SPC常用公式和參數(shù)

1、 一、 管制圖公式說明1. 計量值公式1.1管制圖管制圖：n為組樣本量，m為抽樣組數(shù)；標(biāo)準(zhǔn)偏差估計標(biāo)準(zhǔn)偏差全距平均值管制上限è中心線è管制下限è其中R管制圖：R的標(biāo)準(zhǔn)偏差管制上限è中心線è管制下限è其中，1.2 管制圖管制圖：第i組之標(biāo)準(zhǔn)偏差估計標(biāo)準(zhǔn)偏差管制上限è中心線è管制下限è其中S管制圖：管制上限è中心線è管制下限è1.3 X-Rm管制圖Rm管制圖：移動全距管制上限è中心線è管制下限è (當(dāng)n=2時，和以樣本數(shù)為2來查表)個別管制圖管制上限

2、è中心線è管制下限è (當(dāng)n=2時，以樣本數(shù)為2來查表)*中位數(shù)隨著計算機技術(shù)的發(fā)展，計算已經(jīng)不是困難，逐步被淘汰*2. 計數(shù)值公式2.1不良率管制圖 ( P Chart )當(dāng)每組之樣本數(shù)均一樣時：中心線è管制上限è管制下限è當(dāng)各組之樣本數(shù)不一樣時：中心線è，其中各組管制上下限分別為管制上限è管制下限è2.2不良數(shù)管制圖 ( Pn Chart )中心線è管制上限è管制下限è其中為各組之不合格數(shù)。為各組不合格數(shù)之平均值。2.3缺點數(shù)管制圖 ( C Chart )中心線è

3、;管制上限è管制下限è其中為平均不合格點數(shù)2.4單位缺點數(shù)管制圖 ( U Chart )中心線è管制上限è管制下限è其中：n = 樣本大小 (檢查的單位數(shù))C = 各組的缺點數(shù) u = 各組的單位缺點數(shù) = 二、 統(tǒng)計指標(biāo)說明1. 制程能力指數(shù) ( Process Capability Indexes )；其中：平均值 SL：規(guī)格標(biāo)準(zhǔn) USL：規(guī)格上限 LSL：規(guī)格下限；：估計標(biāo)準(zhǔn)偏差 ( Capability Sigma )。；：估計標(biāo)準(zhǔn)偏差 ( Capability Sigma )。；：估計標(biāo)準(zhǔn)偏差 ( Capability Sigma )

4、。；：估計標(biāo)準(zhǔn)偏差 ( Capability Sigma )。；：估計標(biāo)準(zhǔn)偏差 ( Capability Sigma )。2. 制程表現(xiàn)指數(shù) ( Process Performance Indexes )；：制程標(biāo)準(zhǔn)偏差 ( Population Standard Sigma )。；：制程標(biāo)準(zhǔn)偏差 ( Population Standard Sigma )。；：制程標(biāo)準(zhǔn)偏差 ( Population Standard Sigma )。；：制程標(biāo)準(zhǔn)偏差 ( Population Standard Sigma )。；：制程標(biāo)準(zhǔn)偏差 ( Population Standard Sigma )。3.

5、直方圖 < Z值、偏態(tài)、峰度 >；：制程標(biāo)準(zhǔn)偏差 ( Population Standard Sigma )。；：制程標(biāo)準(zhǔn)偏差 ( Population Standard Sigma )。；：估計標(biāo)準(zhǔn)偏差 ( Capability Sigma )。；：估計標(biāo)準(zhǔn)偏差 ( Capability Sigma )。 Skew (偏態(tài)) = ；S：樣本標(biāo)準(zhǔn)偏差，n需大于2且S <> 0。 Kurtosis (峰度) = ；S：樣本標(biāo)準(zhǔn)偏差，n需大于2且S <> 0。 Chi-Square = ； S：制程標(biāo)準(zhǔn)偏差，。4. 散布圖 回歸直線 Y = mX + b ；其中 m：斜率，b：截距。三、 標(biāo)準(zhǔn)偏差公式估計標(biāo)準(zhǔn)偏差 ( Capability Sigma ) 以估計：；( Chart與 X-Rm Chart時使用 )。 以估計：；( Chart時使用 )。 實際計算：制程標(biāo)準(zhǔn)偏差 ( Population Standard