焊縫超聲波作業(yè)指導書

1、超聲波探傷作業(yè)指導書1適用范圍本作業(yè)指導書母材厚度在 6mm200mm 的風力發(fā)電機組塔架全熔化焊對 接焊接接頭的超聲檢測。2引用標準NB/T47013.3-2015承壓設備無損檢測-第 3 部分：超聲檢測NB/T47013.3-2015承壓設備無損檢測-第 1 部分：通用要求GB/T11259-2008 超聲波檢測用鋼制對比試塊的制作與校驗方法JB/T9214-2010A 型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測試方法JB/T10061-1999A 型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術條件JB/T10062-1999 超聲波探傷用探頭性能測試方法3試驗項目及質(zhì)量要求3.1試驗項目：風力發(fā)電機塔筒，塔架焊

2、縫 6mm-200mm 內(nèi)部缺陷超聲波探傷。3.2質(zhì)量要求3.2.1 檢驗等級的分級焊縫質(zhì)量分級：評定指標根據(jù)由缺陷引起的反射波幅（所在區(qū)域I區(qū)、U區(qū)、川區(qū)）、單個缺陷指示長度、多個缺陷指示長度L;根據(jù)質(zhì)量要求檢驗等級分I、U、川三個級，I 級最高。322 焊縫質(zhì)量等級及缺陷分級如下表所示:工件耳度亡反射童恠 所在從址允許的單亍儀陷播踴長度最大允許血盅I1100羞乃|訥,廉小可為10,暈大不砒 帥在任意那焊尊低度范圍內(nèi)T不対過r100tT3r最大不超過50U1壬60 too乞90夕4100n2V3 壘/卜可為12.最大不琵過40在任童4坤堆檜度蒞腔內(nèi) 廠不解過r 100宣沖*At丈不茹過巧II

3、I*占n尊過TI罐希HE質(zhì)有戰(zhàn)縮（任何統(tǒng)陷捋系怏度1粗過歷飆農(nóng)注1：當弾戦匱不足辦（】峨雀屯擷門儼）時，可按憂鋼折仏 當折算岳的審仕陷舉計社度把聊S小于該 縛蹈允許的單十峽陪指承丘度時.且朮許的單牛缺蘭折示也度柞為雜陷躬計注“用63.114 定的潮童方社.理阿柬垂賣于贈的主費方向移動捺處測得的淡陷卷度匸探傷比例探傷比例按 GB/T 19072-2003 技術規(guī)范要求執(zhí)行檢驗區(qū)域的選擇3.2.4.1焊縫的超聲波檢測應在焊縫及探傷表面經(jīng)外觀檢查合格后方可進 行，應劃好檢驗區(qū)域，標出檢驗區(qū)段編號。324.2檢驗區(qū)由焊接接頭檢測區(qū)寬度焊接接頭檢測區(qū)厚度表征。324.3焊接接頭檢測寬度應是焊縫本身加上焊

4、縫熔合線兩側(cè)各10mm確定。V 型坡口對接接頭檢測區(qū)示意圖如下：3233.2.4注r“衰禾齋嬢接頭檢測（度.3.2.4.4對接接頭檢測區(qū)厚度應為工件厚度加上焊縫余高3.245 超聲波檢測應覆蓋整個檢測區(qū)域。若增加檢測探頭的數(shù)量或者增加檢測面（側(cè)）還不能完全覆蓋，應增加輔助檢測，包括其他無損檢測方法。3.2.5 焊接接頭檢測面的準備3.2.5.1探頭移動區(qū)寬度a、探頭移動區(qū)域?qū)挾葢軡M足檢測到整個區(qū)域。如圖所示、二uE廠 Uli(Tb、采用一次反射法掃查探傷時，探頭移動區(qū)應大于等于1.25P:“ P=2KT ”或“ 2TtanB”，式中：P-跨距，mrp T-母材厚度，mn;K-探頭 K 值；B

5、-探頭折射角（）c、采用直射法探傷時，探頭移動區(qū)域應大于0.75P。3.2.5.2檢測面應清除焊接飛濺、鐵屑、油垢、油漆及其它外部雜質(zhì)，以免 影響超聲波耦合。檢測面表面應平整光滑，檢測面與探頭楔塊底面或保護膜間 隙不應大于 0.5mm其表面粗糙度 Ra 應小于等于 25 卩 m3.2.5.3去除余高的焊接，應將余高打磨到與臨鄰近母材平齊。保留余高焊 縫，如焊縫表面有咬邊，較大的隆起和凹陷等也應進行適當修磨，并做圓滑過 渡以免影響檢驗結(jié)果的評定。326檢測頻率與 K 值的選用326.1焊縫對接接頭檢驗頻率？： 一般在 2-5MHZ 的范圍內(nèi)選擇，特殊情況 下，可選用低于 2MHZ 區(qū)或高于 2.

