生產(chǎn)過程質(zhì)量控制技術(shù)之SPCppt課件

1、消費(fèi)過程質(zhì)量控制之SPC.為之于未有，治之于未亂根據(jù)典記，魏文王曾討教于名醫(yī)扁鵲：“他們兄弟三人，都精于醫(yī)術(shù)，誰的醫(yī)術(shù)最好呢？扁鵲：“大哥最好，二哥差些，我是三人中最差的一個(gè)。 魏王不解。 扁鵲解釋說：“大哥治病，是在病情發(fā)作之前，那時(shí)候病人本人還不覺得有病，但大哥就下藥根除了病根，使他的醫(yī)術(shù)難以被人認(rèn)可，所以沒有名氣，只是在我們家中被推崇備至。我的二哥治病，是在病初起之時(shí)，病癥尚不十清楚顯，病人也沒有覺得苦楚，二哥就能藥到病除，使鄉(xiāng)里人都以為二哥只是治小病很靈。我治病，都是在病情非常嚴(yán)重之時(shí)，病人苦楚萬分，病人家屬心急如焚。此時(shí)，他們看到我在經(jīng)脈上穿刺，用針放血，或在患處敷以毒藥以毒攻毒，或

2、動大手術(shù)直指病灶，以為我的醫(yī)術(shù)高明，所以我名聞天下。魏王大悟。.1.1.1質(zhì)量檢驗(yàn)階段 20世紀(jì)前，屬于“操作者的質(zhì)量管理。 20世紀(jì)初，質(zhì)量管理的職能由操作者轉(zhuǎn)移給工長，是“工長的質(zhì)量管理。 隨著企業(yè)消費(fèi)規(guī)模的擴(kuò)展和產(chǎn)品復(fù)雜程度的提高，大多數(shù)企業(yè)開場設(shè)置檢驗(yàn)部門，這時(shí)是“檢驗(yàn)員的質(zhì)量管理。上述幾種做法都屬于事后檢驗(yàn)的質(zhì)量管理方式。1.1質(zhì)量管理的三個(gè)階段1.前言.1.1.2統(tǒng)計(jì)質(zhì)量控制階段以數(shù)理統(tǒng)計(jì)實(shí)際為根底的統(tǒng)計(jì)質(zhì)量控制的推行運(yùn)用始自第二次世界大戰(zhàn)。由于事后檢驗(yàn)無法控制武器彈藥的質(zhì)量，美國國防部決議把數(shù)理統(tǒng)計(jì)法用于質(zhì)量管理，并由規(guī)范協(xié)會制定有關(guān)數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法運(yùn)用于質(zhì)量管理方面的規(guī)劃，成立了專

3、門委員會，并于19411942年先后公布一批美國戰(zhàn)時(shí)的質(zhì)量管理規(guī)范。1.1質(zhì)量管理的三個(gè)階段1.前言.1.1.3全面質(zhì)量管理階段在消費(fèi)技術(shù)和企業(yè)管理中要求運(yùn)用系統(tǒng)的觀念來研討質(zhì)量問題。在管理實(shí)際上，突出注重人的要素，強(qiáng)調(diào)依托企業(yè)全體人員的努力來保證質(zhì)量。全面質(zhì)量管理是“為了可以在最經(jīng)濟(jì)的程度上、并思索到充分滿足顧客要求的條件下進(jìn)展消費(fèi)和提供效力，并把企業(yè)各部門在研制質(zhì)量、維持質(zhì)量和提高質(zhì)量方面的活動構(gòu)成為一體的一種有效體系。1.1質(zhì)量管理的三個(gè)階段1.前言.2.1 SPC 是什么?統(tǒng)計(jì)過程控制 Statistical Process Control簡稱SPC是一種借助數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法的過程控制工具

4、。用控制圖分析、監(jiān)控和改良過程的方法。一種用于檢測異常的工具可判別過程的變差，及時(shí)告警它主要區(qū)分由特殊緣由引起的異常動搖還是由普通緣由引起的正常動搖, 但不能告知此異常是什么要素引起的2.SPC的根本概念.1、確保制程繼續(xù)穩(wěn)定、可預(yù)測。2、提高產(chǎn)質(zhì)量量、消費(fèi)才干、降低本錢。3、為制程分析提供根據(jù)。4、區(qū)分變差的特殊緣由和普通緣由，作為采取部分措 施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。2.2 SPC 可以做什么?2. SPC的根本概念.2.3 術(shù)語解釋六西格瑪術(shù)語名稱解釋短期工程能力指數(shù)CP CP 指工程的平均值和規(guī)格中心值相重合時(shí)的短期工程能力指數(shù)（在Minitab）。 CP =（USL-LSL）/6 s

