遼寧省無損檢測(cè)RT問答題

1、1.1簡(jiǎn)答連續(xù) X 射線產(chǎn)生機(jī)理。 答：根據(jù)經(jīng)典電動(dòng)力學(xué)理論，在 X 射線管內(nèi)高速運(yùn)動(dòng)的電子與靶原子碰撞時(shí)，與原子 核的庫侖場(chǎng)相互作用，由于電子急劇減速而產(chǎn)生電磁輻射，稱為韌致輻射。電子與靶相撞前 初速度各不相同，相撞時(shí)減速過程又各不相同，少量電子經(jīng)一次撞擊就失去全部動(dòng)能，而大 部分電子經(jīng)過多次制動(dòng)逐漸喪失動(dòng)能，這就使能量轉(zhuǎn)換過程中所發(fā)出的電磁輻射具有各種波長(zhǎng)，因此，X 射線的波譜呈連續(xù)分布，就產(chǎn)生了連續(xù) X 射線。1.2工業(yè)檢測(cè)中 X 射線的總強(qiáng)度與哪些因素有關(guān)？ 答： X 射線束在某一垂直截面的總強(qiáng)度 I總與管電流 i 成正比，與陽極靶材料的子 序數(shù) Z成正比，與管電壓 V 的平方成正比。

2、即：I總KiZiV2。1.3簡(jiǎn)答 X 射線和 射線的性質(zhì)？ 答：射線和 射線有以下性質(zhì)： （1）射線和 射線同屬于電磁波，在真空中以光速直線傳播。（2）本身不帶電，不受電場(chǎng)和磁場(chǎng)的影響。（3）在物質(zhì)界面只能發(fā)生漫反射，折射系數(shù)接近于 1，折射方向改變的不明顯。（4）僅在晶體光柵中才產(chǎn)生干涉和衍射現(xiàn)象。（5）不可見，能夠穿透可見光不能穿透的物質(zhì)。 （6）在穿透物體過程中，會(huì)與某些物質(zhì)會(huì)發(fā)生復(fù)雜的物理和化學(xué)作用，例如電離作用、熒光作用、熱作用和光化學(xué)作用。（7）具有輻射生物效應(yīng)，能夠殺傷生物細(xì)胞，破壞生物組織等1.4X 射線和 射線有哪些不同點(diǎn)？ 答：兩者的有以下區(qū)別：（1）X 射線是韌致輻射的產(chǎn)

3、物，而 射線是放射性同位素原子核衰變的產(chǎn)物；（2）X 射線是連續(xù)譜， 射線是線狀譜；（3）X 射線的能量取決于加速電子的管電壓， 射線的能量取決于放射性同位素的種類；（4）X 射線的強(qiáng)度可控， 射線的強(qiáng)度不可控.1.5什么是光電效應(yīng)？ 答： 當(dāng)光子與物質(zhì)原子的內(nèi)層束縛電子作用時(shí)，光子與原子中的軌道電子發(fā)生彈性碰撞，光子的全部能量傳遞給軌道電子，使這個(gè)電子脫離軌道發(fā)射出去，而光子本身消失，這一現(xiàn)象稱為光電效應(yīng)。1.6什么是康普頓效應(yīng)？答：光子與物質(zhì)原子核的外層電子或自由電子發(fā)生非彈性碰撞時(shí)，光子自身能量減少， 波長(zhǎng)變長(zhǎng)，改變運(yùn)動(dòng)方向成為散射光子；電子獲得光子一部分能量成為反沖電子，這一過程 稱康

4、普頓效應(yīng)。1.7射線與物質(zhì)各種相互作用對(duì)射線檢測(cè)質(zhì)量的影響？ 答；光電效應(yīng)和電子對(duì)效應(yīng)引起的吸收有利于提高射線照相對(duì)比度，康普頓效應(yīng)產(chǎn)生的散 射線會(huì)降低對(duì)比度。 1.8什么叫多色射線的線質(zhì)硬化現(xiàn)象？ 答：多色射線穿透物質(zhì)過程中,能量較低的射線分量強(qiáng)度衰減多，而能量較高的射線分 量強(qiáng)度衰減相對(duì)較少,波長(zhǎng)較長(zhǎng)部分射線強(qiáng)度衰減較大,從而使透射射線的平均波長(zhǎng)變短。這 樣,透射射線的平均能量將高于初始射線的平均能量,此過程被稱為多色射線穿透物質(zhì)過程 的線質(zhì)硬化現(xiàn)象。1.9簡(jiǎn)答 X、 射線照相的基本原理 答：由于射線具有穿透物體，在物質(zhì)中具有衰減作用和衰減規(guī)律，能使某些物質(zhì)產(chǎn)生光 化學(xué)作用和熒光現(xiàn)象等性質(zhì)

5、。當(dāng)射線穿過工件達(dá)到膠片上時(shí)，由于無缺陷部位和有缺陷處的 密度或厚度不同，射線在這些部位的衰減不同，因而射線透過這些部位照射到膠片上的強(qiáng)度 不同，致使膠片感光程度不同，經(jīng)暗室處理后就產(chǎn)了不同的黑度。根據(jù)底片上的黑度差，評(píng) 片人員借助觀片燈即可判斷缺陷情況并評(píng)價(jià)工件質(zhì)量。2.1X 射線管陽極冷卻方式有幾種？冷卻重要性？ 答:(1) X 射線管陽極冷卻方式: 輻射散熱、沖油冷卻、旋轉(zhuǎn)陽極自然冷卻三種。 (2)X 射線管如不及時(shí)冷卻, 陽極過熱會(huì)排出氣體,降低管子的真空度,嚴(yán)重過熱時(shí)將靶 面熔化至龜裂脫落,使整個(gè)管子喪失工作能力。 2.2簡(jiǎn)答移動(dòng)式 X 射線機(jī)由哪幾部分組成？各部分又包括哪些組件？

6、答：(1) X 射線機(jī)由高壓部分、冷卻部分、保護(hù)部分和控制部分組成。 (2)a.高壓部分由 X 射線管、高壓發(fā)生器及高壓電纜等。 b.冷卻部分由冷卻水管,冷卻油管, 冷卻油箱，攪拌油泵，循環(huán)油泵，油泵電機(jī)，保護(hù)繼電器。c.保護(hù)部分由每一個(gè)獨(dú)立電路的短路過流保護(hù)，X 射線管陽極冷卻的保護(hù)，X 射線管的過載保護(hù)，零位保護(hù)，接地保護(hù)，其它保護(hù)。 d.控制部分由管電壓的調(diào)節(jié),管電流的調(diào)節(jié),操作指示。2.3保證 X 射線管使用壽命的措施主要有哪幾條？答：保證 X 射線管使用壽命的措施:（1） 在送高壓前，燈絲必須提前預(yù)熱、活化。 （2） 使用負(fù)荷應(yīng)控制在最高管電壓的 90%內(nèi)。（3） 使用過程中一定要保

7、證陽極的冷卻，要按照規(guī)定保證工作和間息時(shí)間設(shè)置 1:1。(4） 嚴(yán)格按照說明書要求訓(xùn)機(jī)。 （5）X 射線機(jī)應(yīng)輕搬輕放，防止受震。2.4X 射線機(jī)在使用過程中應(yīng)注意哪些事項(xiàng)？ 答：（1）每天使用前要按說明書的規(guī)定認(rèn)真訓(xùn)（2）為避免漏電控制箱要可靠地接地；（3）檢查電源波動(dòng)性，必要時(shí)加穩(wěn)壓裝置；（4）至少送高壓前 2 分鐘預(yù)熱；（5）X 射線機(jī)工作的全過程中要冷卻；(6)為防止X射線管過熱，一般要求工作和休息時(shí)間為 1:1。 2.5新的或長(zhǎng)期停止使用的 X 光機(jī)，使用前為什么要進(jìn)行訓(xùn)練？ 答：因?yàn)?X 射線管必須在高真空度（10-4mm 水銀柱高以上）狀態(tài)才能正常工作，由于管 內(nèi)會(huì)發(fā)生氣體的放出和

