TYPEC數(shù)據(jù)線規(guī)格書

1、TYPE C數(shù)據(jù)線規(guī)格書V1.0之宇文皓月創(chuàng)作關(guān)鍵詞：TYPE C數(shù)據(jù)線摘要：本文介紹了數(shù)據(jù)線的規(guī)格，性能及測試規(guī)范。縮略語：1范圍尺度適用于TYPE A TO C數(shù)據(jù)線需求規(guī)格書，未盡規(guī)格描述以TYPE C協(xié)會規(guī)范V1.1為準。2編寫依據(jù)序號No.文件編號Doc No.文件名稱Doc Title1GJB1217電連接器試驗方法2MILSTD202GTestmethodstandardelectronicandelectricalcomponentparts3GB/T 3048電線電纜電性能試驗方法4GB4098射頻電纜試驗方法5EIA364101Attenuation Test Proced

2、ure for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or Interconnection Systems6EIA364106Standing Wave Ratio (SWR) Test Procedure for Electrical Connectors7EIA364108Impedance, Reflection Coefficient, Return Loss, and VSWR Measured in the Time and Frequency Domain Test Procedure for Electrical Co

3、nnectors, Cable Assemblies or Interconnection Systems8GB5441.2工作電容試驗電橋法9EIA364103Propagation Delay Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or Interconnection Systems10IEC 6821基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:寒冷11GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法12IEC 6822基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:干熱13GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試

4、驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法14IEC 68210電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第 2部分：試驗方法試驗 J和導(dǎo)則：長霉0020 的15GB/T 2423.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第 2部分：試驗方法試驗 J和導(dǎo)則：長霉16ASTM G 21Standard Practice for Determining Resistance of SyntheticPolymeric Materials to Fungi17IEC 615871Mechanical structures for electronic equipmentTests for IEC60917 and IEC 60297 Part 1Cli

5、matic mechanical tests and safety aspectsfor cabinets racks subracks and chassis18GR 487Generic Requirements for Electronic Equipment Cabinets19IEC 68230基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗 Db及導(dǎo)則：交變濕熱（12 + 12h循環(huán)）序號No.文件編號Doc No.文件名稱Doc Title20GB/T 2423.4電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db :交變濕熱試驗方法21IEC 68252電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第 2部分：試驗試驗 Kb:鹽霧，交變（氯化

6、鈉溶液）22GB/T 2423.18電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第 2部分：試驗試驗 Kb：鹽霧，交變（氯化 鈉溶液）23IEC 529Degrees of protection provided by enclosure(IP code)24GB 4208外殼防護等級（IP代碼）25EIA36438BCable pullout test procedure for electrical connectors26EIA36441CCable flexing test procedure for electrical connectors27IEC 60950Safety of information

7、technology equipment28EN60950Safety of information technology equipment29UL60950Safety of information technology equipment30GB4943信息技術(shù)設(shè)備的平安31IEC60332Tests on electric cabies under fire conditions32GB/T18380電纜在火焰條件下的燃燒試驗33UL1581Reference standard for electical wires,cables,and flexible cords34GR 1217

8、Generic requirements for separable electrical connectors used in telecommunications hardware35GR 950Generic Requirements forOptical Network Unit (ONU)Closures36USB TypeC Cable and Connector Specification V1.13數(shù)據(jù)線正常工作和存儲條件3.1 數(shù)據(jù)線應(yīng)能在下列條件下正常工作：3.1.1 工作環(huán)境溫度：20c+55C；（僅作單體驗證目的，與整機匹配時以整機試驗環(huán)境為準）；3.1.2 相對濕度：

9、5%- 95%3.1.3 大氣壓力:86 kPa 106kPa;3.1.4 數(shù)據(jù)線的存儲溫度：40c+85C ；4數(shù)據(jù)線主要參數(shù)4.1 數(shù)據(jù)線連線規(guī)格詳細尺寸以及工藝要求以 3D圖檔為準1、 type C金屬插頭，要求必須是整體拉伸成型，不克不及是折彎成型，不接受接縫;2、 金屬插頭部分，要求做不銹鋼原色，概況噴砂處理：50u" 150u” MATT NICKEL PLATING OVER ALL3、包管至少3A通流能力整條線纜產(chǎn)品詳細規(guī)格（BOM青單,包含端子圖紙2D &可拆解版本的3D）要有確認才干認可（認證時必須提供以上文件）。4.2 線材主體信息：4.2.1 外觀5V

