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1、溫度循環(huán)應(yīng)力篩選應(yīng)力篩選(Environmental Stress Screening,簡(jiǎn)稱ESS)說(shuō)明:     應(yīng)力篩選是產(chǎn)品在設(shè)計(jì)強(qiáng)度極限下,運(yùn)用加速技巧外加環(huán)境應(yīng)力,如:預(yù)燒(burn in)、溫度循環(huán)(temperature cycling)、隨機(jī)振動(dòng)(random vibration)、開閉循環(huán)(power cycle).等方法,透過(guò)加速應(yīng)力來(lái)使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)潛在零件材料瑕疵、設(shè)計(jì)瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵,以及消除電子或機(jī)械類殘留應(yīng)力,還有消除多層電路板間的雜散電容,將澡盆曲線里面的早夭期階段的產(chǎn)品事先剔除與修里,使產(chǎn)品透過(guò)適

2、度的篩選,保存澡盆曲線的正常期與衰退期的產(chǎn)品,以避免該產(chǎn)品于使用過(guò)程中,受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時(shí)而導(dǎo)致失效,造成不必要的損失,雖然使用ESS應(yīng)力篩選會(huì)增加成本與時(shí)間,但是對(duì)于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù),有顯著的效果,對(duì)于總成本反而會(huì)降低,另外客戶信任度也會(huì)有所提升,一般針對(duì)于電子零件的應(yīng)力篩選方式有預(yù)燒、溫度循環(huán)、高溫、低溫,PCB印刷電路板的應(yīng)力篩選方式為溫度循環(huán),針對(duì)于電子成本的的應(yīng)力篩選為:通電預(yù)燒、溫度循環(huán)、隨機(jī)振動(dòng),另外應(yīng)力篩本身是一種制程階段的過(guò)程,而不是一種試驗(yàn),篩選是100對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行的程序。應(yīng)力篩選適用產(chǎn)品階段:研發(fā)階段、批量生產(chǎn)階段、出廠前(篩選試驗(yàn)可以在組件、器件、連接器等

3、產(chǎn)品或整機(jī)系統(tǒng)中進(jìn)行,根據(jù)要求不同可以                      有不同的篩選應(yīng)力)應(yīng)力篩選比較:a.恒定高溫預(yù)燒(Burn in)的應(yīng)力篩選,是目前電子IT產(chǎn)業(yè)常用析出電子元器件缺陷的方法,但是這種方式比較不適合用于篩選零件  (PCB、IC、電阻、電容),根據(jù)統(tǒng)計(jì)在美國(guó)使用溫度循環(huán)對(duì)零件進(jìn)行篩選的公司數(shù)要比使用恒定高溫預(yù)燒對(duì)組件進(jìn)行篩選的

4、公司數(shù)多5倍。b.GJB/DZ34表示溫度循環(huán)和隨機(jī)振動(dòng)篩選出缺陷的比例,溫度約占80%,振動(dòng)約占20%各種產(chǎn)品中篩出缺陷的分情況  ESS應(yīng)力篩選出百缺陷的分比 %硬  體  類  型ESS所在組裝等級(jí)溫    度振    動(dòng)飛機(jī)發(fā)電機(jī)單  元5545計(jì)算機(jī)電源單  元8812航空電子設(shè)備計(jì)算機(jī)單  元8713艦載計(jì)算機(jī)單  元937接收處理機(jī)單

5、  元7129慣導(dǎo)裝置單  元7723接收系統(tǒng)單  元8713機(jī)載計(jì)算機(jī)模  塊8713控制指示器單  元7827接收發(fā)射機(jī)模  塊7426 篩選率平均值7921c.美國(guó)曾對(duì)42家企業(yè)進(jìn)行調(diào)查統(tǒng)計(jì),隨機(jī)振動(dòng)應(yīng)力可篩出1525%的缺陷,而溫度循環(huán)可篩選出7585%,如果兩者結(jié)合的話可達(dá)90%。d.藉由溫度循環(huán)所檢測(cè)出的產(chǎn)品瑕疵類型比例:設(shè)計(jì)裕度不足:5%、生產(chǎn)做工失誤:33%、瑕疵零件:62%溫度循環(huán)應(yīng)力篩選的故障誘發(fā)說(shuō)明:溫度循環(huán)誘發(fā)的產(chǎn)品故障原因?yàn)椋寒?dāng)溫度在上、下

