SPC培訓(針對PQC)ppt課件

1、SPC根底知識培訓質(zhì)量部.目 錄 為何要開展SPC為什么統(tǒng)計的手法是有必要的常用SPC圖表Xbar-R圖引見.第一篇 為何要開展SPC1、什么是SPC2、SPC的作用.1、質(zhì)量檢驗階段 1900- 特點：專職檢驗 代表人物：泰勒 Quality Inspection full time inspection F.W.Taylor 科學管理之父：F.W.泰勒(1856-1915) 三權(quán)分立：設(shè)計制造檢驗聚焦于產(chǎn)質(zhì)量量質(zhì)量管理開展的三大歷史階段質(zhì)量管理的開展.2、統(tǒng)計質(zhì)量控制階段1930- 特點：控制/預(yù)防 代表人物：休哈特、道奇、羅米格Statistical Quality Control Co

2、ntrol/Prevention W.A.Shewhart, H.F.Dodge,H.G.Romig 統(tǒng)計質(zhì)量控制之父：W.A.休哈特(1891-1967)聚焦于過程質(zhì)量.3、全面質(zhì)量管理階段 1960- 特點：全員、全企業(yè)、全過程和多樣化的方法 代表人物：費根堡姆、朱蘭、戴明、克勞斯比、石川馨等 Total Quality Control Total Quality Management 質(zhì)量改良之父W.E.戴明(1900-1993) 質(zhì)量領(lǐng)域首席建筑師J.M.朱蘭(1904-2021 ) TQC之父A.V. 費根保姆(1920- )零缺陷管理之父P.B. 克勞斯比(1926-2001)聚焦

3、于體系質(zhì)量和運營質(zhì)量.什么是SPC？StatisticalProcessControl統(tǒng)計過程控制 .SPC能處理什么問題？.什么是SPC？.SPC的作用？識別異常動搖識別異常動搖.SPC的作用？.第二篇 為什么統(tǒng)計的手法是有必要的.對我們來說，在我們周圍有很多的數(shù)據(jù)。 我們對此必需好好領(lǐng)會 批序號、檢查數(shù)據(jù)、不良數(shù)、不良比例、規(guī)格仕樣.找到新的智慧圖表是書寫也是雄辯 用數(shù)據(jù)表示現(xiàn)實 假設(shè)僅是獲取數(shù)據(jù)的話,要把握現(xiàn)實的真相還有很多困難的事。正確地推導(dǎo)出數(shù)據(jù)所具有的信息并活用是很重要的。作為這個工具而被運用的就是QC7工具數(shù)據(jù)整理數(shù)據(jù)發(fā)現(xiàn)為了能讀取數(shù)據(jù)所表示的意義情況.什么樣的場所用什么樣的統(tǒng)計

4、工具 現(xiàn)場的數(shù)據(jù) 実験數(shù) 據(jù)目的 工 具 統(tǒng)計工具領(lǐng)會數(shù)據(jù)所敘說的 是什么察看對意図性的條件変更的 特性値的變化 表示現(xiàn)在的形狀 按優(yōu)先順序陳列 看數(shù)據(jù)的樣子 使數(shù)據(jù)定量化 視覺性的歸納數(shù)據(jù) 把握數(shù)據(jù)的全體像 表示工程的實力 客觀的判別 檢定能否主要緣由給輸出帶來了影 響、効率好是要找到最適宜的條件柏拉圖 直方圖 平均、規(guī)范偏向箱線圖分布工程才干指數(shù)檢定、推定看數(shù)據(jù)間的關(guān)系 分布圖、相關(guān)、回歸領(lǐng)會從數(shù)據(jù)的塊中看不到的聲音 多変量解析維持形狀 管理圖評價測定的偏向 丈量系統(tǒng)分析實驗設(shè)計.常見統(tǒng)計量 .常見統(tǒng)計量 .常見統(tǒng)計量 .常見統(tǒng)計量 .常見統(tǒng)計量 .常見統(tǒng)計量 .常見統(tǒng)計量 .常見統(tǒng)計量

