SPC作業(yè)指導(dǎo)書(shū)

1、文件類(lèi)型Document Type 手冊(cè) 程序 作業(yè)文件 操作指導(dǎo)書(shū) 檢驗(yàn)指導(dǎo)書(shū) 工藝指導(dǎo)書(shū) 控制計(jì)劃 FMEA 流程圖 其他： 更改史(REVISION HISTORY)版本REV.發(fā)起日期INITIATE DATE發(fā)起人ORIGINATOR更改史REVISION HISTORY編制Originator： 審核Auditor： 批準(zhǔn)Approval： 1. 目的： 以控制圖作為控制制造工程的重要工具，其目的如下：1.1 調(diào)查制造工程是否安全。1.2 分析制造能力。1.3 保持工程在安定狀態(tài)。1.4 作為工程改善之比較。1.5 通過(guò)過(guò)程之變化加以改善進(jìn)而提高質(zhì)量并降低管理成本。2. 范圍： 使

2、用于Dell較精密的和客戶有要求的產(chǎn)品控制圖及過(guò)程能力分析。3. 定義：3.1 計(jì)量值控制圖：重要控制項(xiàng)目，如尺寸、平面度等的控制圖。3.2 計(jì)數(shù)值控制圖：如不良數(shù)、不良率缺點(diǎn)數(shù)的控制圖。4. 作業(yè)內(nèi)容：4.1 質(zhì)量部負(fù)責(zé)控制之分析及使用方法之輔導(dǎo)。4.2 各相關(guān)單位負(fù)責(zé)控制圖之執(zhí)行及會(huì)同有關(guān)單位作異常排除。4.3 使用時(shí)機(jī)：4.3.1 先期品質(zhì)規(guī)劃階段。4.3.2 過(guò)程控制中使用。4.4 制定控制界限的步驟：4.4.1 取樣方法：依控制計(jì)劃內(nèi)設(shè)計(jì)（定時(shí)或定量）取樣35件作為組，樣品相互間之差距愈小愈好。4.4.2 測(cè)定并記錄：依控制特性、方法執(zhí)行量測(cè)及記錄。4.4.3 計(jì)算每組的X（平均值）

3、及R（全距）記錄在于表內(nèi)。4.4.4 計(jì)算：（1）收集最近且與今后制程相似的數(shù)據(jù)100個(gè)。（2）依測(cè)定時(shí)間順序排列。（3）數(shù)據(jù)分組：a）組內(nèi)的數(shù)據(jù)為樣本數(shù)以n表示。b）組的個(gè)數(shù)為組數(shù)以k表示，k=2025為宜。c）組內(nèi)樣本數(shù)以35個(gè)。（4）將數(shù)據(jù)依組別填入控制圖中。（5）計(jì)算平均值（比測(cè)定值多求一位數(shù)）。（6）計(jì)算各組全距R。 R=Xmax-Xmin（7）計(jì)算總平均X（比測(cè)定值多求兩位數(shù)）。（8）計(jì)算全距平均R。組的大小A2D3D421.8803.2731.0202.5740.7302.2850.5802.1160.4802.00（9）計(jì)算控制上下界限控制界限。 X 控制圖UCL= +A2R

4、CL= LCL= -A2RR控制圖UCL=D4 CL= LCL=D3 （10）繪制控制界限a）控制上下限(UCL，LCL)以紅色虛線表示之。b）控制中心線（CL）用藍(lán)色或黑色實(shí)線表示之。c）R圖下控制界限在樣本小于6時(shí)為免值，以0為代表，并以控制圖的底線為零線。d） 圖控制上下限距離一般約為30mm，約占篇幅的2/3為最恰當(dāng)。（11）點(diǎn)圖a）在控制界限以內(nèi)的點(diǎn)以.表示之。b）在控制界限以外的點(diǎn)則以表示。c）將各點(diǎn)以實(shí)線連接成折線圖形。4.5 記入取樣資料：品名、質(zhì)量特性、測(cè)定單位、測(cè)定者、抽樣方法。規(guī)格及控制圖編號(hào)。4.6 定期核算：4.6.1 依實(shí)際控制圖狀況，無(wú)異常情況每六個(gè)月核算一次控制

