無損檢測(cè)超聲波檢測(cè)二級(jí)(UT)試題庫帶答案解析

1、無損檢測(cè)超聲波試題（ UT 二級(jí) ）一、是非題1.1 受迫振動(dòng)的頻率等于策動(dòng)力的頻率。V1.2 波只能在彈性介質(zhì)中產(chǎn)生和傳播。x （應(yīng)該是機(jī)械波）1.3 由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以波動(dòng)頻率等于振動(dòng)頻率。V1.4 由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以波長(zhǎng)等于振幅。x1.5 傳聲介質(zhì)的彈性模量越大，密度越小，聲速就越高。V1.6 材料組織不均勻會(huì)影響聲速，所以對(duì)鑄鐵材料超聲波探傷和測(cè)厚必須注意這一問題。V1.7 一般固體介質(zhì)中的聲速隨溫度升高而增大。x1.8 由端角反射率試驗(yàn)結(jié)果推斷，使用K>1.5 的探頭探測(cè)單面焊焊縫根部未焊透缺陷，靈敏度較低，可能造成漏檢。V1.9 超聲波擴(kuò)散衰減

2、的大小與介質(zhì)無關(guān)。V1.10 超聲波的頻率越高，傳播速度越快。x1.11 介質(zhì)能傳播橫波和表面波的必要條件是介質(zhì)具有切變彈性模量。V1.12 頻率相同的縱波，在水中的波長(zhǎng)大于在鋼中的波長(zhǎng)。x1.13 既然水波能在水面?zhèn)鞑?，那么超聲表面波也能沿液體表面?zhèn)鞑ァ1.14 因?yàn)槌暡ㄊ怯蓹C(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以超聲波在介質(zhì)中的傳播速度即為質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)速度。X1.15 如材質(zhì)相同，細(xì)鋼棒（ 直徑 <入 =與鋼鍛件中的聲速相同。X （ C 細(xì)鋼棒=（ E/ p）?）1.16 在同種固體材料中，縱、橫渡聲速之比為常數(shù)。V1.17 水的溫度升高時(shí)，超聲波在水中的傳播速度亦隨著增加。X1.18 幾乎所有的液體

3、（水除外），其聲速都隨溫度的升高而減小。V1.19 波的疊加原理說明，幾列波在同一介質(zhì)中傳播并相遇時(shí)，都可以合成一個(gè)波繼續(xù)傳播。X1.20 介質(zhì)中形成駐波時(shí)，相鄰兩波節(jié)或波腹之間的距離是一個(gè)波長(zhǎng)。X（ 應(yīng)是入 /4 ; 相鄰兩節(jié)點(diǎn)或波腹間的距離為入/2 ）1.21 具有一定能量的聲束，在鋁中要比在鋼中傳播的更遠(yuǎn)。V1.22 材料中應(yīng)力會(huì)影響超聲波傳播速度，在拉應(yīng)力時(shí)聲速減小，在壓應(yīng)力時(shí)聲速增大，根據(jù)這一特性，可用超聲波測(cè)量材料的內(nèi)應(yīng)力。V1.23 材料的聲阻抗越大，超聲波傳播時(shí)衰減越大。X（ 成反比）1.24 平面波垂直入射到界面上，入射聲壓等于透射聲壓和反射聲壓之和。X1.25 平面波垂直入

4、射到界面上，入射能量等于透射能量與反射能量之和。V1.26 超聲波的擴(kuò)散衰減與波型，聲程和傳聲介質(zhì)、晶粒度有關(guān)。X1.27 對(duì)同一材料而言，橫波的衰減系數(shù)比縱波大得多。V1.28 界面上入射聲束的折射角等于反射角。X1.29 當(dāng)聲束以一定角度入射到不同介質(zhì)的界面上，會(huì)發(fā)生波形轉(zhuǎn)換。V1.30 在同一固體材料中，傳播縱、橫波時(shí)聲阻抗不一樣。V（Z=p? C）1.31 聲阻抗是衡量介質(zhì)聲學(xué)特性的重要參數(shù)，溫度變化對(duì)材料的聲阻抗無任何影響。x1.32 超聲波垂直入射到平界面時(shí)，聲強(qiáng)反射率與聲強(qiáng)透射率之和等于1 。 V1.33 超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，界面一側(cè)的總聲壓等于另一側(cè)的總聲壓。V1.34

