屏蔽效能測(cè)試方案

1、RIGOL 屏蔽效能測(cè)試方案Testing Solutions of Shielding Effectivenessn背景n 電磁輻射：一種新的污染n 電子設(shè)備對(duì)外輻射n 電子設(shè)備受外界電磁干擾n 對(duì)人體電磁輻射的危害n 電磁信息泄漏：危害國(guó)家政治、軍事及經(jīng)濟(jì)信息安全n n 屏蔽機(jī)理n 反射效應(yīng)n 吸收效應(yīng)n 屏蔽效果分類SE(dB)00-1010-3030-6060-9090屏蔽效果無差較差中等良好優(yōu)n應(yīng)用領(lǐng)域n 電磁屏蔽材料n 屏蔽材料n 吸波材料n 電磁屏蔽漆n 柔性屏蔽織物（電磁屏蔽防護(hù)服、屏蔽帳篷、屏蔽幕簾、屏蔽炮衣）n 特種電磁屏蔽混凝土n IC芯片封裝n n 電磁屏蔽室n 全電波

2、暗室、半電波暗室、EMC屏蔽室、混響室n 醫(yī)療成像和治療設(shè)施（磁共振成像MRI/醫(yī)用X射線攝影/計(jì)算機(jī)斷層掃描CT）n 屏蔽箱、電波暗箱、TEM/GTEM小室n 軍用方艙（軍車、艦船屏蔽艙室）n 電磁屏蔽機(jī)柜、屏蔽操作臺(tái)n n應(yīng)用領(lǐng)域n應(yīng)用領(lǐng)域n什么是屏蔽效能(Shielding Effectiveness)？n 定義：在同一激勵(lì)電平下，有屏蔽材料與無屏蔽材料時(shí)所接收到的功率或電壓之比，并以對(duì)數(shù)表示。n SE = 20lg（V0/V1） = 10lg（P0/P1 ） 式中，SE屏蔽效能，dB；V0無屏蔽材料時(shí)的接收電壓；V1有屏蔽材料時(shí)的接收電壓；P0無屏蔽材料時(shí)的接收功率；P1有屏蔽材料時(shí)的

3、接收功率。n屏蔽效能 典型測(cè)試結(jié)果n標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)SJ 20524:1995 材料屏蔽效能的測(cè)量方法GJB 6190:2008 電磁屏蔽材料屏蔽效能測(cè)量方法GB/T 25471:2010 電磁屏蔽涂料的屏蔽效能測(cè)量方法GB/T 12190:2006 電磁屏蔽室屏蔽效能的測(cè)量方法GJB 6785-2009 軍用電子設(shè)備方艙屏蔽效能測(cè)試方法GJB 3039:1997 艦船屏蔽艙室要求和屏蔽效能測(cè)試方法IEEE Std 299:2006 IEEE standard method for measuring the effectiveness of electromagnetic shielding enc

4、losures.ASTM D4935:2010 Standard Test Method for Measuring the Electromagnetic Shielding Effectiveness of Planar Materials.IEEE Std 1302:2008 IEEE Guide for the Electromagnetic Characterization of Conductive Gaskets in the Frequency Range of DC to 18 GHz.MIL-DTL-83528C:2001 Gasketing Material，Conduc

5、tive，Shielding Gasket，Electronic，Elastomer，EMI/RFI.SAE ARP 1173：2004 Test procedure to measure the RF shielding characteristics pf EMI gaskets.SAE ARP 1705A:2006 Coaxial test procedure to measure the RF shielding characteristics of EMI gasket materials.DESC 92017DEF STAN 59-103n屏蔽效能 測(cè)試方法屏蔽材料（頻域）法蘭同軸

