漆膜厚度測定法

1、漆膜厚度測定法1.目的及意義 在涂料生產(chǎn)、檢驗(yàn)和施工過程中，漆膜厚度是一項(xiàng)很重要的控制指標(biāo)。涂料某些物理性能的測定及耐侯性等專用性能的試驗(yàn)，均需把涂料制成試板，在一定的膜厚下進(jìn)行比較。在施工應(yīng)用中，由于涂裝的漆膜厚薄不均或厚度未達(dá)到規(guī)定要求，均對(duì)涂層性能產(chǎn)生很大的影響，因此如何正確地測定漆膜的厚度是非常重要的。2相關(guān)標(biāo)準(zhǔn) GB/T 13452.2-92 色漆和清漆 漆膜厚度的測定 (eqv ISO 2808:1974)3 檢驗(yàn)方法要點(diǎn)介紹 此標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了在一定條件下測定漆膜厚度的方法,共有6種，方法1方法5均為測定干膜厚度的方法，方法6為測定濕膜厚度的方法。3.1方法1 此法是供漆膜干硬慢的氣

2、干涂料用的，這些涂料需要干燥幾天，才能形成足夠硬的漆膜，允許使用儀器來測定厚度。主要應(yīng)用于氣干漆處于固化早期的試板。3.1.1測試原理 通過以干膜質(zhì)量與干膜厚度之間的相應(yīng)關(guān)系來測量干膜厚度。3.1.2儀器設(shè)備3.1.3操作要點(diǎn)：3.1.3.1繪制漆膜質(zhì)量與漆膜厚度關(guān)系圖 選用不同規(guī)格的漆膜涂布器將涂料涂布于質(zhì)量相近的聚酯膜上，將涂漆聚酯膜與未涂漆聚酯膜同時(shí)水平置于干燥箱中于一定溫度下烘烤，用模塊于聚酯膜中心取下相同面積的涂漆與未涂漆聚酯膜，稱量，計(jì)算出每平方米漆膜的質(zhì)量；用指示表測定出涂漆與未涂漆聚酯膜厚度，計(jì)算出每塊涂漆聚酯膜的厚度，繪出漆膜質(zhì)量與漆膜厚度的關(guān)系圖。3.1.3.2在試板上測定

3、 將樣品以適當(dāng)方法涂布于已稱量的樣板上,以適當(dāng)方式干燥,稱量,計(jì)算每平方米干膜的質(zhì)量,對(duì)照上述關(guān)系圖求出對(duì)應(yīng)的膜厚。3.1.4結(jié)果表示：給出的值為一平均膜厚，以微米（m）計(jì)。3.2方法2：千分尺法 此法適用于實(shí)驗(yàn)室使用的小尺寸金屬板或類似材料的平整表面，也可用于圓棒涂層的測量。3.2.1測試原理測定杠桿千分尺兩個(gè)測量面之間的距離來得出相應(yīng)的漆膜厚度。3.2.2儀器設(shè)備常見的有杠桿千分尺3.2.3操作要點(diǎn) 首先調(diào)整好儀器零點(diǎn)，測定未涂漆底板的厚度，涂漆干燥后，再于同一部位測量總厚度，兩者之差即為漆膜厚度。3.2.4結(jié)果表示以微米（m）計(jì)。3.3 方法3：指示表法此法適用于測定平整的涂漆試板。3.

4、3.1測試原理利用儀器的觸針測量漆膜與底材的高度差即可得到漆膜厚度。3.3.2儀器設(shè)備 指示表，3.3.3操作要點(diǎn) 先將漆膜刮破一很小部位，露出底材，然后按下儀器，使觸針測量出高度差，漆膜厚度即顯示于刻度盤上。3.3.4結(jié)果表示 以微米（m）計(jì)。 3.4 方法4：顯微鏡法 此法中又規(guī)定了兩種方法即A法和B法，分別用來測定不同底材上的干膜厚度。3.4.1 方法A 系測量切自試板或涂漆物體斷面上的干膜厚度的一般方法，在測量由于底材不平整造成漆膜厚度發(fā)生變化時(shí)特別有用。3.4.1.1測試原理 試塊經(jīng)過處理后置于顯微鏡下,用目鏡上的標(biāo)尺直接標(biāo)量,讀取漆膜厚度。3.4.1.2儀器設(shè)備 3.4.1.3操作

5、要點(diǎn) 將切割下的試塊注入樹脂中，經(jīng)過處理露出橫斷面，置于顯微鏡下，用目鏡上的標(biāo)尺標(biāo)量漆膜厚度。3.4.1.4結(jié)果表示 以微米計(jì)。3.4.2方法B 此法不涉及試塊的切割，直接在顯微鏡下測定。3.4.2.1測試原理 從漆膜到底材切割出一個(gè)V字形缺口,測量a、b的寬度,就能按比例得到漆膜厚度a、b。3.4.2.2儀器設(shè)備常見的儀器有多用途干膜檢驗(yàn)儀（型號(hào)有BYK3410型，德國BYK-Cardner公司）。3.4.2.3操作要點(diǎn) 選擇一定角度的刀具，將涂層切割至底材，然后從帶有標(biāo)尺的顯微鏡中可直接讀出漆膜厚度。3.4.2.4結(jié)果表示 以微米計(jì)。3.5 方法53.5.1非破壞性儀器測量方法 此法可用于