6、限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)時(shí),產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮,使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變。如果產(chǎn)品內(nèi)部有瞬時(shí)的熱梯變(溫度不均勻性),或產(chǎn)品內(nèi)部鄰接材料的熱膨脹系數(shù)彼此不匹配時(shí),則這些熱應(yīng)力和應(yīng)變將會(huì)更加劇變。這種應(yīng)力和應(yīng)變?cè)谌毕萏幾畲螅@種循環(huán)使缺陷長(zhǎng)大,最終可大到能造成結(jié)構(gòu)故障并產(chǎn)生電故障。例如,有裂紋的電鍍通孔其周圍最終完全裂開,引起開路。熱循環(huán)使焊接和印刷電路板上電鍍通孔.等產(chǎn)生故障的首要原因,溫度循環(huán)應(yīng)力篩選尤其最為適用于印刷電路板結(jié)構(gòu)的電子產(chǎn)品。溫度循環(huán)所激發(fā)出的故障模式或?qū)Ξa(chǎn)品的影響如下:a.使涂層、材料或線頭上各種微觀裂紋擴(kuò)大 b.使粘接不好的接頭松弛 c.使螺釘連接或鉚接

7、不當(dāng)?shù)慕宇^松弛 d.使機(jī)械張力不足的壓配接頭松弛 e.使質(zhì)量差的焊點(diǎn)接觸電阻加大或造成開路 f.粒子、化學(xué)污染g.密封失效h.包裝問(wèn)題,例如保護(hù)涂層的連結(jié)i.變壓器和線圈短路或斷路j.電位計(jì)有瑕疵k.焊接和熔接點(diǎn)接續(xù)不良l.冷焊接點(diǎn)m.多層板因處理不當(dāng)而開路、短路n.功率晶體管短路o.電容器、晶體管不良p.雙列式集成電路破損q.因毀損或不當(dāng)組裝,造成幾乎短路的線匣或電纜r.因處理不當(dāng)造成材質(zhì)的斷裂、破裂、刻痕.等s.超差零件與材質(zhì)t.電阻器因缺乏合成橡膠緩沖涂層而破裂u.晶體管發(fā)涉及金屬帶接地出現(xiàn)發(fā)樣裂紋v.云母絕緣墊片破裂,導(dǎo)致晶體管短路w.調(diào)協(xié)線圈金屬片固定方

8、式不當(dāng),導(dǎo)致不規(guī)律輸出x.兩極真空管在低溫下內(nèi)部開路y.線圈間接性的短路z.沒(méi)有接地的接線頭a1.元器件參數(shù)漂移a2.元器件安裝不當(dāng)a3.錯(cuò)用元器件a4.密封失效溫度循環(huán)應(yīng)力篩選的應(yīng)力參數(shù)介紹:溫度循環(huán)應(yīng)力篩選的應(yīng)力參數(shù)主要有下列幾項(xiàng):高低溫極值范圍、駐留時(shí)間、溫變率、循環(huán)數(shù)高低溫極值范圍:高低溫極值范圍愈大,所需循環(huán)數(shù)愈少,成本愈低,但是不可以超過(guò)產(chǎn)品可承受的極限,不引發(fā)新的故障構(gòu)因?yàn)樵瓌t,溫度變化的上下限差距不要少88°C,典型的變化范圍為-54°C到55°C。駐留時(shí)間:另外駐留時(shí)間也不可以太短,否則來(lái)不及使待測(cè)品產(chǎn)生熱漲冷縮的應(yīng)力變化,至于駐留時(shí)間多少,不同

9、產(chǎn)品的駐留時(shí)間皆不相同,可以參考相關(guān)規(guī)范要求。循環(huán)數(shù):至于溫度循環(huán)應(yīng)力篩選的循環(huán)數(shù),也是考慮產(chǎn)品特性、復(fù)雜度、溫度上下限以及篩選率在訂定,其篩選數(shù)也不可超過(guò),否則會(huì)讓產(chǎn)品產(chǎn)生不必要的傷害,也無(wú)法提高篩選率,溫度循環(huán)數(shù)從110個(gè)循環(huán)普通篩選、一次篩選到2060個(gè)循環(huán)精密篩選、二次篩選都有,針對(duì)去除最可能發(fā)生的做工(workmanship)缺陷,大約需要610個(gè)循環(huán)才能夠有效去除,另外針對(duì)于溫度循環(huán)的有效性,主要取決于產(chǎn)品表面的溫變率,而不是試驗(yàn)箱體里面溫變率。溫度循環(huán)的主要影響參數(shù)有下列七項(xiàng):(1)溫度范圍(Temperature Range)(2)循環(huán)數(shù)(Number of Cycles)(3