8、吸收，使真空度降低，訓(xùn)練的目的是將管內(nèi)氣體排出，提高真空度。因此， 對(duì)新的或長(zhǎng)期停用的 X 射線機(jī)要進(jìn)行訓(xùn)練，才能正式使用。2.6簡(jiǎn)答 射線檢測(cè)設(shè)備組成及其檢測(cè)優(yōu)缺點(diǎn)？ 答： 射線檢測(cè)設(shè)備分五部分：源組件、探傷機(jī)機(jī)體、驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)、輸源管和附件。 其檢測(cè)主要優(yōu)點(diǎn)為： （l）射線能量高，穿透力強(qiáng)，檢測(cè)厚度大；（2）設(shè)備體積小，重量輕，不用水,不用電,特別適用于野外作業(yè)和在用設(shè)備的檢測(cè)；(3)效率高,對(duì)環(huán)向?qū)咏宇^和球罐的對(duì)接接頭可進(jìn)行周向曝光和全景曝光。 (4)可以連續(xù)運(yùn)行,且不受溫度、壓力、磁場(chǎng)等外界條件影響。 (5)設(shè)備故障低,易損部件少。 (6)與同等穿透力的 X 射線機(jī)相比,價(jià)格低。 主要缺

9、點(diǎn)： （1） 射線源都有一定的半衰期，有些半衰期較短的射源，給使用帶來不便。（2）射源能量固定，無法根據(jù)試樣壁厚進(jìn)行調(diào)節(jié)，當(dāng)穿透厚度與能量不適配時(shí)，靈敏度下降較嚴(yán)重。（3）放射強(qiáng)度隨時(shí)間減弱，無法進(jìn)行調(diào)節(jié)，當(dāng)源強(qiáng)度較小時(shí)，曝光時(shí)間過長(zhǎng)會(huì)不方便（4）固有不清晰度一般比 X 射線機(jī)大，用同樣的器材及透照技術(shù)條件，其靈敏度低于X 射線機(jī)；（5）對(duì)安全防護(hù)要求高，管理嚴(yán)格。同的 射線源，即使放射性活度相同，也并不表示它們?cè)趩挝粫r(shí)間內(nèi)輻射的 射線光量子數(shù) 目相同，這是因?yàn)椴煌姆派湫酝凰卦谝粋€(gè)核的衰變中放出的 射線光量子數(shù)目可以不 同。所以放射性活度并不等于 射線源的強(qiáng)度，對(duì)同一種放射性同位素源，放射

10、性活度大的 源其輻射的 射線強(qiáng)度也大；但對(duì)非同種放射性同位素的源則不一定。2.7何謂放射性活度？它與 射線源的強(qiáng)度有何聯(lián)系？ 答：（1）放射性活度是指射線源在單位時(shí)間內(nèi)發(fā)生的衰變數(shù)； （2）對(duì)同一種 射線源，放射性活度大的源在單位時(shí)間內(nèi)將輻射更多的 射線；不同的 射線源，即使放射性活度相同，也并不表示它們?cè)趩挝粫r(shí)間內(nèi)輻射的 射線光量子數(shù) 目相同，這是因?yàn)椴煌姆派湫酝凰卦谝粋€(gè)核的衰變中放出的 射線光量子數(shù)目可以不 同。所以放射性活度并不等于 射線源的強(qiáng)度，對(duì)同一種放射性同位素源，放射性活度大的 源其輻射的 射線強(qiáng)度也大；但對(duì)非同種放射性同位素的源則不一定。2.8什么叫半價(jià)層？它有何用途？ 答

11、；(1)使入射射線強(qiáng)度減少一半的吸收物質(zhì)的厚度稱作半價(jià)層，用符號(hào) T1/2 表示。 (2)半價(jià)層不是個(gè)常數(shù)，通常利用半價(jià)層來分析缺陷的檢出能力，在屏蔽防護(hù)中估算材料厚度。2.9射線膠片由哪幾部分構(gòu)成？并簡(jiǎn)述潛影和潛影衰退機(jī)理。 答：(1)膠片結(jié)構(gòu): 由片基、結(jié)合層、感光乳劑層、保護(hù)層組成。(2) 潛影的產(chǎn)生是銀離子接受電子還原成銀的過程。用化學(xué)方程式表示，即： 照射前：AgBr=Ag+Br_ 照射后：Br_+h Br+e Ag+eAg(3)潛影衰退是構(gòu)成潛影中心的銀又被空氣氧化而變成銀離子的逆變過程。2.10射線膠片感光特性有哪些？增感型膠片和非增感型膠片的特性曲線有何區(qū)別？非增 感型膠片的黑

12、度與膠片梯度 G 值關(guān)系如何？ 答：(1) 射線膠片的感光特性主要有：感光度（S）、梯度（G）、灰霧度（D0）、寬容度（L）、最大密度（Dmax）。(2) 增感型膠片的特性曲線可分為六個(gè)區(qū)段，即：本底灰霧度區(qū)、曝光遲鈍區(qū)、曝光不足區(qū)、曝光正常區(qū)、曝光過度區(qū)、反轉(zhuǎn)區(qū)。非增感型膠片特性曲線上沒有曝光過度區(qū)和反轉(zhuǎn)區(qū)。(3)在射線照相應(yīng)用范圍內(nèi)，在相同顯影條件下，對(duì)于同一種非增感型膠片梯度 G 值隨著黑度的增大而增大2.11何謂射線膠片系統(tǒng)？其分類依據(jù)是什么？ 答：（1）射線膠片系統(tǒng)是射線膠片、增感屏（材質(zhì)、厚度）和沖洗條件（方式、配方、溫度、時(shí)間）的組合。 （2）膠片分類依據(jù)成像的四個(gè)特性參數(shù)：即

13、D=2.0 和 D=4.0 時(shí)的最小梯度 Gmin,D=2.0 時(shí)的 最大顆粒度 max 及 D=2.0 時(shí)的最小梯噪比（G/ D）min。 2.12射線檢測(cè)膠片在保管過程中應(yīng)注意哪些問題？ 答：在保存過程中應(yīng)注意: （1）膠片不可接近氨、硫化氫、煤氣、乙炔和酸等有害氣體，否則會(huì)產(chǎn)生灰霧。 （2）膠片必須保存在低溫低濕環(huán)境中，溫度通常以 1015最好，濕度應(yīng)保持在 5565%之間。（3）膠片應(yīng)遠(yuǎn)離熱源和射線的影響。（4）膠片應(yīng)豎放，避免受壓。2.13金屬增感屏有哪些作用？哪些金屬材料可用作增感屏？ 答：(1)金屬增感屏作用:(a)增感效應(yīng): 金屬屏受透射射線激發(fā)產(chǎn)生二次電子和二次射線,二次電子

14、與二次射線 能量很低,極易被膠片吸收,從而能增加對(duì)膠片的感光作用。(b)吸收效應(yīng)：對(duì)波長(zhǎng)較長(zhǎng)的散射線有吸收作用,從而減少散射線引起的灰霧度,提高影 像對(duì)比度。(2)金屬增感屏常用的材料有鉛、鎢、鉭、鉬、銅、鐵等。2.14使用過程中什么情況下需要更換增感屏？ 答：（1）增感屏卷曲、受折后。（2）鉛箔的表面有劃傷或開裂。（3）鉛箔表面有油污。（4）鉛箔表面受顯影液或定影液污染。（5）增感屏磨損嚴(yán)重，不起增感作用。2.15什么是像質(zhì)計(jì)？像質(zhì)計(jì)有哪幾種類型？ 答：(1) 像質(zhì)計(jì)是用來檢查和定量評(píng)價(jià)射線底片影像質(zhì)量的工具。 (2)像質(zhì)計(jì)的主要類型有：金屬絲型、孔型和槽型三種。 3.1 影響射線照相影像質(zhì)

