計量檢定員換證考試平直度題庫(共12頁)

1、精選優(yōu)質(zhì)文檔-傾情為你奉上法定計量檢定機構(gòu)檢定員換證考試平直度試卷(1) 成績：姓名： 序號( ) 所在單位： 一、填空（共20題，每題1.5分）1.1按國際計量單位制規(guī)定長度基本單位為（ ）。1.2新的米定義:一米是光在真空中,于 ( ) 秒的時間間隔所路經(jīng)的長度。1.3我國法定計量單位制規(guī)定,米用符號 m 表示,其倍數(shù)單位和小數(shù)單位均采用( )進制,超過“兆”或“微”的倍數(shù)或小數(shù)單位,采用千進制。1.4為實現(xiàn)正確可靠的測量,長度測量中遵循的四項基本原則是( )、( )、( )、( )。1.5在接觸測量中,測頭和工件最常見的接觸形式有( )、( )、( )。1.6為使測量結(jié)果準確,測量中為使

2、被測件和儀器零部件的變形最小,應(yīng)著重考慮( )、( )及( )等因素的影響。1.7測量時為使工件中心軸線上的長度變形最小,支承點( a=0.2203L ),該支承點稱為( )點.一般在線紋尺測量時,采用此種支承.1. 8測量時,為使量塊兩工作端面平行度變形最小,支承點(a=0.2113L)。( ).1.9為得到準確的測量結(jié)果,測量時必須使( )與( )重合或在其( )上,這就是阿貝原則。1.10封閉原則:在測量中,如能滿足封閉條件,則其( )。1.11幾何量測量過程中,對定位方式的選擇，主要是與被測件幾何形狀和結(jié)構(gòu)形式有關(guān),如對平面可用( )；對球面可用( )。1.12在幾何量測量中常用的計量

3、器具符合阿貝原則的有( )、( )等, 不符和阿貝原則的計量器具有( )、( )等。1.13萬能工具顯微鏡按其瞄準方式不同,分為( )、( )、( )、( )。1.14平晶在檢定前放置在溫度為(20±5)的檢定室內(nèi),按規(guī)定100mm的平晶不少于( )小時;150mm平晶不少于( )小時。1.15在檢定平晶的平面度前,放置在檢定儀器內(nèi)的等溫時間,對100mm的平晶不少于( )分鐘；150mm平晶不( )120分鐘。1.16平行平晶工作面中心長度極限偏差不超過( ),兩工作面的平面度不大于( )m。1.17按規(guī)程規(guī)定:對100mm一級平晶的平面度( )要小于( )m, 對100mm二級平

4、晶的平面度( )要( )0.1m。1.18刀口形直尺工作棱邊長度為75mm、125mm、175mm的0級刀口直尺的直線度為( ),一級刀口直尺的直線度為( )。1.19檢定平板地點的溫度,對于0、1、2級平板來說要求為( ),檢定前,平板與檢定量具在檢定地點平衡溫度不( )8小時。二、選擇題（共15題，每題2分）2.1被測工件自重變形量的大小與零件的支承方式和支承點位置有關(guān),所以在測量等截面條形工件上表面的直線度和平面度時,支點距離端面在（ ）L處(L為工件的全長),目的是工件的中間和兩端變形(下降)量相等. (1)0.2203 (2)0.2113 (3)0.2386 (4)0.2223或2/

5、92.2用平面平晶檢查平面度時,若出現(xiàn)3條直的、相互平行而且等間隔的干涉條紋,則其平面度為 （ ）。(1)0.9m (2)0m (3)1.8m2.3若平晶檢測被測件,測量面上的干涉條紋為圓形時,其測量面的凹凸清況可以這樣判定:在平晶中央加壓:若干涉條紋向內(nèi)跑,則說明測量面中間是( )。(1)凸 (2)平 (3)凹2.4由于光波干涉原理產(chǎn)生的干涉帶,兩相鄰干涉條紋所對應(yīng)的空氣楔厚度差為( )。(1)/4 (2) /2 (3)02.5用等厚干涉法檢定平晶的平面度時，要整塊平晶上干涉條紋數(shù)以調(diào)到如下情況為宜( )。(1)干涉條紋為一條 (2) 干涉條紋為3條或5條 (3) 干涉條紋為2條或4條2.6

6、用光隙法檢定刀口形直角尺工作棱邊的直線度,檢定時,研磨平尺用等高塊支承,支撐位置為離研磨平尺兩端為( )。 (1)四分之一長度處 (2) 五分之一長度處 (3)九分之二長度處2.7 0、1級平板用( )檢定。(1)0.01mm/m合象水平儀 (2)0.02mm/m水平儀 (3)0.05mm/m條式水平儀 2.8在檢定樣板直尺工作棱邊直線度時,應(yīng)用( )。(1)節(jié)距法 (2)打表法 (3)光隙法 (4)互檢法 2.9在檢定平面平晶時,如果用手觸摸平晶進行調(diào)整的時間過長,會使平晶的平面度( )。(1)變凹 (2)變凸 (3)不變2.10按JJG28-2000規(guī)程規(guī)定,平行平晶工作面與圓柱面母線的垂

