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文檔簡介

1、 該比較器和運(yùn)放電路測試器具有制作簡單、成本低廉、使用方便、測試快速、可靠實(shí)用等優(yōu)點(diǎn)。常用比較器和運(yùn)放電路測試器電原理圖如圖1所示,印刷電路板圖如圖2所示。從電路原理圖中可以看出,對四只比較器集成電路的檢測采用了動(dòng)態(tài)的自動(dòng)轉(zhuǎn)換檢測,這樣可以減輕檢測人員的勞動(dòng)操作強(qiáng)度,有利于操作人員對檢測情況的監(jiān)視。電路中還設(shè)置了一只50mA量程的毫安表,用來監(jiān)視集成電路的靜態(tài)電流,從比較器電路的參數(shù)表中可知,其靜態(tài)電流也是一個(gè)重要測試參數(shù)。參數(shù)規(guī)定LM339比較器的額定靜態(tài)總電流應(yīng)在2mA以下,一般實(shí)測LM339的靜態(tài)總電流在1mA左右,如果測得LM339的靜態(tài)電流大于2mA,則該集成電路在使用中就有易發(fā)熱等

2、故障發(fā)生,因此,要將它篩選淘汰。在測試中隨著發(fā)光管的循環(huán)發(fā)光和電流表讀數(shù)的變動(dòng),還可以看出四個(gè)比較器電路的一致性狀態(tài)。圖3是該測試器的面板圖,供制作時(shí)參考。 電路工作原理VT1是常用的單晶晶體管BT33,與R1、C1、R2、R3等組成了典型的低頻振蕩電路,振蕩頻率可通過改變R1或C1的數(shù)值來調(diào)整。其輸出信號通過C3加在CD4017十進(jìn)制計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)觸發(fā)端(CP),CD4017的CP觸發(fā)端對高電平觸發(fā)有效,當(dāng)BT33輸出一個(gè)高電平時(shí),CD4017就計(jì)數(shù)一次,計(jì)數(shù)結(jié)果分別從CD4017輸出端Q1Q4輸出。當(dāng)計(jì)數(shù)為1時(shí),Q1輸出高電平,D3反向截止,R5提供接近+12V的電壓,使IC1a比較器的腳電

3、平高于腳施加的基準(zhǔn)電平,此時(shí),輸出端腳輸出高電平,LED1點(diǎn)亮;當(dāng)計(jì)數(shù)為2時(shí),Q2輸出高電平,同理使IC1b比較器的腳電平高于腳電平,腳輸出高電平,LED2點(diǎn)亮,此時(shí),Q1恢復(fù)低為電平,LED1熄滅。以次類推。當(dāng)計(jì)數(shù)為5時(shí),Q5輸出高電平經(jīng)過D2加至R復(fù)位端,R復(fù)位端加上高電平清零信號后,CD4017被清零。CD4017的輸出端Q1Q5全部被置為低電平,這時(shí)CD4017完成了一個(gè)輸出信號循環(huán)周期,然后接著開始新一輪的循環(huán)。 R9和DZ1組成了LM339比較器的基準(zhǔn)電壓,該基準(zhǔn)電壓可在58V之間選擇。LM339比較器的輸出端是集電極開路型輸出方式,當(dāng)LM339輸出高電平時(shí),實(shí)質(zhì)是將輸出端進(jìn)行了懸

4、空,所以,我們設(shè)置了所謂的上拉電阻R5R8,使輸出的高電平由上拉電阻來提供。集成電路檢測器在檢測LM339時(shí),其輸出高電平點(diǎn)亮發(fā)光二極管的狀態(tài)是按次序一只只點(diǎn)亮發(fā)光二極管的,當(dāng)一只發(fā)光管點(diǎn)亮?xí)r,其余三只發(fā)光管熄滅,具有似流水循環(huán)燈似的效果。我們設(shè)置LM339的輸入端比較電壓從0.6V到接近電源電壓這個(gè)大范圍電壓,可以考驗(yàn)LM339的輸入特性是否能夠承受大范圍的電壓輸入。 我們將K1合上選擇LED全亮?xí)r,要求不管CD4017輸出的是高電平還是低電平,LM339均應(yīng)輸出高電平,使四只發(fā)光二極管常亮。由于K1的接觸電阻可能會(huì)使基準(zhǔn)電壓高于零伏,如果CD4017輸出低電平使LM339的比較端電平也接近

5、零時(shí),就會(huì)造成比較器電路不能可靠翻轉(zhuǎn)為高電平的現(xiàn)象。CD4017是COMS電路,其在輸出低電平時(shí)的最大電平值僅0.05V,為了保證檢測的IC輸入端有穩(wěn)定的0.5V以上電壓差,設(shè)置了D3D6等元件。增加了D3D6后,使CD4017輸出低電平時(shí)的電平在0.6V左右,這樣當(dāng)K1合上時(shí),無論CD4017輸出的是高電平還是低電平,LM339比較端電平總是高于基準(zhǔn)端電平約0.5V以上,從而使LM339四路均輸出高電平,并有足夠的輸出幅度驅(qū)動(dòng)點(diǎn)亮發(fā)光二極管,達(dá)到四只發(fā)光二極管常亮的目的。圖4是該測試器的電源電路圖。 在測試LM324等非集電極開路型集成電路時(shí),其輸出高電平時(shí),被測集成電路會(huì)直接輸出高電平,使

6、R5R8上拉電阻失去限流作用,此時(shí),LED1LED4會(huì)因無限流電阻而承受很大的電流。加接了R14R17限流電阻后,就可限制 LED1LED4發(fā)光二極管流過的電流,保證電路可靠運(yùn)行。 制作注意事項(xiàng)常用比較器和運(yùn)放電路測試器可以測試LM339、LM324等具有單電源工作特性的集成電路,其接腳次序可參考表1和表2。如果要測試使用正負(fù)雙電源工作的比較器和運(yùn)放電路時(shí),測試電路需作一些相應(yīng)改動(dòng),由于篇幅關(guān)系這里不作闡述。 測試集成電路的插座應(yīng)選用測試集成電路的專用測試座,一般在較大的城市都可以買到。面板上的方孔尺寸就是集成電路的專用測試插座尺寸。如果無集成電路專用測試插座,采用一般集成電路插座也可以測試,只是在插入集成電路時(shí)沒有集成電路專用測試座方便,而且,在插入集成電路時(shí)容易將集成電路的腳插彎。 測試時(shí),在插裝或卸下IC時(shí),首先要斷開電源,當(dāng)K2按下關(guān)掉電源時(shí),開關(guān)會(huì)將電路中電容器上的殘余電荷泄放完畢,從而保證在插裝或卸下IC時(shí),不會(huì)出現(xiàn)帶電荷操作現(xiàn)象。 在檢測時(shí),為了保證檢測的可靠性,不能同時(shí)檢測二只舊集成電路。應(yīng)檢測完一種IC后,換上相應(yīng)的IC轉(zhuǎn)換插座后,再檢測相應(yīng)的IC集成電路。

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