蔡司顯微鏡產(chǎn)品及附件

1、蔡司顯微鏡產(chǎn)品及附件產(chǎn)品型號(hào)：Pro 580ES技術(shù)參數(shù)： 像素：580萬像素 像素大?。?.65(H) x 4.65(V) 靶面：彩色冷CCD 采集分辨率：2776x2074  1392x1040   640x480 靈敏度：0.05lux 最大曝光時(shí)間：64 minutes 色彩深度：24 or 48-bit RGB 白平衡：自動(dòng)白平衡 手動(dòng) 曝光：自動(dòng)曝光、手動(dòng)曝光 快門速度：1/10000 sec. to 60 sec 采集速度： 最大15fps&

2、#160;文件格式：BMP, JPEG, TIFF, DIB, and FlashPix產(chǎn)品名稱： 研究級(jí)正立智能數(shù)字萬能材料顯微鏡Axio Imager A2m 技術(shù)參數(shù)：  1、 物鏡倍數(shù)：5X 10X 20X 50X 100X 可選1.25X 2.5X 150X  2、 目鏡倍數(shù)：10X 16X 25X  3、 視場(chǎng)數(shù)：23、25  4、 放大倍數(shù)：12.5X-6000X(選配)  5、 物鏡轉(zhuǎn)盤：6-7孔  6、 觀察功能：明場(chǎng) 高級(jí)暗場(chǎng) 圓偏光 微分干涉 熒光  7、 光源：    1

3、2V100W鹵素?zé)?智能化光路管理器,光強(qiáng)自動(dòng)可調(diào)  8、 可擴(kuò)展性：可配圖像分析系統(tǒng)(數(shù)碼相機(jī)、攝像頭、圖像分析軟件)  9、 可配顯微硬度附件  10、可配透射光附件   注:帶為蔡司公司獨(dú)有專利技術(shù),未向任何公司轉(zhuǎn)讓。                           &

4、#160;                全新一代智能型正立式顯微鏡Axio Imager A2m是成功的Axio Imager A1m的全新升級(jí)產(chǎn)品，在Axio Imager A1m卓越的產(chǎn)品性能基礎(chǔ)上，對(duì)光路設(shè)計(jì)尤其是照明系統(tǒng)進(jìn)行了全新的升級(jí)，將光學(xué)系統(tǒng)的優(yōu)化發(fā)揮到了極致，展現(xiàn)給您無微不至的細(xì)節(jié)和最銳利的顯微圖像。 Axio Imager A2m的誕生給顯微鏡提出了全新的標(biāo)準(zhǔn)，將蔡司的顯微技術(shù)又一次推向了巔峰。憑借Axio Imager ，蔡

5、司再次向世界證明了其全球技術(shù)先鋒的領(lǐng)導(dǎo)地位！性能描述:高精度新標(biāo)準(zhǔn)ICCS物鏡讓更多細(xì)節(jié)呈現(xiàn)在您眼前    卡爾·蔡司專為 Axio Imager 重新設(shè)計(jì)并系統(tǒng)地?cái)U(kuò)充了高性能物鏡系列。它是基于ICCS 光學(xué)系統(tǒng)在物鏡上所做的新開拓，貢獻(xiàn)了最精細(xì)的質(zhì)量。這種物鏡有著豐富的反差，可捕捉清晰、銳利的圖像，對(duì)于后期圖像處理和分析非常有利。它為使用高分辨 率數(shù)碼攝像頭奠定了基礎(chǔ)。ICCS 光學(xué)系統(tǒng)更高質(zhì)量的創(chuàng)新ICCS是卡爾·蔡司在成功的ICS 無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)基礎(chǔ)上，進(jìn)行系統(tǒng)優(yōu)化后的成果。它最顯著的優(yōu)點(diǎn)包括高圖像反差，完美的均勻度以及空前的分辨率。通過

6、Axio Imager 上可自由使用的平行光路空間，您可以安裝如光源、檢測(cè)器等額外的組件。這就意味著您可以毫不費(fèi)力的構(gòu)建一個(gè)適合您自己的系統(tǒng)解決方案，并且通過它來實(shí)現(xiàn)您 的科研思路。光源智能化光路管理器     采用最完善的柯拉照明系統(tǒng)，自動(dòng)調(diào)節(jié)光強(qiáng)及光強(qiáng)記憶功能，使用長(zhǎng)壽命高亮度12V100W鹵素?zé)?，帶調(diào)光裝置和顯示，增強(qiáng)光的色還原性，提高分辨率，光效 高而且均勻。以往，光強(qiáng)必須靠手動(dòng)調(diào)節(jié)，以適合物鏡或觀察方法的每一次切換，因此，這一過程就不能自動(dòng)化。Axio Imager 的專利技術(shù)產(chǎn)品光路管理器則提供了解決方案，Axio Imager可以保存18個(gè)組合參數(shù)（