10、/3A A plug TO C plug, cover 式，白色半霧面,素材細咬花處理，MT110064.2.2 主體結(jié)構(gòu)項目規(guī)格說明長度16mm不含金屬插頭部分顏色白色半霧面材質(zhì)Overmold &Cable & Housing &其他輔 料NONPVC無鹵滿足ROSH,且無如下有害物質(zhì)添加：澳系阻燃劑 Brominated Flame Retardants 氯系阻燃劑 Chlorinated Flame Retardants聚氯乙烯 Polyvinyl Chloride (PVC)鄰苯二甲酸酯 Phthalates三氧化睇 Antimony Trioxide被及其化

11、合物 Beryllium (Be) and its compounds接口USEBi BreceptacletoTYPE C plug滿足5V 3A其他應(yīng)符合5.2節(jié)測試尺度Voltage Rating:30VAC/DC導(dǎo)體材質(zhì)規(guī)格如下:SignaLName VBUS/GND材質(zhì)：鍍錫銅Wire_Gauge_(AWG)端到端阻抗不大于 80mQ絕緣材質(zhì)NONPVC須滿足5.2章節(jié)測試性能要求4.2.3關(guān)鍵尺寸4.2.3.1 USB2.0 B plug參考協(xié)會規(guī)范4.2.3.2 TYPEC plug1 .紅圈標示尺寸為重點尺寸，其余尺寸依據(jù)協(xié)會規(guī)范要求2 .各組件BOM LIST原資料信息需明確

12、到具體牌號3 .應(yīng)滿足TYPE C 2.0規(guī)格4.2.3.3鍍層厚度測試區(qū)域規(guī)定關(guān)于鍍層測試區(qū)域和方法：TYPE C/A: TYPE C/A發(fā)生接觸的關(guān)鍵區(qū)域為PIN針頭部觸點，因此鍍層工藝為考慮成本一般只覆蓋PIN針觸點位置,其他區(qū)域為flash Au,所以鍍層的量測范圍定義在PIN針觸點弧頂?shù)淖罡咛?鍍層厚度為在觸點弧>頂最高點 0.5mm的范圍內(nèi)進行丈量，同一觸點在 0.5mm范 圍內(nèi)丈量三次取平均4.2.4線序Table 320 USB TypeC to USB 2.0 AM Wiring USB TypeC PlugUSB 2.0 AMPinSignal NamePinSign

13、al NameA1, B1, A12, B12GND4GNDA4, B4, A9, B9VBUS1VBUSA5CCA6Dp13D+A7Dn12D-ShellShieldShellShieldNotes:1. Pin A5 (CC) of the USB TypeC plug shall be connected to VBUS through a resistor Rp. See Section 4.5.3.2.2 and Table 413 for the functional description and value of Rp.2. Contacts B6 and B7 should

14、not be present in the USB TypeC plug.3. All VBUS pins shall be connected together within the USB TypeC plug. Bypass capacitors are not required for the VBUS pins at this cable.4. All Ground return pins shall be connected together within the USB TypeC plug.5. All USB TypeC plug pins that are not list

15、ed in this table shall be open (not connected).Table 413 DFP CC Termination (Rp) Requirements DFP AdvertisementCurrent Source to 1.75.5 VResistor pullup to 4.75 5.5 VResistor pullup to 3.3V ±5%Default USB Power80 A 士 20%56 k Q ± 20% (Note 1)36 k Q±20%1.5 A 5 V180 A 土 8%22 k Q ± 5

16、%12 k Q ± 5%3.0 A 5 V330 A ± 8%10 k Q ± 5%4.7 k Q ± 5%Notes:1. For Rp when implemented in the USB TypeC plug on a USB TypeC to USB 3.1 StandardACable Assembly, a USB TypeC to USB 2.0 StandardA Cable Assembly, a USB TypeC to USB2.0 MicroB Receptacle Adapter Assembly or a USB TypeC