7、直度度不大于( )。(1)5 (2)30 (3)1°º2.11平面度誤差是指包容實際表面,且距離為( )的平行平面間的距離。(1)最大 (2)最小 (3)給定 (4)任意 2.12刀口形直尺工作棱邊的圓弧半徑新制的不應(yīng)大于( )mm。(1)0.3mm (2)0.2mm (3)0.4mm2.13平行平晶是以( )法檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)等測量面平面度和平行度的計量器具。 （1）光波干涉法 （2）影像法 （3）合像法2.14用等厚干涉法檢定平面平晶平面度（F）的大小，由干涉條紋最大彎曲量（b）與條紋間隔（a）之比乘以( )(為所用光源波長)來確定。 (1) /3 (2

8、) /4 (3) /22.15評定平面度時,當所檢的兩個直徑方向上測得值符號相同時,取其中( )為平面度。（1）絕對值最小值 (2) 絕對值最大值 (3) 絕對值之和值三、問答題（共4題，每題5分）3.1在評定直線度時，什么是“最小條件”?符合“最小條件”的直線度判別標準是什么？3.2平晶有幾種類型?各有哪些特征？3.3直線度的測量方法有哪些？ 3.4檢定直線度時，常用哪幾種方法？每一種方法采用什么儀器作為參照的“理想直線”？其直線度是被檢物的幾分之幾？ 四、計算題（共2題，每題10分） 4.1測量時用分度值i=0.02/1000(i=0.02mm/m)的水平儀，放在1000mm長的橋板上，當

9、橋板前段升高0.02mm時，水平儀中的水泡正好移動一格，若分度值以線值表示，則稱分度值i=0.02mm/格。若橋板長度為100mm,按比例折算此時i=0.002mm/格。現(xiàn)在實測某零件使用橋板跨距L=200mm,水平儀的讀數(shù)為4格，求以線值表示直線度誤差值f 4.2在等厚干涉儀上檢定一塊80mm的平面平晶，干涉條紋寬度a為25格，彎曲量b為4格；請計算出平面度h,并指出平晶為幾級？（=0.5896m）法定計量檢定機構(gòu)檢定員換證考試平直度試卷(2) 成績：姓名： 序號( ) 所在單位： 一、填空（共20題，每題1.5分）1.1平面角（單位： ）換算為（單位： ）的公式為= ；單位弧度換算為單位度

10、的公式為 = 1.2計量器具檢定周期長短的確定，主要是根據(jù)其( )及其( )。1.3 按現(xiàn)行標準規(guī)定，表面粗糙度的數(shù)值應(yīng)該是在被測表面的( )對實際輪廓的測量結(jié)果，而且一般應(yīng)在( )的方向上進行測量。1.4平行平晶兩個工作面的相互平行性，、系列不大于( )m,系列不大于( )m。 1.5 檢定150mm平晶的平面度時，其支撐點應(yīng)設(shè)在離平晶中心 ( ) R處；在檢定研磨平尺直線度時，支撐點應(yīng)設(shè)在離兩端各為 ( )L附近。1.6檢定平晶平面度時，一般沿兩個相互垂直的方向上檢測其各自的直線度 與。當與符號相同時，應(yīng)取( )做為平面度；當與符號相反時，應(yīng)取( )做為平面度。1.7平行平晶在檢定前需要放

11、置在溫度為（ ）的恒溫室內(nèi)，不少于( )小時。 1.8 用等傾干涉儀和長平晶檢定研磨平尺工作面的平面度時，如干涉環(huán)直徑變大，則反映長平晶和研磨平尺間的空氣層厚度變( )；當干涉環(huán)直徑縮小（指同一環(huán)），則反映長平晶和平尺間的空氣厚度變( )。1.9檢定四棱樣板直尺兩工作面的平行度時，應(yīng)在被檢四棱直尺兩個( )的平面上各測定不少于6點，所測得的6個點最大與最小讀數(shù)之( )，即為該平面位置的平行度值。1.10檢定樣板直尺所用的研磨面平尺其直線度允差為：（1）小于200mm的平尺，其直線度允差為( )m；（2）大于200mm小于350mm的平尺，其直線度允差為( )m。1.11我國法定計量單位制中，規(guī)