10、)溫度變率(Temperature Rate of Chang)(4)駐留時(shí)間(Dwell Time)(5)風(fēng)速(Airflow Velocities)(6)應(yīng)力均勻度(Uniformity of Stress)(7)功能測(cè)試與否(Product Operating Condition)溫變率及循環(huán)數(shù)對(duì)篩選率的比較表:說(shuō)明:假設(shè)高低溫差(R)固定的條件下,其循環(huán)數(shù)也固定,溫變率越高其篩選率也會(huì)有所提高,如試驗(yàn)條件及規(guī)范有規(guī)定固定的溫變率,則增加循環(huán)數(shù)也可提高篩選率,但其篩選率有一定限度,并沒(méi)有辦法成線性提高。應(yīng)力篩選疲勞分類:一般關(guān)于疲勞研究之分類如,可分為高周疲勞(High-cycle Fa

11、tigue)、低周疲勞(Low-cycle Fatigue)及疲勞裂縫成長(zhǎng)(Fatigue Crack Growth),而在低周疲勞方面又可細(xì)分為熱疲勞(Thermal Fatigue)及恒溫疲勞(Isothermal Fatigue)兩種。應(yīng)力篩選專門名詞整理:part(元器件)產(chǎn)品中可以拆裝的最小可分辨項(xiàng)目,如分立半導(dǎo)體器件、電阻、集成電路、焊點(diǎn)和連接器等。assembly(組件)設(shè)計(jì)成可裝入某一單元并與類似或其它的組件一起工作,且由一定數(shù)量的元器件組成的組合件,如印制線路板組件、電源模塊和磁心存貯器模塊等。unit(單元)裝在機(jī)箱內(nèi)的一些機(jī)箱自含元器件和(或)組件。它能完成一個(gè)特定功能或

12、一組功能,并且可作為一個(gè)獨(dú)立的部分從系統(tǒng)中更換,如自動(dòng)駕駛儀的計(jì)算機(jī)和甚高頻通訊設(shè)備的發(fā)射機(jī)。equipment/system(設(shè)備或系統(tǒng))互連或組裝在一起后,能執(zhí)行完整功能的若干單元的總稱,如飛行控制系統(tǒng)和通訊系統(tǒng)。item(產(chǎn)品)可以單獨(dú)考慮的任一組件、單元、設(shè)備或系統(tǒng)的統(tǒng)稱。defect(缺陷)產(chǎn)品中可能導(dǎo)致出現(xiàn)故障的固有或誘發(fā)的薄弱點(diǎn)。patent defect(明顯缺陷)用常規(guī)的檢查、功能測(cè)試和其它規(guī)定的方法,而不需用環(huán)境應(yīng)力篩選可發(fā)現(xiàn)的缺陷。latent defect(潛在缺陷)用常規(guī)的檢查、功能測(cè)試和其它規(guī)定的方法不能發(fā)現(xiàn)的缺陷。其中一部分缺陷若不用環(huán)境應(yīng)力篩選將其排除,則在使用

13、環(huán)境中可能會(huì)以早期故障形式暴露出來(lái)。escaped defect(漏篩缺陷)引入缺陷中用篩選和檢測(cè)未曾發(fā)現(xiàn),漏入到下一組裝等級(jí)的部分。defect density(缺陷密度)一組(批)產(chǎn)品中每個(gè)產(chǎn)品所含缺陷的平均數(shù)。缺陷密度可分為引入缺陷密度、漏篩缺陷密度、殘留缺陷密度和觀察到的殘留缺陷密度。part fraction defective(元器件缺陷率)以百萬(wàn)分之一(ppm)為單位表示的一組元器件中有缺陷元器件所占的比例。fallout(析出量)在應(yīng)力篩選期間或在應(yīng)力篩選之后立即檢測(cè)到的故障數(shù)。screenable latent defect(可篩選出的潛在缺陷)現(xiàn)場(chǎng)使用中應(yīng)判為是以早期故障形

14、式析出的缺陷,定量篩選中可把故障率大于 的潛在缺陷作為要篩選出的潛在缺陷。stress screening(應(yīng)力篩選)將機(jī)械應(yīng)力、電應(yīng)力和(或)熱應(yīng)力施加到產(chǎn)品上,以使元器件和工藝方面的潛在缺陷以早期故障形式析出的過(guò)程。screen parameter(篩選參數(shù))篩選度公式中的諸參數(shù),如振動(dòng)量值,溫度變化速率和持續(xù)時(shí)間等。screening strength(篩選度)產(chǎn)品中存在對(duì)某一特定篩選敏感的潛在缺陷時(shí),該篩選將該缺陷以故障形式析出的概率。test detection efficiency(檢測(cè)效率)檢測(cè)充分程度的度量,它是由規(guī)定檢測(cè)程序發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)與篩出的總?cè)毕輸?shù)之比值。test str