7、6個(gè)物鏡 × 3個(gè)變倍器 Optovar 位置）。Imaging Cell隔熱，無震動(dòng)觀測(cè)    Axio Imager的專利設(shè)計(jì)使其不受震動(dòng)的影響，并且很長(zhǎng)時(shí)間內(nèi)不受外界溫度變化的影響，因此，它為成像，特別是長(zhǎng)時(shí)間序列圖像的采集過程創(chuàng)造了一個(gè)很好的條件。令人信服的人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)在工作中得到完全的放松    卡爾·蔡司為 Axio Imager 設(shè)計(jì)了一個(gè)超前的工作理念并且最大程度的簡(jiǎn)化了許多功能的操作過程，目標(biāo)是將您從長(zhǎng)時(shí)間、繁重的工作壓力中解放出來，從而讓您完全把精力投入實(shí)驗(yàn)之中。所有的這一切皆得益于可以直觀操

8、作的技術(shù)，并不取決于電動(dòng)或者手動(dòng)。控制鍵 一切唾手可得Axio Imager 是按照一個(gè)先進(jìn)的操作理念所設(shè)計(jì)的，所有的控制鍵都按照人機(jī)工程學(xué)被安置在調(diào)焦手柄周圍，并可通過其表面形狀十分輕易的區(qū)分開來。自動(dòng)型擁有10個(gè)可供自由設(shè)置的按鈕，而手動(dòng)型則通過5個(gè)預(yù)設(shè)按鈕來控制亮度，切換電動(dòng)反射及透射光光閘。ACR 智能、便捷    ACR 是一個(gè)創(chuàng)新的概念自動(dòng)部件識(shí)別。這意味著 Axio Imager.可完全獨(dú)立的自動(dòng)檢測(cè)并識(shí)別所使用的物鏡及反射器組件。如果您更換了這些組件，系統(tǒng)將會(huì)立即辨認(rèn)出替換后的組件并記錄下來。這將能確保您在 操作中的簡(jiǎn)便性以及安全性，操作錯(cuò)誤以及復(fù)

9、雜的操作程序?qū)⒉粡?fù)存在。產(chǎn)品名稱： Axiostar偏光顯微鏡技術(shù)參數(shù)：光學(xué)系統(tǒng)：ICCS光學(xué)系統(tǒng) 鏡體：FEM設(shè)計(jì)，ACR位置編碼1、ICCS物鏡：5X、10X、20X、40X、63X  2、目鏡：10X/203、物鏡轉(zhuǎn)盤：5孔對(duì)中物鏡轉(zhuǎn)盤4、觀察功能： 明場(chǎng) 高級(jí)暗場(chǎng) 專業(yè)偏光  熒光5、數(shù)字化平臺(tái)：可配數(shù)字相機(jī)、計(jì)算機(jī)、圖像分析軟件6、可配冷熱臺(tái)儀器介紹：    Axiostar 會(huì)使您的日常工作更輕松！它具有高工效、靈活性好、穩(wěn)定性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。這些優(yōu)點(diǎn)在日常工作中是始終需要的。該顯微鏡是根據(jù)您的要求而設(shè)計(jì)的 可滿足專業(yè)的偏光顯微觀察的需求

10、，絕對(duì)讓您的投資物超所值。對(duì)于卡爾·蔡司這種高性價(jià)比的產(chǎn)品，您一定會(huì)感到驚喜，購(gòu)買Axiostar絕對(duì)是您一項(xiàng)高瞻 遠(yuǎn)矚的投資。 圖像質(zhì)量： 提供最高反差、最高襯度、最高分辨率的銳利圖像光學(xué)系統(tǒng)：最新的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的ICCS光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)理念： 人機(jī)工程學(xué)原理, 模塊化設(shè)計(jì)和開放式結(jié)構(gòu)，保留了所有選擇項(xiàng)，便于日后的升級(jí)和功能增強(qiáng)使用壽命：60年產(chǎn)品名稱： 研究級(jí)偏光顯微鏡Axioskop 40 Pol技術(shù)參數(shù)：1、物鏡倍數(shù)：5X 10X 20X 40X 50X 63X 100X 可選1.25X 2.5X 150X2、目鏡倍數(shù)：10X 16X 25X3、物鏡轉(zhuǎn)盤：6孔4、觀察功能：

11、 透射光、反射光明場(chǎng) 高級(jí)暗場(chǎng) 專業(yè)偏光 錐光 微分干涉 熒光5、可擴(kuò)展性：可配圖像分析系統(tǒng)(數(shù)碼相機(jī)、攝像頭、圖像分析軟件)6、可配冷熱臺(tái)7、可配顯微分光光度計(jì)     儀器介紹：   勿庸質(zhì)疑的優(yōu)秀-Axioskop 40pol,遵循蔡司最高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)制造,提供了優(yōu)異的價(jià)值和性能.它在透射光和反射光的所有標(biāo)準(zhǔn)反差技術(shù)和測(cè)量技術(shù)中擁有許多獨(dú)創(chuàng)的特色,是當(dāng)之無愧的偏光專家! 圖像質(zhì)量： 提供最高反差、最高襯度、最高分辨率的銳利圖像光學(xué)系統(tǒng)：最新國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的ICCS光學(xué)系統(tǒng)顯微觀察新技術(shù)(蔡司專利)： 圓偏光技術(shù)設(shè)計(jì)理念

