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1、物理實(shí)驗研究性報告物理實(shí)驗研究性報告對晶體的電光效應(yīng)數(shù)據(jù)細(xì)致分析和現(xiàn)象探討第一作者:向雪學(xué)號:10041160第二作者:薛園園學(xué)號:10041161第三作者:李自超學(xué)號:10051183目錄目錄2對晶體的電光效應(yīng)數(shù)據(jù)細(xì)致分析和現(xiàn)象探討3一、實(shí)驗原理31.電光晶體和泡克爾斯效應(yīng)32.電光調(diào)制原理3二、實(shí)驗內(nèi)容及操作詳細(xì)流程5光路調(diào)節(jié)52電光調(diào)制器T-V工作曲線的測量6動態(tài)法觀察調(diào)制器性能64旋轉(zhuǎn)1/4波片觀察輸出特性65.用相位補(bǔ)償測量晶體快慢軸相位差7三、現(xiàn)象觀察:8.信號波形失真最小8.接收信號幅度最大9倍頻失真9四、數(shù)據(jù)處理101.T-V曲線測量102.用兩種方法計算鈮酸鋰晶體橫向調(diào)制的半
2、波電壓和電光系數(shù)10五、誤差分析121.輸出波形產(chǎn)生畸變的原因12關(guān)于極小值非0V的討論13六、實(shí)驗后思考題:13對晶體的電光效應(yīng)數(shù)據(jù)細(xì)致分析和現(xiàn)象探討一、實(shí)驗原理1.電光晶體和泡克爾斯效應(yīng)晶體在外電場作用下折射率會發(fā)生變化,這種現(xiàn)象稱為電光效應(yīng)。通常將電場引起的折射率變化用下式表示,即式中,a和b為與無關(guān)的常數(shù),為時的折射率。由一次項引起的折射率變化效應(yīng)稱為一次電光效應(yīng),也稱線性電光效應(yīng)或泡爾克斯效應(yīng),也是我們在本次試驗中主要研究和討論的效應(yīng);由二次項引起的折射率變化效應(yīng)稱為二次電光效應(yīng),也稱為平方電光效應(yīng)或克爾效應(yīng)。通常,一次效應(yīng)要比二次效應(yīng)顯著。泡爾克斯效應(yīng)分為縱向電光效應(yīng)和橫向電光效應(yīng)
3、。我們本次試驗主要研究鈮酸鋰晶體的一次橫向電光效應(yīng),用鈮酸鋰的橫向調(diào)制裝置測量晶體的半波電壓及電光系數(shù),并用兩種方法改變調(diào)制器的工作點(diǎn),觀察相應(yīng)的輸出特性。光在晶體中傳播時,在不平行于光軸方向上,由于e光和o光傳播速度不同,而出現(xiàn)不同折射率的現(xiàn)象叫做雙折射現(xiàn)象,只有一個光軸的晶體叫做單軸晶體,鈮酸鋰晶體本來是單軸晶體,但在外加電場作用下,將變成雙軸晶體,出現(xiàn)與雙折射類似的結(jié)果,出射光可能為橢圓偏振光。2.電光調(diào)制原理在無線電通信中,為了把語言、音樂或圖像等信息發(fā)送出去,總是通過表征電磁波特性的振幅、頻率或相位受被傳遞信號的控制來實(shí)現(xiàn)的。這種控制過程稱為調(diào)制。接收時,把需要的信號從調(diào)制信息中還原