5、線。.6.2 控制圖每填滿25點(diǎn)由該單位轉(zhuǎn)送質(zhì)量部核算，但發(fā)生能力不足或是異常點(diǎn)發(fā)生時(shí)，必須立即采取對(duì)策。4.7 控制圖的研判：4.7.1 正?？刂茍D之判識(shí)法： 正常的控制圖，大多數(shù)的點(diǎn)集中在中心線之附近，且為隨機(jī)散布，同時(shí)在控制界限附近之點(diǎn)甚少。亦即三分之二的點(diǎn)落在C區(qū)間內(nèi)，三分之一的點(diǎn)落在A和B區(qū)間內(nèi)。+3A區(qū)+2B區(qū)+1C區(qū)-1C區(qū)-2B區(qū)-3A區(qū)UCL CL LCL4.7.2 不正?？刂茍D之判識(shí)法:不正常控制圖之判識(shí)乃根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)的原理，當(dāng)發(fā)現(xiàn)各樣本的頻數(shù)不呈隨機(jī)性，或有點(diǎn)落在控制界限外時(shí)，即判定過(guò)程具有非機(jī)遇變異之原因，宜尋找出原因之所在，并剔除之。以下是幾種常見(jiàn)的不正?？刂疲篣CL

6、LCLAB C 控制圖異常判讀（ -R）（1）異?，F(xiàn)象：落點(diǎn)位置超出上下控制界限。 判讀：有特殊原因發(fā)生，導(dǎo)致過(guò)程不在控制狀態(tài)下。 發(fā)生原因： a）點(diǎn)超出上控制界限。 1-控制界限或是繪點(diǎn)錯(cuò)誤。 2-制品之間變異增大或是散布太廣。 3-使用不同的量具或不同量測(cè)人員。 b）點(diǎn)超出下控制界限。 1-控制界限或是繪點(diǎn)錯(cuò)誤。 2-組內(nèi)變異（制品之間）變小，及變好。 3-量測(cè)方法變異（包括數(shù)據(jù)填寫(xiě)方法變異）。 （2）異常現(xiàn)象：連續(xù)七點(diǎn)在中心線的單側(cè)出現(xiàn)。UCL LCLAB C（3）異常現(xiàn)象：連續(xù)七點(diǎn)以上依次上升或下降。UCL LCLAB C發(fā)生原因：點(diǎn)連續(xù)的落在中心線上側(cè)或是依次上升時(shí)。 a）制品間之差

7、異變大，可能是由不正常原因造成（例如：設(shè)備故障）。 b）量測(cè)方法的改善，而造成錯(cuò)誤的結(jié)果。 （4）異常現(xiàn)象：點(diǎn)的分布太接近中心線。UCL LCLAB C發(fā)生原因： a）控制界限計(jì)算錯(cuò)誤或是繪點(diǎn)錯(cuò)誤。 b）過(guò)程或是抽樣方法是經(jīng)過(guò)加以層別挑選過(guò)，抽取之樣本來(lái)自多種差 異很大的過(guò)程。 c）數(shù)據(jù)被修整過(guò)（例如：挑除太靠近控制界限的點(diǎn)或是將數(shù)據(jù)改過(guò)）。 （5）異?，F(xiàn)象：點(diǎn)的分布太靠近上、下界限。UCL LCLAB C發(fā)生原因： a）控制界限計(jì)算錯(cuò)誤或是繪制點(diǎn)錯(cuò)誤。 b）所抽取之樣本來(lái)自兩種極為不相同的群體。（例如：差異很大的盡量批次原料混合在一起使用）。 注：如果發(fā)現(xiàn)不同過(guò)程品混合在一起使用，必須將其分