12、： 人機(jī)工程學(xué)原理, 模塊化設(shè)計(jì)和開放式結(jié)構(gòu)，保留了所有選擇項(xiàng)，便于日后的升級(jí)和功能增強(qiáng)使用壽命：60年原產(chǎn)地：德國(guó)(國(guó)內(nèi)無合資廠) 注：帶為蔡司公司專利技術(shù)，從未向任何公司轉(zhuǎn)讓。產(chǎn)品名稱： 檢驗(yàn)級(jí)體視顯微鏡DV4技術(shù)參數(shù)：1、總放大倍率：2.4X-64X2、最大工作距離為285mm3、基本物體視場(chǎng)直徑為25mm4、冷光源：8V20W（12V75W, 15V150W 24V250W）5、可擴(kuò)展性：可配圖像分析系統(tǒng)(數(shù)碼相機(jī)、攝像頭、圖像分析軟件)             儀器

13、介紹：    體式鏡主要用于產(chǎn)品的宏觀檢驗(yàn),能夠檢驗(yàn)斷口內(nèi)的裂紋（擠壓裂紋、淬火裂紋、鑄造裂紋）、裂口、縱向裂紋、焊接不良、疏松、氧化膜、氣孔等宏觀缺陷。 圖像質(zhì)量： 提供最高反差、最高襯度、最高分辨率的三維圖像光學(xué)系統(tǒng)：最新的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的ICCS光學(xué)系統(tǒng)顯微觀察新技術(shù)(蔡司專利)： 防眩光技術(shù)設(shè)計(jì)理念： 人機(jī)工程學(xué)原理, 模塊化設(shè)計(jì)和開放式結(jié)構(gòu)，保留了所有選擇項(xiàng)，便于日后的升級(jí)和功能增強(qiáng)。使用壽命：60年原產(chǎn)地：德國(guó)(國(guó)內(nèi)無合資廠)產(chǎn)品名稱： 研究級(jí)體視顯微鏡Stemi 2000-C技術(shù)參數(shù)：1、總放大倍率：1.95X-250X2、最大工作距離為286m

14、m3、基本物體視場(chǎng)直徑為35mm4、冷光源：8V20W（12V75W, 15V150W 24V250W）5、可擴(kuò)展性：可配圖像分析系統(tǒng)(數(shù)碼相機(jī)、攝像頭、圖像分析軟件)             儀器介紹：    體式鏡主要用于產(chǎn)品的宏觀檢驗(yàn),能夠檢驗(yàn)斷口內(nèi)的裂紋（擠壓裂紋、淬火裂紋、鑄造裂紋）、裂口、縱向裂紋、焊接不良、疏松、氧化膜、氣孔等宏觀缺陷。 圖像質(zhì)量： 提供最高反差、最高襯度、最高分辨率的三維圖像光學(xué)系統(tǒng)：最新的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的ICCS光學(xué)系

15、統(tǒng)顯微觀察新技術(shù)(蔡司專利)： 防眩光技術(shù)設(shè)計(jì)理念： 人機(jī)工程學(xué)原理, 模塊化設(shè)計(jì)和開放式結(jié)構(gòu)，保留了所有選擇項(xiàng)，便于日后的升級(jí)和功能增強(qiáng)。使用壽命：60年原產(chǎn)地：德國(guó)(國(guó)內(nèi)無合資廠)產(chǎn)品名稱： 顆粒度分析儀（油品分析儀，清潔度分析儀）顆粒度分析的飛躍全新高效的分析(Particle Analyzer Axio Imager. M1m and Particle Analyzer v12)     隨著產(chǎn)品的不斷小型化及包裝質(zhì)量要求的提高，其技術(shù)要求也更加嚴(yán)格尤其是引起零部件功能損耗及藥物產(chǎn)品質(zhì)量下降的灰塵顆粒，需要得到可靠精密的探測(cè)。 許多工業(yè)部門從藥品