6、5MHZ 的檢驗頻率，但必須保證系統(tǒng)靈敏度的 要求。頻率選定如圖所示：Xf+WX血HP326.2 K 值的選用a 、一般情況可參照表中規(guī)定選擇，在條件允許時，應盡量采用較大K 值工粹垠度折附撫U.O3O4540(1.O-2.D)2-2,5b 、采用一次反射法檢測時，K 值的選取應盡可能使主聲束與檢測面向?qū)?的底面法線夾角在 35 70之間，當選用兩種以上 K 值探頭檢測時，應至少 有一個探頭滿足要求。4儀器、試塊、耦合劑、探頭4.1 探傷儀 4.1.1 探傷儀性能采用 A 型脈沖反射式超聲波型探傷儀，其工作頻率范圍為0.5 10MHz 儀器至少在熒光屏滿刻度的 80%勺范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀

7、應具有 80dB 以上的連 續(xù)可調(diào)衰減器，步進級每檔不大于 2dB,其精度為任意相鄰 12dB 的誤差在土 1dB 以內(nèi)，最大累計誤差不超過 1dB。水平線性誤差不大于 1%垂直線性誤差不大 于 5%本公司采用的是TUD910C 超聲波探傷儀4.1.2 數(shù)字式超聲波探傷儀 TUD910C 主要技術參數(shù)：檢測范圍 025000mm 聲速范圍 40020000m/s、增益范圍 0dB110dB顯示延遲-20 卩 s+3400 卩 s、探頭零偏 0 卩 s99.99 卩 s工作頻率 0.515MHz 電噪聲水平 62dB （深 200mm2 平底孔）、分辨力 40dB（ 5P14）線性抑制 080%

8、 （數(shù)字抑制）、垂直線性誤差 3%水平線性誤差 32dB脈沖類型 方波、脈沖強度 多級可調(diào)、脈沖寬度 自動匹配 / 50 1000ns4.1.3TUD910C 超聲波探傷儀操作方法將儀器探頭線連接在探傷儀上，使用單探頭時，探頭線可以直接到儀器頂 部任何一個探頭插座上。開機啟動儀器。按“基本”鍵進入到基本功能組主菜 單，并調(diào)節(jié)“儀器檢測范圍等參數(shù)在“調(diào)?！辨I，進入到調(diào)校功能主菜單。調(diào) 節(jié)“探頭類型”、“探頭頻率”、“探頭前沿”、“晶片尺寸”，等參數(shù)在校 準中調(diào)節(jié)“材料聲速”、探頭零偏、一點聲程、二點聲程，等參數(shù)。待各參數(shù) 調(diào)節(jié)，調(diào)校準確無誤后即可進行檢測工作。4.1.4超聲波設備的使用與保養(yǎng)4.

9、1.4.1超聲波設備時用注意事項a、一起關機后必須挺 5 秒以上方可再次開機，不可重復開關機b、避免強力震動、沖擊和強磁場干擾c、不要長期放置于高溫、高濕、有腐蝕氣體的環(huán)境中d、按鍵操作不宜用力過猛，不宜用沾有油污、泥水的手直接操按鍵e 、儀器出現(xiàn)故障時，不要輕易拆卸，應以設備廠家及時聯(lián)系4.1.4.2超聲波設備的保養(yǎng)與維護a 、設備使用完畢，應對設備的外表進行清潔，然后放置與室內(nèi)干 燥通風處。b 、探頭連接接線切忌扭曲重壓，在插撥連接線時應抓住插頭根部c 、為保護設備及電池，每個月至少開機通電1.5h ，并給電池充電以免設備中重要元件受潮、電池過放電影響電池的使用壽命。d 、設備在搬動過程中

