防腐層測厚儀

1、防腐層測厚儀使用說明書基本概述防腐層測厚儀又叫管道防腐層測厚儀、3PE防腐層測厚儀、鋼結(jié)構(gòu)鍍層測厚儀、鋼結(jié)構(gòu)油漆測厚儀、電鍍鍍層測厚儀、熱鍍鋅鋅層測厚儀、鍍鋅層測厚儀、鍍鋅厚度檢測儀、電鍍涂層測厚儀、鍍涂層測厚儀價格、兩用型涂層測厚儀、鍍層涂層測厚儀、涂層厚度測厚儀、便攜式涂層測厚儀、數(shù)字式涂層測厚儀、兩用涂層測厚儀、油漆涂層測厚儀、鐵基/非鐵基涂層測厚儀、電子涂層測厚儀、非磁性涂層測厚儀、涂層鍍層測厚儀、高精度涂層測厚儀、涂層測厚儀、漆膜厚度測量儀是便攜式、快速、無損、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現(xiàn)場。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車、造船、

2、輕工、商檢等檢測領(lǐng)域。附表一:功能OU3500F OU3500N OU3500FN 測量原理磁性渦流磁性/渦流測量范圍標準配置探頭(F1/N1:0 1250m測量精度±(3%H+1m(零點校準±(1%H+1m(二點校準統(tǒng)計量平均值(MEAN、最大值(MAX、最小值(MIN、測試次數(shù)(NO、標準偏差(S.DEV存貯和統(tǒng)計500個測量值零點校準二點校準刪除功能自動關(guān)機蜂鳴聲提示錯誤提示標準配置主機、F1探頭、基體、校準片、說明書、包裝箱主機、N1探頭、基體、校準片、說明書、包裝箱F1(N1探頭、基體、校準片、說明書、包裝箱選配件F400、N400、F1/90、F10、CN02F

3、400、N400、F1/90、F10、CN02F400、N400、F1/90、F10、CN02、打印機、通訊軟件一、概述本儀器根據(jù)探頭類型的不同,分別運用磁感應(yīng)和渦流原理測量覆層厚度,并符合以下工業(yè)標準:JB/T 8393-1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀1.1 應(yīng)用本儀器是便攜式、快速、無損、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現(xiàn)場。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測領(lǐng)域。配置不同的探頭,適用于不同場合。1.2 測量原理本儀器根據(jù)探頭類型的不同,采用了磁性法和渦流法兩種測厚方法。F型探頭采用磁性法,可測量磁性金屬基體(如鋼、

4、鐵、合金和硬磁性鋼等上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等。N型探頭采用渦流法,可測量非鐵磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等和奧氏體不銹鋼上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等。1.3 儀器配置主機 -1臺探頭(F1或N1 -1支基體 -1塊標準片 -5片9V堿性電池-1節(jié)使用說明書 -1本其他型號探頭 -(適用于OU3500打印機 -1臺(適用于OU3500B通訊電纜 -1條(適用于OU3500B- 1 - 2 -1.4 使用環(huán)境溫度:0 40濕度:20%RH 90%RH 無強磁場環(huán)境1.5 電源一節(jié)9V 堿性干電池1.6 儀器各部件的名稱 4、鍵盤1、RS23

5、2接口(OU3500B 2、探頭插座3、液晶顯示器1. 工作方式指示2. 測量厚度值3.統(tǒng)計值4. 測頭類型指標5. 低電壓指標6. 設(shè)限界指示7. 打印指示D PRINT LIMITMAX=50.2 MIN=49.9MEAN=50.1NO=1050.0Fem m1276543所有探頭(CN02除外都安裝在滑套里,以確保探頭安全穩(wěn)定地定位,并保持探頭適當(dāng)?shù)慕佑|壓力?；浊岸说腣 型槽可保證在凸面上準確測量。測量時須握住探頭上的滑套,保持探頭軸線與被測面垂直。探頭的頂端由耐用的硬質(zhì)材料制成。2、滑套1、測頭部分3、插頭(與主機連接用戶根據(jù)需要測量工件的特點選用下列不同探頭與儀器。表一:主機可選用

