集成移位寄存器測試(15分鐘)

1、 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 1 1集成移位寄存器的測試 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 2 2 2 2數(shù)字電路分析與應(yīng)用 數(shù)字電 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 2 21 移位寄存器的定義及分類2 74LS194移位寄存器的邏輯功能測試集成移位寄存器的測試 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 3 3 3 3數(shù)字電路分析與應(yīng)用 數(shù)字電 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 3 31 移位寄存器的定義及分類集成移位寄存器的測試(1)移位寄存器的定義 移位寄存器是一個具有移位功能的寄存器，是指寄存器中所存的代碼能夠在移位脈沖的作用下依次左移或右移。既能左移又能右移的稱為雙向移位寄存器，只需要改變左、右移的控制信號便可實現(xiàn)雙向移位要求。 移位寄存器不僅可以組成串行

2、并行數(shù)碼轉(zhuǎn)換器，還可以方便地組成移位寄存器型計數(shù)器、脈沖分配器等電路。常用的移位寄存器有環(huán)行計數(shù)器和扭環(huán)型計數(shù)器。 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 4 4 4 4數(shù)字電路分析與應(yīng)用 數(shù)字電 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 4 4集成移位寄存器的測試（2）移位寄存器的分類 移位寄存器不但可以寄存數(shù)碼，而且在移位脈沖作用下，寄存器中的數(shù)碼可根據(jù)需要向左或向右移動1位。移位寄存器分為單向移位寄存器和雙向移位寄存器。 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 5 5 5 5數(shù)字電路分析與應(yīng)用 數(shù)字電 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 5 5集成移位寄存器的測試單向移位寄存器1）右移寄存器（D觸發(fā)器組成的4位右移寄存器） 右移寄存器的結(jié)構(gòu)特點：左邊觸發(fā)器的輸出端

3、接右鄰觸發(fā)器的輸入端。QRC11D1DC1RQ1DC1RQ1DQRC1Q0Q1Q2Q3CPCRID串行輸入串行輸出D0D1D20FF1FF2FF3FF并 行 輸 出D3 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 6 6 6 6數(shù)字電路分析與應(yīng)用 數(shù)字電 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 6 6集成移位寄存器的測試設(shè)移位寄存器的初始狀態(tài)為0000，串行輸入數(shù)碼DI=1101，從高位到低位依次輸入。其狀態(tài)表如下： 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 7 7 7 7數(shù)字電路分析與應(yīng)用 數(shù)字電 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 7 7集成移位寄存器的測試右移寄存器的時序圖：CPQ0Q1Q21234567893QID1110 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 8 8 8 8數(shù)字電路

4、分析與應(yīng)用 數(shù)字電 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 8 8集成移位寄存器的測試2）左移寄存器1DC1RQ1DQRC1Q1D1DC1C1RQRCPCRD01DFF0FF1FF23FF20并 行 輸 出3QQ1QQID串行輸入串行輸出2D3D左移寄存器的結(jié)構(gòu)特點：右邊觸發(fā)器的輸出端接左鄰觸發(fā)器的輸入端。 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 9 9 9 9數(shù)字電路分析與應(yīng)用 數(shù)字電 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 9 9集成移位寄存器的測試RFF1DC13Q&1R1DC12FFQ&1R1DC11FFQ&1FF&C1R01DQ1111QQQQ1302CPCR串行輸入SLD（左移）串行輸入DSR（右移）串行輸出DOR（右移）串行輸出DOL（左

5、移）移位控制SS=1：右移S=0：左移并 行 輸 出雙向移位寄存器 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 1010 1010數(shù)字電路分析與應(yīng)用 數(shù)字電 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 1010集成移位寄存器的測試 將右移寄存器和左移寄存器組合起來，并引入一控制端S便構(gòu)成既可左移又可右移的雙向移位寄存器。 其中，DSR為右移串行輸入端，DSL為左移串行輸入端。 當(dāng)S=1時，D0=DSR、D1=Q0、D2=Q1、D3=Q2，實現(xiàn)右移操作； 當(dāng)S=0時，D0=Q1、D1=Q2、D2=Q3、D3=DSL，實現(xiàn)左移操作。 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 1111 1111數(shù)字電路分析與應(yīng)用 數(shù)字電 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 11112 74LS194

6、移位寄存器的邏輯功能測試集成移位寄存器的測試（1 1）邏輯符號）邏輯符號0Q1QS3D2D1D0D2Q3Q7419441235671516D0D1D2GNDQ3Q2Q1Vcc74194891011121413RD3D0SQ0SRDCPSLSR01SRSLS1CPDDDD 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 1212 1212數(shù)字電路分析與應(yīng)用 數(shù)字電 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 1212集成移位寄存器的測試（2）其邏輯功能測試 計數(shù)脈沖由單次脈沖源提供，清零端為 、工作狀態(tài)控制端M1 M2、并行數(shù)據(jù)輸入端D0D3、DSL為左移串行數(shù)據(jù)輸入端、DSR右移串行數(shù)據(jù)輸入端分別接邏輯電平開關(guān)，輸出端Q0Q3均接邏輯電平顯示。

7、 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 1313 1313數(shù)字電路分析與應(yīng)用 數(shù)字電 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 1313按如下逐項測試并判斷該集成塊的功能是否正常：按如下逐項測試并判斷該集成塊的功能是否正常：集成移位寄存器的測試1）異步清零功能：當(dāng) =0時，這時Q3Q2Q1Q0=0000，雙向移位寄存器清零。其它輸入信號都不起作用，與CP無關(guān)，故稱為異步清零。2）保持功能：當(dāng) =1，且CP=0或M1=M2=0時，雙向移位寄存器保持狀態(tài)不變。 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 1414 1414數(shù)字電路分析與應(yīng)用 數(shù)字電 數(shù)字電路分析與應(yīng)用 14141 1標(biāo)題標(biāo)題2828號號集成移位寄存器的測試3）同步并行送數(shù)功能：當(dāng) =1，M1=M2=1時，在CP上升沿操作下，并行輸入數(shù)據(jù)d3 d2 d1 d0送入寄存器。4）右移串行送數(shù)功能：當(dāng) =1，M1=0、M2=1時，在CP上升沿操作下，可依次