5、 超聲波垂直入射到Z2>ZI 的界面時(shí)，聲壓透過率大于1, 說明界面有增強(qiáng)聲壓的作用。X1.35 超聲波垂直入射到異質(zhì)界時(shí)，聲壓往復(fù)透射率與聲強(qiáng)透射率在數(shù)值上相等。V1.36 超聲波垂直入射時(shí)，界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗差愈小，聲壓往復(fù)透射率愈低。X1.37 當(dāng)鋼中的氣隙（如裂紋）厚度一定時(shí)，超聲波頻率增加，反射波高也隨著增加。V （聲壓反射率也隨頻率增加而增加）1.38 超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)，同種波型的反射角等于折射角。X1.39 超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)，同種波型的折射角總大于入射角。1.40 超聲波以10o角入射至水/鋼界面時(shí)，反射角等于10o o V1.41 超聲波入射至鋼/水界

6、面時(shí)，第一臨界角約為14.50。x（水 /鋼界面時(shí)，al = 14.5o ; 鋼 /水界面不存在第一臨界角一說，因?yàn)闄M波不在水中傳播）1.42 第二介質(zhì)中折射的橫波平行于界面時(shí)的縱波入射角為第一臨界角。X1.43 如果有機(jī)玻璃/鋁界面的第一臨界角大于有機(jī)玻璃/鋼界面第一臨界角，則前者的第二臨界角也一定大于后者。X（ 鋁的縱波速度> 鋼的縱波速度，鋁的橫波速度< 鋼的橫波速度）1.44 只有當(dāng)?shù)谝唤橘|(zhì)為固體介質(zhì)時(shí)，才會(huì)有第三臨界角。V1.45 橫波斜入射至鋼，空氣界面時(shí)，入射角在30o 左右時(shí)，橫波聲壓反射率最低。V1.46 超聲波入射到C1<C2勺凹曲面時(shí)，其透過波發(fā)散。X

7、（聚焦）1.47 超聲波入射到C1>C2t!凸曲面時(shí)，其透過波集聚。V1.48 以有機(jī)玻璃作聲透鏡的水浸聚焦探頭，有機(jī)玻璃/ 水界面為凹曲面。X（ 水浸聚焦探頭就是利用平面波入射到C1>C2t!凸曲面上）1.49 介質(zhì)的聲阻抗愈大，引起的超聲波的衰減愈嚴(yán)重。X（成反比）1.50 聚焦探頭輻射的聲波，在材質(zhì)中的衰減小。X （衰減大，因?yàn)榫劢固筋^有涉及發(fā)散波）1.51 超聲波探傷中所指的衰減僅為材料對(duì)聲波的吸收作用。X1.52 超聲平面波不存在材質(zhì)衰減。X（ 不存在擴(kuò)散衰減）2.1 超聲波頻率越高，近場(chǎng)區(qū)的長(zhǎng)度也就越大° V（ 個(gè)人感覺答案有錯(cuò)，沒有前提無法對(duì)比）2.2 對(duì)同

8、一個(gè)直探頭來說，在鋼中的近場(chǎng)長(zhǎng)度比在水中的近場(chǎng)長(zhǎng)度大。X2.3 聚焦探頭的焦距應(yīng)小于近場(chǎng)長(zhǎng)度。V2.4 探頭頻率越高，聲束擴(kuò)散角越小。V2.5 超聲波探傷的實(shí)際聲場(chǎng)中的聲束軸線上不存在聲壓為零的點(diǎn)。V2.6 聲束指向性不僅與頻率有關(guān)，而且與波型有關(guān)。V2.7 超聲波的波長(zhǎng)越長(zhǎng)，聲束擴(kuò)散角就越大，發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力也就越強(qiáng)。X2.8 因?yàn)槌暡〞?huì)擴(kuò)散衰減，所以檢測(cè)應(yīng)盡可能在其近場(chǎng)區(qū)進(jìn)行。X2.9 因?yàn)榻鼒?chǎng)區(qū)內(nèi)有多個(gè)聲壓變?yōu)榱愕狞c(diǎn)，所以探傷時(shí)近場(chǎng)區(qū)缺陷往往會(huì)漏檢。X2.10 如超聲波頻率不變，晶片面積越大，超聲波的近場(chǎng)長(zhǎng)度越短。X2.11 面積相同，頻率相同的圓晶片和方晶片，超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度一樣長(zhǎng)。