15、ength of screening(篩選檢出度)用篩選和檢測(cè)將缺陷析出的概率,它是篩選度和檢測(cè)效率的乘積。thermal survey(熱測(cè)定)使受篩產(chǎn)品處于規(guī)定溫度下,并在產(chǎn)品內(nèi)有關(guān)的部位測(cè)量其熱響應(yīng)特性的過(guò)程。有關(guān)部位可以是熱慣性最大的部位,也可以是關(guān)鍵部位。vibration survey(振動(dòng)測(cè)定)使受篩產(chǎn)品經(jīng)受振動(dòng)激勵(lì),并在產(chǎn)品內(nèi)有關(guān)部位測(cè)量其振動(dòng)響應(yīng)特性的過(guò)程。有關(guān)部位可以是預(yù)計(jì)響應(yīng)最大部位,也可以是關(guān)鍵部位。selection/placement of screening(篩選的選擇和安排)系統(tǒng)地選擇最有效的應(yīng)力篩選并把它安排在適當(dāng)?shù)慕M裝級(jí)上的過(guò)程。yield(篩選成品率)&#

16、160;經(jīng)篩選交收時(shí),設(shè)備內(nèi)可篩選出的潛在缺陷為零的概率。應(yīng)力篩選專門名詞縮寫詞:ESS:環(huán)境應(yīng)力篩選FBT:功能板測(cè)試儀ICA:電路分析儀ICT:電路測(cè)試儀LBS:負(fù)載板短路測(cè)試儀MTBF:平均故障間隔時(shí)間溫度循環(huán)循環(huán)數(shù):a.MIL-STD-2164(GJB 1302-90):在缺陷剔除試驗(yàn)中,溫度循環(huán)數(shù)為10、12次,在無(wú)故障檢測(cè)中則為1020次或1224次針對(duì)去除最可能發(fā)生的做工(workmanship)缺陷,大約需要610個(gè)循環(huán)才能夠有效去除,110個(gè)循環(huán)普通篩選、一次篩選、2060個(gè)循環(huán)精密篩選、二次篩選。b.DOD-HDBK-344(GJB/DZ34)初始篩選設(shè)備和單元一級(jí)采用10

17、20個(gè)循環(huán)(通常10),組件級(jí)采用2040循環(huán)(通常25)。溫變率:a.MIL-STD-2164(GJB1032)明確說(shuō)明:溫度循環(huán)的溫度變化率5/minb.DOD-HDBK-344(GJB/DZ34)組件級(jí)15/min、系統(tǒng)5/minc.一般未規(guī)定溫變率的溫度循環(huán)應(yīng)力篩選,其常用的度變化率通常為5°C/min溫度循環(huán)應(yīng)力篩選試驗(yàn)條件:應(yīng)力篩選規(guī)范列表應(yīng)力篩選規(guī)范:MIL-202C-106、107電子及電器部件試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)MIL-781可靠性試驗(yàn)方法手冊(cè)HB/Z213機(jī)載電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選指南HB6206機(jī)載電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法JESD22-A109-A器密試驗(yàn)方法TE000-

18、AB-GTP-020環(huán)境應(yīng)力篩選要求與海軍電子設(shè)備應(yīng)用CFR-Title 47-Chapter I-68.302美國(guó)聯(lián)邦通訊委員會(huì)環(huán)境仿真GJB/Z34電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南HB/Z213組件級(jí)環(huán)境應(yīng)力篩選溫度循環(huán):EC 68-2-14溫度變化MIL-STD-2164電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法=GJB1032-1990GJB1032-1990電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法DOD-HDBK-344電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選=GJB/Z34-1993NABMAT-9492美軍海軍制造篩選JIS C5030熱循環(huán)試驗(yàn)零件預(yù)燒試驗(yàn):MIL-STD-883,Method 1008預(yù)燒MIL-STD-883,Method 1015(IC類預(yù)燒)MIL-STD-750,Method 1038(二極管類預(yù)燒)MIL-STD-750,Method1039晶體管類預(yù)燒)MIL-STD-883,Method 1010溫度循環(huán)MIL-M-38510軍用微型電路的一般規(guī)格MIL-S-19500半導(dǎo)體器件要求和特點(diǎn)系統(tǒng)預(yù)燒:MIL-781可靠性設(shè)計(jì)鑒定與生產(chǎn)接收試驗(yàn)MIL-810美國(guó)軍標(biāo)環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn) 相關(guān)廠商溫度循環(huán)應(yīng)力篩選循環(huán)數(shù)

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