10、，應避免摔跌，強烈震動、強烈撞擊和雨、 雪等淋濕。e 、禁止用具有溶解性的物質(zhì)擦拭設備外殼。4.2 試塊4.2.1 標準試塊4.2.1.1標準試塊的基本要求標準試塊應采用與被檢工件聲學性能相同或相近的材料制成，制作時應確 認材質(zhì)均勻 , 無雜質(zhì)，無影響使用的缺陷。標準試塊外形加工的平行度，垂直度與尺寸精度均應經(jīng)過嚴格檢驗并符合JB/T7913-1995超聲波檢測用鋼制對比試塊的制作與校驗方法中的相關規(guī)定。本條采用的標準是試塊為 CSK-IA4.2.1.2 標準試塊的用途a、 校驗超聲波探傷儀的水平線性，垂直線性和動態(tài)范圍：用25mm 或 100mm 尺 寸b、調(diào)節(jié)基線比例和探測范圍：用 25m

11、n 和 100mn 尺寸c、 測定直探頭與超聲波探傷儀組合的遠場區(qū)分辨力：用85mm 91mm 100mm尺寸。d、 測定直探頭與超聲波探傷組合的盲區(qū)：用50mm 有機玻璃圓弧至兩側(cè)的距 離5mn 和 10mm 的位置測定。e、 測定直探頭與超聲波探傷儀組合的最大穿透能力：用50mm 有機玻璃底面 的多次反射波測定f、 測定斜探頭的入射點：用 R50, R100 圓弧面g、測定斜探頭的折射角度或 K 值：用50mn 或1.5mm 孔測h、 測定斜探頭的聲束偏斜角：用直角棱邊測定i、 測定斜探頭在深度方向的分辨力，用40mm44mm50mm 臺階園柱 孔。4.2.2對比試塊4.2.2.1對比試塊

12、的基本要求在不同的標準下選擇相應的對比試塊，其制作與標準試塊的要求保持一致。 本條采用的對比試塊為 CSK-HA和 CSK-MA試塊。4.2.3試塊使用原則423.1 CSK-IA, CSK-HA和 CSK-IHA試塊適用于檢測面曲率半徑大于等于 250mm 的焊接接頭超聲波檢測。423.2CSK-IA, CSK-HA試塊試用工件壁厚范圍 6mm-200mn 的焊接接頭4.2.3.3對于工件厚度范圍在 8mn 120mn!勺焊接接頭超聲波檢測可采用 CSK-MA試塊，但應對靈敏度進行適當調(diào)整予以 CSK-HA試塊保持一致。4.2.3.4對于不同工件厚度的對接接頭進行檢測時,試塊厚度的懸著應 有

13、較大工件厚度確定,掃查靈敏度和質(zhì)量分級由薄側(cè)工件厚度確定。4.2.4試塊的維護4.2.4.1相同型號的試塊應有適當?shù)牟课痪幪?以防混淆。4.2.4.2試塊在使用和搬運過程中注意保護,防止測試面損傷。4.2.4.3使用試塊應注意清除反射體內(nèi)的油污和銹蝕。常用沾油布將銹蝕部位 拋光,或用適合的去銹劑處理。4.2.4.4注意防止試塊銹蝕,使用后停放時間較長是,要涂適當?shù)姆冷P劑。4.2.4.5注意防止試塊變形,避免火烤,較薄的試塊防止重壓4.3. 耦合劑431耦合劑的作用應選用適當?shù)囊后w或模糊狀物作耦合劑。耦合劑應具備有良好透聲性和適 宜流動性，不應對材料和人體有損傷作用。同時應便于檢驗后清理。4.3

14、.2典型耦合劑典型耦合劑為水、機油、甘油和化學漿糊。在試塊上調(diào)節(jié)儀器和產(chǎn)品檢驗 應采用相同的耦合劑。433 耦合劑滿足的要求4.331能潤濕工件和探頭表面，流動性，黏度和附著力適當，不難清洗4.332聲阻抗高，透聲性能好。4.3.3.3來源廣，價格便宜。4.3.3.4對工件無腐蝕，對人體無害，不污染環(huán)境。4.3.3.5性能穩(wěn)定，不易變質(zhì)，保質(zhì)期長。4.4 探頭4.4.1對接接頭焊縫檢測時采用單晶橫波斜探頭其頻率和K 值應滿足 3.2.6.13.2.6.2中的要求，其基本性能應滿足下表要求，列表如下：序號性能描標菱車j賽本性議中嗆績席賓棚的中右般率與標稱翻率的圖差百皈稱礙率的10*賽瀏的-鬲U簾

