲時間時，符合計數(shù)率隨延遲時間的分布曲

5、線稱為延遲符合曲線。對于瞬發(fā)事件，即發(fā)生的時間間隔遠小于符合的分辨時間的事件，測得的延遲符合曲線稱為瞬時符合曲線，如下圖（a）所示。 由于標準脈沖發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖基本上沒有時間離散，測得瞬時符合曲線為對稱的矩形分布。通常把瞬時符合曲線的寬度定為2，稱為電子學(xué)分辨時間。 實際上，由探測器探測并拾取信號的過程中，輻射粒子進入探測器的時間與探測器輸出的脈沖前沿之間的時距(由于光電轉(zhuǎn)換傳輸?shù)冗^程的不確定性)并不是固定不變的，該時距變化叫時間離散，脈沖前沿的時間離散是探測器輸出脈沖所固有的。用放射源的-瞬時符合信號，作瞬時符合曲線的測量，其結(jié)果如上圖(b)所示。以瞬時符合曲線的半寬度來定義符合分辯時間(

6、即最高符合計數(shù)率一半處的全寬度)。又稱物理分辯時間。在慢符合（）情況下， .3、 -符合測量放射源絕對活度的方法 實驗裝置作-符合。兩個探測器都采用閃爍計數(shù)器。探測器用塑料閃爍體，用來測量粒子，它對射線雖然也很靈敏，但探測效率低。探測器用NaI(Tl)閃爍體，并外加鋁屏蔽罩，將發(fā)出的射線完全擋住，而只能測量射線。 設(shè)的放射源的活度為(衰變數(shù)/秒)，分別表示粒子在探測器中引起的計數(shù)率，粒子在探測器中引起的計數(shù)率以及-真符合計數(shù)率。則放射源的活度表示為： 由上式可以看出活度只與兩個輸入道和符合道計數(shù)有關(guān)，與探測器的效率無關(guān)，這給測量帶來很大的方便。但是從實驗數(shù)據(jù)準確地得到活度尚需進行一系列修正，因

7、為實際測到的符合計數(shù)中包括了偶然符合計數(shù)、本底符合計數(shù)及-符合計數(shù)，各道計數(shù)還要扣除本底，此外還應(yīng)考慮所測核素衰變圖的特點，如角關(guān)聯(lián)、內(nèi)轉(zhuǎn)換等修正因素。1、 道、道和符合道計數(shù)的實驗測定 道：直接測得的總計數(shù)并不全是粒子的貢獻，還有本底計數(shù)率和由而來的射線引起的計數(shù)率，所以真正由粒子引起的計數(shù)率為 根據(jù)源發(fā)出的射線的能量，在放射源上加一塊適當厚度的鋁片，擋掉射線，此時測得的道計數(shù)率為（）。道：直接測得的總計數(shù)包含有本底計數(shù)率；測量有源時計數(shù)率及無源時本底計數(shù)率，兩者之差即為計數(shù)率；真正的射線計數(shù)率為 符合道：因探測器對也有一定的靈敏度，符合道測得的總計數(shù)率包括真符合計數(shù)率偶然符合計數(shù)、兩個級聯(lián)

8、射線在和道中記錄引起的真符合計數(shù)率和兩個道本底計數(shù)產(chǎn)生的本底計數(shù)率。所以有偶然符合的計數(shù)率可由測得計算可得在放射源上擋適當厚度的鋁片，測得的兩道符合計數(shù)率為其中是-偶然符合。最終由粒子在道中的計數(shù)和粒子在道中的計數(shù)引起的真符合計數(shù)率： 2、 符合法測量放射源絕對活度的誤差 從可以看到，當，和較小，又有和的相對誤差都比小很多時，放射源絕對活度的相對誤差為3、 用-符合測活度的限制所測的放射源的活度不能很強，受符合電路分辨時間的限制；源又不能太弱，源太弱，符合計數(shù)率很低，測量時間就要很長。因此，采用分辯時間小的符合電路，允許測量較強的放射源，偶然符合的影響也越??；但是分辨時間不能太小，當符合電路的

9、分辨時間接近于時間離散時，同時性事件的脈沖可能因脈沖前沿離散，而成為時距大于符合分辨時間的同時性脈沖，從而被漏記。 實驗內(nèi)容1、 按要求調(diào)節(jié)好儀器，觀察輸出波形與時間的關(guān)系以及單道輸出和放大倍數(shù)的關(guān)系。2、 測不同“延時”的單道計數(shù)與符合計數(shù)，作符合曲線，求出電子學(xué)分辨時間。3、 由源的-符合信號作瞬時符合曲線，求出物理分辨時間。4、 在測物理學(xué)分辨時間的條件下，分別蓋上鋁片求出三個道的數(shù)據(jù)，以及撤掉源只留鋁片測出本地計數(shù)率。5、 計算理論活度及測量活度。實驗數(shù)據(jù)處理1、 電子學(xué)分辨時間電子學(xué)分辨時間：=8.65-5.92=1.365us2、 物理分辨時間 (計數(shù)時長10s)瞬時符合曲線：t1.81973.315353501.91623.51415.137721913.71685.24312.11733.91435.34312.31704.11435.44552.51814.551905.54602.71594.62575.64932.91674.72715.74843.11674.93465.85315.9544710088.61899.515765677.211208.71289.61446.15887.412738.81759.71526.25807.612188.91449.81666.36547.8111291556.4752810479.1