SPC統(tǒng)計制程控制程序

1、規(guī)章、制度系統(tǒng)文件文件類別程序文件文件名稱統(tǒng)計制程控制程序版 次2. 0核準(zhǔn)審核制作持有單位發(fā)行章2文件修訂履歷表制定、修訂記錄發(fā)布日期發(fā)行 版次發(fā)行 頁次修訂 版次修訂 頁次修 訂內(nèi) 容 重 點表單編號00040 0 r2011、H的統(tǒng)計制程控制程序定有關(guān)統(tǒng)計過程控制及過程能力分析的方法。2、使用范圍本規(guī)定適用于設(shè)備能力、初始過程能力和長期過程能力的研究。3、 術(shù)語3.1 變差：也稱波動，指同一過程輸出個體間的差異。3.2 2初始過程能力：是過程總變差的總范圍（6cs）。3.3 3過程能力：某一穩(wěn)定過程固有變差的總范圍（6 c R/d2）。3.4 初始過程能力指數(shù)：不考慮過程有無偏移，定義為

2、容差寬度除以過程能力，用以評價生產(chǎn)過程 準(zhǔn)備情況。3.5 過程能力指數(shù)：不考慮過程有無偏移，定義為容差寬度除以過程能力，用以評價某一穩(wěn)定過程 的輸出同規(guī)范要求（顧客要求）的關(guān)系、3.6 Cmk （設(shè)備能力指數(shù)）：衡量所使用的設(shè)備是否滿足零件加工精度的要求的定量化指標(biāo)。3.7 7統(tǒng)計過程控制：適用諸如控制圖等統(tǒng)計技術(shù)來分析過程或其輸出，以便采取適當(dāng)?shù)拇胧﹣磉_(dá)到 并保持統(tǒng)計控制狀態(tài)，從而提高過程能力。3.8 控制圖：用來表示一個過程特性的圖像，圖上標(biāo)有根據(jù)那個特性收集到的一些統(tǒng)計數(shù)據(jù)，一條 中心線，一條或兩條控制限。它能減少I類或U類錯誤的凈經(jīng)濟(jì)損失。它有 兩個基本的用 途：一是用來判定一個過程是

3、否一直受統(tǒng)計控制；二是用來監(jiān)控過程保 持受控狀態(tài)?？刂茍D可分為計量型和計數(shù)型兩大類。計量型的過程表現(xiàn)為得到的質(zhì)量特性為可度量的數(shù)值 （如直徑、長度等），計數(shù)型表現(xiàn)為只有兩個數(shù)值（如合格/不合格，成功/失?。麄?可以被計數(shù)從而用來記錄和分析。4、職責(zé)4.1新產(chǎn)品試制階段，由產(chǎn)品質(zhì)量先期策劃小組依據(jù)產(chǎn)品/過程特殊特性，制定設(shè)備能力、初始過 程能力研究計劃，并組織實施。4. 2批量生產(chǎn)階段，由技術(shù)部技術(shù)人員負(fù)責(zé)制定計劃（或依特殊情況），收集數(shù)據(jù)及計算，并正確 評價。3若統(tǒng)計制程控制程序計過程不受控，相關(guān)職能部門應(yīng)制定過程糾正預(yù)防措施并實施。4. 4技術(shù)部監(jiān)督并驗證過程糾正預(yù)防措施的實施。4.5

4、正常生產(chǎn)過程中，確保每半年對關(guān)鍵、重要特性(可收集計量型數(shù)據(jù)的)進(jìn)行一次 Cpk值研究。當(dāng)顧客有特殊要求時，執(zhí)行顧客要求。5、工作內(nèi)容及控制方法51設(shè)備能力的測算5.1.1 確定所研究的對象分析和加工零件的待測特性及規(guī)范公差，測量方法和測量工具。5.1.2樣 本數(shù)：最小樣本為50件。5.1.3 研究時機(jī)：新零件、新設(shè)備/模具、公差帶壓縮、設(shè)備大修、設(shè)備更新、機(jī)器搬遷、長期停 產(chǎn)等。5.1.4 采集樣本的時機(jī)在做完測量系統(tǒng)分析并合格后，按規(guī)定的樣本數(shù)連續(xù)采集數(shù)據(jù)并記錄。5. 1. 5計算公式S二乞(Xi-x ) 2 (n-1)Cm-(USL-LSL)/6S(：底二11150；5匚乂)/35, (

