ENVI下的統(tǒng)計分析功能

1、ENVI下的統(tǒng)計分析功能(2011-05-11 14:15:13) 轉(zhuǎn)載標簽： envi統(tǒng)計功能感興趣區(qū)統(tǒng)計背景it分類： ENVI ENVI下的統(tǒng)計分析功能圖像統(tǒng)計是計算表征圖像像元值數(shù)理統(tǒng)計特征、空間分布特征和空間結(jié)構(gòu)特征的各種參量。ENVI的統(tǒng)計可對整個圖像進行,也可以對某個感興趣區(qū)或某一類地物分布區(qū)進行統(tǒng)計，統(tǒng)計結(jié)果以數(shù)字報表或文件形式給出。1.       圖像像素統(tǒng)計統(tǒng)計單波段影像的最大、最小值、均值、標準差、協(xié)方差和直方圖；多波段之間波段間的統(tǒng)計特征包括協(xié)方差矩陣、相關(guān)系數(shù)矩陣、本征向量和散點分布圖等1) &#

2、160;     直接統(tǒng)計(1)         快速統(tǒng)計快速統(tǒng)計可以快速的統(tǒng)計圖像的最大值、最小值、均值、標準差和直方圖分布。在Available Band List下相應的文件或波段列表上點擊右鍵菜單，點擊Quick Statics即可彈出統(tǒng)計界面。基本統(tǒng)計界面見圖，可設置不同的繪圖顯示、統(tǒng)計信息查看等操作。選擇繪圖函數(shù)左鍵的曲線信息查看中鍵（滾輪）按下拉框放大右鍵彈出圖像繪制參數(shù)設置功能菜單可繪制圖例、曲線緊湊、恢復原始顯示、打開文件、繪圖參數(shù)和設置繪圖函數(shù)等功能。設置

3、繪圖顯示參數(shù)查看統(tǒng)計報表(2)         完整統(tǒng)計選擇菜單Basic Tools-Statistics-Compute Statistics，選擇文件后彈出統(tǒng)計界面。統(tǒng)計類型包括Basic Stats（基本統(tǒng)計：最大值、最小值、均值和標準差）Histograms：直方圖；Covariance：協(xié)方差矩陣、相關(guān)系數(shù)矩陣和本征向量；Covariance Image：生成協(xié)方差、相關(guān)系數(shù)和本征向量文件；Output to a Statistics File：生成.sta文件，可通過主菜單Basic-Statics-

4、View Statics File查看；Output to a Text Report File：統(tǒng)計結(jié)果輸出為文本文件；Report Precision：設置統(tǒng)計精度（浮點數(shù)小數(shù)點個數(shù)）；2)       去除背景值很多時候，實際統(tǒng)計只需要統(tǒng)計部分區(qū)域，ENVI可通過感興趣區(qū)或掩膜的方式來實現(xiàn)。(1)         感興趣區(qū)統(tǒng)計ENVI的感興趣區(qū)工具啟動點擊image窗口的Overlay-Region Of Interest。對已有的ROI進行統(tǒng)計可直

5、接點擊ROI工具上的Statics按鈕。需要注意，點擊Basic Tools-Statistics-Compute Statistics功能選擇文件時，若選擇ROI，則統(tǒng)計的是ROI的最小外包矩形范圍內(nèi)的圖像。(2)         掩膜統(tǒng)計統(tǒng)計時可以通過掩膜的方式將不想統(tǒng)計的區(qū)域“掩掉”。掩膜創(chuàng)建方式：Basic Tools-Masking-Build Mask，選擇顯示窗體后彈出掩膜定義界面。掩膜創(chuàng)建可選擇菜單Options下的選項，可以選擇數(shù)據(jù)范圍、注記、ROI、ROI交集、矢量文件等多種創(chuàng)建方式。點擊Bas

6、ic Tools-Statistics-Compute Statistics功能選擇文件時，選擇掩膜文件即可。    3)       統(tǒng)計擴展補丁  如需要單獨忽略特定值的統(tǒng)計，可以使用統(tǒng)計擴展補丁。 4)       多波段統(tǒng)計多波段影像的波段間統(tǒng)計可以點擊主菜單Basic Tools-Statistics-Sum Data Bands，彈出操作界面。可選擇波段間的計算函數(shù)，有Sum（求和）、Sum2（平方和）、Mean（波段平均值）、S