12、定平面角的表示方法是( ) 與 ( )進制的度、分、秒并用。 1.12已知半徑為1m，弧長為5m所對應(yīng)的中心角為( )角秒。 1.13選擇計量器具時，既要保證測量的( )，又要求在成本上符合( )原則。 1.14根據(jù)泰勒原則，止量規(guī)控制的是工件的（ ），其測量面理論上應(yīng)為( )。 1.15量具的標稱值與真值之差稱為( )誤差；零件的測得值與其真值之差稱為( )誤差。 1.16平板是用于檢驗或( )的平面計量器具。1.17平板按其材料可分為( )平板和( )平板兩大類。 1.18 鑄鐵平板分為(筋板式和箱板式)；巖石平板分為( )。1.19 平板按其準確度分為00級、0級、1級、2級和3級。其中

13、( )以上平板為檢驗用，( )平板為劃線用。1.20平板應(yīng)有三個主支撐點，對于尺寸大于1000mm×1000mm平板允許增加輔助支點，但輔助支點數(shù)應(yīng)控制在( )的限度，輔助支承面應(yīng)( )主支承面。二、選擇題（共15題，每題2分）2.1按涂色法檢驗過刮過的一級鑄鐵的接觸點在25mm×25mm正方形內(nèi)的接觸點數(shù)是( )點。 （1）35 （2）20 （3）25 （4）152.2接觸式干涉儀采用的干涉原理是 ( ) 。 （1）等傾干涉 （2）球面干涉 （3）等厚干涉2.3檢定平行平晶兩工作面平行度可用 ( ) 檢定。 （1）千分尺 （2）游標卡尺 （3）光學(xué)計 2.4在檢定較大直徑

14、平晶的平面度時，要特別注意溫度的變化。在夏天，夜半以后恒溫室內(nèi)溫度高，早晨一上班大多通入冷風(fēng)，此時檢出平晶平面度會比真實值( ) 。 （1）偏凹 （2）偏凸 （3）凹凸相同2.5長度的基本單位“米”是( ) 。 （1）實物基準 （2）既是實物基準，又是自然基準 （3）自然基準2.6莫爾條紋的位置 ( ) 。（1）有許多條刻線形成，故個別刻線的缺陷對其影響很小。（2）由于光柵放大倍率很大，刻線的微小缺陷也會使莫爾條紋產(chǎn)生明顯變化。（3）是由主、副光柵重合后形成的，因此任何一條光柵刻線的缺陷都會明顯影響條紋位置。 2.7影響光干涉系統(tǒng)的相干長度的首要因素是 ( ) 。(1)光源的空間相干性； (2

15、)光源的時間相干性； (3)干涉儀的基礎(chǔ)抗振、隔振能力。2.8用平面平晶檢查平面度時，如出現(xiàn)三條直的，互相平行而等間隔的干涉條紋，則其平面度為( )。 （1）0.9m (2)0 (3)1.8m2.9測量范圍為50-75mm的千分尺，其量程為 ( ) mm。 （1）25 （2）50 （3）75 2.10在評定直線度誤差，要求所得結(jié)果為最小時，則應(yīng)用( )來評定。 （1）最小二乘法 （2）最小條件法 （3）兩端點連線法 2.11 根據(jù)JJG117-1991規(guī)程規(guī)定，以鑄鐵平板的接觸點在25mm×25mm正方形內(nèi)的最小接觸點數(shù)是( )點。 （1）25 （2）20 （3）15 （4）30 2

16、.12檢定四棱樣板直尺兩工作面的平行度時，使用的儀器是( )。（1）千分尺 （2）萬工顯 （3）立式光學(xué)計 2.13檢定平晶平面度時，能發(fā)現(xiàn)測量誤差的方法是( )法。（1）兩面 （2）三面 （3）多面（即多于三面）法。2.14在檢定150mm以上大平晶的平面度時，為確保平晶本身自重變形最小，其下部支撐點應(yīng)該( )。 （1）設(shè)在平晶邊沿外圍一整圈處（2）將三個支撐點分布成等邊三角形并離中心為0.7R（3）任意放在平臺上的求多點接觸分散平晶重量2.15用研磨面平尺檢定長度小于175mm樣板直尺（刀口尺）時，在觀察工作棱邊（即刀口）與平尺之間透光間隙的大小時，合格者應(yīng)是( )。（1）透光間隙不超過被

17、檢長度的1/4（2）不超過目力可見的光隙（3）透光間隙不超過被檢長度的1/3三、問答題（共4題，每題5分）3.1用等厚干涉法檢驗平面度時，如何判別平面的凹凸？3.2試述平行平晶的外形尺寸的要求和檢定方法？3.3平面度的定義是什么？ 3.4評定平面度時符合“最小條件”的判別準則是什么？四、計算題（共2題，每題10分） 4.1用平晶在白光下（=0.6m）測量一工作面的平面度時，若出現(xiàn)一方位上干涉條紋向平晶與被測面接觸點相反方向彎曲，其量為1條，與此相垂直的方位上干涉條紋向接觸點方向彎曲，其量為2條，試求該工作面的平面度? 4.2試敘述如何使用三面互檢法檢定平晶的平面度，并給出平面的計算公式？ 安徽