9、V2.12 面積相同，頻率相同的到晶片和方晶片，其聲束指向角亦相同。X2.13 超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度愈短，聲束指向性愈好。X2.14 聲波輻射的超聲波的能量主要集中在主聲束內(nèi)。V2.15 聲波輻射的超聲波，總是在聲束中心軸線上的聲壓為最高。X （近場(chǎng)區(qū)內(nèi)軸線上的聲壓不一定最高）2.16 探傷采用低頻是為了改善聲束指向性，提高探傷靈敏度。X（ 應(yīng)是提高頻率）2.17 超聲場(chǎng)中不同橫截面上的聲壓分布規(guī)律是一致的。X（近場(chǎng)區(qū)與遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)各橫截面上聲壓分布不同）2.18 在超聲場(chǎng)的未擴(kuò)散區(qū)，可將聲源輻射的超聲波看成平面波，平均聲壓不隨距離增加而改變。V2.19 斜角探傷橫波聲場(chǎng)中假想聲源的面積大于實(shí)際聲源面積

10、。X2.20 頻率和晶片尺寸相同時(shí)，橫波聲束指向性比縱波好。V2.21 圓晶片斜探頭的上指向角小于下指向角。X2.22 如斜探頭入射點(diǎn)到晶片的距離不變，入射點(diǎn)到假想聲源的距離隨入射角的增加而減小。V2.23 200mmt4長(zhǎng)橫孔的回波聲壓比100mnb2長(zhǎng)橫孔的回波聲壓低。V2.24 球孔的回波聲壓隨距離的變化規(guī)律與平底孔相同。V2.25 同聲程理想大平面與平底孔回波聲壓的比值隨頻率的提高而減小。V2.26 軸類工件外圓徑向探傷時(shí)，曲底面回波聲壓與同聲程理想大平面相同。V2.27 對(duì)空心圓柱體在內(nèi)孔探傷時(shí)，曲底面回波聲壓比同聲程大平面低。X3.1 超聲波探傷中，發(fā)射超聲波是利用正壓電效應(yīng)，接收

11、超聲波是利用逆壓電效應(yīng)。X3.2 增益 l00dB 就是信號(hào)強(qiáng)度放大100倍。X（ 調(diào)節(jié)增益作用是改變接收放大器的放大倍數(shù)）3.3 與鋯鈦酸鉛相比，石英作為壓電材料性能穩(wěn)定、機(jī)電耦合系數(shù)高、壓電轉(zhuǎn)換能量損失小等優(yōu)點(diǎn)。X3.4 與普通探頭相比，聚焦探頭的分辨力較高。V3.5 使用聚焦透鏡能提高靈敏度和分辨力，但減小了探測(cè)范圍。V3.6 點(diǎn)聚焦探頭比線聚焦探頭靈敏度圖。V3.7 雙晶探頭只能用于縱波檢測(cè)。X3.8 B 型顯示能夠展現(xiàn)工件內(nèi)缺陷的埋藏深度。V3.9 C 型顯示能展現(xiàn)工件中缺陷的長(zhǎng)度和寬度，但不能展現(xiàn)深度。V3.10 通用AVGffi線采用的距離是以近場(chǎng)長(zhǎng)度為單位的歸一化距離，適用于不

12、同規(guī)格的探頭。V3.11 在通用AVGffi線上，可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸。X3.12 A型顯示探傷儀，利用DGSffi線板可直觀顯示缺陷的當(dāng)量大小和缺陷深度。V3.13 電磁超聲波探頭的優(yōu)點(diǎn)之一是換能效率高，靈敏度高。X3.14 多通道探傷儀是由多個(gè)或多對(duì)探頭同時(shí)工作的探傷儀° X（ 應(yīng)是交替工作）3.15 探傷儀中的發(fā)射電路亦稱為觸發(fā)電路。X （同步電路又稱觸發(fā)電路）3.16 探傷儀中的發(fā)射電路亦可產(chǎn)生幾百伏到上千伏的電脈沖去激勵(lì)探頭晶片振動(dòng)。V3.17 探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工件探傷面上掃查的電路。X（ 掃描電路又稱時(shí)基電路，用來產(chǎn)生鋸齒波電壓施加到示波管水平