5、.常見統(tǒng)計量 .常見統(tǒng)計量 .常見統(tǒng)計量 .常見統(tǒng)計量 .第三篇 常用SPC圖表.控制圖運用選擇控制圖的選定數(shù)據(jù)類型不良數(shù)或缺陷數(shù)單位大小能否一定“n能否一定樣本大小n2中心線的性質(zhì)n的大小u圖c圖np圖p圖X-MR圖Xtli-R圖Xbar-R圖Xbar-S圖計數(shù)型計量型“n=1n1中位數(shù)平均值n9缺陷數(shù)不良數(shù)不一定一定一定n9.C圖：不合格數(shù)控制圖；u圖：單位不合格數(shù)控制圖；p圖：不合格品率控制圖；np圖：不合格品數(shù)控制圖；Xbar-R圖X-R)：均值-極差控制圖；Xbar-s圖(X-s)：均值-規(guī)范差控制圖；X-tlide -RX-R)：中位數(shù)-極差控制圖；X-MR圖：單值-挪動極差控制圖

6、。.控制圖按質(zhì)量特性分 變量控制圖 反映什么 X bar and R 樣本平均值及極差 X bar and S 樣本平均值及規(guī)范差 X-tlide and R 樣本中值及極差 X-mR 單值與挪動極差 特征控制圖 反映什么 P 不合格率 np 不合格數(shù) c 不合格點數(shù)或缺陷數(shù) u 單位不合格點數(shù).課堂練習控制特性樣本數(shù)選用何種控制圖觸點鉚后高度5吸合電壓5比重1介質(zhì)耐壓過/不過100每只繼電器中的異物顆粒數(shù)1（繼電器）Xbar-R圖Xbar-R圖X-MR圖NP圖C圖.第四篇 Xbar-R圖引見1、作圖2、判穩(wěn).建立均值極差圖 1. 選擇抽樣規(guī)模頻率及數(shù)組個數(shù) 2. 設(shè)立圖表記錄原始數(shù)據(jù) 3.

7、計算各組平均值和極差 4. 確定控制圖比例尺 5. 在圖上繪制平均值和極差 6. 計算平均極差和過程平均 7. 計算極差和平均值的控制范圍 8. 在圖上繪制平均值線和控制極限線 搜集數(shù)據(jù)計算控制限.步驟A：階段 搜集數(shù)據(jù)A1、選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)；子組大小子組頻率子組數(shù)大小A2、建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)；A3、計算各子組均值Xbar和極差R；A4、選擇控制圖的刻度；A5、將均值和極差畫到控制圖上。.A1：選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)： 每組樣本數(shù)：2-5；國標引薦樣本量是4-5 組數(shù)要求：最少25組、100個樣本；頻率可參考下表：每小時產(chǎn)量抽樣間隔不穩(wěn)定穩(wěn)定10以下8小時8小時10-194小時

8、8小時20-492小時8小時50-991小時4小時100以上1小時2小時抽樣原那么：組內(nèi)變差小，組間變差大.子組：5只頻率：2h記錄原始數(shù)據(jù)計算每組的平均值和極差.4、選擇適宜的刻度5、均值、極差分別描點5、均值、極差分別描點.A. 平均極差和過程平均平均極差(Rbar)=R 每組極差之和/極差總個數(shù)組數(shù) 過程平均Xdoublebar=X圖中一切樣本平均值的總和/平均值的總個數(shù) 在前面的抽樣圖例子中：R=(0.4+0.4+0.5+0.3+0.5+0.3+0.4+0.5+0.2+0.4+0. 1+0. 4+0.3) /13R = 0.36X=1.36+1.40+1.48+1.38+1.34+1.

