中國可靠性國家標(biāo)準(zhǔn)目錄

1、.GB/T 3187-1994可靠性、維修性術(shù)語GB/T 4888-1985故障樹名詞術(shù)語和符號(hào)GB/T 5329-1985試驗(yàn)篩選與篩分試驗(yàn)術(shù)語GB/T 7289-1987可靠性、維修性與有效性預(yù)計(jì)報(bào)告編寫指南GB/T 7826-1987系統(tǒng)可靠性分析技術(shù)失效模式和效應(yīng)分析（FMEA）程序GB/T 7827-1987系統(tǒng)可靠性分析技術(shù)可靠性預(yù)計(jì)程序GB/T 7828-1987系統(tǒng)可靠性分析技術(shù)可靠性設(shè)計(jì)評(píng)審GB/T 7829-1987系統(tǒng)可靠性分析技術(shù)故障樹分析程序GB/T 15174-1994可靠性增長(zhǎng)大綱GB/T 10593.1-1989電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法振動(dòng)GB/T 1059

2、3.2-1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法鹽霧GB/T 10593.3-1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法振動(dòng)數(shù)據(jù)處理和歸納GB/T 2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) A：低溫試驗(yàn)方法GB/T 2423.2-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) B：高溫試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.4-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) Db：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.5-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Ea 和導(dǎo)則：沖擊GB/T 2423.6-1995

3、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Eb 和導(dǎo)則：碰撞GB/T 2423.7-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Ec 和導(dǎo)則：傾跌與翻倒（主要用于設(shè)備型樣品）GB/T 2423.8-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Ed：自由跌落GB/T 2423.9-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) Cb ：設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.10-1997電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Fc 和導(dǎo)則：振動(dòng) ( 正弦 )GB/T 2423.11-1997電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Fd：

4、寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)一般要求GB/T 2423.12-1997電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Fda ：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)高再現(xiàn)性GB/T 2423.13-1997電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Fdb ：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)中再現(xiàn)性GB/T 2423.14-1997電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Fdc ：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)低再現(xiàn)性GB/T 2423.15-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Ga 和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度GB/T 2423.16-1999電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) J 和導(dǎo)則：長(zhǎng)霉試驗(yàn)方法.G

5、B/T 2423.17-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) Ka：鹽霧試驗(yàn)方法GB/T 2423.18-2000電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）GB/T 2423.19-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法GB/T 2423.20-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) Kd：接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法GB/T 2423.21-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) M：低氣壓試驗(yàn)方法GB/T 2423.22-1987電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) N：溫度變化試驗(yàn)方法GB/T 242

6、3.23-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn) Q：密封GB/T 2423.24-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Sa：模擬地面上的太陽輻射GB/T 2423.25-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) Z/AM ：低溫 / 低氣壓綜合試驗(yàn)GB/T 2423.26-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) Z/BM ：高溫 / 低氣壓綜合試驗(yàn)GB/T 2423.27-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) Z/AMD ：低溫 / 低氣壓 / 濕熱綜合試驗(yàn)方法GB/T 2423.28-1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) T：錫焊試驗(yàn)方法GB/T 2423.

7、29-1999電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) U：引出端及整體安裝強(qiáng)度GB/T 2423.30-1999電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Xa 和導(dǎo)則：在清洗劑中浸漬GB/T 2423.31-1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)方法GB/T 2423.32-1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗(yàn)方法GB/T 2423.33-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) Kca：高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法GB/T 2423.34-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) Z/AD ：溫度 / 濕度組合試驗(yàn)方法GB/T 2423.35-

8、1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) Z/AFc ：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/ 振動(dòng) (正弦 )綜合試驗(yàn)方法GB/T 2423.36-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) Z/BFc ：散熱和非散熱樣品的高溫/ 振動(dòng) (正弦 ) 綜合試驗(yàn)方法GB/T 2423.37-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) L：砂塵試驗(yàn)方法GB/T 2423.38-1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) R：水試驗(yàn)方法GB/T 2423.39-1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) Ee：彈跳試驗(yàn)方法GB/T 2423.40-1997電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Cx：未飽

9、和高壓蒸汽恒定濕熱GB/T 2423.41-1994電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程風(fēng)壓試驗(yàn)方法GB/T 2423.42-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)低溫 / 低氣壓 / 振動(dòng) (正弦 ) 綜合試驗(yàn)方法GB/T 2423.43-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea）、碰撞（ Eb）、振動(dòng)（ Fc 和 Fb）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ca）等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則.GB/T 2423.44-1999電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Eg：撞擊 彈簧錘GB/T 2423.45-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)

10、Z/ABDM ：氣候順序GB/T 2423.46-1997電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Ef ：撞擊 擺錘GB/T 2423.47-1997電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Fg：聲振GB/T 2423.48-1997電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Ff ：振動(dòng) -時(shí)間歷程法GB/T 2423.49-1997電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Fe：振動(dòng) -正弦拍頻法GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Cy ：恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗(yàn)GB/T 2423.51-

11、2000電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn) Ke：流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)GB/T 2424.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T 2424.2-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T 2424.10-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則GB/T 2424.11-1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T 2424.12-1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T 2424.13-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T 24

12、24.14-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 試驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T 2424.15-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分 溫度 / 低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T 2424.17-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T 2424.19-1984電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程模擬貯存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T 2424.20-1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T 2424.21-1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T 2424.22-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度（低溫 / 高溫）和振動(dòng)（正

13、弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T 2424.23-1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程水試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T 2424.24-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度（低溫 / 高溫） / 低氣壓 / 振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則GB/T 2424.25-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 3 部分 試驗(yàn)導(dǎo)則地震試驗(yàn)方法GB/T 2689.1-1981恒定應(yīng)力壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)方法GB/T 2689.2-1981壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的圖估計(jì)法(用于威布爾分布 )GB/T 2689.3-1981壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的簡(jiǎn)單線性無偏估計(jì)法(用于威布爾分布 )GB/T 2689.4-1981壽命試驗(yàn)和加速壽命試

14、驗(yàn)的最好線性無偏估計(jì)法(用于威布爾分布 )GB/T 9586-1988熒光數(shù)碼顯示管加速壽命試驗(yàn)方法.GB/T 4677.14-1988印制板蒸汽 -氧氣加速老化試驗(yàn)方法GB/T 4793.1-1995測(cè)量、控制和試驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求第 1 部分：通用要求GB/T 5170.1-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則GB/T 5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備GB/T 5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備GB/T 5170.8-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備GB/T

15、5170.9-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備GB/T 5170.10-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備GB/T 5170.11-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備GB/T 5170.13-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng) (正弦 ) 試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)GB/T 5170.14-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng) (正弦 ) 試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)GB/T 5170.15-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng) (正弦 ) 試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)GB/T 5170.16-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法恒加速度試驗(yàn)用離心式試驗(yàn)機(jī)GB/T 5170.1