5、t。 st 表示短期標(biāo)準(zhǔn)偏差。CPKCPK工程的平均值和規(guī)格中心值不一致時(shí)的短期工程能力指數(shù)。 CPK = NinCpu=（USL-）/3 st ,Cpl =（ - LSL）/3 st PP PP 指工程的平均值和規(guī)格中心值相重合時(shí)的長期工程能力指數(shù)。 PP =（USL-LSL）/6 lt lt 表示長期標(biāo)準(zhǔn)偏差。PPKPPK工程的平均值和規(guī)格中心值不一致時(shí)的短期工程能力指數(shù)。 PPK = NinPpu=（USL-）/3 lt ,Ppl =（ - LSL）/3 lt .2.3 術(shù)語解釋SPC常用術(shù)語名稱解釋平均值 （X）一組測量值的均值極差（Range）一個(gè)子組、樣本或總體中最大與最小值之差（

6、Sigma）用于代表標(biāo)準(zhǔn)差的希臘字母標(biāo)準(zhǔn)差(Standard Deviation)過程輸出的分布寬度或從過程中統(tǒng)計(jì)抽樣值（例如：子組均值）的分布寬度的量度，用希臘字母或字母s（用于樣本標(biāo)準(zhǔn)差）表示。分布寬度（Spread）一個(gè)分布中從最小值到最大值之間的間距中位數(shù) x將一組測量值從小到大排列后，中間的值即為中位數(shù)。如果數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)為偶數(shù)，一般將中間兩個(gè)數(shù)的平均值作為中位數(shù)。 單值（Individual）一個(gè)單個(gè)的單位產(chǎn)品或一個(gè)特性的一次測量，通常用符號 X 表示。.2.3 術(shù)語解釋SPC常用術(shù)語名稱解釋中心線（Central Line）控制圖上的一條線，代表所給數(shù)據(jù)平均值。過程均值（Proces

7、s Average）一個(gè)特定過程特性的測量值分布的位置即為過程均值，通常用 X 來表示。鏈（Run）控制圖上一系列連續(xù)上升或下降，或在中心線之上或之下的點(diǎn)。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)。變差（Variation）過程的單個(gè)輸出之間不可避免的差別；變差的原因可分為兩類：普通原因和特殊原因。特殊原因（Special Cause）一種間斷性的，不可預(yù)計(jì)的，不穩(wěn)定的變差根源。有時(shí)被稱為可查明原因，它存在的信號是：存在超過控制限的點(diǎn)或存在在控制限之內(nèi)的鏈或其它非隨機(jī)性的圖形。.2.3 術(shù)語解釋SPC常用術(shù)語名稱解釋普通原因（Common Cause）造成變差的一個(gè)原因，它影響被研究過程輸出的

8、所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機(jī)過程變差的一部分。過程能力(Process Capability)是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格界限的距離，用Z來表示。移動極差（Moving Range)兩個(gè)或多個(gè)連續(xù)樣本值中最大值和最小值之差。.2.4 SPC 的開展及運(yùn)用 SPC 源于20年代，以美國休哈特She whart博士發(fā)明控制圖為標(biāo)志。二戰(zhàn)中美國將其制定為戰(zhàn)時(shí)質(zhì)量管理規(guī)范，對軍工產(chǎn)品的質(zhì)量保證和及時(shí)交付起到了積極的作用。 50年代在日本工業(yè)界大量推行運(yùn)用，對日本產(chǎn)質(zhì)量量的崛起起到了至關(guān)重要的作用。 80年代許多大公司紛紛積極推行運(yùn)用SPC2. SPC的根本概念.2.5 為什么要

9、學(xué)習(xí) SPC ?假設(shè)對制造過程的主要工序都建立簡便易行的控制系統(tǒng)，當(dāng)質(zhì)量問題一旦出現(xiàn)，就能被及時(shí)發(fā)現(xiàn)，及時(shí)糾正，阻止不合格品流入下道工序。即到達(dá)預(yù)防的目的。在制造過程中，應(yīng)盡量防止或減少出現(xiàn)質(zhì)量問題再糾正或反響的損失。(有效的戰(zhàn)略就是預(yù)防)有效的預(yù)防戰(zhàn)略:簡便易行的控制系統(tǒng)2. SPC的根本概念.2.6 實(shí)施SPC的過程包含三大內(nèi)容：第一步、用SPC工具對過程進(jìn)展分析，如繪制分析用控制圖等；第二步、根據(jù)分析結(jié)果采取必要措施：能夠需求消除過程中的系統(tǒng)性要素，也能夠需求管理層的介入來減小過程的隨機(jī)動搖以滿足過程才干的需求。第三步、那么是用控制圖對過程進(jìn)展監(jiān)控。2. SPC的根本概念.質(zhì)量控制的模型