6、探頭表探頭F1F1/90N1F400N400F10CN02OU3500AOU3500B OU3500A OU3500B 主機表二:探頭技術(shù)參數(shù)表:H標稱值F型:工作原理磁感應(yīng)探頭型號F400F1F1/90°F10測量范圍(m m0 4000 12500 10000低限分辨力(m m1110示值誤差一點校準(m m±(3%H+0.7±(3%H+1±(3%H+10二點校準(m m±(1%H+0.7± (1%H+1±(1%H+10工作原理渦流探頭型號N400N1CN02測量范圍(m m0 4000 125010 200銅上鍍鉻 0

7、 40低限分辨力(m m111示值誤差一點校準(m m±(3%H+0.7±(3%H+1.5±(3%H+1二點校準(m m±(1%H+1± (1%H+1.5-測試條件最小曲率半徑(mm凸1.5凸3僅為平直最小面積的直徑(mmF4F5F7N型:表三探頭選用參考表(1覆蓋層覆蓋層基體基體有機材料等非金屬覆蓋層(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等覆蓋層厚度不超過100m m覆蓋層厚度超過100m m如鐵、鋼等磁性金屬被測面積的直徑大于30mmF400型探頭0 400mmF1型探頭0 1250m mF400型探頭 0 400m mF1型探頭

8、0 1250m mF10型探頭 0 10mm 被測面積的直徑小于30mmF400型探頭0 400m mF1型探頭 0 1250m mF400型探頭 0 400m m如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬被測面積的直徑大于10mmN400型探頭0 400m mN1型探頭 0 1250m mN400型探頭 0 400m mN1型探頭 0 1250m m被測面積的直徑小于10mmN400型探頭0 400m mN1型探頭 0 1250m mN400型探頭 0 400m m非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等覆蓋層厚度不超過100m m覆蓋層厚度超過100m m如鐵、鋼等磁性金屬被測面積的直徑

9、大于30mmF400型探頭0 400mmF1型探頭0 1250m mF400型探頭 0 400m mF1型探頭 0 1250m mF10型探頭 0 10mm 被測面積的直徑小于30mm僅用于銅上鍍鉻N400型探頭0 40m m-如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬被測面積的直徑大于10mm-被測面積的直徑小于10mmN400型探頭0 400m mN1型探頭 0 1250m mN400型探頭 0 400m m塑料、印刷線路非金屬基體被測面積的直徑大于7mmCN02型探頭10 200m m探頭選用參考表(2二、儀器使用前的準備使用本儀器前,請務(wù)必仔細閱讀第3章(校準和第8章(影響測量精度的因素2.1

10、檢查電源(a 本儀器使用9V 堿性電池。(b 按鍵,檢查電池。 開機時無顯示,表示無電池或電池電壓太低,無法顯示。需更換電池。 無低電壓指示,表示電池電壓充足。 有低電壓指示,表示電池電壓不足則顯示低壓指示約1秒鐘后自動關(guān)機。這時應(yīng)立即更換電池。2.2 更換電池(a 按 鍵關(guān)機;(b (c 取出電池,放入新電池;(d 蓋好電池倉蓋。注意:儀器長時間不使用時應(yīng)將電池取出,以避免電池漏液腐蝕儀器。2.3 選擇探頭(a準備好待測試件,將測頭置于開放空間,按一下鍵開機,正常開機后顯示上次關(guān)機前的測量值;如: 說明:開機時若電池電壓不足則顯示低壓指示約1秒鐘后自動關(guān)機。這時應(yīng)立即更換電池;D50.0Fe

11、 m m(b如果需要校準儀器,則選擇適當(dāng)?shù)男史椒ㄟM行校準(參見第三章;(c測量迅速將測頭與測試面垂直地接觸并輕壓測頭定位套,隨著一聲鳴響,屏幕顯示測量值,提起探頭可進行下次測量;(d關(guān)機在無任何操作的情況下,大約2-3min后儀器自動關(guān)機。按一下鍵,立即關(guān)機。 說明: 1. 如果在測量中探頭放置不穩(wěn),顯示一個明顯的可疑值,可刪除該值;2.重復(fù)測量三次或三次以上,測量后可顯示四個統(tǒng)計值:平均值(MEAN、測量次數(shù)(NO.、最大測量值(MAX、最小測量值(MIN。2.5 功能設(shè)置該儀器具有兩種工作方式:直接方式和成組方式(a直接方式:此方式用于隨意性測量,此方式下可存儲100個測量值,當(dāng)存滿10