16、制造到自動(dòng)供應(yīng)商都已經(jīng)認(rèn)識(shí)到，他們需要適當(dāng)?shù)臅娌牧蟻碜C明其零部件及清洗液的純凈度。最常見的方法即為圓形濾波器顆粒分析 油品及藥物過濾后，殘留物將進(jìn)行量化評(píng)級(jí)。直到現(xiàn)在，一些簡(jiǎn)單標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用還受到顆粒分析系統(tǒng)的限制，許多指導(dǎo)方法，如ISO16232，需要進(jìn)行完全過濾 才能實(shí)現(xiàn)。鑒于該種復(fù)雜分析所需要的分辨率及存儲(chǔ)量，評(píng)估只能在直徑50mm的很小范圍內(nèi)進(jìn)行，而其復(fù)雜的操作及有限的靈活性也造成了其他局限。常規(guī)的工 業(yè)應(yīng)用需要一個(gè)能夠適應(yīng)現(xiàn)在的解決方案分辨率高、通用、簡(jiǎn)單、可靠并能在全球范圍內(nèi)應(yīng)用；能在多領(lǐng)域應(yīng)用的高度靈活性并能輕松應(yīng)對(duì)未來的需要。 Carl Zeiss顆粒度分析儀打破了當(dāng)代顆粒分析的

17、局限，將工業(yè)顆粒檢測(cè)引領(lǐng)到了一個(gè)新的高度。     完善的分析標(biāo)準(zhǔn)     顆粒度分析儀支持所有重要的國(guó)內(nèi)及國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：包括ISO4406、ISO4407、ISO16232、NAS1638、ASTM D4378-03、VDA19等。所有方法都能通過菜單欄輕松得到激活，相關(guān)的級(jí)別、級(jí)別標(biāo)準(zhǔn)及適當(dāng)?shù)臏y(cè)量參數(shù)都能自動(dòng)設(shè)置及選擇。Carl Zeiss分析系統(tǒng)軟件的最大優(yōu)勢(shì)在于其可編輯性，新標(biāo)準(zhǔn)能夠便捷添加到現(xiàn)存系統(tǒng)，而不依賴于軟件版本的升級(jí)。應(yīng)用： 過濾膜殘留物測(cè)定     用圓形過濾

18、器進(jìn)行顆粒分析是進(jìn)行質(zhì)量保證的標(biāo)準(zhǔn)過程。按照生產(chǎn)流程，將隨機(jī)抽取的零部件樣本用一定量的液體進(jìn)行清洗，然后壓/吸過過濾膜，任何的灰塵顆粒 將被濾出，然后在顯微鏡下進(jìn)行觀察。這一過程也在風(fēng)能電站得到應(yīng)用，例如：檢測(cè)服務(wù)間隔，在這里，使用到了潤(rùn)滑劑。在所有領(lǐng)域的應(yīng)用中，mm級(jí)的大顆粒具 有明顯的重要意義，它們只能通過圖像拼接來精確獲取。顆粒度分析儀第一次使其成為可能，完整的獲取整個(gè)圓形濾波器的圖像，不需要進(jìn)行多次測(cè)量即可執(zhí)行相關(guān) 評(píng)估，結(jié)果即為所有定義尺寸范圍的精確分析。 油品污染度（清潔度）分析     即：檢測(cè)油中污染雜質(zhì)顆粒的尺寸、數(shù)量及分布，

19、檢測(cè)潤(rùn)滑油中的污染顆粒的數(shù)量和污染等級(jí)。對(duì)于精密的液壓系統(tǒng)，固體顆粒污染將加劇控制元件的磨損；對(duì)于透平系統(tǒng)，固體顆粒污染將加劇軸承等部件的磨損。 鐵譜磨損分析     檢測(cè)用油中磨損顆粒的形狀、成分、大小和數(shù)量。對(duì)磨損顆粒形狀的分析, 判斷設(shè)備的異常磨損類型；對(duì)磨損顆粒大小和數(shù)的分析，判斷設(shè)備的異常磨損程度；對(duì)磨損顆粒成分的分析, 判斷設(shè)備的異常磨損部位。塑膠孔隙度     碳化硅（SIC）是一種常在化學(xué)及電子工業(yè)（半導(dǎo)體技術(shù)）、航空航天、工具制造、機(jī)械工程及自動(dòng)化工業(yè)（發(fā)動(dòng)機(jī)構(gòu)成）領(lǐng)域應(yīng)用的材料。由于S

20、IC是一種及 其堅(jiān)固的材料，它可以作為暴露在1400°C以上（消除機(jī)械及腐蝕壓力）物體的理想組件。由于SIC的粒子比例及尺寸決定其機(jī)械品質(zhì)及最終產(chǎn)品的表面特 征，對(duì)這些特性進(jìn)行分析在工業(yè)上具有極其重要的意義。最新Carl Zeiss顆粒度分析儀的高度靈活可靠使其成為應(yīng)用領(lǐng)域強(qiáng)有力的分析工具。壓鑄部件缺陷    材料的力學(xué)性能常常受到制造相關(guān)工藝鑄造的負(fù)面影響（增加了內(nèi)部的集中應(yīng)力），如氣孔、氣洞和空洞，尤其帶有鎂或鋁鑄造材料時(shí)，收縮氣孔及天然氣空洞 不可避免，從技術(shù)的角度看更是如此，但是，它們可以通過對(duì)生產(chǎn)及冷卻過程進(jìn)行修正來調(diào)整。今天，工業(yè)領(lǐng)域尤其重視