10、15原資料消費(fèi)過程產(chǎn)品檢查合格出貨不合格返工報(bào)廢出貨利用報(bào)廢處置觀查: 數(shù)據(jù)的搜集 評價(jià): 數(shù)據(jù)的分析診斷: 調(diào)查緣由決議: 規(guī)劃行動實(shí)施: 采取行動原資料消費(fèi)過程產(chǎn)品偶爾要素特殊要素SPC 控制圖目的： 區(qū)分這2種 要素，消除特殊要素產(chǎn)生的變異過程控制模型質(zhì)量控制的模型 VS 過程控制模型3.SPC根本原理.輸入各種要素人設(shè)備資料方法環(huán)境丈量5M1E資源的組合輸出中間產(chǎn)品作為一個(gè)概念，有其明確的定義：利用資源將輸入轉(zhuǎn)化為輸出的一組活動。3.1 什么是過程？3.SPC根本原理.3.2 SPC能給制造過程提供什么協(xié)助？為過程提供了一個(gè)早期報(bào)警系統(tǒng)，及時(shí)監(jiān)控過程情況，以防止廢品的發(fā)生。確定過程的統(tǒng)

11、計(jì)控制界限，判別過程能否失控和過程能否有才干。根據(jù)反響信息及時(shí)發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)性要素出現(xiàn)的征兆，采取措施消除其影響。使過程維持在僅受隨機(jī)性要素影響的受控形狀，到達(dá)預(yù)防不合格品產(chǎn)品的目的。減少對常規(guī)檢驗(yàn)的依賴性，定時(shí)的察看和丈量方法替代了大量的檢測和驗(yàn)證任務(wù)。3.SPC根本原理.3.3 “動搖的概念及統(tǒng)計(jì)規(guī)律性消費(fèi)線上加工出來的產(chǎn)品沒有絕對一樣的。產(chǎn)品間的差別是用其資料特性值數(shù)據(jù)的差別表現(xiàn)出來。延續(xù)資料一批產(chǎn)品中每個(gè)質(zhì)量特性，一邊丈量一邊畫直方圖，就可以發(fā)現(xiàn)其統(tǒng)計(jì)規(guī)律這條曲線就是質(zhì)量特性 x 的分布3.SPC根本原理. 每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同 范圍 范圍 范圍 范圍但它們構(gòu)成一個(gè)模型，假設(shè)穩(wěn)定，可以

12、描畫為一個(gè)分布 范圍 范圍 范圍分布可以經(jīng)過以下要素來加以區(qū)分 位置 分布寬度 外形 或這些要素的組合.3.4 正態(tài)分布的特征68.28+假設(shè)某過程輸出特性 x 服從N(，2 )在統(tǒng)計(jì)過程控制中最常見的分布是正態(tài)分布正態(tài)分布被參數(shù) 與完全確定，記為N ， 2 ； 表示分布的中心位置；表示分布的規(guī)范差或者表示數(shù)據(jù)的分散程度，或用極差表示；在界限 1內(nèi)，即有31.74那么該過程輸出產(chǎn)品中有68.26 產(chǎn)品在界限 1之外。3.SPC根本原理.正態(tài)分布下界限內(nèi)外的比率界限 界限內(nèi)的比率 界限外的比率1 68.26% 31.74%2 95.46% 4.54%3 99.73% 0.27%4 99.9937

13、% 0.0063%5 99.999943% 0.000057%6 99.9999998% 0.0000002%1924年，休哈特博士建議用界限 3 作為控制界限來管理過程。即我們常說的3 管理。3.SPC根本原理.+33將正態(tài)分布圖及其界限 3轉(zhuǎn)90，在翻轉(zhuǎn)180縱座標(biāo)為輸出特性 X，橫坐標(biāo)為時(shí)間或編號3.5 控制圖的方式+33UCL上控制界限LCL下控制界限CL中心線3.SPC根本原理.3.6 過程動搖的統(tǒng)計(jì)規(guī)律性當(dāng)過程受控時(shí)，過程特性普通服從穩(wěn)定的且可反復(fù)的隨機(jī)分布；而失控時(shí)，過程分布將改動。時(shí)間受控失控當(dāng)過程僅受隨機(jī)要素影響時(shí)，過程處于統(tǒng)計(jì)控制形狀簡稱受控形狀當(dāng)過程中存在系統(tǒng)要素的影響時(shí)