15、寬與標林價的倫皋壓標臨價施孫算中寬帯穩(wěn)棘沖按 頭：實開的相對鼻度丑處電Bl抗進靜電弄實濯的唱抗橫或詡龜客與標輛怕的壬碎值的20*相府脈沖回疲 靈戦度實龍的相對晾沖回誠靈峻懂與標略值的怛參疙3池實桶的關沖竟度與極輛值礙It直毛誓稱值的25%.毘中豪帯電賺沖按 頭宵通胺霍峰僅下羅2MB測螢的脈沖持填時間應不題過朗牛周朋2聲東rwt*實測曲聲束護応培與標曾值的幡差痊崢韓值的1嘆哎嚴（眼帥菱大 #）GO向角和越宦向ft 2* ,聽撮頭中心Attlnun4.4.2 探頭 K 值選用原則4.4.2.1使聲束能掃查到整個焊縫截面4.4.2.2使聲束中心線盡量與主要缺陷垂直4.423保證有足夠的檢測靈敏度5儀

16、器、探頭、曲線的調(diào)校5.1 儀器與探頭的調(diào)節(jié)5.1.1 垂直線性儀器的垂直線性是指儀器顯示屏上的波幅與探頭接收的信號之間成 正比的程度。垂直線性的好壞影響缺陷定量的精度。垂直線性好壞常以 垂直線性誤差來判斷。5.1.2 垂直線性誤差測試步驟1將超聲波探傷儀的“抑制”調(diào)節(jié)到“ 0”，“衰減器”保留一定余量(30db)2直探頭置于 CSK-IA試塊上，對準 25mm 底面，并用壓塊恒定壓力3調(diào)節(jié)儀器室試塊上某次底波位于顯示屏中間位置，并達到滿波幅100%，但不飽和，記為“ 0” db4調(diào)節(jié)“衰減器”，每次衰減 2db,并記下相應波高，知道底波消失5運用公式計算垂直線性誤差，公式如下：D=(|d1|

17、+|d2| ) % 式中d1:實測值與理想值得最大正偏差d2:實測值與理想值得最大負偏差6將說的數(shù)值填入下表，衰減量 db024681012141618202224反射波高度實 測絕對H相對%理想波高%10079.463.150.139.831.625.119.915.812.6107.96.3偏差%注：表中 1. 絕對 H : 絕對波高 H2.相對%：相對波高 % ，其計算公式為：實測相對波高=Hi（衰減 db 后波高）/Ho（衰減 Odb 是波高）x100%3.理想相對波高計算公式：理想相對波高=10-20lg （Hi（衰減 db 后波高）/Ho（衰減 Odb 是波高）x100%5.1.3

18、 水平線性儀器的水平線性是指儀器顯示屏上時基線顯示的水平刻度與實際聲程 之間成正比的程度，或者說是顯示屏上多次底波等距離的程度。水平線性主要 取決掃描鋸齒波的線性。水平線性好壞直接影響定位準確性。水平線性的好壞 常用水平線性誤差來表示。5.1.4水平線性誤差測試1將直探頭置于 CSK-IA上，對準 25mm 厚的大平底面2調(diào)“微調(diào)”，“水平”，“脈沖位移”旋鈕，是顯示屏出現(xiàn)五次底波，B1-B5,且是 B1 前沿對準屏幕 2.0 基線，B5 前沿對準 10.0 基 線。3記錄 B2,B3,B4 與水平刻度基線 4.0， 6.0， 8.0 的偏差值 a2， a3， a44運用公式計算水平線性誤差S