21、對(duì)斷裂（尤其在材料表面）的自動(dòng)探測(cè)，斷 裂尺寸也是如此。主要焦點(diǎn)都集中在：在大缺陷上將造成單個(gè)圖像測(cè)量時(shí)的分析不足，顆粒度分析儀在圖像拼接上的功能使其能夠在該領(lǐng)域獲得可靠結(jié)果。藥膏結(jié)晶活性藥膏，如皮膚及粘膜的殺菌劑制備，是根據(jù)其活性物質(zhì)的分布來探測(cè)的，表現(xiàn)為結(jié)晶形式。樣本或來自開發(fā)的新產(chǎn)品，或來自完成的藥膏軟管，其品質(zhì)已在生產(chǎn)過程 中探測(cè)完成。在透射光顯微鏡下，藥膏涂抹在切片上，在偏光觀察方式下進(jìn)行觀察（10x及20x物鏡），活性物質(zhì)結(jié)晶能夠作為暗色結(jié)構(gòu)清晰可見并利用圖像分 析進(jìn)行評(píng)估。為了驗(yàn)證該系統(tǒng)，一個(gè)常規(guī)面積（100平方微米面積圓）應(yīng)每月測(cè)量一次并將測(cè)量結(jié)果同相關(guān)值進(jìn)行比對(duì)，顆粒度分析儀

22、第一次使其成為可能，大的 晶體聚合物及小的顆粒均能一步探測(cè)測(cè)量，并將其顆粒分布同標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程下的分布進(jìn)行比對(duì)。產(chǎn)品名稱：                           圖像分析軟件    曾經(jīng)是否問過您自己，一個(gè)真正優(yōu)秀的圖像處理系統(tǒng)能做些什么？首先，靈活性是最基本的。一方面，您想能夠有效和可靠地處理任

23、何工作；另一方面，您想能夠立 即使用您的系統(tǒng)來開展工作。一個(gè)優(yōu)秀的系統(tǒng)必須具備開放的體系結(jié)構(gòu)，它適用于您現(xiàn)在沒有想到的將來圖像處理操作。換句話說，一個(gè)優(yōu)秀的圖像處理系統(tǒng)必須是 一項(xiàng)長(zhǎng)期的投資。Carl Zeiss 具有 20 多年豐富的圖像分析經(jīng)驗(yàn)，因此設(shè)計(jì)出來的系統(tǒng)可以真正地滿足當(dāng)前和將來的所有需要。設(shè)備組成：    硬件： 攝像頭(CCD相機(jī))+計(jì)算機(jī)+打印機(jī)       軟件： 專業(yè)圖像分析軟件 工作原理:   CCD攝像機(jī)將來自顯微鏡的光學(xué)圖像轉(zhuǎn)換為視頻信號(hào)，通過圖像采集卡/數(shù)

24、碼相機(jī)，將顯微鏡 下的試樣圖像輸入到計(jì)算機(jī)中，或使用掃描儀將金相照片掃描進(jìn)計(jì)算機(jī)，利用本軟件對(duì)數(shù)字圖像進(jìn)行各種處理和測(cè)量，最后將圖像及測(cè)量結(jié)果打印輸出，并可使用光 盤刻錄機(jī)對(duì)圖像及測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行光盤備份。通用系統(tǒng)：    通用圖像處理功能：圖像獲取、數(shù)據(jù)備份、景深擴(kuò)展、晶界重建、圖像拼接、圖像運(yùn)算、濾波、圖像標(biāo)注、圖像分割和處理、精確打印 專業(yè)分析系統(tǒng)：         專業(yè)測(cè)量評(píng)級(jí)(涵蓋顆粒分析、晶粒度評(píng)級(jí)、夾雜物評(píng)級(jí)、鑄鐵評(píng)級(jí)、有色金屬評(píng)級(jí)等國(guó)標(biāo)及部分國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)可定性和可定

25、量標(biāo)準(zhǔn)200多項(xiàng))超值服務(wù)：根據(jù)用戶需求量身定做相關(guān)模塊，軟件終身免費(fèi)升級(jí)。 專業(yè)評(píng)級(jí)模塊 鐵素體奧氏體型雙相不銹鋼中a-相金相測(cè)GB   6401-86第二相面積含量測(cè)量奧氏體型不銹鋼a-相金相測(cè)GB  13305-91多相面積含量測(cè)量顆粒度分析高碳鋼盤條索氏體含量評(píng)級(jí) YB/T169-2000雙重晶粒度評(píng)級(jí) ASTM  E1181-87低碳鋼冷軋薄板鐵素體晶粒度評(píng)級(jí)GB  4335-84滲碳層深度測(cè)定金屬平均晶粒度評(píng)級(jí) GB  6934-02鋼中非金屬夾雜物評(píng)級(jí) GB  10561-2005石墨球化率