14、，過程處于統(tǒng)計(jì)失控形狀簡稱失控形狀3.SPC根本原理.假設(shè)僅存在變差的普通緣由， 目的值線隨著時(shí)間的推移，過程的輸出構(gòu)成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測。 預(yù)測 時(shí)間 范圍 目的值線假設(shè)存在變差的特殊緣由，隨著時(shí)間的推 預(yù)測移，過程的輸出不穩(wěn)定。 時(shí)間 范圍.過程控制 受控 消除了特殊緣由 時(shí)間 范圍 不受控 存在特殊緣由. 過程才干 受控且有才干符合規(guī)范 普通緣由呵斥的變差已減少 規(guī)范下限 規(guī)范上限 時(shí)間 范圍 受控但沒有才干符合規(guī)范 普通緣由呵斥的變差太大.1、計(jì)量型數(shù)據(jù)它是某種量具、儀器測定地?cái)?shù)據(jù)，這類數(shù)據(jù)可取某一區(qū)間內(nèi)地任一實(shí)數(shù)。如軸的直徑、電阻的阻值、資料的強(qiáng)度等，這類特性數(shù)據(jù)常服從正態(tài)分布，

15、通常用兩張圖。3.7 質(zhì)量特性數(shù)據(jù)分為兩類：3.SPC根本原理2、計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)它是經(jīng)過數(shù)數(shù)的方法獲得的。常取0，1，2等非負(fù)整數(shù)。如一批產(chǎn)品中的不合格品數(shù)，鑄件上的氣孔數(shù)，一匹布上的疵點(diǎn)數(shù)，對這類特性數(shù)據(jù)只需求用一張控制圖就可以了，也有四種控制圖：.控制圖類型計(jì)量型數(shù)據(jù)X-R 均值和極差圖計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)P chart 不良率管制圖 X-均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖nP chart 不良數(shù)管制圖X -R 中位值極差圖 C chart 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 X-MR 單值移動極差圖 U chart 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 3.SPC根本原理.3.8 控制圖的選擇方法確定要制定控制圖的特性是計(jì)量型數(shù)據(jù)嗎？否關(guān)懷的是不合格品率？否關(guān)懷

16、的是不合格數(shù)嗎？是樣本容量能否恒定？是運(yùn)用np或p圖否運(yùn)用p圖樣本容量能否桓定？否運(yùn)用u圖是是運(yùn)用c或u圖是性質(zhì)上能否是均勻或不能按子組取樣例如：化學(xué)槽液、批量油漆等？否子組均值是否能很方便地計(jì)算？否運(yùn)用中位數(shù)圖是運(yùn)用單值圖X-MR是.接上頁運(yùn)用X s圖子組容量能否大于或等于9？是否能否能方便地計(jì)算每個(gè)子組的S值？運(yùn)用XR圖是否運(yùn)用XR圖注：本圖假設(shè)丈量系統(tǒng)曾經(jīng)過評價(jià)并且是適用的。.運(yùn)用SPC控制圖的5個(gè)步驟SPC-Statistical Process Control記錄數(shù)據(jù)計(jì)算相應(yīng)的統(tǒng)計(jì)量，均值，規(guī)范差，極差，比例等計(jì)算出試運(yùn)轉(zhuǎn)階段的控制圖的中心線和控制界限在控制圖上畫出中心線和控制界限畫

17、出搜集到的數(shù)據(jù)在控制圖上調(diào)查控制圖上超出控制界限的點(diǎn)的出界緣由，查找出異常要素并加以消除假設(shè)沒有找到異常要素，可以剔除超出控制界限的點(diǎn)假設(shè)有必要，重新計(jì)算控制界限計(jì)算出工藝才干延續(xù)的搜集數(shù)據(jù)并繪制控制圖找出不受控的情況并采取糾正行動假設(shè)發(fā)生了永久的過程偏移，要重新計(jì)算中心線和控制界限選擇要監(jiān)控的質(zhì)量特性 ：最終產(chǎn)品，制造過程中的產(chǎn)品，過程中的輸入變量決議每次抽樣數(shù)目，和抽樣頻率等1-樣本預(yù)備階段2-數(shù)據(jù)搜集3-建立控制圖4-分析和解釋控制圖5-分析和解釋控制圖4. SPC控制圖的制造.4.1 計(jì)量型控制圖：Xbar-R圖計(jì)算每個(gè)子組的均值X和極差R 對每個(gè)子組計(jì)算： X=X1+X2+Xn/ n