15、量的要素是什么？ 答：影響射線照相質(zhì)量的三要素是：對(duì)比度、不清晰度、顆粒度。對(duì)比度：底片上小缺陷或細(xì)節(jié)與其周圍背景的黑度差。不清晰度：底片上影像輪廓邊緣黑度的寬度。顆粒度：射線底片上疊加在工件影像上的黑度隨機(jī)漲落，即影像黑度的不均勻程度。3.2什么是射線照相靈敏度？射線照相靈敏度與像質(zhì)計(jì)靈敏度是什么關(guān)系？ 答：（1）射線照相靈敏度，也可稱為自然缺陷檢出靈敏度，是指在射線底片上可以發(fā)現(xiàn) 和識(shí)別細(xì)小自然缺陷影像的難易程度。（2）在實(shí)際應(yīng)用中，用自然缺陷來評(píng)價(jià)射線照相靈敏度顯然是不現(xiàn)實(shí)的，為便于定量評(píng)價(jià)射線照相靈敏度，常用像質(zhì)計(jì)作為底片影像質(zhì)量的監(jiān)測(cè)工具，由此得到的靈敏度稱為像質(zhì)計(jì)靈敏度。像質(zhì)計(jì)靈敏

16、度的提高，表示底片像質(zhì)水平也相應(yīng)提高，因而也能間接地反映出射線照相對(duì)最小自然缺陷檢出能力的提高。但像質(zhì)計(jì)靈敏度并不等于自然缺陷檢出靈敏度，后者的情況要復(fù)雜的多，它是缺陷自身幾何形狀、吸收系數(shù)、位置及取向角度的復(fù)合函數(shù)。3.3膠片對(duì)比度取決于哪些條件？ 答： 膠片對(duì)比度取決于: (1)膠片類型（或梯度）。 (2)顯影條件（配方、時(shí)間、活度、溫度、攪動(dòng)）。 (3)底片黑度。 (4)增感方式。 3.4 就底片對(duì)比度公式討論如何提高底片對(duì)比度？ 答：底片對(duì)比度公式: D = -0.434G T/(1n)提高對(duì)比度的主要途徑: 增大 值:在保證穿透的前提下,盡量采用能量較低的射線。 增大 G 值: 可選

17、用 G 值高的微粒膠片。 提高T 值: 選擇適當(dāng)?shù)耐刚辗较蚧蚩刂埔欢ǖ耐刚战嵌取?減小 n 值: 要減小散射比就要在透照過程中采用有效措施控制和屏蔽散射線。3.5 何謂幾何不清晰度？其主要影響因素有哪些？ 答：由于射線源都具有一定尺寸，所以透照工件時(shí), 工件中缺陷在底片上影像邊緣會(huì)產(chǎn) 生一定寬度的半影。這個(gè)半影寬度便是幾何不清晰 Ug。幾何不清晰度 Ug 值的計(jì)算公式為：Ug = db0/(F-b0)式中 F：焦距（射線源至膠片的距離）； b0：缺陷至膠片距離；d ：射線源尺寸。由上式可知，Ug 值與射線源的尺寸和缺陷至膠片距離成正比，與射線源至工件表面距離成反比。3.6何謂固有不清晰度？固有

18、不清晰度取決于哪些條件？ 答：(1) 固有不清晰度是由照射到膠片上的射線在乳劑層中激發(fā)出的電子的散射所產(chǎn)生的固有不清晰度的大小就是散射電子在膠片乳劑層中作用的平均距離。(2) 固有不清晰度取決于:a.射線的能量 ；b. 增感屏種類、厚度以及使用情況；c.屏片貼緊程度。3.7射線照相顆粒度取決于哪些條件？ 答：取決于： 膠片的銀鹽粒度和感光速度。 射線的能量。 顯影條件（配方、時(shí)間、活度、溫度）。 曝光量和底片黑度。 3.8 何謂最小可見對(duì)比度DMIN？它與射線照相對(duì)比度D 的關(guān)系？ 答：在底片上能夠識(shí)別的某一尺寸影像的最小黑度差稱為可見對(duì)比度，又稱識(shí)別界限 對(duì)比度。射線照相對(duì)比度D 是底片上客

19、觀存在的量值，而DMIN 反映的是在一定條件下，人眼對(duì)底片黑度差的辨別能力，即識(shí)別靈敏度。兩者的關(guān)系為：當(dāng)DDMIN 時(shí)，影像能識(shí) 別；反之，則不能識(shí)別。3.9 為什么射線探傷標(biāo)準(zhǔn)要規(guī)定底片黑度的上下限？ 答：射線照相標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，檢測(cè)中使用非增感型膠片，其梯度 G 值隨黑度的提高而增大。 對(duì)同一缺陷，底片的對(duì)比度D 與膠片梯度 G 值成正比，即D 隨黑度的提高而增大。底片 黑度較低時(shí)，D 較小，不易識(shí)別小缺陷，所以底片黑度的下限應(yīng)適當(dāng)控制。反之，隨底片 黑度的提高，D 增大。理論上講，底片黑度的提高識(shí)別界限對(duì)比度Dmin 也提高，只是增 長(zhǎng)的速率不同。即在一定黑度范圍內(nèi)，D 的提高大于Dmin

20、的提高，易于識(shí)別小缺陷。但 是提高底片黑度的前提條件是受觀片燈要有足夠的亮度，其透過底片的光亮度超過 30cd/m2，人眼對(duì)底片上影像有很好的識(shí)別能力；透過底片的 光亮度在 30cd/m2 至 10cd/m2 區(qū)間，隨著透過底片的光亮度減弱，人眼對(duì)底片上影像的識(shí)別 能力下降，但下降速率較慢；當(dāng)透過底片的光亮度低于 10cd/m2 時(shí)，人眼對(duì)底片上影像的識(shí) 別能力隨著透過底片的光亮度減弱急劇下降。若透過底片的光亮度等于 10cd/m2，底片黑度 為 4.0 時(shí)，觀片燈的亮度也應(yīng)達(dá)到 100000cd/m2。目前國內(nèi)外觀片燈最大亮度大致在 10 萬30 萬 cd/m2 之間。可見觀片燈的亮度是制約

21、底片黑度上限的關(guān)鍵。 及于上述為保證底片具有較高的對(duì)比度和較小的識(shí)別界限對(duì)比度，從而提高底片靈敏4.1 X 射線能量的選擇需要考慮哪些因素？ 答: （1）首先要根據(jù)試件的材質(zhì)、厚度確定適用的射線能量范圍，以保證能夠穿透。（2）從靈敏度角度考慮，在保證穿透力的前提下，選擇能量較低的管電壓。（3）對(duì)截面厚度差較大的工件，為了獲得較大的底片寬容度，可適當(dāng)提高 X 射線管電壓。參照J(rèn)B4730/T.2-2005 有關(guān)規(guī)定。4.2選擇焦距要考慮哪些因素？ 答：（1）焦距要滿足幾何不清晰度 Ug 的要求。例如：對(duì)于 AB 級(jí)檢測(cè)技術(shù),f10db 。（2）焦距的選擇還與試件的幾何形狀及透照方式有關(guān)。目的是為

22、得到較大的一次透照 長(zhǎng)度和較小的橫向裂紋檢出角。采用雙壁單影法透照環(huán)縫時(shí)，往往選擇較小的焦距。對(duì)環(huán)縫 采用源在內(nèi)中心透照和源在內(nèi)單壁透照時(shí)，在保證底片黑度和像質(zhì)計(jì)靈敏度符合要求的前提 下，f 可分別減小規(guī)定值的 50%和 20%。（3）焦距不應(yīng)過大,因輻射強(qiáng)度與焦距的平方成反比，要保證工作效率。4.3什么是互易律？什么是平方反比定律？ 答：（1）互易律: 決定光化學(xué)反應(yīng)產(chǎn)物質(zhì)量的條件，只與總曝光量相關(guān)，即取決于輻射 強(qiáng)度和時(shí)間的乘積，而與這兩個(gè)因素的單獨(dú)作用無關(guān)。引申為底片黑度只與總的曝光量相關(guān)， 而與輻射強(qiáng)度和時(shí)間分別作用無關(guān)。（2）平方反比定律: 從一點(diǎn)源發(fā)出的輻射，強(qiáng)度 I 與距離 F