4、出來,叫做解調(diào)。本實(shí)驗采用強(qiáng)度調(diào)制。即輸出的激光輻射強(qiáng)度按照調(diào)制信號的規(guī)律變化。鈮酸鋰晶體的橫向光調(diào)制過程如下:LN晶體橫向電光調(diào)制器的結(jié)構(gòu)如圖2所示。當(dāng)光經(jīng)過起偏器P后變成振動方向為OP的線偏振光,進(jìn)入晶體 (z = 0) 后被分解為沿x和y軸的兩個分量,因為OP與x軸、y軸的夾角都是45º,所以位相和振幅都相等。即,于是入射光的強(qiáng)度為:當(dāng)光經(jīng)過長為的LN晶體后,x和y分量之間就產(chǎn)生位相差,即: 從檢偏器A(它只允許OA方向上振動的光通過)出射的光為和在OA軸上的投影之和 于是對應(yīng)的輸出光強(qiáng)為: 將輸出光強(qiáng)與輸入光強(qiáng)比較,再考慮上式,最后得到: 為透射率,它與外加電壓V之間的關(guān)系曲
5、線就是光強(qiáng)調(diào)制特性曲線。本實(shí)驗就是通過測量透過光強(qiáng)隨加在晶體上電壓的變化得到半波電壓V。透過率與V的關(guān)系是非線性的,若不選擇合適的工作點(diǎn)會使調(diào)制光強(qiáng)發(fā)生畸變,但在V = V/2附近有一直線部分(即光強(qiáng)與電壓成線性關(guān)系),這就是線性調(diào)制部分。為此,我們在調(diào)制光路中插入一個/4波片,其光軸與OP成45º角,它可以使x和y兩個分量間的位相有一個固定的/2位相延遲,這時若外加電場是一個幅度變化不太大的周期變化電壓,則輸出光波的光強(qiáng)變化與調(diào)制信號成線性關(guān)系,即 其中V是外加電壓,可以寫成,但是如果Vm太大,就會發(fā)生畸變,輸出光強(qiáng)中將包含奇次高次諧波成份。當(dāng)時 二、實(shí)驗內(nèi)容及操作詳細(xì)流程光路調(diào)節(jié)
6、().光源準(zhǔn)直的細(xì)調(diào)在粗調(diào)等高共軸之前,先要確保激光光源的出射方向是與導(dǎo)軌嚴(yán)格平行的,這一步在許多光學(xué)實(shí)驗中都會有,而且是極為關(guān)鍵的一步。下面是具體方法:打開激光光源,將白屏放置在光具座上,用筆記錄此時白屏上光點(diǎn)的位置從前向后移動白屏,通過調(diào)節(jié)激光的俯仰來調(diào)整白屏上光點(diǎn)的位置,使其始終在你所記錄的位置從后向前移動白屏,重復(fù)上述操作,直至在導(dǎo)軌上的任何位置,白屏上光點(diǎn)的位置都不改變,此時激光束與導(dǎo)軌平行。然后固定激光器的位置。(2).消光調(diào)節(jié)在第一步的基礎(chǔ)上,在光源與白屏之間放入起偏器、檢偏器、擴(kuò)束鏡、鈮酸鋰晶體,然后粗調(diào)等高共軸。等高共軸調(diào)節(jié)也是所有光學(xué)實(shí)驗中必備的環(huán)節(jié),在調(diào)節(jié)等高共軸時,我個
7、人認(rèn)為比較有效的方法就是看反射光是否與入射光點(diǎn)重合,不重合的話就調(diào)節(jié)該儀器的位置,直至重合為止。取下擴(kuò)束鏡,旋轉(zhuǎn)起偏器,使透過起偏器的光最強(qiáng);旋轉(zhuǎn)檢偏器,使白屏上的光點(diǎn)最弱。這時,起偏器與檢偏器互相垂直,系統(tǒng)進(jìn)入消光狀態(tài)。().錐光干涉的觀察緊靠晶體放上擴(kuò)束鏡,觀察白屏上的圖案,可觀察到如右圖所示的圖案同時旋轉(zhuǎn)起偏器和檢偏器,直至暗十字與白屏上所畫的十字圖形重合,此時檢偏器與起偏器正交仔細(xì)調(diào)整晶體的兩個方位螺釘,使圖案中心與原激光點(diǎn)的位置重合打開晶體驅(qū)動電源,將狀態(tài)開關(guān)打開在直流狀態(tài),順時針旋轉(zhuǎn)電壓調(diào)整旋鈕,調(diào)高驅(qū)動電壓,觀察白屏上圖案的變化。此時將會觀察到圖案由一個中心分裂為兩個中心,這是典