13、偏轉(zhuǎn)板上，產(chǎn)生一條水平掃描時(shí)基線）3.18 探傷儀發(fā)射電路中的阻尼電阻的阻值愈大，發(fā)射強(qiáng)度愈弱。X（ 改變阻尼是調(diào)節(jié)發(fā)射脈沖的電壓幅度和脈沖寬度，阻值越大，發(fā)射強(qiáng)度越強(qiáng)，發(fā)射聲能越多，分辨力越小。）3.19 調(diào)節(jié)探傷儀“深度細(xì)調(diào)”旋鈕時(shí)，可連續(xù)改變掃描線掃描速度 ° V（ 從而使熒光屏上回波間距大幅度地壓縮或擴(kuò)展）3.20 調(diào)節(jié)探傷儀“抑制”旋鈕時(shí)，抑制越大，儀器動(dòng)態(tài)范圍越大。 X3.21 調(diào)節(jié)探傷儀“延遲”旋鈕時(shí)，掃描線上回波信號(hào)間的距離也將隨之改變。 X3.22 不同壓電晶體材料中聲速不一樣，因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不相同。V3.23 不同壓電材料的頻率常數(shù)不一樣，因此用不同

14、壓電材料制作的探頭其標(biāo)稱頻率才能相同。X3.24 壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)（d33）大,則說明該晶片接收性能好。X （壓電應(yīng)變常數(shù)d33大，發(fā)射性能 好,發(fā)射靈敏度高）3.25 壓電晶片的壓電電壓常數(shù)（gaa）大，岡I說明該晶片接收性能好° V （則接收靈敏度就高）3.26 探頭中壓電晶片背面加吸收塊是為了提高機(jī)械品質(zhì)因素QnM少機(jī)械能損耗。X （加吸收塊是為了減小機(jī)械品質(zhì)因素，Qmd、就表示損耗大，脈沖寬度小，分辨率高）3.27 工件表面比較租糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。X3.28 斜探頭楔塊前部和上部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。X（ 目的是

15、為了減少雜波）3.29 由于水中只能傳插縱波，所以水浸探頭只能進(jìn)行縱波探傷。X3.30 雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)復(fù)蓋區(qū)愈大。X3.31 有機(jī)玻璃聲透鏡水浸聚焦探頭，透鏡曲率半徑愈大，焦距愈大。V3.32 利用 IIW 試塊上50mn?L 與兩側(cè)面的距離，僅能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。V3.33 當(dāng)斜探頭對(duì)準(zhǔn)IIW2試塊上R5曲面時(shí)，熒光屏上的多次反射回波是等距離的。X3.34 中心切槽的半圓試塊，其反射特點(diǎn)是多次回波總是等距離出現(xiàn)。V3.35 與IIW試塊相比CSK-IA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭分辨力。V3.36 調(diào)節(jié)探傷儀的“水平”旋鈕，將會(huì)改變儀器的水平線性。X（ 調(diào)

16、節(jié)水平旋鈕只是使掃描線連掃描線上的回波一起左右移動(dòng)一段距離，但不改變回波間距，故也不會(huì)改變水平線性）3.37 測(cè)定儀器的“動(dòng)態(tài)范圈”時(shí)， 應(yīng)將儀器的“抑制”、 “深度補(bǔ)償”旋鈕置于“關(guān)”的位置。 V3.38 盲區(qū)與始波寬度是同一概念。X（盲區(qū)是指從檢測(cè)面到能夠發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離，盲區(qū)的大小與儀器的阻塞時(shí)間和始脈沖寬度有關(guān)）3.39 測(cè)定組合靈敏度時(shí)，可先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電噪聲電平 G0%再進(jìn)行測(cè)試。X3.40 測(cè)定“始波寬度”對(duì)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。X（靈敏度應(yīng)調(diào)到標(biāo)準(zhǔn)“0”點(diǎn)）3.41 為提高分辨力，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強(qiáng)度應(yīng)盡量調(diào)得低一些。V3.42 在數(shù)