8、離并標(biāo)明?？刂茍D異常判讀UCL LCLAB C （6）異?，F(xiàn)象：點(diǎn)落在上、下控制界限之外（特殊原因存在）。發(fā)生原因： a）控制界限計(jì)算或是繪點(diǎn)錯(cuò)誤。 b）過(guò)程已經(jīng)變動(dòng)，可能是自該點(diǎn)開(kāi)始（也許是偶發(fā)事件）或是為一不正常趨勢(shì)的一部分。 c）量測(cè)方法不同（例如：不同的檢查員或是不同量具）。 （7）異常現(xiàn)象：連續(xù)七點(diǎn)的串在中心線之上側(cè)或下側(cè)。UCL LCLAB C（8）異常現(xiàn)象：連續(xù)七個(gè)點(diǎn)以上的點(diǎn)依次上升或下降。UCL LCLAB C發(fā)生原因： a）控制界限計(jì)算錯(cuò)誤或是繪點(diǎn)錯(cuò)誤，以及修正的控制界限計(jì)算錯(cuò)誤。 b）過(guò)程件的抽樣經(jīng)過(guò)層別挑選過(guò)，也就是說(shuō)不良品已經(jīng)被挑選處理，或是樣組內(nèi)所包含的數(shù)據(jù)是從兩個(gè)以

9、上的不同過(guò)程中制品所取得。 c）數(shù)據(jù)被修整過(guò)（例如：挑除太靠近控制界限的點(diǎn)或是將數(shù)據(jù)改過(guò)）。UCL LCLAB C （10）異?，F(xiàn)象：遠(yuǎn)少于2/3的點(diǎn)在B區(qū)間內(nèi)。 發(fā)生原因： a）控制界限計(jì)算或是繪點(diǎn)錯(cuò)誤。 b）所抽取之樣本來(lái)自兩種極為不同的群體。（例如：差異很大的進(jìn)料批次原料混合在一起使用）。 注：如果發(fā)現(xiàn)不同過(guò)程品混合在一起使用，必須將其分離并標(biāo)明。4.8 其他控制圖制定辦法 4.8.1 類(lèi)別（1）不良數(shù)（np）控制圖：屬于計(jì)數(shù)，在每次均檢查一定數(shù)量的生產(chǎn)件，其不合格件之?dāng)?shù)量。（2）缺點(diǎn)（c）控制圖：屬于計(jì)數(shù)，在每次均檢查一定數(shù)量的生產(chǎn)件，其不合格件之?dāng)?shù)量。（3）不良率（P）控制圖：為計(jì)算

10、檢查后，不合格件數(shù)與合格件數(shù)之百分比率的控制圖。 （4）單位缺點(diǎn)（u）控制圖：為計(jì)算某一特定范圍內(nèi)不合格點(diǎn)數(shù)的百分率的控制圖。 4.8.2 使用范圍 （1）依控制計(jì)劃制定的管理項(xiàng)目，可使用量規(guī)或目視檢驗(yàn)者，如孔徑、外觀等。 （2）其他臨時(shí)協(xié)調(diào)追加之管理項(xiàng)目。 4.8.3 不良率控制圖（P-控制圖） （1）收集數(shù)據(jù)：收集過(guò)去已知之檢查數(shù)n及不良品數(shù)d之?dāng)?shù)據(jù)20組以上。 （2）分組：依收集數(shù)據(jù)之時(shí)間，或以每批產(chǎn)品為一組，進(jìn)行分組。 （3）將數(shù)據(jù)記入控制圖表中，依分組次序記入。 （4）計(jì)算每組之不良率：（5）計(jì)算平均不良率P及平均樣本數(shù)n： （6）計(jì)算控制界限： a）各組樣本數(shù)相等時(shí)b）各組樣本數(shù)不

11、等時(shí)（ni代表任一樣組織樣本數(shù)，i=1，2，3，4k）（7）繪制控制界限： a）上、下控制界限以紅色虛線表示之。 b）中心線以藍(lán)色或黑色實(shí)線表示之。 （8）點(diǎn)圖：將各組之不良率點(diǎn)入控制圖之適當(dāng)位置。 （9）記入其他事項(xiàng)：將品名、規(guī)格、控制特性、控制圖編號(hào)、測(cè)定者，一一填入控制圖內(nèi)。 （10）用途：不良率控制圖可適合下列各種情況： a）僅能以不良品表示品質(zhì)特性； b）大量剔選將產(chǎn)品依規(guī)格分為合格或不合格品時(shí)。 c）產(chǎn)品用通與不通量規(guī)或自動(dòng)挑選機(jī)分為兩派良品或不良品時(shí)。 d）要研究某制造工程有多少?gòu)U品等。 e）不良率管制圖之樣本數(shù)可以一定或不一定。 （11）不良率（P）控制圖問(wèn)題檢討：P控制圖被使