23、的平方成反比，即I1/I2=F22/F124.4 選擇透照方式要考慮哪些因素？ 答：原則上在可以實(shí)施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式,在單壁透照不能實(shí)施時(shí)才允許采 用雙壁透照方式。具體講：（1）照相靈敏度：優(yōu)選高靈敏度透照方式。（2）缺陷檢出特點(diǎn)：針對(duì)要檢出缺陷的特點(diǎn)選擇透照方式。（3）透照厚度差和橫向裂紋檢出角：選擇的透照方式盡可能獲得較小的透照厚度差和橫向 裂紋檢出角，有利于提高底片質(zhì)量和裂紋檢出率（4）一次透照長(zhǎng)度：選擇一次透照長(zhǎng)度大的透照方式，以提高檢測(cè)速度和工作效率。（5）檢測(cè)環(huán)境、工件及探傷設(shè)備具體情況選擇透照方式。 （6）選擇的透照方式應(yīng)盡可能便于操作4.5 應(yīng)用 射線透照管子環(huán)焊縫應(yīng)

24、注意哪些問題？ 答：應(yīng)用 射線雙壁雙影透照 100mm 以下小徑管環(huán)縫，或雙壁單影法透照 100-400mm 管子環(huán)焊縫，照相質(zhì)量方面的主要問題是底片靈敏度。為解決這一問題，應(yīng)：（1）嚴(yán)格執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于 源的最小透照厚度的規(guī)定。（2）嚴(yán)格執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于射線源至工件表面的距離 f 的規(guī)定。（3）可考慮選擇更高等級(jí)的膠片。 （4）應(yīng)保證足夠長(zhǎng)的曝光時(shí)間。 （5）應(yīng)采取有效的散射線屏蔽措施4.6什么是曝光曲線？曝光曲線有哪些固定條件和變化參量？ 答：(1) 曝光曲線是表示工件（材質(zhì)、厚度）與工藝規(guī)范（管電壓、管電流、曝光時(shí)間、 焦距、暗室處理?xiàng)l件等）之間相關(guān)性的曲線圖示。(2) 曝光曲線的固定條件有

25、：. 射線機(jī)型號(hào) 、焦距 、膠片型號(hào)、增感方式、暗室處 理?xiàng)l件、基準(zhǔn)黑度、試件材質(zhì)。(3) 曝光曲線的變化參量有：穿透厚度 、曝光量 、管電壓 。4.7散射線是怎樣產(chǎn)生的？散射線如何分類？它對(duì)底片有何影響？ 答：(1) 射線在穿透物體過程中與物質(zhì)相互作用會(huì)產(chǎn)生吸收和散射,其中散射線主要是 由康普頓效應(yīng)造成的。與一次射線相比,散射線的能量減小,波長(zhǎng)變長(zhǎng),運(yùn)動(dòng)方向改變。 (2)按散射線的方向?qū)ι⑸渚€分類,可將來自暗盒正面的散射線稱為“前散射”；將來自 暗盒后面的散射線稱為“背散射”；還有一種散射線稱為“邊蝕散射”是指試件周圍的射線 向試件背后的膠片散射,或試件中的較薄部位的射線向較厚部位散射。(3

26、)散射線使底片增加附加黑度,有時(shí)全部變黑,影響底片的對(duì)比度,降低底片的靈敏度。 4.8 常用的散射線控制方法有哪些？ 答：常用的控制方法有： 選擇合適的射線能量。 使用鉛箔增感屏。 專門措施 :包括使用背防護(hù)鉛板、使用鉛罩和光柵、采用厚度補(bǔ)償物、使用濾板、使用遮蔽物、修磨試件等。4.9對(duì)不等厚焊接接頭要求底片黑度較均勻，能同時(shí)觀察整張底片上的對(duì)接焊接接頭，應(yīng)采 取哪些措施？ 答： 適當(dāng)提高管電壓，以獲得較大的底片寬容度。 采用雙膠片技術(shù)：用感光速度不同的兩張膠片同時(shí)曝光，用感光速度快的觀察厚 的部位，用感光速度慢的觀察薄的部位。 調(diào)整射線源的位置：對(duì)于厚度差不大的筒體與封頭連接的焊縫，由于射線

27、強(qiáng)度與 距離的平方成反比，可調(diào)整射線源的位置，使其焦距對(duì)厚的部位小于薄的部位，這樣不同被 檢部位的射線強(qiáng)度趨于一致。 采用補(bǔ)償：用補(bǔ)償塊放在薄的部位，使其厚度趨于一致，減少透照厚度差。 4.10JB/T4730.2-2005 標(biāo)準(zhǔn)對(duì)小徑管對(duì)接焊接接頭的透照方式和透照次數(shù)是如何規(guī)定的？ 答： (1) 當(dāng) T（壁厚）8mm 且 g（焊縫寬度）Do/4 且 T/D00.12 時(shí)，采用傾斜透照橢圓成像，相隔 90°透照 2 次。(2) 當(dāng) T（壁厚）8mm 且 g（焊縫寬度）Do/4 且 T/D00.12 時(shí)，采用傾斜透照橢圓 成像，相隔 120°或 60°透照 3 次。

28、 不滿足傾斜透照橢圓成像條件或傾斜透照橢圓成像有困難時(shí)，可采用垂直透照重疊 成像，相隔 120°或 60°透照 3 次。4.11簡(jiǎn)答射線檢測(cè)通用工藝規(guī)程編制要點(diǎn)？答：射線檢測(cè)通用工藝規(guī)程編制要點(diǎn)是： 主題內(nèi)容和使用范圍。 規(guī)范性引用文件。 檢測(cè)人員資格。 防護(hù)。 設(shè)備、器材和材料。 受檢表面的制備和檢測(cè)時(shí)機(jī)。 檢測(cè)技術(shù)。 暗室處理。 底片評(píng)定。 檢測(cè)結(jié)果的評(píng)定和質(zhì)量分級(jí)。 記錄、報(bào)告和資料保管。 4.12 JB/T4730.2-2005 標(biāo)準(zhǔn)對(duì)黑度計(jì)有哪些要求？ 答：（1）黑度計(jì)可測(cè)的最大黑度應(yīng)不小于 4.5，測(cè)量值的誤差應(yīng)不超過±0.05； （2）黑度計(jì)至少每

29、6 個(gè)月自行校驗(yàn)一次，并有記錄可查； （3）標(biāo)準(zhǔn)黑度片至少應(yīng)每?jī)赡晁陀?jì)量單位檢定一次。 4.13JB/T4730.2-2005 標(biāo)準(zhǔn)對(duì)檢測(cè)表面和射線檢測(cè)時(shí)機(jī)有哪些要求？ 答（1）在射線檢測(cè)之前，焊接接頭的表面應(yīng)經(jīng)外觀檢測(cè)并合格。表面的不規(guī)則狀態(tài) 在底片上的影像不得掩蓋或干擾缺陷影像，否則應(yīng)對(duì)表面作適當(dāng)修整。 （2）除非另有規(guī)定，射線檢測(cè)應(yīng)在焊接完工后進(jìn)行。對(duì)有延遲裂紋傾向的材料，至少應(yīng) 在焊接完成 24h 后進(jìn)行檢測(cè)。 4.14JB/T4730-2005 標(biāo)準(zhǔn)中，“由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境條件、射線設(shè)備等方面限制”，檢測(cè)的某些 條件不能滿足要求，因而采用較低等級(jí)參數(shù)的問題，必須有“經(jīng)檢測(cè)方技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)

30、”的 規(guī)定，其含義是什么？ 答：“經(jīng)檢測(cè)方技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)”，不僅是要求檢測(cè)方嚴(yán)格執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)條文的措施，例如確認(rèn)是否存在“結(jié)構(gòu)、環(huán)境、射線設(shè)備等方面限制”，是否采取了“有效補(bǔ)償措施”，是否“同時(shí)采用其他無損檢測(cè)方法進(jìn)行補(bǔ)充檢測(cè)”等。同時(shí)也意味著企業(yè)（制造、安裝、或?qū)I(yè)檢測(cè)公司）在質(zhì)量控制方面要有相應(yīng)程序、手續(xù)，并要承擔(dān)有關(guān)責(zé)任。4.15JB/T4730-2005 標(biāo)準(zhǔn),對(duì) 100mm<De400mm 環(huán)向?qū)雍附咏宇^的 A 級(jí)、AB 級(jí)透照厚度 比 K 允許放寬至 1.2 的依據(jù)是什么？ 答：（1）近年來研究表明，橫向裂紋檢出的最關(guān)鍵因素是裂紋開口寬度，透照角度不 再是裂紋檢出最關(guān)鍵因素，也