19、=|ama0.8bX100%式中：amax a2 ， a3， a4 中的最大值b 顯示屏水平滿刻度值5.1.5衰減器精度調(diào)節(jié)衰減器精度影響著缺陷定量的準確性，準確測定衰減器精度應采用標準 衰減器進行比較，但是現(xiàn)場難以實現(xiàn)，檢測人員可以用簡易方法，大致測出衰 減器的精度。5.1.6衰減器精度測試1使2 平底孔的最大反射波高為適當高度（如：80%，記為 H12使同聲程的4 的平底孔的最大反射波出現(xiàn)在屏幕上，衰減12db,記為 H2.3運用公式估算衰減器誤差 , 公式如下：N（db）=20lg（H1/H2）JB/T9214-1999 A 型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測試方法中規(guī)定，任意相鄰 12

20、db 誤差小于等于 1db。5.2 橫波探頭的校準521 橫波斜探頭入射點 L0的校準1在 CSK-IA試塊 25mn 寬的檢測面上涂上耦合劑，然后再 R100 弧面的圓心附近前后平穩(wěn)移動，找到圓弧面的最高反射波。用尺測量探頭段部至R100 端面的距離 L,則入射點至探頭前端的距離 L02運用公式L0=100-L計算求得3 入射點測量應進行三次，取平均值，誤差小于 0.5mm 5.2.2 橫波斜探頭 K 值的校準a 、將探頭對準 50，1.5 孔的圓弧面平穩(wěn)的前后移動，當主聲束掃查至 圓弧面且其延長線通過圓心時，找到50，1.5 孔的圓弧面的最高反射波，此時測量探頭前端部至試塊段部距離L。b

21、、 運用公式K= （L + L0-35）/30計算求得c 、不同折射角（K 值）選取測量面1當折射角為 3466時，探頭放在距 50 遠面處，使用50mm 孔進行測定。2當折射角為 6075時，探頭放在距 50 近面處，使 用50mm 孔進行測定。3當折射角為 7480時,探頭放在距 1.5 近面處， 使用1.5mm 孔進行測定。5.3 基線掃描的確定5.3 掃描基線熒光屏時基線刻度可按比例調(diào)節(jié)為代表缺陷的水平距離1,深度 h 或聲程 S。5.3.2基線掃描的調(diào)節(jié)根據(jù)下列方法調(diào)節(jié)1探傷面為平面時，可在對比試塊上進行時基線掃描調(diào)節(jié)，掃描比例依據(jù)工作厚度和選用的探頭角度來確定，最大檢驗范圍應調(diào)到時

22、基線滿刻度的23以上。2探傷面曲率半徑 R W2 /4 時，可在平面對比試塊上或探傷面曲率相近 的曲面對比試塊上，進行時基線掃描調(diào)節(jié)。3探傷面曲面半徑 FKW2/4 時，探頭楔塊應磨成與工件曲面相吻合，按NB/T47013.3-2015 標準要求在對比試塊上作時基線掃描調(diào)節(jié)。5.4 距離-波幅曲線（DAC 曲線）的繪制5.4.1距離-波幅曲線（DAC 曲線）應按所用探頭和儀器在試塊上實測的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評定線、定量線和判廢線組成。評定線與定量線 （包括平定線）為I區(qū)，定量線與判廢線之間（包含定量線）為U區(qū)，判廢線 及以上區(qū)域為川區(qū)如下圖所示：542距離-波幅曲線（DAC 曲線）靈敏度

23、選擇542.1工件厚度為 6mm-200m 的焊接接頭，斜探頭或直探頭檢測時，用 CSK-HA試塊制作距離-波幅曲線（DAC 曲線）的靈敏度如下 表所示：試坎型丈tnim懵定&CSK.-UAA 4100 LDO-lOO2M4Q IW- l-MB60-MB*2 x60 4dBRZ”6dB5.4.1.2工件厚度為 8mm-120mm 勺焊接接頭，斜探頭檢測時，用CSK-IHA試塊制作距離-波幅曲線（DAC 曲線）的靈敏度如下表所示：試塊5!式工件焊度i/mm譚毎StCSK-rUA15-40 44-l2Q鼻14 I x 6-9dB lxWdfi 1 x A-dB* x 6-3dB# 1* 1