26、評(píng)級(jí) GB  9441-88灰鑄鐵金相評(píng)級(jí) GB  7216-87脫碳層深度測(cè)定 GB  224-87混有珠光體的鐵素晶粒度評(píng)級(jí)GB  6394-86內(nèi)螺紋銅管齒形數(shù)測(cè)定鑄造鋁銅合金晶度評(píng)級(jí) GB  7946-2000高速工具鋼大塊碳化物評(píng)級(jí) GB  4462-84鎂及鎂合金晶粒度評(píng)級(jí) GB/T  13302-91鋁及鋁合金晶粒度評(píng)級(jí) GB  3246-2000 計(jì)算機(jī)芯片灰塵  房間里的灰塵，難怪人家說“又臟又亂”，真夠亂的  打結(jié)的頭發(fā)  海

27、鹽晶體，保持著大海的顏色  流行感冒病毒  蘿卜種子正在發(fā)芽，神奇的感覺  絲綢纖維  香煙過濾嘴纖維表面的煙霧粒子，一看就有毒  血液凝塊構(gòu)造（紅色為紅血球，蘭色為血小板，黃色為纖維蛋白）  引起腳氣的罪魁禍?zhǔn)?#160;    一、樣品描述    PCB存在明顯的吃錫不良現(xiàn)象（圖1中紅色箭頭處），且上錫不良均發(fā)生在第二次焊接面，通過改變錫膏、PCB板及不同的生產(chǎn)線都無法改善。   

28、二、外觀檢查    上錫錫不良焊點(diǎn)在PCB焊盤一側(cè)呈現(xiàn)明顯的不濕潤(rùn)或反濕潤(rùn)現(xiàn)象，焊料全部流向元器件可焊端（見圖2）。    三、金相分析    PCB焊盤吃錫不良的焊點(diǎn)中焊料在PCB焊盤一側(cè)均存在濕潤(rùn)不良，不濕潤(rùn)處PCB焊盤表面可見明顯的金屬間化合物，焊料濕潤(rùn)不良處PCB焊盤表面可焊性鍍層不明顯(見圖3）    四、分析結(jié)論    PCB焊盤表面可焊性鍍層不均勻，局部位置的可焊性鍍層偏薄，在經(jīng)過一次回流焊接后，錫鉛可焊性鍍層與PCB cu焊盤之間

29、形成合金，降低了PCB焊盤表面可焊性，可焊性降低最終引起上錫不良。    摘要：本文通過對(duì)USB連接線中USB端子表面產(chǎn)生銹蝕機(jī)理的分析與試驗(yàn)驗(yàn)證，發(fā)現(xiàn)了導(dǎo)致USB銹蝕的 主要機(jī)理是殼外被覆的聚氯乙烯（PVC）塑膠層因其穩(wěn)定性不理想，在高溫高濕的環(huán)境條件下容易分解產(chǎn)生腐蝕性的氯化氫氣體殘存于USB殼表面，并在空氣中 存在的氧氣及水的共同作用下使其發(fā)生了腐蝕；當(dāng)USB殼表面鍍層存在缺陷或污染時(shí)，這種銹蝕愈發(fā)嚴(yán)重。同時(shí)本文針對(duì)銹蝕產(chǎn)生的機(jī)理給出了相應(yīng)的控制對(duì)策。    關(guān)鍵詞：銹蝕機(jī)理，USB端子，表面鍍層，聚氯乙烯  

30、;                     前言    隨著電子技術(shù)日新月異的高速發(fā)展，越來越多功能齊全，性能優(yōu)異的高尖端電子信息產(chǎn)品如計(jì)算機(jī)、數(shù)碼相機(jī)、手機(jī)等逐漸成為人們?nèi)粘９ぷ骱图彝ド畈豢苫蛉钡?必備品，而在使用上述這些電子產(chǎn)品進(jìn)行影像，數(shù)據(jù)資料傳輸時(shí)常常要用到USB連接線進(jìn)行連接和中轉(zhuǎn)，因此USB連接線的生產(chǎn)和使用量非常大。但是，眾多的 USB連接線生產(chǎn)廠家都

31、遇到過類似的問題：即生產(chǎn)出的USB連接線在放置較短時(shí)間時(shí)（通常在3個(gè)月左右），其USB端子的金屬表面就會(huì)產(chǎn)生紅色銹斑而影響 使用，從而遭遇使用方的大量退貨，使生產(chǎn)廠家不僅蒙受較大的經(jīng)濟(jì)損失，甚至因質(zhì)量糾紛要“對(duì)簿公堂”。因此如何分析USB連接線產(chǎn)生銹蝕的機(jī)理并找到有效 的控制對(duì)策顯得極為重要。    1  樣品概況    為了弄清USB連接線早期銹蝕的機(jī)理，本文收集了客戶提供的典型的早期銹蝕的USB連接線樣品進(jìn)行機(jī)理分析。這些樣品均是在使用或放置約三個(gè)月左右甚至更 短時(shí)間后，其覆蓋有塑膠層的USB殼表面即產(chǎn)生明顯的紅色銹斑。