31、就是說，控制 K 值的重要性有所下降；（2）國外標(biāo)準(zhǔn)已將 K 值放寬，如歐 EN1435- 1997 標(biāo)準(zhǔn) B 級(jí)：K1.1；（3）對(duì) De400mm 的容器或管子，K = 1.1 的一次透照長(zhǎng)度太小，效率過低，成本過高。 （4）不過，對(duì)重要設(shè)備、結(jié)構(gòu)、特殊材料和特殊焊接工藝制作的焊接接頭，如認(rèn)為有必要，K 值控制仍可從嚴(yán)。4.16對(duì)小徑管環(huán)焊縫，“由于結(jié)構(gòu)原因不能進(jìn)行多次透照時(shí)，可采用橢圓成像或重疊成像 方式透照一次。鑒于透照一次不能實(shí)現(xiàn)焊縫全長(zhǎng)的 100%檢測(cè)，此時(shí)應(yīng)采取有效措施擴(kuò)大缺 陷可檢出范圍，并保證底片評(píng)定范圍內(nèi)黑度和靈敏度滿足要求?！贝颂幍摹坝行Т胧笔侵?什么？ 答：必須清楚，

32、小徑管雙壁雙影透照一次是無法實(shí)現(xiàn) 100%檢測(cè)的。如果只透照一次，實(shí)際上在透照檢測(cè)范圍方面的要求已有所降低。所謂“有效措施”主要是針對(duì) X 射線照相。因?yàn)?X 射線照相對(duì)比度高，小徑管底片黑度差大，以致一次透照檢測(cè)范圍變小。在保證靈敏度要求的情況下，可采取的措施包括選用高電壓、短時(shí)間的曝光參數(shù)，還應(yīng)采取有效的散射線屏蔽措施等。4.17JB/T4730.2-2005 允許放寬 射線最小透照厚度的具體內(nèi)容是什么？為什么放寬？ 答：（1）采用源在內(nèi)中心透照方式，在保證像質(zhì)計(jì)靈敏度要求的情況下允許放寬 射線最小透照厚度取透照厚度下限值的 1/2；采用其它透照方式，在采取有效補(bǔ)償措施并保證像 質(zhì)計(jì)靈敏度

33、要求的前提下，需要經(jīng)合同各方同意， A 級(jí)和 AB 級(jí)技術(shù)的 Ir-192 源的最小透 照厚度可降至 10mm，Se-75 源的最小透照厚度可降至 5mm（2） 射線的能量不可調(diào)節(jié)，尤其是在低于適用厚度范圍內(nèi)薄工件的應(yīng)用，照相靈敏度 將急劇降低。但 射線照相有其獨(dú)特優(yōu)點(diǎn)，在條件較差施工不便的高空或現(xiàn)場(chǎng)，其工作效率 比 x 射線機(jī)高許多倍。尤其在一些 X 射線機(jī)無法使用的場(chǎng)合，用 射線機(jī)卻可以勝任。因 此，進(jìn)一步放寬 射線最小透照厚度有其合理性。實(shí)際工作中往往會(huì)遇到這種情況，對(duì)某些 壁厚和直徑均不大的容器或管道，采用雙壁透照時(shí)，透照厚度可滿足標(biāo)準(zhǔn)要求；而采用源在 中心的單壁透照，透照厚度反而不滿

34、足標(biāo)準(zhǔn)要求而不允許使用。這種情況顯然是不合理的， 因?yàn)樵丛趦?nèi)中心透照方式是最佳透照方式，單壁透照比雙壁透照靈敏度高得多，因此應(yīng)放寬最小透照厚度，使單壁透照可以實(shí)施。對(duì)其它透照方式，標(biāo)準(zhǔn)允許放寬 射線最小透照厚度，主要是為雙壁雙影透照小徑管采用 射線。但必須采取有效補(bǔ)償措施改善 射線成像質(zhì)量，其有效措施是使用梯噪比等級(jí)更高的膠片，保證足夠大的焦距、提高黑度、減少散射線等。4.18為什么 JB/T4730-2005 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，在采用源在內(nèi)透照環(huán)縫時(shí)，允許 f 值小于規(guī)定值？ 答：標(biāo)準(zhǔn)之所以這樣規(guī)定，是為了使人們?cè)趩伪谕刚蘸碗p壁透照兩種透照方式之間選擇時(shí)，能盡可能多采用單壁透照；在源在內(nèi)單壁透照和源

35、在外單壁透照之間選擇時(shí)，能盡可能多采用源在內(nèi)單壁透照方式。單壁透照比雙壁透照的靈敏度高得多，其靈敏度增量足以彌補(bǔ) f 值減小，幾何不清晰度增大造成的靈敏度損失。比較源在內(nèi)單壁透照方式和源在外單壁透照方式，前者比后者有更小的橫向裂紋檢出角 或更大的一次透照長(zhǎng)度，底片上的黑度也更均勻。因此，將 f 值適量減小從而能選擇源在內(nèi) 單壁透照方式對(duì)照相靈敏度和缺陷檢出是有利的。4.19JB/T4730.2-2005 標(biāo)準(zhǔn)對(duì)像質(zhì)計(jì)使用的數(shù)量有哪些規(guī)定？ 答：原則上每張底片上都應(yīng)有像質(zhì)計(jì)的影像。當(dāng)一次曝光完成多張膠片照相時(shí)，使用 的像質(zhì)計(jì)數(shù)量允許減少但應(yīng)符合以下要求:（1）環(huán)形對(duì)接焊接接頭采用源置于中心周向曝

36、光時(shí)，至少在圓周上等間隔地放置 3 個(gè)像 質(zhì)計(jì);（2）球罐對(duì)接焊接接頭采用源置于球心全景曝光時(shí)，至少在北極區(qū)、赤道區(qū)、南極區(qū)附 近的焊縫上沿緯度等間隔地各放置 3 個(gè)像質(zhì)計(jì)，在南、北極的極板拼縫上各放置 1 個(gè)像質(zhì)計(jì);（3）一次曝光連續(xù)排列的多張膠片時(shí)，至少在第一張、中間一張和最后一張膠片處各放置一個(gè)像質(zhì)計(jì)。4.20 JB/T4730-2005 標(biāo)準(zhǔn)中涉及公稱厚度和透照厚度的應(yīng)用方面有哪些規(guī)定？答：見下表。標(biāo)準(zhǔn)中與厚度相關(guān)內(nèi)容單透雙透像質(zhì)評(píng)價(jià)所依據(jù)厚度(像質(zhì)計(jì)選用)TW缺陷評(píng)定所依據(jù)厚度（缺陷評(píng)定區(qū)，缺陷評(píng)級(jí)）TT選擇 X 射線最高管電壓依據(jù)TW確定射線最小透照厚度依據(jù)TW421 JB/T47

37、30.2-2005 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的小徑管的根部?jī)?nèi)凹和根部咬邊深度采用何種對(duì)筆試塊 測(cè)定？測(cè)定時(shí)對(duì)比試塊如何放置？答：JB/T4730.2-2005 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：管外徑 Do100mm 的小徑管的根部?jī)?nèi)凹和根部咬邊深 度可采用附錄 H（規(guī)范性附錄）規(guī)定的小徑管專用對(duì)比試塊(A 或B 型)進(jìn)行測(cè)定,測(cè)定時(shí)：對(duì)比試塊應(yīng)置于管的源側(cè)表面、靠近被測(cè)根部?jī)?nèi)凹和根部咬邊缺陷附近部位。4.22 JB/T4730.2-2005 標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于單壁透照像質(zhì)計(jì)擺放有哪些答：（1）單壁透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在源側(cè)。（2）單壁透照中，如果像質(zhì)計(jì)無法放置在源側(cè)，允許放置在膠片側(cè)。（3）單壁透照中像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí)，應(yīng)進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn)。對(duì)比

