DIN 4768-1990 用電接觸式記錄儀測(cè)定粗糙度特征值RaRzRmax—術(shù)語 測(cè)量條件 中文譯

1、DK 62-408.8: 621.9.05德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)1990年5月用電接觸式記錄儀測(cè)定粗糙度特征值Ra、Rz、Rmax術(shù)語，測(cè)量條件4768用電接觸式（鐵筆）記錄儀測(cè)定表面粗糙度數(shù)值Ra、Rz、Rmax：術(shù)語，測(cè)量條件替代DIN 4768 第1部分-08.74與國(guó)際化標(biāo)準(zhǔn)組織發(fā)布的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO 3274：1975和ISO 4288之間的關(guān)系見注釋。單位：mm1 應(yīng)用范圍該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了通過具有電傳輸、高通濾波和分析功能的接觸式尖筆記錄儀來測(cè)定技術(shù)表面的可比粗糙度測(cè)量值的術(shù)語和測(cè)量條件。備注：波紋度和其它的形狀偏差不屬本標(biāo)準(zhǔn)范疇。但是在某些功能情況，它對(duì)表面適用性的影響比起其對(duì)表面粗糙度的影響來說可

2、能會(huì)更大。2 術(shù)語按照DIN 4760、DIN 4762以及DIN 4777中用相位校正濾波器測(cè)量粗糙度中的術(shù)語。此外，按照2.1和2.2中的術(shù)語。2.1 濾波器（高通濾波器）濾波器為輪廓濾波器按照DIN 4777/05.90中的概念，根據(jù)濾波器特性曲線，實(shí)際輪廓的長(zhǎng)波部分只有部分或根本就不計(jì)入粗糙度輪廓或測(cè)量結(jié)果。按照極限波長(zhǎng)稱之為濾波器。備注：在文獻(xiàn)中，濾波器也叫做波分離器或斬波器。圖1：表面粗糙度輪廓的平均峰谷高度圖Rz 2.2 測(cè)量段2.2.1 初試段（見圖1）初試段是投影垂直于中線、不用來分析的接觸段的長(zhǎng)度。剛開始的瞬態(tài)過程必須在初試段內(nèi)逐漸消失。2.2.2 總測(cè)量段lm（見圖1）總

3、測(cè)量段是投影垂直于中線、直接用來分析表面粗糙度輪廓部分的長(zhǎng)度。2.2.3 各具體的測(cè)量段le（見圖1）各具體的測(cè)量段為總測(cè)量段lm的五分之一。備注：各具體的測(cè)量段le相當(dāng)于DIN 4762/01.89中的基準(zhǔn)段l。2.2.4 后續(xù)段（見圖1）后續(xù)段是投影垂直于中間直線、不再用來分析的描畫段的表面粗糙度輪廓的最后一部分的長(zhǎng)度。2.2.5 描畫段lr（見圖1）描畫段等于初試段、總測(cè)量段lm和后續(xù)段的總和。2.3 粗糙度特征值本標(biāo)準(zhǔn)意義中的粗糙度特征值從表面粗糙度輪廓1）中得出。2.3.1 算術(shù)平均粗糙度值Ra算術(shù)平均粗糙度值是基準(zhǔn)段l按照DIN 4762/01.89中的概念內(nèi)輪廓偏差y的絕對(duì)值的算

4、術(shù)平均值。備注1：這相當(dāng)于長(zhǎng)等于基準(zhǔn)段長(zhǎng)度l且面積等于表面粗糙度輪廓和中線之間面積之和的矩形的高。圖2：算術(shù)平均粗糙度值 Ra備注2：按照DIN 4775和ISO 4288：1985，Ra和Rz直至16時(shí)表面上所測(cè)的各具體值允許大于規(guī)定的極限值。2.3.2 各表面峰谷高度Zi（Zi Z1Z5）（見圖1）具體的粗糙高度為平行于中心線的兩條直線之間的距離，它在具體的測(cè)量段內(nèi)在最高點(diǎn)或最低點(diǎn)與表面粗糙輪廓接觸。2.3.3 平均峰谷高度Rz平均峰谷高度為5段彼此相鄰的測(cè)量段的表面峰谷高度的算術(shù)平均值。備注1：按照ISO 4287/1:1984和DIN 4762，該特征參數(shù)的縮寫符號(hào)為Rys。備注2：本