18、 R=Xmax-Xmin 式中： X1 ， X2 為子組內(nèi)的每個(gè)丈量值。n 表示子組 的樣本容量選擇控制圖的刻度 兩個(gè)控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 X 和 R 的丈量值。4. SPC控制圖的制造.4.1 計(jì)量型控制圖：Xbar-R圖計(jì)算控制限 首先計(jì)算極差的控制限，再計(jì)算均值的控制限 。 計(jì)算平均極差R及過程均值X R=R1+R2+Rk/ kK表示子組數(shù)量 X =X1+X2+Xk/ k 計(jì)算控制限 計(jì)算控制限是為了顯示僅存在變差的普通緣由時(shí)子組的均 值和極差的變化和范圍。控制限是由子組的樣本容量以及反 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決議的。 計(jì)算公式： UCLx=X+ A2R UCLR=D4R LC

19、Lx=X - A2R LCLR=D3R 4. SPC控制圖的制造.4.1 計(jì)量型控制圖：Xbar-R圖344. SPC控制圖的制造. 注：式中A2,D3,D4為常系數(shù)，決議于子組樣本容量。其系數(shù)值 見下表 ：n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3000000.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.340.340.31 注： 對于樣本容量小于7的情況，LCLR能夠技術(shù)上為一個(gè)負(fù)值。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對于一個(gè)樣本數(shù)為6的子組，6個(gè)“同樣的丈量結(jié)果是能夠成立的。 4.1 計(jì)量

20、型控制圖：Xbar-R圖.4.2 控制圖八大判異準(zhǔn)那么口決：1界外1點(diǎn)落在A區(qū)以外2/3A延續(xù)3點(diǎn)中有2點(diǎn)在中心線同一側(cè)的B區(qū)外4/5C延續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)在中心線同一側(cè)的C區(qū)以外 6連串延續(xù)6點(diǎn)遞增或遞減，即連成一串 8缺C延續(xù)8點(diǎn)在中心線兩側(cè)，但沒有一點(diǎn)在C區(qū)中 9單側(cè)延續(xù)9點(diǎn)落在中心線同一側(cè) 14交替延續(xù)14點(diǎn)相鄰點(diǎn)上下交替15全C延續(xù)15點(diǎn)在C區(qū)中心線上下，即全部在C區(qū)內(nèi)4. SPC控制圖的制造.方式檢驗(yàn)-判別準(zhǔn)那么1UCLLCLXABCCBA1界外1點(diǎn)落在ABC區(qū)以外4.2 控制圖八大判異準(zhǔn)那么方式檢驗(yàn)-判別準(zhǔn)那么2UCLLCLXABCCBA2/3A延續(xù)3點(diǎn)中有2點(diǎn)在中心線同一側(cè)的B區(qū)外

21、.方式檢驗(yàn)-判別準(zhǔn)那么3UCLLCLXABCCBA4/5C延續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)在中心線同一側(cè)的C區(qū)以外4.2 控制圖八大判異準(zhǔn)那么方式檢驗(yàn)-判別準(zhǔn)那么4UCLLCLXABCCBA6連串延續(xù)6點(diǎn)遞增或遞減，即連成一串.方式檢驗(yàn)-判別準(zhǔn)那么5UCLLCLXABCCBA8缺C延續(xù)8點(diǎn)在中心線兩側(cè)，但沒有一點(diǎn)在C區(qū)中4.2 控制圖八大判異準(zhǔn)那么方式檢驗(yàn)-判別準(zhǔn)那么6UCLLCLXABCCBA 9單側(cè)延續(xù)9點(diǎn)落在中心線同一側(cè).方式檢驗(yàn)-判別準(zhǔn)那么7UCLLCLXABCCBA14交替延續(xù)14點(diǎn)相鄰點(diǎn)上下交替4.2 控制圖八大判異準(zhǔn)那么方式檢驗(yàn)-判別準(zhǔn)那么8UCLLCLXABCCBA15全C延續(xù)15點(diǎn)在C區(qū)中心