12、0個值時,新的測量值將替掉舊的測量值,總保留最新的100個測量值。(b成組方式:此方式便于用戶分批記錄所測試的數(shù)據(jù),一組最多存100個測量值,總共五組,可存500個測量值。當(dāng)每組存滿100個值時,屏幕將顯示“存儲器滿”,此時,仍可進行測量,但是測量值只顯示不存儲,也不參與統(tǒng)計計算。只有刪除該組數(shù)據(jù),才能保存新的測量值。每組內(nèi)設(shè)有一個校準值,即該組下各個數(shù)據(jù)都是基于這個校準值測得的。成組方式下,每個測量統(tǒng)計計算。只有刪除該組數(shù)據(jù),才保存新的測量值。每組內(nèi)設(shè)有一個校準值都參與統(tǒng)計計算。因為成組方式下,可存貯幾套基于不同校準值的測量數(shù)據(jù),因此該方式特別適合于現(xiàn)場測量。該儀器具有兩種測量方式:單次測量

13、和連續(xù)測量單次測量測頭每接觸被測件1次,隨著一聲鳴響,顯示一個測量結(jié)果;連續(xù)測量不提起測頭動態(tài)測量,測量過程中不伴鳴響,屏幕 連續(xù)顯示測量結(jié)果; 兩種方式的轉(zhuǎn)換方法:(a 儀器開機后,自動進入直接工作方式,工作方式區(qū)顯示【D 】。按 鍵,顯示如右圖:(b 按 鍵,進入系統(tǒng)設(shè)置;按 或 鍵,選擇【工作方式】設(shè)置;(c 按 鍵,設(shè)置工作方式。說明:【*】表示該組中已有校準值;(d 按兩次 鍵退出。 兩種方式的轉(zhuǎn)換方法:(a 按 鍵,選擇【系統(tǒng)設(shè)置】;(b 按 鍵,選擇測量方式;(c 按 鍵,選擇單次測量或連續(xù)測量;(d 按兩次 鍵退出。 (a 按鍵, 選擇系統(tǒng)設(shè)置;(b 按鍵,再按或鍵選擇 【單位

14、】設(shè)置; (c 按鍵,選擇【um 】或【mils 】;(d 按兩次鍵,退出。 在線打印 : 每測量一個值就立即打印這個值,在線打印功能開時,屏幕顯示【PRINT 】提示符。(a 按鍵, 選擇【系統(tǒng)設(shè)置】;(b 按鍵,再按或鍵選擇 【在線打印】設(shè)置; (c 按鍵選擇在線打印:【開】或 【關(guān)】;(d 按兩次鍵,退出。 說明:在選擇“在線打印:開”之前,應(yīng)按6.1打印機的連接連接好打印機(a 按 鍵, 選擇系統(tǒng)設(shè)置;(b 按鍵,再按或鍵選擇 【在線統(tǒng)計值】設(shè)置; (c 按鍵選擇在線統(tǒng)計值:【開】 或【關(guān)】;(d 按兩次鍵,退出。 (a 按鍵,然后按或鍵,選 擇【限界設(shè)置】; (b 按鍵,進入【限界設(shè)

15、置】;(c 按鍵選擇【上限】或【下 限】,數(shù)據(jù)區(qū)顯示以前設(shè)置的上限或下限的值,按或鍵設(shè)定新的上限或下限的值; (d 按兩次鍵,退出。 說明: 1.大于上限或小于下限的測試結(jié)果由蜂鳴聲報警;2.限界以外的測試結(jié)果與其它測試結(jié)果一起被存貯并進行統(tǒng)計計算。3.上限與下限的接近程度是有限的。在上限值為200m 以上時,上、下限最小接近程度為上限的3%,在上限值為200m 以下時,上、下限最小接近程度為5m 。按鍵可隨時打開或關(guān)閉背光。 三、儀器的校準為使測量準確,應(yīng)在測量場所對儀器進行校準。3.1 校準標準片(包括箔和基體已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標準片。簡稱標準片。(a 校準箔對