17、 captive cable connected to a USB host, a value of 56 kQ ± 5% shall be used, in order to provide tolerance to IR drop on VBUSGND in the cable assembly.5技術(shù)要求1.1 線材外觀要求1.1.1 線材外觀要求如下:外觀金屬插頭/pin腳檢查1、參照樣品和PDM圖紙檢驗，線纜兩端插頭的結(jié)構(gòu)外型（型號）要 求與樣品一致；2、插頭不允許氧化/生銹、殘破、變形；3、用干布（無塵布）能擦除的臟污，允許；用干布（無塵布）不克 不及擦除的臟污，不允許；

18、【注：金屬插頭臟污不良超出1%（不良數(shù)/樣本數(shù)）時，提交分歧格電子流確認】4、插頭上不允許有油漬；5、劃痕L< 2mm,此0.1mm,用手觸摸無深度感，允收一條；6、USB A公插頭內(nèi)不允許有溢膠的現(xiàn)象；7、USB A公插頭內(nèi)的連接器 PIN腳不允許氧化/生銹、翹高、變形、 PIN腳內(nèi)陷/斷裂不良；8、金屬插頭（USBA公以及TYPE C公）與注塑部分匹配正常，不 允許歪斜，夾角 90o±2.5o標簽檢查1、參照樣品和 PDM圖紙檢驗，標簽上的印刷圖案和字體要求一 致；2、標簽不允許破損、漏貼；注塑部位1、注塑部位（USB A公外膜、DC插頭外膜、磁環(huán)外膜）不允許缺 膠、破損；

19、2、合模線（毛邊）H< 0.2mm3、水口位（毛邊）在不刺手的前提下，H< 1mm,可接收；4、壓痕L<5mm, W 0.2mm, USB A公外膜每面允收一條，DC外膜允收一條；5、點狀壓痕 D< 1.5mm, USB A公外膜每面允收一條，DC外膜允收一條；線材外觀1、線材不允許有破損、漏銅；2、線材上不允許有臟污；3、點狀壓痕D< 2.5mm, DS> 25mm,允收6個；4、線狀壓痕L< 5mm W 1mm, DS> 25mm,允收3條；扎帶下的壓 痕允許；5、有感刮傷：L< 5mm,WS 1mm, DS> 25mm,允收2條

20、；無感刮傷： L< 30mm,VWC 1mm, DS> 30mm,允收 3 條；未盡事宜參考終端數(shù)據(jù)線檢驗通用操縱指導(dǎo)書1.2 線材性能要求Test conditionTemperature : 15C to 35 CAir pressure : 86 to106 kPaRelative humidity : 25% to 85%NOTest descriptionTest procedurePerformanceRelated standard1插拔耐久測試數(shù)據(jù)線插頭無破損，配件插頭尺 寸在規(guī)格內(nèi)，接觸良好，電氣性能正 常。測試前，測試后插拔力應(yīng)滿足要求， 樣品外觀結(jié)構(gòu)、功能及電

21、氣性能應(yīng)正 常，允許端子接觸點概況有正常磨 損，但不允許有物理損壞測試速度為12.5mm/分鐘以拔出力和拔出力測試 尺度為依據(jù)，測試 TYPEC端子插拔次數(shù)10000次（正反方向各 5000次，每2500次氏-個方向） 做完25次插拔之后，插 拔力變更不克不及超出33%A公插拔1500次測試結(jié)束后端子外觀無 異常、插拔力需要滿足 要求EIA364092拔出力EIA364131 .插拔力測試儀器2 .測試速度為12.5mm/分鐘3 .單位為N插拔耐久測試前后：Type C:拔出力520N；USB AM: 35N（MAX）EIA364133拔出力EIA36413插拔耐久測試前后：EIA364131