9、46+1.38+1.5+1.26+1.36+1.36+1.5+1.32)/13X = 1.39.階段 計算控制限B1、計算過程平均值和平均極差；B2、計算控制限；B3、在控制圖上畫出平均值和 極差控制限的控制線。作圖步驟B：.作圖步驟B. 計算控制限B1. 計算平均極差R及過程平均值XB2. 計算控制限平均極差和過程平均值B3. 在控制圖上畫出控制線。 將平均極差Rbar和過程均值Xdouble bar畫成黑色程度實線，各控制限UCLR、LCLR、UCLX、LCLX畫成紅色程度虛線；在初始階段，被稱為實驗控制限.B. 控制極限的計算 均值圖控制極限 均值上限=X + A2 R 均值下限= X

10、- A2 R 極差圖控制極限 極差上限=D4 R 極差下限=D3 RnA2D3D421.880-3.26731.023-2.57440.729-2.28250.577-2.11460.483-2.00470.4190.0761.92480.3730.1361.86490.3370.1841.816100.3080.2231.777.C. 均值圖控制限的計算在前面抽樣圖例子中：n=5 X=1.39 R=0.36UCL(X)=X+A2R=1.39+0.557 0.36 =1.60LCL(X)=X-A2R=1.39-0.557 0.36=1.18D. 極差圖控制限的計算在前面抽樣圖例子中：n=5 X

11、=1.39 R=0.36UCLR=D4 R=2.114*0.36=0.76LCL R=D3 R=0*0.36=0.過程控制分析對每個描的點C1、分析極差圖上的數(shù)據(jù)點C2、識別并標注特殊緣由(極差圖)C3、重新計算控制界限C4、分析均值圖上的數(shù)據(jù)點超出控制限的點鏈明顯的非隨機圖形超出控制限的點鏈明顯的非隨機圖形C5、識別并標注特殊緣由(均值圖)C6、重新計算控制界限C7、延伸控制界限繼續(xù)進展管理作圖步驟.作圖步驟過程控制分析1.先分析極差圖: 識別/標注并消除特殊緣由/重新計算控制限2.再分析均值圖：識別/標注并消除特殊緣由/重新計算控制限3.在控制圖上作出新的平均值和極差控制限的控制線.階段

12、過程才干解釋D1、計算過程的規(guī)范偏向；D2、計算過程才干；D3、評價過程才干；D4、提高過程才干；D5、對修正的過程繪制控制圖并分析。作圖步驟.D1、計算過程的規(guī)范偏向： 運用平均極差Rbar來估計過程的規(guī)范偏向： d2是 隨樣本容量變化的常數(shù).D2、計算過程才干： 過程才干 是指按規(guī)范偏向為單位來描畫的過程均值與規(guī)范界限的間隔，用Z表示； 對單側(cè)規(guī)格，計算為： 對雙側(cè)規(guī)格，計算為： Z為ZUSL或ZLSL的最小值。 運用Z值和來估計多少比例的產(chǎn)品會超出規(guī)范值： 注： USL為公差上限，LSL為公差下限。XUSLZ-=s或 Z=X-LSLsXUSLZUSL-=s或 ZLSL=X-LSLs.過程

13、才干指數(shù)CP：只需規(guī)格下限只需規(guī)格上限雙側(cè)規(guī)格233)(6dRLSLXCXUSLCLSLUSLCppp=-=-=-=ssss.pkC過程才干指數(shù)233),min(dRLSLxCxUSLCCCCplpuplpupk=-=-=sss.過程性能指數(shù)PpkUSLLSL.10141812161.52.51.5213CPKCPUCPLCp101418121610141812162.02.02.0214CPKCPUCPLCp1.51.52.5215CPKCPUCPLCp指數(shù)差別闡明：.圖形分析沒有異常動搖下，曲線處于自然變化.判異準那么判異準那么有兩類：1點出界就判異；2界內(nèi)點陳列不隨機判異。.準那么一、點

