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文檔簡介

1、半成品、成品檢驗規(guī)范質(zhì)量檢驗xxxx有限公司目的為了確保產(chǎn)品的質(zhì)量能得到有效的控制，特制定此標準指導(dǎo)檢驗員對半成品、成品進行檢驗。適用范圍適用于本公司IQC、IPQC、OQC對半成品、成品的檢驗。引用標準抽樣依據(jù)MIL-STD-105E加嚴抽樣計劃抽樣標準依據(jù)：按照(GB2828.1-20XX年level口逐批檢驗抽樣計劃抽樣標準:AQL(質(zhì)量允收水準)a)致命缺陷(CRI)=0無論批量大小b)主要缺陷(MAJ)=0.65c)次要缺陷(MIN)=1.5一般檢驗外觀檢查、功能檢查水平n當按正常抽樣水準連續(xù)3批出現(xiàn)同樣不合格現(xiàn)象時，應(yīng)立即執(zhí)行加嚴檢驗方案。加嚴檢驗連續(xù)5批合格，可恢復(fù)正常檢驗；按正

2、常抽樣水準連續(xù)10批次未出現(xiàn)不合格批時，可以執(zhí)行放寬檢驗流程；當放寬檢驗發(fā)現(xiàn)不合格批次時，應(yīng)立即恢復(fù)正常抽樣水準，并對前一批次產(chǎn)品按正常抽樣水準進行復(fù)檢如果不合格時按不合格程序處理。3.5缺陷分類定義：嚴重缺陷（CriticalDefect）:產(chǎn)品存在對使用者的人身及財產(chǎn)安全構(gòu)成威脅的缺陷。主要缺陷（MajorDefect）:影響產(chǎn)品正常功能/性能使用的缺陷或產(chǎn)品組裝/包裝存在的缺陷導(dǎo)致最終客戶拒絕購買的產(chǎn)品結(jié)構(gòu)及外觀缺陷。次要缺陷（minorDefect）:不影響產(chǎn)品使用檢驗項目及要求檢查區(qū)域A面：用戶正常使用操作時的直視部分（如：面殼、鏡片、LCD、鍵盤等）4.1.2B面：用戶正常使用操作時的可視部分（如：頂面、底面、側(cè)面、天線等）C面：不易被用戶見到的部分（如手機背面、耳機、I/O口、電池面等）D面：正常使用時的非暴露面（如電池內(nèi)面、SIM卡口等）4.2檢查條件環(huán)境亮度：距離被觀測物50cm處的光強為1000至20XX年lux質(zhì)量檢驗檢查溫/濕度：15-35/2085%觀測距離：眼睛與被觀測物之間的距離3040cm。只有30cm內(nèi)才能看到外觀缺陷可以忽略不計。觀測角度：在檢查過程中目光要與被觀測面垂直，允許將被觀測面各方向轉(zhuǎn)動45度角觀觀測者要求：校正視力1.0以上，不允許色盲、色弱者。4.

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