22、 .插拔力測試儀器2 .測試速度為12.5mm/分鐘3 .單位為NType C:拔出力820NUSB AM: 10N(Min)4滾筒測試跌落高度1米，跌落次數(shù)150次，每 50檢查一次，跌落速度參考值1012次/分次(以跌落在滾筒鐵板中心位置 為準)測試后，樣品外觀、機 械結(jié)構(gòu)應(yīng)正常，功能和 電氣性能正應(yīng)常的5端子強度測試1.F1/F2(+/Y) =50N,做到 75N 觀察損 壞情況F3,F4(+/X)=50NF5(+Z)=100NF1和F2方向的測試均采取新樣品測 試，F(xiàn)3F5方向視情況進行互用 施力點為接口到 SR處15mm (從外 殼平面量起15mm；如SR缺乏 15mm,以SR的末端

23、為施力位置，如 SR末端剛性缺乏以施加力，則以剛 性位置的末端為施力位置) 測試速度：5mm/min上下左右4個方向力量要 求大于5.0Kg ,拔出方向 要求大于10Kg ,連接器 不允許有失效，接口允 許后可恢復(fù)的變形，數(shù) 據(jù)線電氣性能正常；結(jié) 構(gòu)無松脫，無斷裂6殼體抗拉脫器件選型尺度：公頭鐵殼上掛重 10kgf,持續(xù)時間1分鐘進料檢驗尺度：公頭鐵殼上掛重 6kgf,持續(xù)時間1分鐘兩端殼體都需要測試抗 拉脫力，測試后兩端殼 體不該有脫落現(xiàn)象7端子強度耐久 測試測 試 力：F1=F2=2kgf測試次數(shù)：2000次/方向；施力點為接口到 SR處15mm (從靠 近金屬頭尾部量起 15mm。如SR

24、缺乏15mm ,以 SR的末端為施力位置，如SR末端剛性缺乏以施加力， 則以剛性位置的末端為施力位置)； 測試速度：1015次/min數(shù)據(jù)線外觀結(jié)構(gòu)、功能 及電氣性能應(yīng)正常，端 子不該有損壞或嚴重變 形8端子鍍層膜厚膜厚測試儀。Type C端/ uB母座。最 少樣品數(shù)量：每個端子 3pcsType C /Bplug Plating gold Au不小于 30，Plating NF小于 809成品電阻測試1、C TO A測試2、屏蔽層測試殼對殼3、壽命前后均要滿足阻抗要求4、滿足協(xié)會規(guī)范1.1要求25 c時實驗室測試尺度：Vbus: 0.135 最大GND : 0.135 很大線材規(guī)格1M,電源

25、22AWG10溫升測試TYPE C Vbus/GND 通電 5A(4 對 pin) , USB AM 單 VBUS/GND 通電 3ATYPE C/USB AM非電源pin腳通流 0.25A ;利用shield/GND回流，通流不低于 3A25 c時測試溫度穩(wěn)定30分鐘后測試 針對plug單體和cable組 件整體的兩項測試均需滿足任意點溫升不允許超出30度USB TypeCCable andConnectorSpecification11接觸阻抗LLCR是優(yōu)REC焊接黑占的尾部到 Plug 焊黑占，包含Plug端和Rec所有內(nèi)部的 麻子和 Paddle Cards*使用四法*測就重M 20m

26、V最大意流100mA.VBUS/GND初始接觸阻抗30mQ淇他pin初始接觸阻抗40m Q Max最大，所有Pin環(huán)境后LCCR最大土10mQ連接器13耐壓測試兩兩pin之間打（含外殼）認證測試：100VAC/60s/0.5mA產(chǎn)線測試：100VAC/0.1s/0.5mA14絕緣電阻兩兩pin之間打（含外殼）認證測試：300VDC60S 100MQ產(chǎn)線測試：300VDC/0.1S/10M?15高溫存儲轉(zhuǎn)接頭：（70+2） C ,24H完成后返回常溫停留24小時以上，進行測試連接器：（105±2） C,120H完成后返回常溫停留24小時以上，進行測試部品外觀無損壞； 線纜電氣性能正常1