22、線上下，即全部在C區(qū)內(nèi). 普通緣由：是指過程在受控的形狀下，出現(xiàn)的具有穩(wěn)定的且可反復(fù)的分布過程的變差的緣由。普通緣由表現(xiàn)為一個(gè)穩(wěn)系統(tǒng)的偶爾緣由。只需過程變差的普通緣由存在且不改動時(shí)，過程的輸出才可以預(yù)測。普通緣由和特殊緣由 特殊緣由：通常也叫可查明緣由是指呵斥不是一直作用于過程的變差的緣由，即當(dāng)它們出現(xiàn)時(shí)將呵斥整個(gè)過程的分布改動。只用特殊緣由被查出且采取措施,否那么它們將繼續(xù)不可預(yù)測的影響過程的輸出。例如精磨時(shí)，剛換上的砂輪沒有修整，導(dǎo)致尺寸超差。4.3 如何判別過程能否穩(wěn)定.運(yùn)用控制圖標(biāo)判別過程能否穩(wěn)定控制圖表按照用途分類分析用控制圖控制用控制圖4.3 如何判別過程能否穩(wěn)定.分析用控制圖。用

23、全數(shù)延續(xù)取樣的方法獲得數(shù)據(jù)，進(jìn)而分析、判別工序能否處于穩(wěn)定。利用控制圖發(fā)現(xiàn)異常，經(jīng)過分層等方法，找出不穩(wěn)定緣由，采取措施加處理；控制用控制圖。按程序規(guī)定的取樣方法獲得數(shù)據(jù)，經(jīng)過打點(diǎn)察看，控制異常緣由的出現(xiàn)。當(dāng)點(diǎn)子分布出現(xiàn)異常，闡明工序質(zhì)量不穩(wěn)定時(shí)，找出緣由，及時(shí)消除異常影響要素，使工序恢復(fù)到正常的控制形狀。管理控制圖用來監(jiān)控批量消費(fèi)過程的穩(wěn)定性。初次制造控制圖和進(jìn)展工序才干調(diào)查分析時(shí)，必需繪制分析控制圖。4.3 如何判別過程能否穩(wěn)定.4.4 運(yùn)用控制圖常犯的錯誤技術(shù)性錯誤 運(yùn)用不合理的控制圖數(shù)據(jù)不按時(shí)間序列公差畫在控制圖上.管理性錯誤運(yùn)用陳舊的數(shù)據(jù)過程變卦沒有在圖上注明控制限和平均值永遠(yuǎn)不會更

24、新超出控制限的點(diǎn)沒有跟進(jìn)措施忽略規(guī)律性變化的信號4.4 運(yùn)用控制圖常犯的錯誤.5 過程才干分析 假設(shè)曾經(jīng)確定一個(gè)過程已處于統(tǒng)計(jì)控制形狀，還存在過程能否有才干滿足顧客需求的問題時(shí)； 普通講，控制形狀穩(wěn)定，闡明不存在特殊緣由引起的變差，而才干反映普通緣由引起的變差，并且?guī)缀蹩傄獙ο到y(tǒng)采取措施來提高才干，過程才干經(jīng)過規(guī)范偏向來評價(jià)。 .過程總偏向s：由于普通和特殊兩種緣由所呵斥的變差?？捎脴颖疽?guī)范差S來估計(jì)。性能指數(shù)： CP=USL-LSL/6性能指數(shù)、才干指數(shù)5.1過程量度的意義不思索到過程有無偏移(X-X)2n1S =6TLSLUSL5 過程才干分析.不思索到過程有無偏移才干指數(shù)：Cp= USL

25、-LSL/6R/d2過程固有變差：R/d2:僅由于普通緣由產(chǎn)生的那部分過程變差。可從控制圖上經(jīng)過R/d2來估計(jì)。5.1過程量度的意義性能指數(shù)、才干指數(shù).CpL、CpU以及CpkC p L = (x-LSL)/3, 對單邊下規(guī)格限C p U = (USL-X)/3, 對單邊上規(guī)格限產(chǎn)品的規(guī)格：下規(guī)格線LSL，上規(guī)格線USL規(guī)格中心目的值：M=LSL+USL/2過程才干指數(shù)lllCPKT-26 TuTl2-X 雙側(cè)偏向TUXMTL性能指數(shù)、才干指數(shù)5.1過程量度的意義.過程才干評定.Cpk：process capability K是偏移量，是過程才干指數(shù)，表示過程才干滿足技術(shù)規(guī)范的程度；Ppk：p