14、出界：指超出控制界限的數(shù)據(jù)點。.準那么二、延續(xù)9點落在中心線同一側(cè) 9單側(cè)LCLUCLCLABCCBA.準那么三、延續(xù)6點上升或下降LCLUCLCLABCCBA.準那么四、延續(xù)14點相鄰點上下交替(14升降)LCLUCLCLABCCBA.準那么五、延續(xù)3點中有2點落在中心線同一側(cè)的A區(qū)或A區(qū)以外(2/3A)LCLUCLCLABCCBA.準那么六、延續(xù)5點中有4點落在中心線同一側(cè)的C區(qū)以外(4/5B)LCLUCLCLABCCBA.準那么七、延續(xù)15點在C區(qū)中心線上下(15C)LCLUCLCLABCCBA.準那么八、延續(xù)8點在中心線兩側(cè)，但無一在C區(qū)中(8缺C)LCLUCLCLABCCBA.穩(wěn)定的

15、控制圖分析1 分析R圖上的數(shù)據(jù)點2 找出并確認特殊緣由3 重新計算控制極限4 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點5 找出并確認特殊緣由6 重新計算上下限7 把控制極限延伸用于現(xiàn)場控制.失控信號的處置一旦特殊緣由出現(xiàn)，在圖上標明并查找產(chǎn)生的緣由。.失控信號的處置續(xù)一旦問題消除，在圖上將除去失控點重新計算，得出真實的過程變化情況的反映。.產(chǎn)生失控情況的緣由特殊緣由：點出界 X 圖 R 圖 錯誤安裝 搬運偶爾損壞 錯誤丈量 操作不完好 錯誤作圖 漏操作 操作不完好 機器缺點 少操作工序 實驗件 機器缺點 調(diào)整件 調(diào)試件與工件相混 計算錯誤 丈量錯誤 作圖錯誤 明顯的硬件失常.產(chǎn)生失控情況的緣由特殊緣由：偏移(9單

16、側(cè))(14升降)(2/3A)(4/5B)(15C)(8缺C) 圖 R 圖原資料變化 上升：新的操作者 維護不充分新的檢查員 定位或夾持件需求維修新的測試設(shè)備 使產(chǎn)品不穩(wěn)定的其他要素新機器 下降：重新安裝 提高工藝安裝方式改動 機器設(shè)備才干提高 使產(chǎn)品不穩(wěn)定的其他要素.產(chǎn)生失控情況的緣由特殊緣由：傾斜如6連串 X 圖 R 圖工具損壞 工人技術(shù)上升螺紋,夾持件或量儀損壞 維修保養(yǎng)提高測試安裝維護不充分 其他部分過程控制的影響季節(jié)影響，包括溫濕度 產(chǎn)品單一或沒有混合件操作者疲勞消費方案變動規(guī)范變化批量變化保養(yǎng)或環(huán)境差.過程才干分析1. 到達穩(wěn)定控制圖2. 計算過程才干(Cp與Cpk)3. 評價過程才

17、干4. 提高過程才干5. 作圖并分析修正后的過程相關(guān)概念：過程潛力、過程才干.才干分析的條件1. 過程必需穩(wěn)定2. 過程數(shù)據(jù)的單獨丈量近似一個正態(tài)分布3.工件技術(shù)要求取決于客戶(或工程要求)4.設(shè)計目的為技術(shù)要求的中心位置5. 丈量變動量相對很小.過程潛力.過程才干.Cpk過程才干與缺陷估計-無偏時規(guī)格界限()不良品率(%)PPMCP1 69.15% 691500PPM0.332 30.85%308500PPM0.673 6.68 %66800PPM1.04 0.62% 6200 PPM1.335 0.023%230PPM1.6676 0.00034 %3.4PPM2.0.才干缺乏的對策.ISO/TS16949體系中適用于一切控制圖的SPC行動表當控制圖上最新畫上去的點顯示當過程的宏觀狀況Cpk或CpuCpl處于下列區(qū)段時1.331