27、6低溫存儲（40i2） C ,120H完成后返回常溫停留24小時以上進行測試樣品外觀無損壞； 線纜電氣性能正常17溫度沖擊采取兩箱法，低溫 40 C,高溫70 C,高低溫各停留很多于20分鐘，最大轉(zhuǎn)換時間為 20秒，10個循環(huán)。測試后，樣品外觀、機 械結(jié)構(gòu)應(yīng)正常，功能和 電氣性能應(yīng)正常18鹽霧測試5% NaCl,35 C ,連續(xù)噴霧 48小時（針 對pin針，uB鐵殼部分應(yīng)可承受至少24H連續(xù)噴霧），噴霧時接口需斜向 下放置，確保鹽霧能進入，但同時不 克不及在接口中形成積水。然后移出 進行2小時晾干。試驗后，樣品外觀應(yīng)無 明顯銹蝕、變色、及鍍 層剝落等現(xiàn)象。VBUS/GND初始接觸阻 抗30r

28、nQ ,其他pin初始接 觸阻抗40rnQ Max最大， 所有Pin環(huán)境后LCCR最大土曾量懸10 mQ （僅針對連接器）EIA 36419可溫可濕試驗溫度（70 ±2 ） C ,濕度 （85 3）%RH ,進行168小時樣品外觀無損壞；主要考察膠 料和線料20交變濕熱2555c ,相對濕度（95七）,168小時測試后，樣品外觀、機 械結(jié)構(gòu)應(yīng)正常，功能和 電氣性能應(yīng)正常主要考察端 子21混合氣體腐蝕 測試測試時間：7天，產(chǎn)品狀態(tài)：5天非配插，5天配插，溫濕度：70%RH, 30 C,氣體種類：Cl2 : 10+/3 ppb, NO2:200+/50 ppb, H2S: 10+/5 p

29、pb, SO2:試驗后，樣品外觀應(yīng)無 明顯腐蝕、變色、及鍍 層剝落等現(xiàn)象，功能應(yīng) 正常。VBUS/GND初始接觸阻連接器100+/20 ppb抗30mQ淇他pin初始接 觸阻抗40mQ Max最大， 所有Pin環(huán)境后LCCR最大土曾量懸10mQ （僅針對連接器）22耐化學(xué)溶劑測 試將家用化學(xué)物品（1.護手霜；2.防曬 乳液；3.口紅；4.化妝粉底；5.驅(qū)蟲凍 膠；6.食用油，所用化學(xué)用品型號或 配方為我司終端現(xiàn)有用品）涂在線 纜、SR、殼體上。放置 72小時后用 水清洗掉家用化學(xué)品再放置兩個小時 后檢查2.將以下溶劑（1.汽油；2.酒 精；3.人工汗液；4.5%食鹽水，所用 化學(xué)用品型號或配方

30、為我司終端現(xiàn)有 用品）涂在線纜、 SR、殼體上。放置 72小時（汽油放置 24小時）后用水 清洗掉溶劑再放置兩個小時后檢查線纜、SR、殼體不會有 明顯腐蝕、開裂23耐UV輻射測 試耐UV輻照進行1個循環(huán)為24小時的測 試，具體為在干熱40c下，太陽輻射強度為1120W/ m2,堅持20小時，再關(guān)閉太陽輻 射源4小時，試驗持續(xù)循環(huán)96小時24EMC參考終端產(chǎn)品USB數(shù)據(jù)線充電線可靠性測試規(guī)范V1.2EMC class A 尺度CE/FCC25DifferentialImpedanceThis test ensures that the D+/D- lines of the cable assem

31、bly have the proper impedance.For the entire cable assembly.75 ohms min and 105 ohms max.400 ps rise time (20%80%).EIA 36410826Propagation DelayThe purpose of the test is to verify the endtoend propagation of the D+/D- lines of the cable assembly.20 ns max.400 ps rise time (20%80%).EIA 36410327Intrapair SkewThis test ensures that the signal on both the D+ and D- lines of cable assembly arrive at the receiver at the same time.100 ps max.400 ps rise time (20%80%).EIA364 - 103D+/D- PairAttenuationThis test ensures the D+/D- pair o