TIME 超聲波操作規(guī)程

1、TIME 1100超聲波探傷儀操作規(guī)程一、操作方法1、斜探頭檢測(cè)1 ）打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)。2 ）設(shè)置儀器的初始參數(shù)：探測(cè)范圍、聲速、延遲、重復(fù)頻率、發(fā)射方式、阻尼、厚度（“基本”菜單中）。3） 探頭校準(zhǔn)探頭校準(zhǔn)通常需要以下步驟:1、校準(zhǔn)入射點(diǎn)(探頭前沿)；2、校準(zhǔn)探頭角度(K值)；3、校準(zhǔn)材料聲速；4、校準(zhǔn)探頭零點(diǎn)。1、 校準(zhǔn)入射點(diǎn)(探頭前沿)：用IIW試塊(又稱(chēng)荷蘭試塊)或CSK-IA試塊測(cè)探頭零點(diǎn)，首選將儀器聲速調(diào)節(jié)為3230m/s，顯示范圍為150mm，然后開(kāi)始測(cè)試，用戶將探頭放在試塊上并移動(dòng)，使得R100mm的圓弧面的反射體回波達(dá)到最高，用直尺量出探頭前端面和試塊R100mm弧圓心距離，此值

2、即為該探頭的前沿值，R 100 mm弧圓心對(duì)應(yīng)探頭上的位置即為探頭的入射點(diǎn)。2、 校準(zhǔn)探頭角度(K值)：用角度值標(biāo)定的探頭可用IIW試塊校準(zhǔn)，如果是用K值標(biāo)定的探頭，可用CSK-IA試塊校準(zhǔn)。這兩種試塊上有角度或K值的標(biāo)尺，按探頭標(biāo)稱(chēng)值選擇合適的標(biāo)尺(右圖所示，在IIW試塊上側(cè)可校準(zhǔn)60-76度的探頭，下側(cè)可校準(zhǔn)74-80度的探頭，CSK-IA試塊上側(cè)可校準(zhǔn)K2.0、K2.5、 K3.0的探頭，下側(cè)可校準(zhǔn)K1.0、K1.5的探頭。按試塊上的標(biāo)定值選擇用合適的校準(zhǔn)試塊及校準(zhǔn)方法)。如放置探頭，左右移動(dòng)使得反射體回波達(dá)到最高，此時(shí)入射點(diǎn)對(duì)應(yīng)的刻度就是探頭的角度或K值。3、 校準(zhǔn)材料聲速按照1中所述

3、找到R100mm的最高反射波，調(diào)節(jié)顯示范圍使得屏幕上能顯示該弧面的二次回波，選擇閘門(mén)方式為雙閘門(mén)，調(diào)節(jié)A閘門(mén)與一次回波相交，調(diào)節(jié)B閘門(mén)與二次回波相交，調(diào)節(jié)聲速值使得狀態(tài)行中聲程測(cè)量值(S)為100，此時(shí)得到的聲速值即為該材料的實(shí)際聲速值。4、 校準(zhǔn)探頭零點(diǎn)保持上面的測(cè)量狀態(tài)，將閘門(mén)方式改為正或負(fù)，調(diào)節(jié)探頭零點(diǎn)使得狀態(tài)行中聲程測(cè)量值(S)再次為100，此時(shí)得到的探頭零點(diǎn)值即為該探頭的零點(diǎn)值。4）DAC曲線應(yīng)用方法1、調(diào)整顯示范圍通過(guò)翻頁(yè)鍵及功能鍵<<F1>選擇基本功能組，調(diào)整顯示范圍，使DAC曲線標(biāo)定制作時(shí)不會(huì)超出該顯示范圍。2、制作DAC曲線進(jìn)入DAC標(biāo)定界面，添加標(biāo)定點(diǎn)，當(dāng)

4、添加兩個(gè)標(biāo)定點(diǎn)后，將會(huì)在儀器上自動(dòng)繪制DAC曲線。繼續(xù)添加適當(dāng)數(shù)量的標(biāo)定點(diǎn)。DAC曲線制作完成后，可返回主界面。3、調(diào)節(jié)三條偏置曲線的偏置值通過(guò)翻頁(yè)鍵及功能鍵<<F2>選擇DAC功能組，按檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定調(diào)整三條偏置曲線，即DAC評(píng)定線、DAC定量線、DAC判廢線的偏置值到需要的設(shè)置。4、表面粗糙度補(bǔ)償通過(guò)翻頁(yè)鍵及功能鍵<F2>選擇DAC功能組，調(diào)節(jié)增益校正功能菜單，對(duì)工件表面粗糙度進(jìn)行補(bǔ)償，如標(biāo)準(zhǔn)中需要補(bǔ)償5dB，則將增益校正調(diào)節(jié)為-5dB，此時(shí)三條DAC偏置曲線將下降5dB，用戶可相應(yīng)的調(diào)節(jié)儀器增益，使得儀器探傷靈敏度相應(yīng)的增加5dB。 三條DAC曲線將屏幕劃分為