32、為了便于分析研究，發(fā)生銹蝕的USB連接線成品生產(chǎn)工藝中使用的同批次原材料：塑膠料、未 經(jīng)組裝的USB殼也一同收集，詳見圖1。     2  分析過程     2.1 光學(xué)顯微鏡觀察    首先選取發(fā)生銹蝕的USB連接線成品，剝?nèi)ヤP蝕部位外被覆的塑膠層，并在立體顯微鏡下仔細(xì)觀察USB殼外觀，發(fā)現(xiàn)金屬殼表面有些部位發(fā)生了銹蝕呈紅棕色， 而相應(yīng)塑膠內(nèi)側(cè)位置也沾污了該銹蝕物（見圖2），觀察成品線USB接頭所用原材料即未組裝的USB殼表面則較清潔，呈現(xiàn)金屬光澤，未見明顯異?，F(xiàn)象。

33、60;                                                  &#

34、160;                                                  &

35、#160;     2.2 掃描電鏡和能譜分析（SEM/EDS）    為了了解USB殼銹蝕部位的元素成分與其正常部位有何差異，同時(shí)觀察其腐蝕處的微觀形貌，我們用掃描電子顯微鏡和能譜分析儀分別對(duì)剝?nèi)ネ獗桓餐该魉苣z層的 USB殼銹蝕部位及相對(duì)應(yīng)的塑膠內(nèi)側(cè)位置，正常的USB殼表面及塑膠表面位置進(jìn)行觀察和分析。結(jié)果顯示：USB金屬殼表面鍍層存在較多針孔，且局部針孔位 置已呈現(xiàn)凹坑狀腐蝕形貌，而在USB殼尾部鉚壓處的表面鍍層均出現(xiàn)開裂，且在部分開裂位置也已呈現(xiàn)出明顯的腐蝕狀態(tài)（圖3）。測(cè)試樣品的EDS成分分析結(jié) 果（詳見圖4圖5）顯

36、示銹蝕部位檢出的元素成分除了正常的USB殼材質(zhì)成分鐵（Fe）、銅（Cu）、鎳（Ni）外，還有含氯（Cl）、硫（S）元素的腐 蝕性物質(zhì)以及含有鈉（Na）、鈣（Ca）、鉀（K）、硅（Si）等元素的雜質(zhì)，與此同時(shí)與USB殼銹蝕部位對(duì)應(yīng)位置的塑膠內(nèi)側(cè)也檢出了相近的元素成分。而 正常塑膠除了碳（C）、氧（O）元素還檢出了氯（Cl）元素。由銹蝕部位的EDS分析結(jié)果可知，USB殼發(fā)生銹蝕主要是由于空氣中的氧及含有強(qiáng)腐蝕性的 氯、硫元素的物質(zhì)與USB金屬殼基材鐵發(fā)生了化學(xué)反應(yīng)而產(chǎn)生銹蝕。          &#

37、160;                           圖3  USB殼表面局部區(qū)域的SEM照片                    

38、0;                 圖4  USB正常部位的SEM（左）&EDS（右）譜圖                            &#

39、160;         圖5  USB殼銹蝕處的SEM（左）&EDS（右）譜圖    2.3 切片分析    知道了USB殼銹蝕是由于其基材發(fā)生了化學(xué)腐蝕，我們首先想到是否由于USB殼自身材質(zhì)太差而引起了腐 蝕的發(fā)生？同時(shí)通過之前的掃描電子顯微鏡觀察也發(fā)現(xiàn)了USB殼的表面鍍層局部存在缺陷，為了確認(rèn)USB殼的基材質(zhì)量的好壞及清楚了解其起防護(hù)作用的鍍層結(jié) 構(gòu)，我們?nèi)我膺x取一片未組裝的USB殼進(jìn)行切片分析，將樣品用環(huán)氧樹脂鑲嵌后用砂

40、紙研磨拋光，蝕刻、清洗，干燥后用SEM&EDS分析基材及鍍層 結(jié)構(gòu)，SEM形貌見圖6。檢測(cè)結(jié)果顯示：USB金屬殼基材為鐵材，鐵基材內(nèi)部材質(zhì)較好未發(fā)生腐蝕，USB殼表面鍍層結(jié)構(gòu)為內(nèi)層鍍厚度約為2微米的銅 （Cu），外層鍍厚度約為4微米的鎳（Ni）。相比之下鐵基體材料最活潑，而鍍層質(zhì)量的好壞直接影響到鐵的銹蝕程度。                       2.4 紅外光譜分析&#