26、rocess performanceK同樣是偏移量，指的是長期過程性能指數(shù)。cpk=1-kT/6ST,其中T就是技術(shù)規(guī)格的公差幅度，即上下規(guī)格限之差；Ppk=1-kT/6LTPpk闡明過程能夠不穩(wěn)定的情況。Cpk要求過程穩(wěn)定且數(shù)據(jù)正態(tài)。5.2 認(rèn)識了解 Ppk 、Cpk.規(guī)范中心與分布中心不一致時(shí)，過程不合格率和不發(fā)生偏移時(shí)的過程不合格率不相等。過程才干重要概念要留意的是一切的才干評審都是針對單個(gè)過程特性的，千萬不要把幾個(gè)過程的才干結(jié)果合成平均為一個(gè)指數(shù)。ll5.2 認(rèn)識了解 Ppk 、Cpk.計(jì)算過程的規(guī)范偏向 = R/d2 R 是子組極差的平均值，d2 是隨樣本容量變化的常數(shù) 注：只需過程

27、的極差和均值兩者都處于受控形狀，那么可用估計(jì) 的過程規(guī)范偏向來評價(jià)過程才干。n 2345678910d2 1.131.6920.62.332.532.702.852.973.085.3 過程才干計(jì)算.過程才干計(jì)算 過程才干是指按規(guī)范偏向?yàn)閱挝粊砻璁嫷倪^程均值和規(guī)格 界限的間隔，用Z來表示。 對于單邊容差，計(jì)算： Z=(USL-X) / 或 Z=(X-LSL) / 選擇適宜確實(shí)一個(gè) 注：式中的SL=規(guī)范界限， X=丈量的過程均值， =估計(jì)的過程規(guī)范偏向。5.3 過程才干計(jì)算.對于雙向容差，計(jì)算： Zusl=(USL-X) / Zlsl=(X-LSL) / Z=Min Zusl; Zlsl Zmi

28、n 也可以轉(zhuǎn)化為才干指數(shù)Cpk: Cpk= Zmin / 3 =CPU(即 ) 或CPL(即 ) 的最小值。 式中: UCL 和 LCL為工程規(guī)范上、下， 為過程規(guī)范偏向注：Z 值為負(fù)值時(shí)闡明過程均值超越規(guī)范。UCLX3 X LCL3 5.3 過程才干計(jì)算.估計(jì)超出規(guī)范的百分比 ：PZ a 對于單邊容差，直接運(yùn)用Z值查規(guī)范正態(tài)分布表，換算成百分比。 b 對于雙邊容差，根據(jù)Zusl 和 Zlsl 的值查規(guī)范正態(tài)分布表，分別算出Pzusl 和 Pzlsl 的百分比，再將其相加。 5.3 過程才干計(jì)算.5.4 評價(jià)過程才干 當(dāng) Cpk1 闡明制程才干差，不可接受。1Cpk1.33,闡明制程才干可以，

29、但需改善。1.33Cpk1.67,闡明制程才干正常。.5.5 過程才干分析之用途1.提供資料給設(shè)計(jì)部門，使其能盡量利用目前之過程才干，以設(shè)計(jì) 新產(chǎn)品。2.決議一項(xiàng)新設(shè)備或翻修之設(shè)備能否滿足要求。3.利用機(jī)械之才干安排適當(dāng)任務(wù)，使其得到最正確之運(yùn)用。4.選擇適當(dāng)之作業(yè)員、資料與任務(wù)方法。5.過程才干較公差為窄時(shí)，用于建立經(jīng)濟(jì)控制界限。6.過程才干較公差為寬時(shí)，可設(shè)定一適當(dāng)?shù)闹行闹?，以獲得最經(jīng)濟(jì) 之消費(fèi)。7.用于建立機(jī)器之調(diào)整界限。8.是一項(xiàng)最具價(jià)值之技術(shù)情報(bào)資料。625 過程才干分析.單值和挪動極差圖XMR6.1 用途 丈量費(fèi)用很大時(shí)，例如破壞性實(shí)驗(yàn)或是當(dāng)任何時(shí)辰點(diǎn)的輸出 性質(zhì)比較一致時(shí)例如：化

