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1、畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC2主要內(nèi)容 設(shè)計(jì)需求 結(jié)構(gòu)選擇 工作原理 設(shè)計(jì)指標(biāo) 整體設(shè)計(jì) 仿真結(jié)果 部分測(cè)試結(jié)果 改進(jìn)方案畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)3高能物理中的模數(shù)變換器 典型的高能物理讀出電子學(xué)系統(tǒng) 特殊需求: 多通道:64128通道 低功耗:探測(cè)器端、總體消耗、散熱? 較高的精度、合適的速度 業(yè)界沒(méi)有高能物理專(zhuān)用的ADC,一直只能采用其他類(lèi)型替代 物理信號(hào)同計(jì)算機(jī)信號(hào)的最終接口,模數(shù)混合器件 設(shè)計(jì)困難,經(jīng)常受到禁運(yùn)等因素的限制畢業(yè)答辯基于Wilkinso
2、nADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)4多通道模數(shù)變換片外ADC:需引出模擬信號(hào) 電纜連接,波形讀出 電纜驅(qū)動(dòng),阻性負(fù)載,功耗很大 不適合多通道集成基于分立元件的前端讀出方式片上高速ADC:無(wú)驅(qū)動(dòng)問(wèn)題 多路開(kāi)關(guān),電平讀出 模擬電平讀出,功耗大大降低 切換的死時(shí)間需要高速ADC基于集成電路的前端讀出方式 畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)片內(nèi)ADC的結(jié)構(gòu)選擇主流ADC發(fā)展趨勢(shì)FLASH 多通道變換需要合適的精度,較快的速度多通道變換需要合適的精度,較快的速度 -:精度高、速度太慢:精度高、速度太慢 Pipeline:功耗、面積:功耗、面積 Flash:功耗、面積太
3、大,精度低:功耗、面積太大,精度低 逐次逼近:精度速度都比較合適、功耗低逐次逼近:精度速度都比較合適、功耗低畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)采樣保持電路在模數(shù)變換中的地位 多通道、高計(jì)數(shù)率變換需要較快的ADC變換速度 S/H將信號(hào)離散化,使后端電路僅面對(duì)固定電平,降低了孔徑誤差的影響,對(duì)后端電路要求降低 S/H電路是ADC動(dòng)態(tài)誤差的主要來(lái)源之一,對(duì)模數(shù)變換的性能影響至關(guān)重要 高速、高精度ADC要求S/H電路具有較小的精度誤差(增益)和很小的建立時(shí)間(速度) 設(shè)計(jì)采樣保持模塊,應(yīng)用在一款逐次逼近ADC設(shè)計(jì)中,實(shí)現(xiàn)實(shí)用性畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模
4、數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)7主要內(nèi)容 設(shè)計(jì)需求 結(jié)構(gòu)選擇 工作原理 設(shè)計(jì)指標(biāo) 整體設(shè)計(jì) 仿真結(jié)果 部分測(cè)試結(jié)果 改進(jìn)方案畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)整體結(jié)構(gòu)和工作原理全差分采樣保持電路,驅(qū)動(dòng)后級(jí)逐次逼近ADC單元工作原理:復(fù)位: 1閉合,運(yùn)放建立工作點(diǎn),電容上極板電荷清零采樣: 1d閉合,電容充電,輸入信號(hào)被采樣保持讀出: 2閉合,其他斷開(kāi),電容下極板翻轉(zhuǎn)到輸出端,作為運(yùn)放反饋路徑進(jìn)行信號(hào)讀出需采用兩相不交疊時(shí)鐘,防止交替過(guò)程中電荷泄放畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)優(yōu)點(diǎn)諧波全差分電路抑制偶次諧波開(kāi)關(guān)注入效應(yīng)開(kāi)關(guān)對(duì)差分支路注入
5、等量電荷,電荷注入效應(yīng)和時(shí)鐘饋通效應(yīng)作為共模噪聲被抵消運(yùn)放失調(diào)采樣相運(yùn)放失調(diào)被電容儲(chǔ)存,讀出相被抵消。運(yùn)放失調(diào)被自動(dòng)消零電容匹配性電容值僅影響采樣速度,完全建立后采樣信號(hào)同電容值無(wú)關(guān)讀出相未發(fā)生電荷轉(zhuǎn)移,保持信號(hào)同電容值也無(wú)關(guān)電容不需要精確匹配即能保證差分特性 輔助開(kāi)關(guān)輔助開(kāi)關(guān)1、 _2: 反饋開(kāi)關(guān)尺寸失配將導(dǎo)反饋開(kāi)關(guān)尺寸失配將導(dǎo)致注入到輸入端的電荷致注入到輸入端的電荷不一致不一致 添加輔助開(kāi)關(guān)消除有限添加輔助開(kāi)關(guān)消除有限電荷注入失配的影響電荷注入失配的影響畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)10采樣開(kāi)關(guān)采樣開(kāi)關(guān)導(dǎo)通電阻決定采樣速率采用CMOS開(kāi)關(guān)降低導(dǎo)通電阻導(dǎo)通