16、于磁性方法,“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對于渦流方法,通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校準,而且比用有覆蓋層的標準片更合適。(b 有覆蓋層的標準片采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標準片。對于磁性方法,覆蓋層是非磁性的。對于渦流方法,覆蓋層是非導(dǎo)電的。3.2 基體(a 對于磁性方法,標準片基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法,標準片基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當(dāng)與待測試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實標準片的適用性,可用標準片的基體金屬與待測試件基體金屬上所測得的讀數(shù)進行比較。(b 如果待測試件的金屬基體厚度沒有超過表一

17、中所規(guī)定的臨界厚度,可采用下面兩種方法進行校準:(1 在與待測試件的金屬基體厚度相同的金屬標準片上校準;(2 用一足夠厚度的,電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標準片或試件,但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件,不能采用襯墊法。(3 如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平面上校準,則有覆蓋層的標準片的曲率或置于校準箔下的基體金屬的曲率,應(yīng)與試樣的曲率相同。3.3 校準方法本儀器有三種測量中使用的校準方法: 零點校準、二點校準、在噴沙表面上校準。二點校準法又分一試片法和二試片法。還有一種針對測頭的基本校準。本儀器的校準方法是非常簡單的。(a 在基體上進行一次測量,屏幕顯示<

18、15;.×m>。(b 按鍵,屏顯<0.0>。校準已完成,可以開始測量了。 (c 重復(fù)上述a、b步驟可獲得更為精確的零點,高測量精度。零點校準完成后就可進行測量了。這一校準法適用于高精度測量及小工件、淬火鋼、合金鋼。(a 先校零點(如上述。(b 在厚度大致等于預(yù)計的待測覆蓋層厚度的標準片上進行一次測量,屏幕顯示<×××m>。(c 用或鍵修正讀數(shù),使其達到標準值。校準已完成可以開始 測量了。 注意:1.即使顯示結(jié)果與標準片值相符,按或鍵也是必 不可少的,例如按一次一次。這一點適用于所有校準方法。2. 如欲較準確地進行二點校準,可

19、重復(fù)b、c過程,以提高校準的精度,減少偶然誤差。兩個標準片厚度至少相差三倍。待測覆蓋層厚度應(yīng)該在兩個校準值之間。這種方法尤其適用于粗糙的噴沙表面和高精度測量。(a 先校零值;(b 在較薄的標準片上進行一次測量,用或鍵修正讀數(shù),使其 達到標準值;(c 緊接著在厚的一個樣片上進行一次測量,用或鍵修正讀 數(shù),使其達到標準值。校準已完成,可以開始測量了。適用于N型測頭,并使用特殊的校準標準片。必須使用一試片法。使用標有“銅上鍍鉻” (CHROME ON COPPER 字樣的特殊標準片。說明:在溫度變化極大的情況下,如冬季或盛夏在室外操作時,應(yīng)在與待測箔厚度接近的標準片上進行校準。校準時的環(huán)境溫度應(yīng)與使

20、用時的環(huán)境溫度一致。注意: 1. 出現(xiàn)下列情況,必需重新校準。-校準時,輸入了一個錯誤值-操作錯誤2.在直接方式下,如果輸入了錯誤的校準值,應(yīng)緊接著做一次測量,隨后再做一次校準,即可獲取新值消除錯誤值;3. 每一組單元中,只能有一個校準值。4.零點校準和二點校準都可以重復(fù)多次,以獲得更為精確的校準值,提高測量精度但此過程中一旦有過一次測量,則校準過程便告結(jié)束。刪除組單元中的所有數(shù)據(jù)和校準值之后才能重新校準。否則將出現(xiàn)錯誤提示和鳴響報警。3.4 基本校準的修正在下述情況下,改變基本校準是有必要的:-測頭頂端被磨損。-特殊的用途。在測量中,如果誤差明顯地超出給定范圍,則應(yīng)對測頭的特性重新進行校準稱