5、1、2、3三個(gè)區(qū)域，現(xiàn)場(chǎng)探傷時(shí)這三條DAC曲線將繪制在屏幕上，操作者可根據(jù)反射體回波高度所在的區(qū)域來(lái)直接確定缺陷性質(zhì)。5、繪制好的DAC曲線如圖:6、當(dāng)量計(jì)算如果希望測(cè)量閘門(mén)內(nèi)缺陷回波的當(dāng)量值，可通過(guò)翻頁(yè)鍵及功能鍵<F4>選擇顯示功能組，選擇A, B或C顯示區(qū)，將其調(diào)節(jié)為當(dāng)量SZ，然后通過(guò)翻頁(yè)鍵及功能鍵<F2>選擇DAC功能組，調(diào)節(jié)當(dāng)量標(biāo)準(zhǔn)將相應(yīng)的DAC偏置曲線作為測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)。7、DAC曲線保存將制作完成的DAC曲線以及相關(guān)的參數(shù)設(shè)置保存到波形文件中。以便于以后使用。8、現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用實(shí)際應(yīng)用時(shí)請(qǐng)先選擇上述制作的DAC曲線所在的文件，此時(shí)該文件下的DAC曲線將被繪制到屏幕上(

6、如果DAC曲線沒(méi)有被繪制，請(qǐng)檢查DAC顯示功能菜單是否設(shè)置為開(kāi))，該文件中的參數(shù)設(shè)置同時(shí)被調(diào)入，并成為當(dāng)前的探傷參數(shù)。5）到現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)時(shí)，從儀器存儲(chǔ)號(hào)中調(diào)出之前設(shè)定好的探傷工藝，如有必要，在當(dāng)前靈敏度基礎(chǔ)上補(bǔ)償掃差靈敏度并開(kāi)始檢測(cè)工作。6）根據(jù)檢測(cè)過(guò)程中所出現(xiàn)回波位置、波幅及與DAC曲線dB差（可使用閘門(mén)套住該回波后在測(cè)量數(shù)據(jù)區(qū)讀出）判別是否缺陷回波并計(jì)算其當(dāng)量、長(zhǎng)度及區(qū)域。2、直探頭檢測(cè)1 ）打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)。2 ）設(shè)置儀器的初始參數(shù)：探測(cè)范圍、聲速、延遲、重復(fù)頻率、發(fā)射方式、阻尼、厚度（“基本”菜單中“）。3） 校正儀器零點(diǎn)及聲速。將材料聲速設(shè)置為已知材料聲速，把探頭耦合到校準(zhǔn)試塊上，設(shè)定閘門(mén)為

7、進(jìn)波報(bào)警，把閘門(mén)套住一次回波，此時(shí)聲程測(cè)量的就是一次回波處的聲程，調(diào)節(jié)探頭零點(diǎn)，使得狀態(tài)行的聲程測(cè)量值與試塊的已知厚度相同，此時(shí)所得的探頭零點(diǎn)幾位準(zhǔn)確的探頭零點(diǎn)值。4）確定檢測(cè)的底波或基準(zhǔn)靈敏度，并在此靈敏度的基礎(chǔ)上增加補(bǔ)償?shù)撵`敏度。5）設(shè)置檢測(cè)時(shí)的儀器探測(cè)范圍，保存當(dāng)前儀器狀態(tài)設(shè)定到空白數(shù)據(jù)集內(nèi)，記錄該存儲(chǔ)號(hào)。6）到現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)時(shí)，從儀器存儲(chǔ)號(hào)中調(diào)出之前設(shè)定好的探傷工藝（如有必要，在當(dāng)前靈敏度基礎(chǔ)上補(bǔ)償掃差靈敏度），開(kāi)始檢測(cè)工作。7）根據(jù)檢測(cè)過(guò)程中所出現(xiàn)回波位置及波幅（可使用閘門(mén)套住該回波后在測(cè)量數(shù)據(jù)區(qū)讀出）判別是否缺陷回波及計(jì)算器當(dāng)量，并根據(jù)所用工藝標(biāo)準(zhǔn)最終對(duì)工件進(jìn)行評(píng)判。二、注意事項(xiàng)1、檢測(cè)完畢，關(guān)機(jī)并做基本的保養(yǎng)，如擦拭等；2、儀器連續(xù)工作四小時(shí)以上時(shí)需重新校正靈敏度；3、使用中出現(xiàn)故障，立即關(guān)機(jī)并拿回聯(lián)系維修；4、作好使用及維護(hù)記錄。5、切勿在插頭連接松動(dòng)的插座上使用適配器（