5、X-LSL) /3S s過程變差的平方根n采集的樣本數(shù)Xi 樣本的測量值X樣本的平均值USL公差的上限LSL公差的下限5.1.6設(shè)備能力的評價CmQ L 67,設(shè)備有滿足質(zhì)量指標(biāo)的加工能力，可使用于指定生產(chǎn)；CmQ 1.67,設(shè)備能力不足，應(yīng)對該設(shè)備加工的所有零件進(jìn)行100%僉驗，并對設(shè)備進(jìn)行檢修，檢修后重新進(jìn)行Cmk研究。5. 1. 7保存設(shè)備能力測算表由生產(chǎn)部負(fù)責(zé)保存，期限長期。5. 2過程性能及過程能力研究一5.1.1 制定“ Ppk、Cpk計戈5.1.2 繪制分析用控制圖（X-R圖為例）5.2.2.1收集數(shù)據(jù)并記錄在控制圖上，同時與控制圖下面記錄過程相關(guān)事件。5. 2. 2. 2計算每

6、一子組的均值和極差，并記錄在控制圖上。X=EXi/n , R=Xmax-Xminn：子組中樣品數(shù)量Xi ：子組中每一樣品測量值Xmax子組中最大樣品測量值Xmi n：子組中最小樣品測量值5. 2.3選定控制圖的刻度5. 2. 4按平均值和極差值在控制圖上描出對應(yīng)點。6. 2. 5計算極差均值和過程均值X,并按均值在控制圖上畫出中心線。VX = Xi /KR =i Vri/kN式中：k:子組數(shù)Ri :每一個子組的極差Xi :每一個子組的均值7. 2.6計算控制限UO D4RLCL-DrR 一UCL=X* A RLCb二 X -A2 R式中Ac, D3, D4根據(jù)子組容量表查得出5. 2. 7按計

7、算結(jié)果在均值圖和極差圖中畫出控制限。5.2. 8分析控制圖是否隨即分布：a.點：出現(xiàn)超出控制線的點;b.鏈：產(chǎn)生連續(xù)七點上升/下降/在平均值的一側(cè)的點;C.明顯的非隨機(jī)圖形：顯著多于（或少于）2/3的點落在離均值很近之處。若有上述非隨機(jī)分布現(xiàn)象，貝去除非隨機(jī)點，重新計算控制界限，再次分析控制圖；如需采取糾正措施，改進(jìn)過程，則應(yīng)在糾正措施實施有效后重新收集數(shù)據(jù)，制作控制 圖并重新進(jìn)行分析。529計算初始過程能力指數(shù)：(試生產(chǎn)階段進(jìn)行或過程改變)Pp二(USL-LSL) /6(Ts式中：USL規(guī)范的公差上限LSL:規(guī)范的公差下限CS :總體樣本標(biāo)準(zhǔn)差在過程有偏移的情況下Ppk=min(USL-X)

8、/3 tS s , (X-LSL)/3 tS s (T s=n刀 Xi- X)2/( n -1 )Ppk> 1.67 :滿足要求，可以進(jìn)入批量生產(chǎn)階段。Ppkv 1.67 :初始能力需改進(jìn)減少特殊原因引起的變差，將過程均值調(diào)整到接近目標(biāo)值。減少特殊原因引起的變差，減少單個過程特性值的變差。改變規(guī)范使之與過程能力一致。5. 2. 11生產(chǎn)現(xiàn)場品檢人員制作控制用控制圖：5. 2.11.1將初始過程滿足質(zhì)量要求所到的控制中心線與上、下控制限畫在控制圖上。5. 2.11.2按初始過程能力研究確定的子組大小收集樣本，記錄過程事件。5.2.11.3計算每組樣本的均制和極差，并在控制圖上描點。5. 2

9、.11.4分析控制圖上的點是否隨機(jī)分布(方法同5.1.8 )5. 2. 12計算過程能力指數(shù)Cp-(USL-LSL) / 6cR/d2 Cpk=min(USL-X)/ 3cR/d2, (X-LSL) / 3cR/d2)其中(T R/d2= R/d2,式中 d2 根據(jù)子組 容量查表得出Cpk過程等級評價處理原則> 1.67特級理想1 .可以考慮放寬對特性波動的控制2 .收縮標(biāo)準(zhǔn)范圍，提高質(zhì)量要求1. 33 v Cpkw 1. 67一級正常1 .關(guān)鍵特性不變，非關(guān)鍵特性可降低對 波動的限制；2 .簡化檢驗，換全檢為抽檢或減少抽檢頻次。1. 00 v Cpkw 1. 33二級略顯不足1 .當(dāng)為L33時，處于正常狀態(tài)；2 .當(dāng)接近1時，應(yīng)加強管理；3 . 一般不能簡化檢驗。0. 67 v Cpkw 1. 00三級不足1 .分析產(chǎn)生不足的原因，米取措施加以改進(jìn)；2 .加強檢驗，實行全數(shù)檢驗或考慮放寬標(biāo)準(zhǔn)范圍。Cpkv 0. 67四級嚴(yán)重不L停止加_L,立即追查原因；2.采取措施，實行