21、為基本校準。通過輸入 6個校準值(1個零和5個厚度值,可重新校準測頭。(a 在儀器關(guān)閉的狀態(tài)下按住鍵同時再按鍵,顯示開機后 放開鍵繼續(xù)按住健即可進入基本校準狀態(tài);在儀器進入基本校準狀態(tài)屏幕菜單區(qū)顯示【基本校準】。(c 使用標準片校準,按厚度增加的順序進行,一個厚度上可做多次。每個厚度應(yīng)至少是上一個厚度的1.6 倍以上,理想的情況是2倍。例如F1探頭的校準:首先選5個厚度的校準片分別約為:50m、100m、200m、400m 800m。最大值應(yīng)該接近但低于測頭的最大測量范圍。 次測量,屏幕顯示<×××m>。用或鍵修正讀數(shù),使其達到標準值。然后按順序進行厚

22、度約為100m、200m、400m、800m的校準片進行校準。 注意:1、即使顯示結(jié)果與標準片值相符,按或鍵也是必不可少的。2、每個厚度應(yīng)至少是上一個厚度的1.6 倍以上,否則視為基本校準失敗。(d 在輸入 6個校準值以后,測量一下零點,儀器自動關(guān)閉,新的校準值已存入儀器。當(dāng)再次開機時,儀器將按新的校準值工作。3.5 關(guān)于測量和誤差的說明如果已經(jīng)進行了適當(dāng)?shù)男?所有的測量值將保持在一定的誤差范圍內(nèi);根據(jù)統(tǒng)計學(xué)的觀點,一次讀數(shù)是不可靠的。因此任何由該儀器顯示的測量值都是五次“看不見”的測量的平均值。這五次測量是在幾分之一秒的時間內(nèi)由探頭和儀器完成的;為使測量更加精確,可利用統(tǒng)計程序在一個點多次

23、測量,對誤差較大的測量值可在測量后立即刪除。最后覆層的厚度為:CH = M+S+其中: CH:覆層厚度M:多次測量的平均值S:標準偏差:儀器允許誤差四、測量與統(tǒng)計4.1 存儲功能直接方式下自動保留最新的100個測量值。成組方式下測量值自動存入內(nèi)存單元,一組最多存100個數(shù)值,總共五組,可存500個數(shù)值。當(dāng)每組存滿100個值時,屏幕將顯示“存儲器滿”,此時,仍可進行測量,但是測量值只顯示不存儲,也不參與統(tǒng)計計算。只有刪除該組數(shù)據(jù),才能保存新的測量值。4.2 統(tǒng)計計算本儀器對測量值自動進行統(tǒng)計處理,它需要至少三個測量值來產(chǎn)生5個統(tǒng)計值:平均值(MEAN、標準偏差(S.DEV、測試次數(shù)(No.、最大

24、測試值(MAX、最小測試值(MIN。參加統(tǒng)計計算的測量值:在直接方式下所有測量值(包括關(guān)機前的測量值均參加統(tǒng)計計算。注意:當(dāng)存滿100個數(shù)值時,總保留最新的100個測量值參加統(tǒng)計計算。在成組方式下,參加統(tǒng)計計算的測量值僅限于本組內(nèi)的數(shù)據(jù)。注意:每組當(dāng)存滿100個數(shù)值時,盡管測量能繼續(xù),但不能修改統(tǒng)計值。4.3 數(shù)據(jù)瀏覽瀏覽統(tǒng)計值和測量值(a 按 鍵,然后按 或 鍵,選擇【瀏覽數(shù)據(jù)】;(b 按 鍵,然后按 或 ,可選擇瀏覽統(tǒng)計值或瀏覽測量值; (c 按 鍵,選擇【統(tǒng)計值】可瀏覽五個統(tǒng)計值:平均值(MEAN、標準偏差(S.DEV、測試次數(shù)(No.、最大測試值(MAX、最小測試值(MIN; (d 按