18、省法定計量檢定機構(gòu)檢定員換證考試平直度試卷(3) 成績：姓名： 序號( ) 所在單位： 一、填空（共20題，每題1.5分）1.1我國法定計量單位制中，規(guī)定平面角的表示方法是( ) 與 ( )進制的度、分、秒并用。 1.2已知半徑為1m，弧長為5m所對應(yīng)的中心角為( )角秒。 1.3選擇計量器具時，既要保證測量的( )，又要求在成本上符合( )原則。 1.4根據(jù)泰勒原則，止量規(guī)控制的是工件的（ ），其測量面理論上應(yīng)為( )。 1.5量具的標稱值與真值之差稱為( )誤差；零件的測得值與其真值之差稱為( )誤差。 1.6平板是用于檢驗或( )的平面計量器具。1.7平板按其材料可分為( )平板和( )

19、平板兩大類。 1.8 鑄鐵平板分為(筋板式和箱板式)；巖石平板分為( )。1.9 平板按其準確度分為00級、0級、1級、2級和3級。其中( )以上平板為檢驗用，( )平板為劃線用。1.10平板應(yīng)有三個主支撐點，對于尺寸大于1000mm×1000mm平板允許增加輔助支點，但輔助支點數(shù)應(yīng)控制在( )的限度，輔助支承面應(yīng)( )主支承面。1.11 巖石平板工作面與側(cè)面的表面粗糙度R別小于( )（ ）和( )m。1.12平板工作面與側(cè)面及相鄰兩側(cè)面之間的夾角應(yīng)在( )范圍內(nèi)，用分度值為2的( )檢定。1.13檢定00級平板平面度的檢具為：( )。檢定0級平板平面度的檢具為：( )。1.14檢定

20、1、2級平板平面度的檢具為：（ ）。檢定3級平板平面度的檢具為：（ ）1.15對于尺寸小于（ ）的磨制平板，可用（ ）比較檢定。 1.16平尺是用來測量工件的（ ）和（ ）的量具。 1.17平尺按其結(jié)構(gòu)分為（ ）平尺、工形平尺和橋形平尺。按其準確度分為（ ）。 1.18平板應(yīng)（ ）磁，平尺也應(yīng)（ ）磁。 1.19 0級平尺平行度應(yīng)用0級（ ）檢定；其他各種平尺平行度均應(yīng)用1級（ ）檢定。1.20刀口形直尺工作棱邊及相連接面的表面粗糙度用（ ）檢定，也可用表面粗糙度（ ）檢定。二、選擇題（共15題，每題2分）2.1用等厚干涉法測量平直度時，兩條相鄰暗條紋所對應(yīng)的空氣層厚度差為( )。 （1） （

21、2） （3）。2.2用研磨面平尺檢定大于175mm的樣板直尺的直線度時，由透光法所能看到的容許光隙的長度不應(yīng)超過被檢樣板直尺長度的( )。（1）三分之一 （2）四分之一 （3）五分之一。2.3 0.005/1000個弧度，相當于( )角秒。 （1）2 （2）1 （3）0.52.4平面等厚干涉儀測微目鏡的示值誤差是用( )進行檢定。（1）萬工顯 （2）玻璃刻度尺 （3）線紋比較儀。2.5用下面三種方法檢定長平晶的平面度時，如有爭議，應(yīng)以( )的結(jié)果為準。（1）用參考標準長平晶 （2）用三面法互檢 （3）用四面法互檢。2.6用平晶以技術(shù)光波干涉法檢定一量具工作面的平面度時，出現(xiàn)的干涉條紋或干涉環(huán)，

22、其干涉原理是( )。（1）球面干涉 （2）等傾干涉 （3）等厚干涉。2.7千分尺的兩工作面，如果其中一個工作面與測量軸線垂直，那么兩工作面的平行度用平行平晶檢定時，所需的平行平晶的塊數(shù)( )。（1）四塊 （2）一塊 （3）二塊2.8分度值為0.02mm/m框式水平儀，其下工作面為基面的零位誤差不超過( )。（1）分度值的1/2 （2）分度值的1/3 （3）分度值的1/42.9不論框式水平儀還是條式水平儀，其V形工作面為基面的零位，用心軸檢定時，當V形面夾角為，V形槽寬度為C情況下，則心軸的直徑d為( )。 （1）d = （2）d = （3）d =2.10用刀口尺（樣板直尺）檢定工作面的平面度時，通常以光隙法進行，當采用此法檢定時，其間隙一般不大于( )。 （1）0.010mm (2)0.005mm （3）0.003mm2.11以技術(shù)光波干涉法檢定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2級平晶，其工作面的平面度不大于( )。 （1）0.03m （2）0.05m （3）0