12、用一段時(shí)間后，過(guò)程雖穩(wěn)定，但平均不良率（P）偏高，無(wú)法滿足要求時(shí)，可經(jīng)由下列兩種方法加以改善。a）更改設(shè)計(jì)：將原設(shè)計(jì)中某一零件以另外一種零件取代，使不良品減少。 b）更換工具或購(gòu)置新設(shè)備以提高過(guò)程能力。（12）不良率控制圖抽樣品之研究：不良率控制圖樣本數(shù)若過(guò)多浪費(fèi);檢查數(shù)太少，判斷則不準(zhǔn)確。因此，在設(shè)定不良率控制圖時(shí)，應(yīng)考慮每天取樣之次數(shù)，每次抽樣n個(gè)樣本，如何隨機(jī)抽樣等問(wèn)題，樣本數(shù)之大小，不應(yīng)小至發(fā)現(xiàn)一個(gè)不良品時(shí)，在控制圖上即表示有非機(jī)遇原因。同時(shí)，在計(jì)算不良率控制圖時(shí)，常有控制下限小于零（系為負(fù)值）之情形，造成上下控制界限對(duì)中心線之距離，形成不對(duì)稱(chēng)，不符合平均值加減三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差之控制界限原理

13、。為符合此項(xiàng)原理，所抽取之樣本數(shù)，最好能使控制下限（LCL）必大于或等于零。 4.9 異常原因分析與處理： 4.9.1發(fā)生異常原因之種類(lèi)： （1）因管理不善而產(chǎn)生異常。 a）無(wú)作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化 b）作業(yè)人員訓(xùn)練不足。 c）不良材料混入過(guò)程中。 d）量具測(cè)試儀器未加校驗(yàn)與維護(hù)。（2）因環(huán)境、設(shè)備問(wèn)題而產(chǎn)生異常： a）機(jī)械精度不足。 b）工作環(huán)境不當(dāng)（如：無(wú)空調(diào)設(shè)備）。 c）量測(cè)儀器不足。 （3）因有關(guān)人員因素而產(chǎn)生異常： a）使用不當(dāng)之抽樣方式。 b）計(jì)算錯(cuò)誤。 c）未按操作標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)。 d）作業(yè)條件更改。4.9.2 發(fā)生異常原因之追查：過(guò)程中發(fā)現(xiàn)異常現(xiàn)象時(shí)，應(yīng)填寫(xiě)質(zhì)量異常記錄表，把異?，F(xiàn)象及發(fā)生時(shí)間記

14、上，作為改善的依據(jù)。 過(guò)程異常報(bào)告書(shū)填寫(xiě)要點(diǎn)： （1）過(guò)程名稱(chēng)、質(zhì)量特性、機(jī)械編號(hào)、機(jī)械名稱(chēng)、作業(yè)者及測(cè)定者等資料記入。 （2）異?，F(xiàn)象：將異常內(nèi)容或不良情形、發(fā)生時(shí)間等由發(fā)現(xiàn)者填寫(xiě)。 （3）原因調(diào)查：由品管會(huì)同相關(guān)之單位人員，將發(fā)生異常之原因共同調(diào)查后，同時(shí)將時(shí)間、日期記入。 （4）應(yīng)急措施：記錄已發(fā)生異常之產(chǎn)品，所作之暫時(shí)處理措施。（如：全數(shù)選別或是過(guò)程調(diào)查等）同時(shí)將處置時(shí)間、日期及相關(guān)單位決議事項(xiàng)人員等填入。 （5）永久對(duì)策：對(duì)根本原因所采取之改善對(duì)策、預(yù)計(jì)實(shí)施時(shí)間、實(shí)施單位、負(fù)責(zé)人等詳細(xì)填寫(xiě)。 （6）效果確認(rèn)：依其質(zhì)量特性重新確認(rèn)制品是否恢復(fù)到控制界限內(nèi)，及其過(guò)程能力是否獲得改善，同時(shí)