25、 鍵,選擇【測量值】在直接方式下,可瀏覽該方式下的所有測量值,在批組方式下可瀏覽該組的所有測量值,瀏覽時用 或 鍵進行換頁。(e 按三次 鍵退出。NO=009MEAN=50.2S.DEV=0.1MAX=50.4MIN=50.1001 50.3m m002 50.4m m003 50.2m m004 50.2m m005 50.2m m006 50.2m m007 50.2m m008 50.1m m五、刪除功能5.1 刪除當(dāng)前測量值 無論在直接方式或成組方式下,只要在測量值顯示狀態(tài),按一下鍵,隨著一聲鳴響,當(dāng)前測量值已被刪除。5.2 刪除當(dāng)前組數(shù)據(jù)刪除直接方式或成組方式下當(dāng)前組的所有測量值(a

26、 按鍵,然后按或鍵,選擇【功能選擇】; (b 按鍵,進入【功能選擇】;按或 鍵,選擇【刪除當(dāng)前組數(shù)據(jù)】;(c 按 鍵,顯示刪除確認提示,再按鍵,當(dāng)前文件中的測量值已 被刪除。(d 按兩次鍵,退出。 5.3 刪除當(dāng)前組所有數(shù)據(jù) 刪除直接方式或成組方式下當(dāng)前組的所有測量值,統(tǒng)計值、兩點校準值、限界值(a 按鍵,然后按或鍵,選擇【功能選擇】; (b 按 鍵,進入【功能選擇】;(c 按或鍵,選擇【刪除所有 數(shù)據(jù)】; (d 按鍵,顯示刪除確認提示,再按鍵,當(dāng)前文件中所有測量 值、統(tǒng)計值、兩點校準值、限界值已被刪除。e 按兩次鍵,退出。 六、打印(用于OU3500B帶打印機6.1 打印機的連接(a 將打印

27、機與主機用通訊電纜連接;(b 按 鍵打開主機;(c 將打印機設(shè)置為:波特率9600、8位數(shù)據(jù)、1位起始位、1位停止位、無校驗;6.2 打印功能操作(a 按 鍵,然后按 或 鍵,選擇“功能選擇”;(b 按 鍵,然后按 或 鍵,可選擇打印測量值、打印統(tǒng)計值、打印所有值:打印測量值-打印當(dāng)前工作方式下的所有測量值打印統(tǒng)計值-打印當(dāng)前工作方式下的五個統(tǒng)計值打印所有值-在直接方式下,打印測量值、統(tǒng)計值;在批組方式下則打印該組方式下的所有測量值、統(tǒng)計值、限界、直方圖(c 直方圖: (d按兩次 鍵,退出。- | 40 80%LO |-*M * |HI |-| 40 80%LO:設(shè)置的下界HI:設(shè)置的上界M:

28、平均值縱坐標表示測量值橫坐標表示測量值所占的百分比注意: 1.在設(shè)置限界之后才能打印出直方圖;與PC機通訊之前,按下圖所示,用本儀器附帶的通訊電纜,將儀器與PC機的串行接口連接好,儀器可將測量值全部發(fā)送到PC機。發(fā)送數(shù)據(jù)的波特率為9600,8位數(shù)據(jù)位,1位停止位,無校驗位。(a 按 鍵,然后按 或 鍵,選擇【功能選擇】;(b 按 鍵,進入【功能選擇】然后按 或 鍵,選擇【發(fā)送數(shù)據(jù)】;(c 按 鍵,在直接方式下,發(fā)送測量值、統(tǒng)計值;在批組方式下則發(fā)送該組的所有測量值、統(tǒng)計值;(d 按兩次 鍵退出。七、與PC機通訊(用于OU3500B 帶通訊八、影響測量精度的因素8.1 影響因素的有關(guān)說明基體金屬

29、磁性質(zhì)磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的,為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準。(a 基體金屬電性質(zhì)基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準。(b 基體金屬厚度每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。(c 邊緣效應(yīng)本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。(d 曲率試件的曲率

30、對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。(e 試件的變形測頭會使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上不能測出可靠的數(shù)據(jù)。(f 表面粗糙度基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測量時,在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對儀器的零點。(g 磁場周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場,會嚴重地干擾磁性法測厚工作。(h 附著物質(zhì)本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。(i 探頭壓力測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù),因此,要保