5、標(biāo)準(zhǔn)中的Rz定義與ISO 4287/1：1984中的定義不一致。如有必要，使用縮寫符號(hào)RzDIN或RzISO，以示區(qū)別。因測(cè)量技術(shù)的原因，測(cè)量ISO 4287/1: 1984中的特性參數(shù)Rz應(yīng)用DIN 4768中適用于Rz DIN的測(cè)量條件變得越來越普遍。這也適用于ISO 4288：1985中的規(guī)定。當(dāng)規(guī)定的Rz ISO最大值不超過Rz DIN，該規(guī)定的Rz ISO可視為遵守規(guī)定。詳細(xì)說明見DIN 4762/01.89第5.7至5.9中的說明。備注3：見2.3.1中的備注。2.3.4 最大的表面峰谷高度Rmax（見圖1）最大的表面峰谷高度為整個(gè)測(cè)量段所測(cè)得的表面峰谷高度的最大值Zi。備注1：按

6、照DIN 4775和ISO 4288：1985，各測(cè)量所得的Rmax值不得超過所規(guī)定的極限值。這在諸如交互變化的表面也必須滿足。備注2：按照ISO 4287/1:1984和ISO 4288：1985，該特征參數(shù)的縮寫符號(hào)為Ry max。3 測(cè)量條件3.1 描畫記錄方向必須在出現(xiàn)最大粗糙度值的方向進(jìn)行描畫記錄。特殊情況時(shí)務(wù)必就描畫記錄方向進(jìn)行協(xié)商。3.2 極限波長(zhǎng)c，測(cè)量段長(zhǎng)度le3.2.1周期性外形輪廓（車削和刨削等）的極限波長(zhǎng)c，測(cè)量段長(zhǎng)度le和總測(cè)量長(zhǎng)度lm為周期性外形輪廓時(shí)，適用于表1中的規(guī)定。表1：表面波紋間距配合表面波紋間距Sm進(jìn)給clelmmin< 0.1 0.04<

7、0.4 0.13< 0.13 0.4< 0.4 1.3< 1.3 40.080.250.82.580.080.250.82.580.41.25412.540可以通過表面輪廓簡(jiǎn)圖或?qū)ぜ?0個(gè)表面波紋寬度進(jìn)行測(cè)量確定表面波紋間距。3.2非周期性外形輪廓（研磨、圓周銑削、無過梁端面銑削、鉸孔、成型等見表2或表3）的極限波長(zhǎng)c，測(cè)量段長(zhǎng)度le和總測(cè)量長(zhǎng)度lm表2：平均表面峰谷高度Rz配合Rzmclelmmin0.1< 0.1 0.5< 0.5 10< 10 50<500.080.250.82.580.080.250.82.580.41.25412.540表

8、3：平均粗糙度值Ra配合Ramclmmin0.02< 0.02 0.1< 0.1 2<2 10<100.080.250.82.580.41.25412.540非周期性外形輪廓時(shí)，表2中的配合適用于Rz的測(cè)量，表3中的配合適用于Ra的測(cè)量。周期性外形輪廓Rmax的測(cè)量時(shí)，極限波長(zhǎng)取決于Ra。對(duì)于表2和表3的實(shí)際應(yīng)用來說，可通過目測(cè)法估計(jì)工件或外形輪廓記錄中的粗糙度值，以得出極限波長(zhǎng)。當(dāng)表面含有重疊的波紋時(shí)，可能出現(xiàn)：極限波長(zhǎng)為0.25 mm時(shí)所測(cè)得的平均表面峰谷高度Rz < 0.5m，極限波長(zhǎng)為0.8 mm時(shí)所測(cè)得的平均表面峰谷高度Rz > 0.5m。在這種極