8、型的會聚偏振光經(jīng)過雙軸晶體時的干涉圖樣,如右圖所示。2電光調(diào)制器T-V工作曲線的測量緩慢調(diào)高直流驅(qū)動電壓,并記錄電壓值和輸出激光功率值,每50伏記錄一次,到1000伏為止。在最大功率和最小功率附近減小電壓間隔,每5伏記錄一次動態(tài)法觀察調(diào)制器性能將驅(qū)動信號波形插座和接受信號插座分別與雙蹤示波器CH1和CH2通道連接,光電二極管換下光電池,光電二極管探頭與信號輸入插座連接將狀態(tài)開關(guān)置于正弦波位置,幅度調(diào)節(jié)旋鈕調(diào)至最大。示波器置于雙蹤同時顯示,以驅(qū)動信號波形為觸發(fā)信號,正弦波頻率約為1kHz旋轉(zhuǎn)驅(qū)動電壓調(diào)節(jié)旋鈕,改變靜態(tài)工作點(diǎn),觀察示波器上的波形變化。記錄接受信號波形失真最小、接收信號幅度最大以及出
9、現(xiàn)倍頻失真時的靜態(tài)工作點(diǎn)電壓。4旋轉(zhuǎn)1/4波片觀察輸出特性分別將靜態(tài)工作點(diǎn)電壓固定于倍頻失真點(diǎn)、接收信號波形失真最小、接收信號波形幅度最大點(diǎn),在起偏器與鈮酸鋰晶體之間放入1/4波片。旋轉(zhuǎn)1/4波片,觀察接收信號波形的變化情況,分別記錄出現(xiàn)倍頻失真時對應(yīng)1/4波片上的轉(zhuǎn)角。在上述步驟的基礎(chǔ)上,改變工作電壓,記錄相鄰兩次出現(xiàn)倍頻失真時對應(yīng)的工作電壓之差即為半波電壓。5.用相位補(bǔ)償測量晶體快慢軸相位差本實(shí)驗測的是1/4波片的快慢軸間的相位差轉(zhuǎn)過角度輸出波形特點(diǎn)86°線性調(diào)制175°倍頻失真264°線性調(diào)制355°倍頻失真在實(shí)驗中,去掉晶體上所加的直流偏壓,把1
10、/4波片置入晶體和偏振片之間,繞光軸緩慢旋轉(zhuǎn)時,可以看到輸出信號隨著發(fā)生變化,其現(xiàn)象與改變直流偏壓效果相同:根據(jù)數(shù)學(xué)推導(dǎo),光強(qiáng)透過率為:與前面的公式類比,可發(fā)現(xiàn)式中的即相當(dāng)于原先公式中的“”。在從倍頻失真到線性調(diào)制的過程中,由于1/4波片旋轉(zhuǎn)了90°,透射光相位改變了(o光轉(zhuǎn)化為e光或相反),而相應(yīng)的“”改變了/2,故有: 即1/4波片的。三、現(xiàn)象觀察:.信號波形失真最小未加波片前,信號波形失真最小電壓為,加波片后,旋轉(zhuǎn)度可從一次倍頻失真到第二次倍頻失真。.接收信號幅度最大未加波片前,接收信號幅度最大電壓為,加波片后,旋轉(zhuǎn)度可從一次倍頻失真到第二次倍頻失真。倍頻失真未加波片前,倍頻失
11、真時的電壓為,加波片后,旋轉(zhuǎn)度可從一次倍頻失真到第二次倍頻失真。四、數(shù)據(jù)處理1.T-V曲線測量(1)原始數(shù)據(jù)記錄:電壓/V050100150200250300350400450500功率/mW0.3160.30.2960.2970.3030.3160.3560.3660.3970.4320.464電壓/V5506006507007508008509009501000功率/mW0.5010.5490.5760.6210.6260.6190.5930.5810.5730.562(2)曲線圖2.用兩種方法計算鈮酸鋰晶體橫向調(diào)制的半波電壓和電光系數(shù)(1)極值法測定半波電壓V在100-150V之間取最小