24、 x6t2dB* J x6+5dB* Lx6*l0dB541.3CSK-HA與 CSK-IHA 試塊之間靈敏度轉(zhuǎn)化5.4.3距離-波幅曲線（DAC 曲線）的繪制按照 5.2.1，5.2.2，5.2.3，5.2.4 調(diào)校好儀器和探頭的參數(shù)后，就可以制 作 DAC 曲線。依據(jù)標準 NB/T47013.3-2015 選取試塊 CSK-HA或者 CSK-IHA。541.1選擇儀器制作 DAC 按鈕，激活 DAC 曲線制作功能。5.4.1.2依據(jù)探傷需要選取試塊上深度 10mm 勺2X40 孔或者1X6孑 L，雙手移 動探頭找到其最高反射波，調(diào)節(jié)增益按鈕使波高穩(wěn)定于屏幕 80高度 ，按確定按鈕（凍結(jié)鍵）

25、，這時就選好了第一點。mEL)3： 址&（SI-）胃廢H RL)5.4.1.3按照步驟 1 的方法，依次選擇不同深度其他兩點的，找到最高波確定各 點。5.4.1.4最后選擇確定鍵（回車鍵），激活 DAC 母線曲線。按照 5.2.2.25.2.2.3中列表分別確定判廢線、定量線、評定線。5.4.4探測橫向缺陷時，應將各線靈敏度均提高 6dB。545 探傷面曲率半徑 R 小于等于W*W/4時，距離一波幅曲線的繪制應在曲 線面對比試塊上進行。5.4.6受檢工件的表面耦合損失及材質(zhì)衰減應與試塊相同， 否則應進行傳輸 損失修整，在 1 跨距聲程內(nèi)最大傳輸損差在 2dB 以內(nèi)可不進行修整。5.5

26、儀器調(diào)整的校驗5.5.1每次檢驗前應在對比試塊上對時基線掃描比例和距離一波幅曲線靈敏度進行調(diào)整或校驗。校驗點不少于兩點。5.5.2在檢驗過程中每 4h 之內(nèi)檢驗工作結(jié)束后應對時基線掃描和靈敏度進 行校驗，校驗可在對比試塊或其他等效試塊上進行。5.5.3掃描調(diào)節(jié)校驗時，如發(fā)現(xiàn)校驗點反射波在掃描線上偏移超過原校 驗點刻度讀數(shù)的 10或滿刻度 5（兩者取較小值 ） ，則掃描比例應 重新調(diào)整，前次校驗后已經(jīng)記錄的缺點，位置參數(shù)應重新測定，并 予以更正。5.5.4靈敏度校驗時，如校驗點的反射波幅比距離一波幅曲線降低 20 或2dB 以上，則儀器靈敏度應重新調(diào)整，而前次校驗后，已經(jīng)記錄 的缺陷，應對缺陷尺

27、寸參數(shù)重新測定并予以評定。6焊縫的檢驗6.1 檢驗技術等級要求6.1.1 超聲波檢測技術等級超聲波檢測的技術等級分為 A、B C 級，對于實際檢測檢測項目, 選取 A 或者 B 級，一般采用 B 級超聲波檢測。6.1.2 超聲波檢測等級的要求6.1.2.1 A級檢測：適用于工件厚度為 6mm-40m 焊接接頭的檢測。可用 一種折射角（K 值）斜探頭采用那個直射波法和一次 反射波法在焊接接頭的單面雙側(cè)進行檢測。如果條 件限制，也可以選擇雙面單側(cè)或者單面單側(cè)進行檢測。一般不對橫向缺陷進行檢測。6.1.2.2 Ba級檢測：、B 級檢測適用于工件厚度 6mm-200m 焊接接頭檢測b、一般焊接接頭進行

28、橫向檢測c、對于要求進行栓面雙側(cè)的焊接接頭，如受幾何限 制只能采用單面雙側(cè)檢測時，還應補充斜探頭作 近表面缺陷檢測。要求如下表所示：技車工特厚座mmttAtt陪檢雷直捱臭檢測觀攆去搟向掃査斗同折射犀頭輸ItA1我雙面珮匍l_25P111單匣1或12彳聲就削謹噩蘆耿建2O.75P16.2 檢測面要求6.2.1超聲波檢驗應在焊縫及探傷表面經(jīng)外觀檢驗合格并滿足325.2和 3.2.5.3 要求檢驗前探傷人員應了解受檢工件的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、曲 率、厚度、焊接方法、焊縫種類、坡口形式、焊縫余高及背面襯 墊、溝槽等情況。6.3 平板焊縫掃查6.3.1縱向焊縫的掃查探測縱向缺陷，斜探頭垂直于焊縫中心線放置在探傷