17、字化智能超聲波探傷儀中，脈沖重復(fù)頻率又稱為采樣頻率。X3.43 雙晶探頭主要用于近表面缺陷的探測(cè)。V3.44 溫度對(duì)斜探頭折射角有影響，當(dāng)溫度升高對(duì)，折射角將變大。V3.45 日前使用最廣泛的測(cè)厚儀是共振式測(cè)厚儀。X（應(yīng)是脈沖反射式測(cè)厚儀）3.46 在鋼中折射角為60。 的斜探頭，用于探測(cè)鋁時(shí)，其折射角將變大。X （斜探頭在鋼中折射角為橫 波折射角，鋁的橫波折射角比鋼的小）3.47 “發(fā)射脈沖寬度”就是指發(fā)射脈沖的持續(xù)時(shí)間。 V3.48 軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響。V3.49 脈沖反射式和穿透式探傷，使用的探頭是同一類型的° X（ 穿透式探傷的探頭發(fā)射的是連續(xù)波）3.50

18、 聲束指向角較小且聲柬截面較窄的探頭稱作窄脈沖探頭。X4.1 在液浸式檢測(cè)中，返回探頭的聲能還不到最初值的1%。V4.2 垂直探傷時(shí)探傷面的粗糙度對(duì)反射波高的影響比斜角探傷嚴(yán)重。V4.3 超聲脈沖通過材料后，其中心頻率將變低。V4.4 串列法探傷適用于檢查垂直于探測(cè)面的平面缺陷。VX （原因是重復(fù)頻率過高）X （靈敏度太高雜波多）4.5 “靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。4.6 所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。4.7 當(dāng)量法用來測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸。X（ 當(dāng)量法適用于面積小于截面的缺陷尺寸評(píng)定）4.8 半波高度法用來測(cè)量小于聲束截

19、面的缺陷的尺寸。X4.9 串列式雙探頭法探傷即為穿透法X4.10 厚焊縫采用串列法掃查時(shí)，如焊縫余高磨平，則不存在死區(qū)。X （上下表面都存在盲區(qū)）4.11 曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。V4.12 實(shí)際探傷中，為提高掃查速度減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低° X（ 可以采用更換探頭方法來鑒別探頭雜波）4.13 采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實(shí)際尺寸。V4.14 只有當(dāng)工件中缺陷在各個(gè)方向的尺寸均大于聲束截面時(shí)，才能采用測(cè)長(zhǎng)法確定缺陷長(zhǎng)度° X（ 測(cè) 長(zhǎng)法適用于面積大于聲束截面或長(zhǎng)度大于聲束截面直徑的缺陷的評(píng)定）4.15 絕對(duì)靈敏度法測(cè)量缺陷

20、指示長(zhǎng)度時(shí)，測(cè)長(zhǎng)靈敏度高，測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度大。V4.16 當(dāng)工件內(nèi)存在較大的內(nèi)應(yīng)力時(shí)，將使超聲被的傳播速度及方向發(fā)生變化。V4.17 超聲波傾斜入射至缺陷表面時(shí)，缺陷反射波高隨入射角的增大而增高。X5.1 鋼板探傷時(shí)，通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷。X（ 還可根據(jù)底波衰減情況來判定缺陷）5.2 當(dāng)鋼板中缺陷大于聲束截面時(shí)，由于缺陷多次反射波互相干涉容易出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”° X（超聲 波脈沖相對(duì)于薄層較窄時(shí)，薄層兩側(cè)的各次反射波、透射波互不干涉，當(dāng)鋼板中缺陷大于聲束截面時(shí)同理）5.3 厚鋼板探傷中，若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，說明缺陷的尺寸一定較大。V5.4 較薄鋼板采用底波多次法探傷時(shí)，如出現(xiàn)