38、試驗(yàn)方法是在射源側(cè)和膠片側(cè)各放一個(gè)像質(zhì)計(jì)，用與工件相同的條件透照，測(cè)定出像質(zhì)計(jì)放置在源側(cè)和膠片側(cè)的靈敏度差異，以此修正應(yīng)識(shí)別像質(zhì)計(jì)絲號(hào)，以保證實(shí)際透照的底片靈敏度符合要求。（4）當(dāng)像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí)，應(yīng)在像質(zhì)計(jì)上適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記， F 標(biāo)記的影像應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同時(shí)出現(xiàn)在底片上，且應(yīng)在檢測(cè)報(bào)告中注明。4.23 什么是射線檢測(cè)工藝？它包括哪兩部分？簡(jiǎn)述兩部分的關(guān)系及由誰編制審核? 答：（1）射線檢測(cè)工藝是指為達(dá)到預(yù)期的檢測(cè)目的，對(duì)檢測(cè)活動(dòng)的方法、程序、技術(shù)參數(shù)和技術(shù)措施等作出的書面規(guī)定，或稱書面文件。（2）射線檢測(cè)工藝包括通用工藝和專用工藝。（3）通用工藝規(guī)程是本單位射線檢測(cè)范圍

39、內(nèi)的通用技術(shù)規(guī)則。一般由射線級(jí)人員或持證的檢測(cè)責(zé)任師編制，另一級(jí)人員或檢測(cè)責(zé)任師審核，廠總工程師或技術(shù)總負(fù)責(zé)數(shù)規(guī)定的更具體，它是通用規(guī)程的補(bǔ)充。一般由該方法的級(jí)人員編制，級(jí)人員或檢驗(yàn)責(zé)任師審核。對(duì)于暫時(shí)不具備條件的單位，可聘請(qǐng)有資格的人員編制。4.24編制射線檢測(cè)工藝的原則是什么？答：編制射線檢測(cè)工藝必須遵循的原則是：按現(xiàn)行射線檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)編制，適用于本單位檢 測(cè)對(duì)象，滿足相關(guān)的法規(guī)和標(biāo)準(zhǔn)的要求；技術(shù)上的先進(jìn)和經(jīng)濟(jì)上的合理。檢測(cè)部位圖中，要確定每條焊縫編號(hào)的相對(duì)位置及每片的具體檢測(cè)部位。4.25射線檢測(cè)報(bào)告中的檢測(cè)部位圖與工藝卡中的檢測(cè)部位圖有什么區(qū)別? 答：兩個(gè)圖基本上是一致的，工藝卡圖中僅給出

40、焊縫編號(hào)和應(yīng)透照片數(shù)，而報(bào)告中的檢測(cè)部位示意圖中，要確定每條焊縫編號(hào)的相對(duì)位置及每片的具體檢測(cè)部位。4.26 制造單位射線檢測(cè)工藝卡中的焊縫編號(hào)由哪個(gè)部門確定?有什么好處? 答：工藝卡中的焊縫編號(hào)一般應(yīng)由焊接工藝編制部門確定，其原則是所有縱縫均用 A1、 A2、A3編制，所有環(huán)縫均用 B1、B2、B3編制，每條焊縫一個(gè)編號(hào)，不得重復(fù)。 這樣作的好處是：對(duì)同一臺(tái)產(chǎn)品而言，焊接、檢查和檢測(cè)的記錄報(bào)告作到統(tǒng)一，使管理上檔次。4.27制造單位編制射線檢測(cè)工藝卡應(yīng)具備哪些條件? 答：編制射線檢測(cè)工業(yè)應(yīng)具備（1）編制人員應(yīng)具備RT級(jí)以上資格證書且有一定的管理和檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)；（2）有一張焊接工藝布置圖，用以確定

41、焊縫編號(hào)；（3）有板材下料排版圖，確定每條焊縫長(zhǎng)度并核對(duì)焊縫編號(hào)，當(dāng)發(fā)現(xiàn)焊接工藝與排版圖；（4）查看圖樣及材料代用單，以準(zhǔn)確確定產(chǎn)品概貌、容器上接管尺寸、各部位母材厚度 及檢測(cè)要求等。4.28編制射線檢測(cè)工藝卡的目的是什么?在什么時(shí)機(jī)制?答：（1）編制射線檢測(cè)工藝卡的目的是指導(dǎo)檢測(cè)人員進(jìn)行正確的檢測(cè)，以滿足圖樣、 （2）編制射線檢測(cè)工藝卡的最佳時(shí)機(jī)為車間提供下料排版圖之后，檢測(cè)之前進(jìn)行。如果在檢測(cè)之后補(bǔ)作，就成了別人檢查的看物，失去了編制射線檢測(cè)工藝卡的意義。4.29射線檢測(cè)工藝卡未涉及的內(nèi)容按什么檢測(cè)? 答：因?yàn)樯渚€檢測(cè)工藝規(guī)程由通用工藝和工藝卡兩部分組成，且工藝卡是通用工藝規(guī) 程的補(bǔ)充件，

42、作為補(bǔ)充件當(dāng)然不涉及常規(guī)檢測(cè)內(nèi)容，這些內(nèi)容必須按通用工藝規(guī)程執(zhí)行。4.30 對(duì)于中心周向曝光的環(huán)焊縫，發(fā)現(xiàn)一片返修，返修復(fù)照時(shí)可否采用外透照?答：便于底片復(fù)位，通常還是按原透照方式檢測(cè)。但當(dāng)工件直徑較大，曝光時(shí)間過長(zhǎng)時(shí)可以采用外透照(須在檢測(cè)記錄中注明)。 4.31 按 JB4730.2-2005 的要求，底片上應(yīng)有哪些標(biāo)記? 答：底片上至少應(yīng)有：產(chǎn)品編號(hào)、焊縫編號(hào)、部位編號(hào)(片號(hào))和透照日期。返修部位還應(yīng)有返修標(biāo)記 R1、R2。（其中角碼 1、2 為返修次數(shù))。焊縫透照部位應(yīng)有搭接標(biāo)記()，如果需要也應(yīng)放置中心標(biāo)記(十)4.32 在各種透照方式中搭接標(biāo)記應(yīng)如何放置? 答：環(huán)縫中心透照搭接標(biāo)記

43、放于膠片側(cè)或源側(cè)均可。環(huán)縫單壁外透照，縱縫透照，源在曲面工件內(nèi) FR 的環(huán)縫透照搭接標(biāo)記應(yīng)放于源側(cè)。 環(huán)縫雙壁單影透照，源在曲面工件內(nèi) F>R的環(huán)焊縫透照搭接標(biāo)記應(yīng)放于膠片側(cè)。5.1顯影液主要由哪幾種成分組成？各種成分的作用是什么？ 答：顯影液一般含有顯影劑、保護(hù)劑、促進(jìn)劑和抑制劑四種主要成分，各種成分的作 用是： （1）顯影劑：將已感光的鹵化銀還原成金屬銀。 （2）保護(hù)劑：阻止顯影劑與進(jìn)入顯影液的氧發(fā)生作用，使其不被氧化。 （3）促進(jìn)劑：增強(qiáng)顯影劑的顯影能力和速度。 （4）抑制劑：抑制灰霧。 5.2簡(jiǎn)答顯影時(shí)間對(duì)底片像質(zhì)的影響？ 答：合適的顯影時(shí)間與配方有關(guān)，所以配方都附有推薦的顯影時(shí)