29、面上 作鋸齒型掃查。掃查速度不應大于 150mm7S,相鄰兩次探 頭移動間隔保證6.3.1.1至少有探頭寬度 10%的重疊。631.2探頭前后移動的范圍應保證掃查到全部焊縫截面及熱影響區(qū)。在保持垂直焊縫作前后移動的同時，還應作 1015左 右移動。為探測焊縫及熱影響區(qū)的橫向缺陷應進行平行和斜 平行掃查。為確定缺陷的位置、方向、形狀、觀察缺陷動態(tài) 波形或區(qū)分缺陷訊號與偽訊號，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、 環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式.如下圖所示：圖苗鎬齒型掃查前痛左右棒兔碎崛6.3.2 橫向缺陷的掃查6.3.2.1檢測焊接接頭的橫向缺陷時，可在焊接接頭的兩側(cè)邊緣時斜探頭與焊接接頭中心線成不大于 10作

30、兩個方向的斜平行掃查 如下圖所示：632.2如果焊接接頭余高磨平，探頭應在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個方向的平行掃查，如下圖所示：6.4 曲面焊縫掃查6.4.1探傷面為曲面時，按規(guī)定選用對比試塊，并采用 6.3.1 條的 方法進行檢驗。受工件幾何形狀限制，橫向缺陷探測無法 實施時，應在檢驗記錄中予以注明。6.4.2環(huán)縫檢驗時，對比試塊的曲率半徑為探傷面曲率0.9-1.5 倍的對比試塊，均可采用，對比試塊的采用。探測橫向缺陷時按 6.3.3 條的方法進行。6.4.3縱縫檢驗時，對比試塊的曲率半徑與探傷面曲率半徑之差 應小于10%。6.4.3.1根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭角度，并考慮幾何臨界角

31、的限制，確保聲束能掃查到整個焊 縫厚度；條件允許時，聲束在曲底面的入射角度 不應超過70 。6.4.3.2探頭接觸面修磨后，應注意探頭入射點和折射點角 或 K值的變化，并用曲面試塊作實際測定。7焊縫的缺陷的評定7.1 缺陷的位置7.1.2對所有反射波幅超過定量線的缺陷，均應確定其位置，最大反 射波幅所在區(qū)域和缺陷指示長度并作記錄。7.2 缺陷的指示長度7.2.1當缺陷反射波只有一個高點,且位于U區(qū)或者U區(qū)以上時,用-6db 法 （半波高度法）量其指示長度 .722當缺陷反射波峰值起伏變化,有多個高點,且均位于U區(qū)或者U區(qū)以上時,應采用斷點-6db 法量其指示長度7.2.3當缺陷最大反射波幅位于

32、區(qū) , 將探頭左右移動 , 使波幅降到評定線 ,用評定線絕對靈敏度法測量其指示長度 .7.3缺陷定量7.3.1缺陷當量，用當量平底孔直徑表示，主要用于直探頭檢驗，可 采用公式計算，DGS 曲線，試塊對比或當量計算尺確定缺陷當量尺 寸。7.3.2檢測時應對反射波幅在評定線或者評定線以上的缺陷進行定量 , 除 了按7.1 和 7.2 確定缺陷的位置、波幅和指示長度外，還應包括對 缺陷自身高度，缺陷類型進行可能的估判。7.4 缺陷類型確定（定性）7.4.1缺陷類型度確定應主要考慮焊接方法、缺陷的位置、缺陷的指示 長度、自身高度、缺陷波幅、缺陷指向性 , 再結(jié)合缺陷靜態(tài)波形和 動態(tài)波形.通常用確定點狀缺陷、線狀缺陷或面狀缺陷。7.4.2缺陷類型確定的方法7.4.2.1缺陷類型確定應按一下順序依次進行：a、缺陷波幅b、缺陷指向性c、靜態(tài)波形d、動態(tài)波形7.1.1缺陷的位置應以獲得缺陷的最大長度為準7.5 缺陷的評定7.5.1缺陷的判定應遵循 3.2.2 表中要求確定7.5.2超過評定線的信號應注意其是否具有裂