6、電阻隨輸入信號(hào)電平而變化,導(dǎo)致諧波失真選擇開(kāi)關(guān)合適的寬長(zhǎng)比比例,使導(dǎo)通電阻隨輸入電平變化較較為平坦畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)11全差分采樣保持運(yùn)放設(shè)計(jì)三個(gè)部分: 運(yùn)放主體:兩級(jí)增益 連續(xù)時(shí)間共模反饋1. 開(kāi)關(guān)電容共模反饋 性能要求:性能要求:開(kāi)環(huán)增益開(kāi)環(huán)增益80dB單位增益帶寬單位增益帶寬100MHz負(fù)載電容負(fù)載電容6p建立時(shí)間小于建立時(shí)間小于20ns畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)考慮采用兩級(jí)結(jié)構(gòu):增益要求80dB,單級(jí)難以實(shí)現(xiàn);建立時(shí)間小于20ns,有帶寬要求Folded Cas+Gain Boosting?Do
7、ublet可能影響建立時(shí)間特性Telescopic:動(dòng)態(tài)范圍主運(yùn)放:差分對(duì)+共源共柵缺點(diǎn):輸出動(dòng)態(tài)范圍不如簡(jiǎn)單共源減小vdsat保證動(dòng)態(tài)范圍如果共源共柵在輸入級(jí)?輸入動(dòng)態(tài)范圍受限共模反饋復(fù)雜度增加 兩級(jí)結(jié)構(gòu)帶來(lái)共模反饋兩級(jí)結(jié)構(gòu)帶來(lái)共模反饋問(wèn)題問(wèn)題 純連續(xù)時(shí)間共模反饋:純連續(xù)時(shí)間共模反饋: 動(dòng)態(tài)范圍動(dòng)態(tài)范圍 共模探測(cè)電阻驅(qū)動(dòng)能力共模探測(cè)電阻驅(qū)動(dòng)能力 帶寬、穩(wěn)定性帶寬、穩(wěn)定性 無(wú)法采用單一無(wú)法采用單一SC cmfb畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)開(kāi)關(guān)電容共模反饋SC cmfb通??刂破霉?jié)點(diǎn)采用統(tǒng)一SC cmfb:正反饋,cmfb反饋環(huán)路需反相兩級(jí)分別采用獨(dú)立的S
8、C cmfb?復(fù)雜:控制邏輯、開(kāi)關(guān)、電容元件多利用部分連續(xù)時(shí)間共模反饋,復(fù)制第一級(jí)作為cmfb反相畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)14連續(xù)時(shí)間共模反饋設(shè)計(jì)考慮一般連續(xù)時(shí)間共模反饋問(wèn)題 阻性驅(qū)動(dòng)、環(huán)路穩(wěn)定性、動(dòng)態(tài)范圍結(jié)構(gòu)選擇: 直接復(fù)制輸入級(jí)、低阻輸出(不存在穩(wěn)定性問(wèn)題) 各工作點(diǎn)同輸入級(jí)相同,容易建立 版圖可統(tǒng)一進(jìn)行,提高匹配性環(huán)路穩(wěn)定性設(shè)計(jì)考慮及仿真畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)共模反饋環(huán)路穩(wěn)定性環(huán)路切斷點(diǎn)環(huán)路切斷點(diǎn)采用理想共采用理想共模反饋替代模反饋替代共模反饋環(huán)路相位裕度共模反饋環(huán)路相位裕度 60輸入共模范圍:輸入共模
9、范圍:共模增益:共模增益:畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)運(yùn)放AC性能分析開(kāi)關(guān)電容開(kāi)關(guān)電容cmfb采用理想共模反饋替代采用理想共模反饋替代Worst Case:GBW 100MHz增益增益 79dB相位裕度均相位裕度均 60集成電路制造工藝將使得實(shí)際電集成電路制造工藝將使得實(shí)際電路參數(shù)偏離仿真值路參數(shù)偏離仿真值工藝工藝Corner仿真確定了工藝制仿真確定了工藝制造的最壞條件,保證運(yùn)放在各種造的最壞條件,保證運(yùn)放在各種工藝條件下性能均能滿(mǎn)足要求工藝條件下性能均能滿(mǎn)足要求畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)17開(kāi)關(guān)電容共模反饋傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)