12、值,在700-750V之間取最大值,分別在這兩個區(qū)域每隔5V測量一次,將測量結(jié)果記錄并繪制圖像如下:電壓/V100105110115120125130135140145150功率/mW0.2960.2930.2890.2910.2920.2910.2940.2950.2950.2980.3圖像:極大值區(qū)域數(shù)值記錄及圖像電壓/V700705710715720725730735740745750功率/mW0.6190.6210.6210.6230.6250.6270.6290.6290.6310.6280.626圖像:比較數(shù)據(jù)可知,極大值最小值理論半波電壓為:相對誤差:鈮酸鋰晶體的基本物理量為:5
13、mm30mm632.8nm2.286由晶體基本物理量關(guān)系式,可得:相對誤差:(2)調(diào)制法測定半波電壓加上1/4波片后,第一次倍頻失真的對應(yīng)電壓為277V,第二次倍頻失真對應(yīng)的電壓為936V相對誤差:由此半波電壓可計算得相應(yīng)的光電系數(shù)為:相對誤差:五、誤差分析1.輸出波形產(chǎn)生畸變的原因根據(jù)數(shù)學(xué)推導(dǎo)可得,光強(qiáng)透過率:(1)當(dāng)時,工作點(diǎn)落在線性工作區(qū)的中部,將代入得:這時,調(diào)制器輸出的波形和調(diào)制信號的頻率相同,即線性調(diào)制。(2)當(dāng)或,時,同理可得,這時輸出光的頻率是調(diào)制信號的兩倍,即產(chǎn)生“倍頻”失真。關(guān)于極小值非0V的討論根據(jù)理論計算,當(dāng)V=0V時,T應(yīng)當(dāng)為0,得最小值。而在實(shí)驗得到的T-V圖中,當(dāng)
14、V=0V T不為零,且極小值也不處于V=0?,F(xiàn)從一下三方面分析原因:操作方面:調(diào)試兩個偏振片時,沒有做到起偏方向完全垂直,導(dǎo)致極小點(diǎn)偏離V=0。儀器方面:在調(diào)解時發(fā)現(xiàn),即使前后兩個偏振片非常逼近垂直,還是有一定的光線透過,沒有做到完全消光,因而T的極小值大于0。即偏振片工藝精度不足。原理方面:實(shí)驗時最小點(diǎn)偏離0點(diǎn)100V左右,偏振片的消光原因應(yīng)該不足以引起如此大的偏離。故主要原因可能是在外加電壓小于100V時,工作點(diǎn)落在了線性區(qū)域以外。六、實(shí)驗后思考題:1.鈮酸鋰在施加電場前后有什么不同?是否都存在雙折射現(xiàn)象?答:鈮酸鋰在未施加電場時是單軸晶體,不存在雙折射,施加電場后鈮酸鋰為雙軸晶體,存在雙折射。2.為什么1/4波片也可以改變電光晶體的工作點(diǎn)?答:1/4波片是一塊具有特定厚度的雙軸晶體,光線透過1/4波片后會分解為o光和e光,兩者的相位差為。將1/4波片引起的相位差考慮之后可得光強(qiáng)透過率:當(dāng)起始光偏振方向垂直于1/4波片的光軸時,透射光全為o光,此時=0,代入上式可得:此時調(diào)制器輸出的波形和調(diào)制信號的頻率相同,即線性調(diào)制。旋轉(zhuǎn)1/4波片,當(dāng)起始光偏振方向平
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