44、間。對(duì)于手工處理， 大多規(guī)定為 46min。顯影時(shí)間進(jìn)一步延長(zhǎng)，雖然黑度和反差會(huì)增加，但影像顆粒和灰霧也 將增大。而顯影時(shí)間過短，將導(dǎo)致黑度和反差不足。 5.3 簡(jiǎn)答顯影過程中的攪動(dòng)對(duì)底片像質(zhì)的影響？ 答：在顯影過程中進(jìn)行攪動(dòng)，可以使乳劑膜表面不斷地與新鮮藥液接觸并發(fā)生作用，這樣不僅使顯影速度加快，而且保證了顯影作用均勻。此外，由于感光多的部分顯影反應(yīng)迅 速，與之接觸的藥液容易疲乏，不感光的部分顯影作用少，藥液不易疲乏，攪拌的結(jié)果加速了感光多的部分的顯影速度，從而提高了反差。如果膠片在顯影液中靜止不動(dòng)，會(huì)使反應(yīng)產(chǎn)生的溴化物無法擴(kuò)散，造成顯影不均勻的條 紋，為保證顯影均勻，應(yīng)不斷進(jìn)行攪動(dòng)操作，尤

45、其是膠片進(jìn)入顯影液的最初一分鐘的頻繁攪動(dòng)特別重要。5.4 為什么顯影之后必須進(jìn)行停顯處理？ 答：從顯影液中取出膠片后，顯影作用并不立即停止，此時(shí)將膠片直接放入定影液， 容易產(chǎn)生不均勻的條紋和兩色性霧翳。另一方面，膠片上殘留的堿性顯影液如果帶進(jìn)酸性定 影液，會(huì)污染定影液，并使 PH 值升高。將大大縮短定影液壽命。因此，顯影之后必須進(jìn)行 停顯處理，然后再進(jìn)行定影。5.5 定影液主要由哪幾種成分組成？各種成分的作用是什么？ 答：定影液由定影劑、保護(hù)劑、堅(jiān)膜劑、和酸性劑四部分組成，其各組成部分的作用是： (1)定影劑：將未還原的溴化銀溶解掉，使影像固定下來。 (2)保護(hù)劑：保護(hù)定影劑，防止其在酸性溶液

46、中發(fā)生分解析出硫而失效。 (3)堅(jiān)膜劑：減少膠片乳劑層吸水膨脹變軟的程度，減少劃傷和藥膜脫落。(4)酸性劑：中和停影階段未除凈膠片帶來的堿性物質(zhì)并防止堅(jiān)膜劑水解。6.1對(duì)底片質(zhì)量的基本要求是什么？ 答： 一張合格的底片應(yīng)該是： (1)一般底片上應(yīng)有像質(zhì)計(jì)影像，像質(zhì)計(jì)型號(hào)、規(guī)格、擺放位置正確，能識(shí)別的金屬 絲絲號(hào)達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)相應(yīng)檢測(cè)技術(shù)等級(jí)要求。(2)底片上的黑度必須符合標(biāo)準(zhǔn)要求（A 級(jí)：1.5D4.0，AB 級(jí)：2.0D4.0，B 級(jí)： 2.3D4.0），用 X 射線透照小徑管或其它截面厚度變化大的工件時(shí)，AB 級(jí)最低黑度允許降至1.5。 (3)底片上標(biāo)記齊全，位置正確，并且距焊縫邊緣至少 5mm

47、。 (4)底片上不得有影響底片評(píng)定的各種偽缺陷。(5)若在暗盒背面帖附的“B”鉛字標(biāo)記，其影像應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)要求。6.2 JB/T4730.2-2005 標(biāo)準(zhǔn)對(duì)像質(zhì)計(jì)線徑觀測(cè)如何規(guī)定？ 答：JB/T4730.2-2005承壓設(shè)備無損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于像質(zhì)計(jì)線徑觀測(cè)的規(guī)定是：底片 上，在黑度均勻區(qū)（一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)），能清晰看到長(zhǎng)度不小于 10mm 的連續(xù) 的金屬絲影像時(shí)，則認(rèn)為該絲是可識(shí)別的。專用像質(zhì)計(jì)應(yīng)能識(shí)別不少于二根金屬絲。 6.3JB/T4730.2-2005 標(biāo)準(zhǔn)對(duì)底片上定位標(biāo)記如何規(guī)定？ 答：(1) 定位標(biāo)記一般包括中心標(biāo)記和搭接標(biāo)記。中心標(biāo)記指示透照部位區(qū)段的中心 位置和分段編號(hào)的

48、方向，一般用十字箭頭 “”表示。搭接標(biāo)記是連續(xù)檢測(cè)時(shí)的透照分段 標(biāo)記可用符號(hào)“”或其它能顯示搭接情況的方法表示。 (2)搭接標(biāo)記的位置是確定一次透照長(zhǎng)度 L3 和搭接長(zhǎng)度L 的依據(jù)，因此，搭接標(biāo)記的 放置部位是非常關(guān)鍵的。按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：除中心透照方式兩側(cè)均可外，采用雙壁單影或源在內(nèi)F>R 的透照方式時(shí)，應(yīng)放在膠片側(cè)，其余透照方式均應(yīng)放在射線源側(cè)。 （3）定位標(biāo)記與其它標(biāo)記一樣，應(yīng)放置在距焊縫邊緣至少 5mm 以外的部位,所有標(biāo)記的影像不應(yīng)重疊，且不應(yīng)干擾有效評(píng)定范圍內(nèi)的影像。6.4簡(jiǎn)答對(duì)評(píng)片人員的基本要求？ 答:(1)應(yīng)經(jīng)過系統(tǒng)的專業(yè)培訓(xùn)，持有相應(yīng)的資質(zhì)證書。(2)應(yīng)具有一定的焊接、材料相

49、關(guān)等專業(yè)知識(shí)。 (3)應(yīng)熟悉有關(guān)規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)。有一定的評(píng)片實(shí)際工作經(jīng)驗(yàn)。(4)評(píng)片前應(yīng)充分了解被評(píng)定的工件材質(zhì)、焊接工藝、接頭及坡口形式、焊接缺陷可能 產(chǎn)生的種類及部位，以及射線照射工藝情況等。(5)視力符合標(biāo)準(zhǔn)要求6.5簡(jiǎn)答平焊及立焊底片的影像特征？ 答:(1) 平焊底片的影像特征: 試件或工件的對(duì)接接頭處于在平面位置進(jìn)行施焊,焊縫 顯示的清晰，黑白明顯，焊縫余高影像有明顯過度的特點(diǎn)，焊縫焊波分布均勻，且起弧、熄弧位置清晰可見。(2) 立焊底片的影像特征: 試件或工件的對(duì)接接頭處于直立的位置，一般采用“向上焊”。焊波呈魚鱗狀，余高呈黑白交替，成型較規(guī)整。6.6裂紋按其形態(tài)可分為幾種？裂紋在底片

50、上的影像一般特征是么？ 答：(1)按其形態(tài)可分為：縱向裂紋、橫向裂紋、弧坑裂紋和放射裂紋（星形裂紋）。 (2)底片上裂紋的典型影像是輪廓分明的黑線和黑絲，其細(xì)節(jié)特征包括:黑線有微小的鋸齒，有分叉，粗細(xì)和黑度有時(shí)有變化，有些裂紋影像呈較粗的黑線與較細(xì)的黑線相互纏繞狀，線的端部尖細(xì)，端頭前方有時(shí)有絲狀陰影延伸。6. 7 為什么說觀片燈亮度不足評(píng)片會(huì)發(fā)生漏檢？ 答：我們一般采用 AB 級(jí)檢測(cè)技術(shù)，按 JB/T4730.2-2005 標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，其底片黑度范圍由原標(biāo)準(zhǔn)的 1.23.5 提高至 2.04.0。由于 D>2.5 高黑度區(qū)段是高梯噪比區(qū)段，是影像質(zhì)量最好和有利于提高缺陷檢出率的區(qū)段。但

51、是高黑度區(qū)段的應(yīng)用的前提條件就是觀片燈足夠亮。如果透過底片的光亮度不能達(dá)到 10cd/m2 以上，即當(dāng)?shù)灼诙?D=4.0 時(shí)，觀片燈最大亮度達(dá)不到 10 萬 cd/m2，高黑度帶來的高梯噪比就不足以補(bǔ)償人眼識(shí)別能力的下降所造成的 損失。因此，觀片燈的亮度不足對(duì)影像觀察和缺陷識(shí)別影響極大，以致在底片高黑度區(qū)發(fā)生漏檢。目前，一些檢測(cè)單位仍使用亮度不足的老式或管子嚴(yán)重老化的觀片燈在評(píng)片。敬請(qǐng)這些 單位領(lǐng)導(dǎo)和評(píng)片人員盡快更新觀片燈，為安全負(fù)責(zé)，為自己負(fù)責(zé)。6.8現(xiàn)有一板厚 T=22mm 的焊縫底片，長(zhǎng) 360mm，在平行于焊縫的一直線上僅有 7mm 和 5mm 兩條夾渣，其間距為 4mm，按 JB/