6、測(cè)試法頻譜分析儀+射頻信號(hào)源頻譜分析儀+跟蹤源網(wǎng)絡(luò)分析儀屏蔽室窗口測(cè)試法屏蔽暗箱窗口測(cè)試法雙TEM室測(cè)試法其他測(cè)試方法 ASTM-ES-7雙屏蔽盒測(cè)試法（近場(chǎng)） ASTM-ES-7同軸傳輸線測(cè)試法（遠(yuǎn)場(chǎng)） 改進(jìn)的MIL-STD-285測(cè)試法（近場(chǎng)）屏蔽材料（時(shí)域）快沿電磁脈沖法蘭同軸測(cè)試法GTEM小室測(cè)試法屏蔽室低頻段諧振頻段高頻段 F1GHz F1GHzn法蘭同軸測(cè)試法（頻譜分析儀+射頻信號(hào)源）頻率范圍：30MHz1.5GHz試樣厚度：小于等于10mm可測(cè)試電磁屏蔽材料對(duì)平面波的屏蔽效能參考試樣負(fù)載試樣n法蘭同軸測(cè)試法（頻譜分析儀+跟蹤源）頻率范圍：30MHz1.5GHz試樣厚度：小于等于1

7、0mm可測(cè)試電磁屏蔽材料對(duì)平面波的屏蔽效能參考試樣負(fù)載試樣n法蘭同軸測(cè)試法-試樣制備n法蘭同軸測(cè)試法-推薦配置項(xiàng)目制造商型號(hào)設(shè)備名稱備注方案一1RigolDSA800/DSA1000頻譜分析儀2DSG3000射頻信號(hào)源3北京鼎容實(shí)創(chuàng)DR-S01+測(cè)試支架法蘭同軸屏蔽效能測(cè)試裝置二選一DR-S02法蘭同軸屏蔽效能測(cè)試儀4RigolRF Attenuator Kit10dB衰減器*26dB亦可5RigolCB-NM-NM-75-L-12G射頻連接電纜*2N公頭-N公頭方案二1RigolDSA800+TG或DSA1000+TG頻譜分析儀，帶跟蹤源2北京鼎容實(shí)創(chuàng)DR-S01+測(cè)試支架法蘭同軸屏蔽效能測(cè)

8、試裝置二選一DR-S02法蘭同軸屏蔽效能測(cè)試儀3RigolRF Attenuator Kit10dB衰減器*26dB亦可4RigolCB-NM-NM-75-L-12G射頻連接電纜*2N公頭-N公頭n屏蔽室窗口測(cè)試法n屏蔽暗箱窗口測(cè)試法n雙TEM室測(cè)試法n快沿電磁脈沖 時(shí)域測(cè)試（法蘭同軸測(cè)試法）參考試樣負(fù)載試樣n快沿電磁脈沖 時(shí)域測(cè)試（GTEM小室測(cè)試法）nASTM-ES-7雙屏蔽盒測(cè)試法（近場(chǎng)）nASTM-ES-7同軸傳輸線測(cè)試法（遠(yuǎn)場(chǎng)）n改進(jìn)的MIL-STD-285測(cè)試法（近場(chǎng)）n屏蔽室屏蔽效能 測(cè)試頻率n 測(cè)試頻率表n 低頻段測(cè)量（9kHz-20MHz）n 諧振頻段測(cè)量（20MHz-300MHz）n 高頻段測(cè)量（300MHz-1GHz）n 高頻段測(cè)量（1GHz-18GHz）n屏蔽室屏蔽效能 測(cè)試頻率n 測(cè)試頻率應(yīng)該參考國(guó)家或軍隊(duì)無線電管理機(jī)構(gòu)提供的頻率列表 建議從供工業(yè)、科學(xué)和醫(yī)療設(shè)備（ISM）使用的頻率或推薦頻率表選擇n屏蔽室 低頻段測(cè)量（9kHz-20MHz）n屏蔽室 諧振頻段測(cè)量（20MHz-300MHz）n屏蔽室 高頻段測(cè)量（300MHz-1GHz）n屏蔽室 高頻段測(cè)量（1GHz-18GHz）n推薦配置DSA800/100