6、磁性金屬底材上及非磁性金屬底材上膜厚的測量。3.5.1.1測試原理 各類儀器其運(yùn)轉(zhuǎn)原理均不同，主要有以下幾種： a.磁通量原理：依據(jù)磁通量隨漆膜的非磁性層在磁體和底材之間的厚度變化來測量。 b.磁引力脫離原理：以克服永久磁鐵與磁性底材之間的磁引力所需的力來測量漆膜厚度。 c.渦流原理：利用測頭產(chǎn)生的交變磁場在金屬底材中形成渦流，根據(jù)感應(yīng)渦流的大小來測出漆膜厚度。 3.5.1.2儀器設(shè)備磁性和非磁性測厚儀，常見的有Elcometer 345型（測試范圍01250m）（英國埃高儀器公司），主要用于磁性底材（運(yùn)用磁通量原理）。 Mikrotest 6G型（測試范圍0100m）（德國Elektro-P

7、hysik公司即EPK公司），主要用于磁性底材（運(yùn)用磁吸力脫離原理）。QuaNix 5500型（測試范圍02000m）（徳國科隆儀器公司），儀器為雙測頭結(jié)構(gòu)，磁性及非磁性底材上均可使用（運(yùn)用渦流原理）。3.5.1.3操作要點(diǎn) Elcometer 345型：儀器經(jīng)置零和調(diào)校后，將測頭置于被測漆膜上即可測定。 Mikrotest 6G 型：將儀器刻度盤量程推至最大，按動(dòng)按鈕，儀器即自動(dòng)測定。 QuaNix 5500型：儀器無需校準(zhǔn)，將測頭直接置于被試漆膜上即可測定。3.5.1.4結(jié)果表示以微米（m）計(jì)。3.5.2 射線反向散射法 此法主要用于移動(dòng)中漆膜，如卷材涂層的連續(xù)測定。3.5.2.1測試原理

8、 根據(jù)反散射強(qiáng)度取決于底材和涂層的原子序數(shù)之間差異的原理，測量單位面積涂層的質(zhì)量，即可得到測量面積內(nèi)的平均厚度。3.5.2.2儀器設(shè)備 常見的有Fisherscope MMS（Betascope型）反散射儀（測試范圍0200m）（德國HELMUT FISHER公司） 3.5.2.3操作要點(diǎn) 先用有均勻涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)來校正儀器，除連續(xù)測量或大面積測量外，測量時(shí)試驗(yàn)樣板應(yīng)穩(wěn)固地對(duì)著測量孔。 3.5.2.4結(jié)果表示 以微米（m）計(jì)。3.6 方法6：濕膜厚度的測量 此法中規(guī)定了兩種測定方法：輪規(guī)和梳規(guī)，前者適用于實(shí)驗(yàn)室和施工現(xiàn)場，后者只適用于施工現(xiàn)場，作粗略測定。3.6.1輪規(guī)3.6.1.1測試原理

9、由三個(gè)輪同軸組成一個(gè)整體，直徑為50mm，厚度11mm，中間軸與外側(cè)兩個(gè)輪偏心，具有高度差，輪外側(cè)有刻度，以指示不同間隙的讀數(shù).3.6.1.2儀器設(shè)備 常見的有QUL型輪規(guī)（測試范圍0150m）（天津市偉達(dá)試驗(yàn)機(jī)廠） 3.6.1.3操作要點(diǎn) 把輪規(guī)垂直壓在被試濕膜表面，從最大讀數(shù)開始滾動(dòng)到零點(diǎn)，濕膜首先與中間偏心輪接觸的位置即為濕膜厚度。 3.6.1.4結(jié)果表示 以微米（m）計(jì)。3.6.2梳規(guī)3.6.2.1測試原理 儀器由梳齒組成，兩端的外齒處于同一水平面，而中間各齒則距水平面有依次遞升的不同間隙，指示有不同讀數(shù),如下圖所示:3.6.2.2儀器設(shè)備 常見的有SHG-100型（測試范圍0100m）（上?，F(xiàn)代環(huán)境工程技術(shù)研究所） SHG-200型（測試范圍0200m） SHG-700型（測試范圍0700m） SHG-750型（測試范圍50750m）3.6.2.3操作要點(diǎn) 把梳規(guī)垂直壓在被試濕膜表面，部分齒被沾濕，濕膜厚度為沾濕的最后一齒與下一個(gè)未被沾濕的齒之間的讀數(shù)。3.6.2.4結(jié)果表示 以微米（m）計(jì)。