15、將確認(rèn)時(shí)間、人員記入。 （7）標(biāo)準(zhǔn)化：當(dāng)缺點(diǎn)所采取之對(duì)策對(duì)其質(zhì)量特性已獲得改善，且過(guò)程能力足夠，則需修訂各有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)書(shū)：如：過(guò)程流程圖、作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)書(shū)。 4.9.3 修訂控制界限： （1）由于特殊原因而產(chǎn)生控制圖上的異常點(diǎn)，在經(jīng)過(guò)異常之?dāng)?shù)據(jù)剔除，而重新計(jì)算求出R控制圖及X控制圖之中心線及控制界限。 （2）分析重新計(jì)算及繪點(diǎn)之控制圖是否有異?，F(xiàn)象，必要時(shí)得在重復(fù)分析改善修正控制界限及中心線。 4.10 SPC異常之處置： 4.10.1 所有的點(diǎn)都在規(guī)格界限內(nèi)，且沒(méi)有異常分布或是異常趨勢(shì)則：（1）抽檢之樣品均合乎規(guī)格時(shí)： a）過(guò)程能力高于4，即Cpk1.33時(shí)不必全檢。 b）過(guò)程能力在±3至

16、±4之間時(shí)，需自最后一次之合格批次起實(shí)施100%檢。 c）尋求不良原因及改善對(duì)策。（2）抽樣品中有一個(gè)或一個(gè)以上超出規(guī)格時(shí)： a）實(shí)施100%全檢至最近一次之合格批。 b）尋求不良原因及改善對(duì)策。 4.11 過(guò)程能力分析4.11.1 過(guò)程準(zhǔn)確度（Ca）：各工程之規(guī)格中心值設(shè)定的目的就是希望各工程制造出來(lái)的各個(gè)產(chǎn)品之實(shí)際值，能以規(guī)格中心為中心，呈左右對(duì)稱(chēng)的常態(tài)分配，而制造時(shí)，也應(yīng)以規(guī)格中心值為目標(biāo)，而從生產(chǎn)過(guò)程中所獲得的資料。 其實(shí)際平均值（ ）與規(guī)格中心值（u）之間偏差的程度，稱(chēng)為過(guò)程準(zhǔn)確度。 （T為規(guī)格上限、規(guī)格下限）=（公差范圍）由上式可得知當(dāng)u與 之差愈小時(shí)，Ca值也愈小，也就

17、是品質(zhì)愈接近規(guī)定要求的水準(zhǔn)。4.11.2 過(guò)程精密度（Cp）：各工程規(guī)格上下限之設(shè)定目的，乃是希望制造出來(lái)的各個(gè)產(chǎn)品之品質(zhì)水準(zhǔn)都能在規(guī)格上下限的容許范圍內(nèi)，而比較規(guī)格容許差與實(shí)際群體的估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)差即為過(guò)程精密度。由上式可知Cp愈大，則表示此過(guò)程愈精密。愈適合此產(chǎn)品之生產(chǎn)。4.11.3 過(guò)程能力指數(shù)Cpk：用以衡量過(guò)程能力，以作為改進(jìn)過(guò)程的參考，其計(jì)算式如下：（Ppk計(jì)算公式同Cpk計(jì)算公式）（1）Cpk=Cp（1-Ca）（2）（3）：為估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)差 SL ：為規(guī)格界限 ：估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)差 CL ：?jiǎn)芜呉?guī)格上限或下限 UCL：規(guī)格上限 LCL：規(guī)格下限：過(guò)程平均值 Cpk：過(guò)程能力指數(shù) D2 ：系數(shù)Z 單邊規(guī)格Z=雙邊規(guī)格Zucl=CpkZmin3(E取正數(shù))n2345D21.331.692.062.334.12 過(guò)程能力指標(biāo)：