30、學(xué)溶液的PH值。6.1.1 挪動圖的三中用法： a 單值 b 挪動組 c 固定子組6.2 數(shù)據(jù)搜集根本同X-R 6.2.1 在數(shù)據(jù)圖上，從左到右記錄單值的讀數(shù)。6.2.2 計(jì)算單值間的挪動極差MR，通常是記錄每對延續(xù)讀數(shù)間 的差值 。6.2.3 單值圖X圖的刻度按以下最大者選?。?a 產(chǎn)品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的讀數(shù)。 b 單值的最大值與最小值之差的1.5到2倍。6.2.4 挪動極差圖MR的刻度間隔與 X 圖一致。 6 單值和挪動極差圖XMR. 注：式中 R 為挪動極差，X 是過程均值，D4、D3 、E2是隨樣本 容量變化的常數(shù)。見下表：6.3 過程控制解釋同其他計(jì)量型控制圖 6.4 過程

31、才干解釋 = R / d2 = R / d2 n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3*0.080.140.180.22E22.661.771.461.291.181.111.051.010.98樣本容量小于7時(shí)，沒有極差的控制下限。6 單值和挪動極差圖XMR. 式中：R 為挪動極差的均值，d2是隨樣本容量變化的常數(shù)。見下表： 注： 只需過程受控，才可直接用的估計(jì)值來評價(jià)過程才干。n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.086 單值和挪動極差圖XMR.7 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖7.1

32、P控制圖 P圖是用來丈量在一批檢驗(yàn)工程中不合格品缺陷工程的百分?jǐn)?shù)。 7.1.1 搜集數(shù)據(jù)7.1.1.1 選擇子組的容量、頻率和數(shù)量 子組容量：子組容量足夠大最好能恒定，并包括幾個(gè)不 合格品。 分組頻率：根據(jù)實(shí)踐情況，兼大容量和信息反響快的要求。 子組數(shù)量：搜集的時(shí)間足夠長，使得可以找到一切能夠影響 過程的變差源。普通為25組。7.1.1.2 計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率P P=np /n.7 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 n為每組檢驗(yàn)的產(chǎn)品的數(shù)量；np為每組發(fā)現(xiàn)的不良品的數(shù)量。選擇控制圖的坐標(biāo)刻度7.1.1.3 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 普通不良品率為縱坐標(biāo)，子組別小時(shí)/天作為橫坐標(biāo),縱坐標(biāo)的刻度應(yīng)從0到初步研

33、討數(shù)據(jù)讀讀數(shù)中最大的不合格率值的1.5到2倍。7.1.1.4 將不合格品率描畫在控制圖上 a 描點(diǎn)，連成線來發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。 b 在控制圖的“備注部分記錄過程的變化和能夠影響過程 的異常情況。7.1.2 計(jì)算控制限7.1.2.1 計(jì)算過程平均不合格品率P P=n1p1+n2p2+nkpk/ (n1+n2+nk).7 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 式中： n1p1；nkpk 分別為每個(gè)子組內(nèi)的不合格的數(shù)目 n1；nk為每個(gè)子組的檢驗(yàn)總數(shù)7.1.2 .2 計(jì)算上下控制限USL；LSL USLp = P + 3 P ( 1 P ) / n LSLp = P 3 P ( 1 P ) / n P 為平均不良率；

34、n 為恒定的樣本容量注： 1、從上述公式看出，凡是各組容量不一樣，控制限隨之 變化。 2、在實(shí)踐運(yùn)用中，當(dāng)各組容量不超越其平均容量25%時(shí)， .7 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 可用平均樣本容量 n 替代 n 來計(jì)算控制限USL；LSL。方法如下： A、確定能夠超出其平均值 25%的樣本容量范圍。 B、分別找出樣本容量超出該范圍的一切子組和沒有超出該范圍 的子組。 C、按上式分別計(jì)算樣本容量為 n 和 n 時(shí)的點(diǎn)的控制限. UCL,LCL = P 3 P ( 1 P ) / n = P 3 p ( 1 p) / n .8.1 采用時(shí)機(jī) 8-2-1-1 不合格品的實(shí)踐數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報(bào)告。8-2-1-2 各階段子組的樣本容量一樣。 8.2 數(shù)據(jù)的搜集根本和p 圖一樣8.2.1 受檢驗(yàn)的樣本的容量必需一樣，樣本容量足夠大使每個(gè)子組 內(nèi)都有幾個(gè)不良品并在。 8.2.2 記錄表上記錄樣本的容量。 8.3 計(jì)算控制限 8.3.1 計(jì)算過程不合格數(shù)的均值np np = (np1+np2+