9、限情況，適用較小的粗糙度值。同樣適用于0.1m、10m、50m的 Rz值和相應(yīng)極限情況下相關(guān)的Ra。3.3 測(cè)量段如果工件不符合表1至表3總測(cè)量段為5.le的規(guī)定，也可以應(yīng)用各具體測(cè)量段數(shù)較少的總測(cè)量段。隨后在給出粗糙度值時(shí)必須對(duì)此做出說明，例如當(dāng)lm = 3.le時(shí)，Ra =1.1m。如果因特殊原因必須給出不同于表1至表3中的極限波長(zhǎng)配合，在給出粗糙度值時(shí)必須規(guī)定，例如c0.25 mm時(shí)，Ra = 1.1m。3.4 適用于仲裁情況的附加條件如果預(yù)計(jì)的粗糙度值大于Rz = 2m或大于Ra =0.4m時(shí)，仲裁時(shí)需使用按照DIN 4772標(biāo)準(zhǔn)、描畫記錄最大半徑為5m的參考面描畫記錄系統(tǒng)。小于預(yù)計(jì)的

10、粗糙度值時(shí)使用描畫記錄最大半徑為2m的描畫記錄系統(tǒng)。引用標(biāo)準(zhǔn)DIN 4760外形輪廓偏差；術(shù)語，分級(jí)系統(tǒng)DIN 4762表面粗糙度；術(shù)語，表面及其特性參數(shù)；等同于ISO 4287/1：1984DIN 4772按照描畫記錄法測(cè)量表面粗糙度用電描畫記錄器DIN 4775工件表面粗糙性檢測(cè)；目檢和描畫記錄比較，描畫記錄法DIN 4777表面測(cè)量技術(shù)；電描畫記錄器中所使用的外形輪廓濾波器；相校正濾波器ISO 4287/1：1984通過Beuth Verlag GmbH(出版公司)（國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)銷售）可以獲得，地址：Burggrafenstraße 6, 1000 Berlin 30英文版：表面粗

11、糙度；術(shù)語 第1部分：表面及其特性參數(shù)德文版：表面粗糙度；術(shù)語 第1部分：表面及其特性參數(shù)ISO 4288：19853）英文版：使用接觸式記錄儀測(cè)量表面粗糙度的規(guī)則和程序德文版：使用電描畫記錄器測(cè)量表面粗糙度的固定和程序其它標(biāo)準(zhǔn)ISO 3274：19753）英文版：輪廓法表面粗糙度測(cè)量用儀器，接觸尖筆記錄儀，具有連續(xù)的外形輪廓傳輸?shù)拿璁嬘涗泝x，描畫記錄儀，M系統(tǒng)德文版：輪廓法表面粗糙度測(cè)量用儀器；具有連續(xù)的外形輪廓傳輸?shù)拿璁嬘涗泝x，描畫記錄儀，M系統(tǒng)舊版本：DIN 4768第1部分：1970年10月，1974年8月。修訂：較之DIN 4768 第1部分/08.74，做了以下修正：a) 刪除了有關(guān)濾波器的規(guī)定，相關(guān)規(guī)定見DIN 4777。b) 為使用DIN 4777標(biāo)準(zhǔn)中相校正的濾波器或至今常用的2 RC-濾波器時(shí)得到可比結(jié)論，僅對(duì)表面波紋距的分級(jí)做了極小修正。詳見說明。c) 增加了3.4仲裁調(diào)節(jié)。d) 編輯上的修訂。注釋：在DIN 4768 Teil 1/08.74標(biāo)準(zhǔn)化的濾波器為2 RC-濾波器，從此被符合DIN 4777標(biāo)準(zhǔn)的相校正濾波器所取代。從而互補(bǔ)濾波器既可用于粗糙度測(cè)量，又可用于DIN 4774中波紋度測(cè)量。對(duì)表1中的極限波長(zhǎng)配合做了一些修改，以便同