52、T4730.2-2005 應(yīng)評(píng)為幾級(jí)? 答：因?yàn)槠叫泻缚p的一直線上兩夾渣間距 4mm，小于最小夾渣長(zhǎng)度 5mm，其單個(gè)連續(xù)夾 渣長(zhǎng)度為 7+4+5=162T/3(14.7mm),故此片評(píng)為級(jí)6.9現(xiàn)有一板厚 20mm 的焊縫底片，長(zhǎng) 300mm，在平行于焊縫寬度為 4mm 條形缺陷評(píng)區(qū)內(nèi)有 4 個(gè)條狀缺陷，長(zhǎng)度分別為：6mm；5mm ；6mm；6.5mm，其最小間距與間和 與間均為 8mm，而與間的水平距離為 40mm。在與間的 8³8 范圍內(nèi)有圓形缺陷 2、 3 和 4mm 各一個(gè)，按 JB/T4730.2-2005 此片應(yīng)評(píng)為幾級(jí)?答：（1）條形缺陷評(píng)定：?jiǎn)蝹€(gè)尺寸均小于 T/3

53、評(píng)為級(jí)；一組條形缺陷總長(zhǎng)：先按級(jí) 分組，取 L=6.5mm，與間距為 40mm6L(39mm),故此缺陷與為一組，而與為另 一組。其中最大的一組為與，長(zhǎng)度 12.5mm,在 12T 范圍內(nèi)小于 T，故也應(yīng)評(píng)為級(jí)。（2）圓形缺陷評(píng)定：在 10³10mm 的評(píng)定區(qū)范圍內(nèi)三個(gè)缺陷折成點(diǎn)數(shù)為 2+3+6=11 點(diǎn)大于9 點(diǎn)而小于 18點(diǎn)，應(yīng)評(píng)為級(jí)。故此片應(yīng)評(píng)為級(jí)。6.10現(xiàn)有一板厚 24mm 的焊縫底片，長(zhǎng) 360mm，在平行于焊縫寬度為 4mm 條形缺陷評(píng)區(qū)的 內(nèi)有 4 個(gè)條形缺陷，長(zhǎng)度分別為：8mm、7mm、8mm、6mm，其最小間距與間和 與間均為 10mm，而與間的水平距離為 30m

54、m。按 JB/T4730.2-2005 此片應(yīng)評(píng)為幾級(jí)? 答：（1）單個(gè)條形缺陷評(píng)定：最大為 8mm，等于 T/3，評(píng)為級(jí)（2）條形缺陷總長(zhǎng)評(píng)定：按級(jí)評(píng)定，最大間距為 30mm 6L(48mm)，即 4 個(gè)缺陷為一組。在 12T 范圍內(nèi)條行缺 陷總長(zhǎng)為 8+7+8+6=29mm>T(24mm), 故不能評(píng)為級(jí)按級(jí)評(píng)定：最大夾渣間距 30mm3L (24mm)，故與為一組，與為另一組，在6T 范圍內(nèi)最大一組條形缺陷總長(zhǎng)為 8+7=15mm，均小于 T(24mm)，可評(píng)為級(jí)。故此片應(yīng)評(píng)為級(jí)。6.11現(xiàn)有一板厚 30mm 的環(huán)縫經(jīng)中心周向曝光 100%檢測(cè)，在一張底片上距左端搭接標(biāo)點(diǎn)右 側(cè) 1

55、0mm 處有一 10mm 條狀缺陷，而在相鄰底片距該搭接標(biāo)記左側(cè) 30mm 處，有 10mm、6mm 和 5mm 三個(gè)條狀缺陷，已知后三個(gè)缺陷之間的最小間距均為 10mm，經(jīng)核對(duì)四條缺陷均處于平行 焊縫寬度為 6mm 條形缺陷評(píng)定區(qū)內(nèi)，按 JB/T4730.2-2005 該處焊接接頭的質(zhì)量應(yīng)評(píng)為幾級(jí)? 答：按單片評(píng)定，從單個(gè)大小或條形缺陷總長(zhǎng)均可評(píng)為級(jí)。 按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，條形缺陷評(píng)定區(qū)是任意選定的，當(dāng)然要選在缺陷最嚴(yán)重的區(qū)域。對(duì)于 100%檢測(cè)的焊接接頭，當(dāng)相鄰兩片端部有條形缺陷時(shí)，采用此種透照方式必須將兩片的搭接標(biāo)記 對(duì)齊接長(zhǎng)評(píng)定。 按級(jí)評(píng)定：其最大間距為 10+30=40mm 6L(60mm)

56、此 4 個(gè)條形缺陷為一組，在 12T 范圍內(nèi)其總長(zhǎng)為 10+10+6+5=31(mm)，大于 T，不能評(píng)為級(jí)。 按級(jí)評(píng)定：最大間10+30=40mm>3L(30mm),則 10mm、6mm 和 5mm 的 3 個(gè)條形缺陷為一 組，在 6T 范圍內(nèi)，這一組條形缺陷總長(zhǎng)為 10+6+5=21(mm)小于T，評(píng)為級(jí)。6.12JB/T4730.22005 標(biāo)準(zhǔn)要求，檢測(cè)報(bào)告至少包括哪些內(nèi)容？答：檢測(cè)報(bào)告至少應(yīng)包括下述內(nèi)容：（1）委托單位；（2）被檢工件：名稱、編號(hào)、規(guī)格、材質(zhì)、坡口型式、焊接方法和熱處理狀況；（3）檢測(cè)設(shè)備：名稱、型號(hào)和源尺寸；（4）檢測(cè)規(guī)范：技術(shù)等級(jí)、透照布置、膠片、增感屏、射

57、線能量、曝光量、焦距、暗室處理方式和條件等；（5）工件檢測(cè)部位應(yīng)在草圖上予以標(biāo)明，如有因幾何形狀限制而檢測(cè)不到的部位，也應(yīng)加以說明；（6）檢測(cè)結(jié)果及質(zhì)量分級(jí)、檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)名稱和驗(yàn)收等級(jí)；（7）檢測(cè)人員和責(zé)任人員簽字及技術(shù)資格；（8）檢測(cè)日期。7.1 場(chǎng)所輻射監(jiān)測(cè)和個(gè)人劑量監(jiān)測(cè)的目的是什么？ 答：場(chǎng)所輻射監(jiān)測(cè)是一種預(yù)防性測(cè)量，通過測(cè)量工作場(chǎng)所和環(huán)境的照射率或劑量率， 可以預(yù)先估計(jì)出處于場(chǎng)所的人員在特定時(shí)間內(nèi)將要受到的照射量和吸收劑量，從而能告誡有 關(guān)人員盡可能避開危險(xiǎn)區(qū)域，指出允許工作時(shí)間，并對(duì)改善防護(hù)條件提供有價(jià)值的資料。 個(gè)人劑量監(jiān)測(cè)是測(cè)量被射線照射的個(gè)人所接受的劑量，這是一種控制性的測(cè)量。它可以 告知在輻射場(chǎng)工作的人員直到某一時(shí)刻為止已經(jīng)接受了多少劑量，因此就可以控制以后的照 射。如果被照射者接受了超劑量的照射，個(gè)人劑量監(jiān)測(cè)不僅有助于分析超劑量的原因，還可 以為醫(yī)生治療被照射者提供有價(jià)值的數(shù)據(jù)。 7.2 什么是吸收劑量？ 答：吸收劑量就是用來表征受照物體吸收電離輻射能量程度的物理量。定義為：任何電離輻射授予質(zhì)量為 dm 的物質(zhì)的平均能量 då 除以 dm 所得的商，即 D =då/dm，吸收劑量