21、“疊加效應(yīng)”，說明鋼板中缺陷尺寸一定很大。 X5.5 復(fù)合鋼扳探傷時(shí)，可從母材一側(cè)探傷，也可從復(fù)合材料一側(cè)探傷。V5.6 用板波法探測(cè)厚度5mmz下薄鋼板時(shí)，不僅能檢出內(nèi)部缺陷，同時(shí)能檢出表面缺陷。V5.7 鋼管水浸聚焦法探傷時(shí)，不宜采用線聚焦探頭探測(cè)較短缺陷。V5.8 采用水浸聚焦探頭檢驗(yàn)鋼管時(shí)，聲透鏡的中心部分厚度應(yīng)為k/2 的整數(shù)倍。V5.9 鋼管作手工接觸法周向探傷時(shí)，應(yīng)從順、逆時(shí)針兩個(gè)方向各探傷一次。V5.10 鋼管水浸探傷時(shí)，水中加入適量活性劑是為了調(diào)節(jié)水的聲阻抗，改善透聲性。X( 為了增強(qiáng)水對(duì)鋼管表面的潤(rùn)濕作用)5.11 鋼管水浸探傷時(shí)，如鋼管中無缺陷，熒光屏上只有始波和界面波。

22、V5.12 用斜探頭對(duì)大口徑鋼管作接觸法周向探傷時(shí)，其跨距比同厚度平板大。V6.1 對(duì)軸類鍛件探傷，一般來說以縱波直探頭從徑向探測(cè)效果最佳。V6.2 使用斜探頭對(duì)軸類鍛件作圓柱面軸向探測(cè)時(shí)，探頭應(yīng)采用正反兩個(gè)方向掃查。V6.3 對(duì)餅形鍛件，采用直探頭作徑向探測(cè)是最佳的探傷方法。X6.4 調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度的底波法，其含義是鍛件掃查過程中依據(jù)底波變化情況評(píng)定鍛件質(zhì)量等級(jí)。X( 應(yīng)是根據(jù)缺陷回波情況評(píng)定質(zhì)量等級(jí))6.5 鍛件探傷中，如缺陷引起底波明顯下降或消失時(shí)，說明鍛件中存在較嚴(yán)重的缺陷。V6.6 鍛件探傷時(shí)，如缺陷被探傷人員判定為白點(diǎn)?則應(yīng)按密集缺陷評(píng)定鍛件等級(jí)。X6.7 鑄鋼件超聲波探傷，一

23、般以縱波直探頭為主。V7.1 焊縫橫波探傷中，裂紋等危害性缺陷的反射波輻一般很高。V7.2 焊縫橫波探傷時(shí)，如采用直射法，可不考慮結(jié)構(gòu)反射，變型波等干擾同波的影響。X7.3 采用雙探頭串列法掃查焊縫時(shí)，位于焊縫深度方向任何部位的缺陷，其反射波均出現(xiàn)在熒光屏上同一位置。 V7.4 焊縫探傷所用斜探頭，當(dāng)楔塊底面前部磨損較大時(shí)，其K值將變小。V7.5 焊縫橫波探傷時(shí)常采用液態(tài)耦合劑，說明橫渡可以通過液態(tài)介質(zhì)薄層。X7.6 當(dāng)焊縫中的缺陷與聲束成一定角度時(shí)，探測(cè)頻率較圖時(shí)，缺陷回波不易被探頭接收。V7.7 窄脈沖聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)是能量集中，穿透力強(qiáng)，所以適合于奧氏體鋼焊縫檢測(cè)° X(聚焦探頭的 優(yōu)點(diǎn)是聲束細(xì)，靈敏度高，信噪比高)7.8 一股不采用從堆焊層一側(cè)探測(cè)的方法檢測(cè)堆焊層缺陷。V7.9 鋁焊縫探傷應(yīng)選用較高頻率的橫波專用斜探頭。V7.10 裂縫探傷中，裂紋的回波比較尖銳，探頭轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，波很快消失。X二、選擇題1.1 以下關(guān)于諧振動(dòng)的敘述- 哪一條是錯(cuò)誤的( A )A、諧振動(dòng)就是質(zhì)點(diǎn)在作勻速圓周運(yùn)動(dòng)。B 任何復(fù)雜振動(dòng)都可視為多個(gè)諧振動(dòng)的合成C在諧振動(dòng)中，質(zhì)點(diǎn)在位移最大處受力最大，速度為零。D在諧振動(dòng)