實驗1集成門電路功能測試

1、集成門電路功能測試集成門電路功能測試n一、實驗?zāi)康?掌握邏輯值與電壓值的關(guān)系。2掌握常用邏輯門電路的邏輯功能及測試方法。3熟悉數(shù)字電路實驗箱的結(jié)構(gòu)、基本功能及使用方法。基本門電路的邏輯功能測試;觀測輸入輸出端的邏輯值，測量出輸出端對應(yīng)的電壓值。邏輯門的轉(zhuǎn)換:利用74S00與非門組成非門，2輸入與門,2輸入或門電路。門電路的基本應(yīng)用:測試用“異或”門和“與非”門組成的半加器的邏輯功能。n1.門電路的基本概念n門電路：實現(xiàn)各種邏輯關(guān)系的電路n 正邏輯系統(tǒng)：高電位用 1 表示，低電位用 0 表示n負邏輯系統(tǒng)：高電位用 0 表示，低電位用 1 表示。nTTL集成門:輸出高電平約3.6V，低電平約0.3

2、VnCMOS集成門:閾值電壓為電源電壓的一半，即VCC/2。輸入全為輸入全為 1設(shè)設(shè) VA= VB= 3.6 V VB1升高，足以使升高，足以使 T2 、T5 導通，導通，Vo = 0.3 V,Y = 0。VC2 = VCE2 + VBE5 = 0.3 + 0.7 = 1 V，使，使 T3 導通，導通，T4 截止。截止。與非門的邏輯功能：全與非門的邏輯功能：全 1 出出 0，有，有 0 出出 1。輸入不全為輸入不全為 1VY = 5 Vbe3 Vbe4 VR2T2 、T5 截止，截止， T3、 T4 導通，導通，= 5 0.7 0.7 = 3.6 V 設(shè)設(shè): VA= 0.3 V VB= 3.6

3、 V，則，則 VB1 = 0.3 + 0.7 = 1 VT4 與與 T3 并聯(lián)，并聯(lián)，T1 與與 T2 串聯(lián)；串聯(lián)； 當當 AB 都是高電平時都是高電平時,T1 與與 T2 同時導通，同時導通，T4 與與 T3 同時截止；輸出同時截止；輸出 Y 為為低電平。低電平。 當當 AB 中有一個是中有一個是低電平時，低電平時，T1 與與 T2 中有中有一個截止，一個截止，T4 與與 T3 中有中有一個導通，輸出一個導通，輸出 Y 為高為高電平。電平。3.集成邏輯電路封裝4.邏輯值的測試：數(shù)字電路實驗箱圖解116位0-1電平輸出顯示; 40腳帶自緊活動芯片座 ;雙列直插式芯片插座; 16位0-1信號開關(guān)

4、; 電阻、電容、整流二極管; 脈沖信號源 ; 直流信號源;與計算機通信的串口（9針） PLCC芯片座（44腳; 3個不同阻值的電位器; 蜂鳴器74LS00與非門組成非門， 2輸入與門,n 2輸入或門電路測試用“異或”門和“與非”門組成的半加器5.門電路的轉(zhuǎn)換及應(yīng)用6.實驗線路圖四、實驗內(nèi)容四、實驗內(nèi)容 n1、驗證74LS08(與門)、74LS32(或門)、74LS04(非門)、74LS00(與非門) 、74LS86(異或門)的功能n 將被測芯片插入實驗區(qū)的空插座,連接好測試線路,撥動開關(guān),改變輸入信號,觀測輸入輸出端的邏輯值時，并用萬用表測量出輸出端對應(yīng)的電壓值，驗正TTL電路的邏輯功能, 記錄實驗數(shù)據(jù)。n2、利用74S00與非門組成非門，2輸入與門,2輸入或門電路，畫出實驗電路圖，并測試其邏輯功能，驗證結(jié)果。 3、測試用“異或”門和“與非”門組成的半加器的邏輯功能 根據(jù)半加器的邏輯表達式可知，半加器的輸出的和數(shù)S是輸入A、B（二進制數(shù)）的“異或”，而進位數(shù)C是A、B的相“與”，故半加器可用一個集成“異或”門和二個“與非”門組成，如圖1.9a.3所示。 在實驗箱上用“異或”門(74LS86)和“與非”門連接圖1.9a.3所示邏輯電路。