10、工作原理參考電容被充至參考值探測(cè)電容探測(cè)實(shí)際工作點(diǎn)采樣相運(yùn)放空閑,電容并聯(lián),電荷分配,穩(wěn)定工作點(diǎn)保持相刷新參考電容,重新探測(cè)實(shí)際工作點(diǎn)尺寸選擇輸出端負(fù)載電容 vs. 收斂速度收斂速度:2個(gè)周期11bit建立時(shí)間:正沿13ns,負(fù)沿15ns畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)18采樣保持增益線(xiàn)性動(dòng)態(tài)范圍輸入差分考察輸出 vs. 輸入線(xiàn)性度線(xiàn)性度好于210-5畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)19采樣保持動(dòng)態(tài)性能采用10MHz采樣率仿真(實(shí)際為)256點(diǎn)FFT動(dòng)態(tài)特性:采樣率10MHz,輸入信號(hào)351.5625kHz (相關(guān)采樣比為9)
11、SFDR = 82.3dB 畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)采樣保持版圖12 234主運(yùn)放主運(yùn)放SC cmfb采樣控制采樣控制電源電源版圖設(shè)計(jì)考慮:版圖設(shè)計(jì)考慮:共心匹配共心匹配噪聲隔離噪聲隔離電源網(wǎng)絡(luò)分配電源網(wǎng)絡(luò)分配作為作為IP單元集成在單元集成在逐次逼近逐次逼近ADC中中畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)21主要內(nèi)容 設(shè)計(jì)需求 結(jié)構(gòu)選擇 工作原理 設(shè)計(jì)指標(biāo) 整體設(shè)計(jì) 仿真結(jié)果 部分測(cè)試結(jié)果 改進(jìn)方案畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)22測(cè)試環(huán)境 將采樣保持模塊集成于逐次逼近ADC中,對(duì)逐次逼近
12、ADC進(jìn)行測(cè)試 測(cè)試平臺(tái):基于Altera DE2開(kāi)發(fā)板和板載Cyclone II FPGA完成數(shù)據(jù)讀出 利用FPGA外部引腳控制芯片以及同芯片進(jìn)行互聯(lián) 利用FPGA內(nèi)部自帶nios II軟核,同計(jì)算機(jī)進(jìn)行通訊,完成數(shù)據(jù)傳遞FPGAUSBTo PCSocketLVDS BufferDUTSDRAM畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)23功能測(cè)試(通過(guò)片上模擬Probe buffer)全差分采樣保持輸出全差分采樣保持輸出瞬態(tài)波形和建立良好瞬態(tài)波形和建立良好變化開(kāi)始在采樣開(kāi)始后的變化開(kāi)始在采樣開(kāi)始后的第第4個(gè)周期(個(gè)周期(100ns)同仿真相符同仿真相符畢業(yè)答辯基于W
13、ilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)24動(dòng)態(tài)性能測(cè)試(連同ADC)16384點(diǎn)FFT,采樣率,輸入信號(hào)(相關(guān)系數(shù)1109)(-3dBFS)ADC的非線(xiàn)性較大,反映到頻譜中:無(wú)明顯諧波,雜波很多畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)25初步刻度考慮通過(guò)后端刻度,消除ADC非線(xiàn)性對(duì)動(dòng)態(tài)性能的影響,從而留下采樣保持電路的諧波特性以供分析刻度方案:實(shí)際實(shí)際SARADC實(shí)際實(shí)際SARADC+刻度表刻度表 一般刻度方法基于一般刻度方法基于DAC,精度受限,且主要適合于修正線(xiàn),精度受限,且主要適合于修正線(xiàn)性誤差(增益誤差、失調(diào)誤差),對(duì)非線(xiàn)性誤差修正能力性誤差(增
14、益誤差、失調(diào)誤差),對(duì)非線(xiàn)性誤差修正能力很有限很有限畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)26基于正弦波的刻度方案利用被測(cè)利用被測(cè)ADC采樣并采樣并FFT:得到精確的輸入正:得到精確的輸入正弦波的頻率弦波的頻率FIR:通過(guò):通過(guò)FIR濾波器構(gòu)建,確定各階系數(shù),構(gòu)濾波器構(gòu)建,確定各階系數(shù),構(gòu)建極窄帶帶通濾波器建極窄帶帶通濾波器由于已知輸入信號(hào)特由于已知輸入信號(hào)特性,通頻帶僅設(shè)定為輸入頻率一個(gè)點(diǎn)性,通頻帶僅設(shè)定為輸入頻率一個(gè)點(diǎn)輸入信號(hào)重建:利用上述輸入信號(hào)重建:利用上述FIR濾波器對(duì)輸入信濾波器對(duì)輸入信號(hào)重新進(jìn)行數(shù)字濾波,得到基本號(hào)重新進(jìn)行數(shù)字濾波,得到基本noise free的的純凈參考正弦波純凈參考正弦波利用利用running average方法獲得刻度表方法獲得刻度表畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換ASIC相關(guān)設(shè)計(jì)27刻度結(jié)果-低頻畢業(yè)答辯基于WilkinsonADC多通道模數(shù)變換A
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