41、160;   通過上述的元素成分分析我們知道了USB殼外被覆塑膠中含有氯元素，為了確切了解該塑膠是何材質(zhì)，分別刮取適量USB殼外被覆的透明塑膠外皮及塑膠粒原材 料粉末，與溴化鉀粉末混和均勻后壓片進(jìn)行紅外光譜分析，檢測(cè)結(jié)果顯示（圖7）：塑膠粒原材料與USB殼外被覆塑膠外皮的紅外光譜圖相同，同時(shí)經(jīng)過標(biāo)準(zhǔn)譜圖 庫檢索，發(fā)現(xiàn)其與檢索到的聚氯乙烯（PVC）的紅外譜圖匹配度極高，表明二者材質(zhì)相同，均為聚氯乙烯（PVC）。    2.5 驗(yàn)證試驗(yàn)    由上述分析可知，已發(fā)生銹蝕的USB殼銹斑位置檢出較高含量的氯元素，而其外被覆

42、塑膠層的材質(zhì)經(jīng)證實(shí)為聚氯乙烯（PVC）。為了確認(rèn)USB殼銹斑部位檢 出的具有強(qiáng)腐蝕性的氯元素是否來自于外被覆的PVC膠殼的揮發(fā)或是外界的污染，選取未組裝USB殼2PCS，將其懸掛于裝有硫酸鉀飽和溶液的錐形瓶A中， 將同批次的透明塑膠粒置于錐形瓶B中，然后將整個(gè)試驗(yàn)裝置放入溫度為85的高溫箱中（采用高溫加速試驗(yàn)來模擬USB成品長(zhǎng)達(dá)3個(gè)月的儲(chǔ)存時(shí)間）進(jìn)行驗(yàn)證 試驗(yàn)，具體裝置見圖8。試驗(yàn)時(shí)間為96h，實(shí)驗(yàn)前后用SEM&EDS分析USB殼的表面成分。若錐形瓶B內(nèi)的透明塑膠粒穩(wěn)定性不好，其在高溫下會(huì) 分解出HCl氣體，該氣體可通過玻璃管到達(dá)錐形瓶A內(nèi)，由于A瓶?jī)?nèi)溫濕度環(huán)境為85，85RH，比較潮

43、濕，因此HCl氣體會(huì)生成強(qiáng)腐蝕性的鹽酸作用于 USB殼表面。結(jié)果顯示，試驗(yàn)前的USB殼表面僅檢出碳、鐵、鎳元素，而經(jīng)歷潮熱試驗(yàn)后相同位置USB殼表面除上述元素外還檢出少量氯元素，表明引起 USB殼表面銹蝕的腐蝕性氯化物來自于USB殼外被覆的PVC塑膠層。                             

44、0;                           1玻璃管；2橡膠管；3鍍鎳USB殼（懸掛于錐形瓶A中）；                  4飽和硫酸鉀（K2SO4）溶液

45、（其在85溫度時(shí)，濕度可達(dá)85RH）；5透明膠殼；6橡皮活塞     3  結(jié)果分析與討論                      通過對(duì)USB殼表面銹蝕部位進(jìn)行的外觀檢查和SEM/EDS分析，證實(shí)了USB成品銹蝕處發(fā)生了腐蝕，除了正常的USB殼材質(zhì)的元素成分鐵（Fe）、銅 （Cu）、鎳（Ni）元素及含有強(qiáng)腐蝕性的氯（Cl）、硫（S）元素的物質(zhì)，

46、同時(shí)還檢出少量含有鈉（Na）、鈣（Ca）、鉀（K）、硅（Si）等元素的雜 質(zhì)，而與USB殼銹蝕處直接接觸的透明膠殼內(nèi)表面也檢出類似元素成分，即其沾有這些腐蝕產(chǎn)物。從EDS分析結(jié)果可知，USB殼銹蝕部位的化學(xué)成分為鐵、銅 和鎳的各種化合物。而通過對(duì)USB殼表面鍍層及其截面切片進(jìn)行分析可知，USB殼鐵基材內(nèi)部未發(fā)生腐蝕；USB殼表面鍍層結(jié)構(gòu)為內(nèi)層鍍銅，外層鍍鎳，但在 USB殼殼體局部區(qū)域存在較多針孔，且在其尾部鉚壓處的鍍層已出現(xiàn)開裂。     當(dāng)USB殼處于潮濕環(huán)境中時(shí)，由于鐵的活潑性，空氣中存在的氧、含氯、硫的強(qiáng)腐蝕性化合物均會(huì)逐漸腐蝕USB金屬殼表面而產(chǎn)生主成分為鐵的各種化合物的銹 斑，而當(dāng)USB殼表面金屬鍍層存在針孔、開裂等缺陷時(shí)，氧氣及腐蝕性氯、硫化合物更易與鍍層存在缺陷位置的鐵基材直接發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，同時(shí)鈉（Na）、鈣 （Ca）、鉀（K）等雜質(zhì)元素的存在容易在US