光分路器技術規(guī)范書(共26頁)

1、 PAGE PAGE 28中國移動遼寧公司(n s)2010年寬帶有線接入項目(xingm)配套(pi to)產品技術規(guī)范書（光分路器類）中國移動通信集團遼寧有限公司2010年1月光分路器產品技術規(guī)范書1. 概述(i sh)1.1本技術規(guī)范書中規(guī)定(gudng)的產品應滿足YD/T 1117-2001等相關(xinggun)標準的要求。結合中國移動遼寧公司的實際情況，特制定本光分路器（全光纖型分支器件）技術規(guī)范書，投標人須按本技術規(guī)范書要求進行生產、交付產品，招標人根據(jù)本技術規(guī)范書驗收光分路器（全光纖型分支器件）產品。1.2投標方對本招標文件的每一條款必須做出明確答復(滿足或不滿足，除非有明確

2、要求，否則不得做出其他應答或解釋，不得使用部分滿足字樣)，如需填寫具體技術數(shù)據(jù)和指標，請準確填寫，如需提供附件，請隨標書一同提供。1.3本文件的解釋權屬于招標方，招標方保留進一步技術澄清的權利。2. 包括產品本技術規(guī)范書中共包含平面波導型光分路器和光纖分路模塊兩部分。3. 配置要求產品名稱產品分類容量規(guī)格尺寸（單位mm）必配部件選配部件平面波導型光分路器平面波導型光分路器（盒式）1:22:2尾纖長度2米、適配器可以配置FC/SC頭1:42:41:82:81:162:161:322:321:642:64平面波導型光分路器（架式）1:22:2標準19英寸1:42:41:82:81:162:161:

3、322:321:642:64光纖分路模塊216向下兼容標準19英寸FC或SC適配器數(shù)量滿配，光分路模塊一套（托盤）232標準19英寸 4. 全光纖型分支(fnzh)器件的一般要求4.1. 工作(gngzu)波長工作波長應設置(shzh)范圍1260-1650nm，光纖分路器需滿足EPON(GPON)網絡工作波長：上行1310nm、下行1490nm，擴展1550nm。4.2. 光電性能指標光纖分路器需滿足以下光電性能指標要求:類型規(guī)格插入損耗(dB)均勻性(dB)回波損耗(dB)方向性(dB)PDL (dB)PLC1x47.30.855550.3PLC1x810.71.055550.3PLC1x

4、16 14.01.555550.3PLC1x32 17.42.055550.4PLC1x6421.02.655550.5注：含連接器損耗。4.3環(huán)境要求光纖分路器的環(huán)境性能應符合國家標準或行業(yè)標準的相關規(guī)定。工作溫度：-4085。儲藏溫度：-4085。工作氣壓：70106Kpa。光分路器應防水、防塵、防潮、防腐、防雷、防震、防蛀等。4.4. 安裝要求光纖分路器可集成在各型號光纜分配柜、光纜交接箱、壁掛式光纜分線箱、接頭盒內。光分路器的封裝設計應考慮在各種箱體或盒體內安裝時，無需使用復雜的安裝工具。必要情況下，應隨光分路器包裝附特殊安裝材料。光纖分路器安裝于光纜交接箱內需提供側壁安裝及托板式安裝

5、方式。4.5 光分路器可適應不同接續(xù)和接口需要適合熔接方式：應用在接頭盒或光纜接續(xù)箱內。適用于固定ODN網絡結構。尾纖跳接方式：應用在落地、壁掛光纜交接箱或光纜配線柜、接頭盒內，滿足纜線一次性穿放，全光纖型分支器件按需求配置。適用于靈活ODN網絡結構。適配器滿足現(xiàn)有型號要求。5 光纖光纖分路器的單模尾纖應采用G.652D/G.657A光纖，光纖的最大彎曲半徑為15mm。6 光纖分路(fn l)器模塊光纖分路(fn l)器模塊應經濟高效、堅固且結構緊湊，所有器件應固定(gdng)良好并可提供足夠的供管理、連接、安裝、維護、檢驗、測試和重新調整用的空間。6.1封裝結構應能提供下列三種封裝結構的光分

6、路器模塊，以適應不同的安裝設施和安裝環(huán)境。盒式封裝：直接出2.0mm尾纖端子，尾纖長度不短于1米；機架式封裝：適合19英寸標準機架安裝，出光纖適配器；微型封裝結構：直接出0.9mm尾纖端子，尾纖長度不短于1米。7.檢驗本產品是否有市級以上檢測報告，如有需提供檢測報告掃描件。8.認證是否具有相關權威部門的認證證書，如有需提供認證證書掃描件。9.是否自主生產企業(yè)08年生產能力值，何時自主生產。10.技術報告提供2008年2009年間2家以上運營商（移動、電信、聯(lián)通）使用后的使用報告。11.有無專利或特殊工藝闡述投標公司專利產品或特殊工藝，且附專利證明。12.圖紙和實物提供平面波導型光分路器(1:1

7、6)和光纖分路模塊實物樣品，提供時間由招標方另行通知。13.其他說明1機架式封裝的光分路器結構設計中應考慮有妥善的防撞措施，防止在運輸途中和使用過程中光纖適配器被損傷。2為便于識別光纖鏈路，每個光分路器封裝盒上應以可靠的方式為每個光纖輸入輸出端口提供永久性標識。3如有適合PON網絡建設的其他型號光纖分路器產品可一并推薦。4投標方所提供產品應滿足YD/T 1117-2001全光纖型分支器件技術條件技術規(guī)范要求，見附件。全光纖型分支(fnzh)器件技術條件YD/T 1117-20011范圍(fnwi)本標準規(guī)定了全光纖型分支器件(qjin)的“光纖寬帶耦合器”、“光纖波分復用耦合器”系列產品的技術

8、要求、試驗方法、質量評定程序以及標志、包裝、貯存等條件。本標準適用于單模光纖寬帶耦合器、光纖波分復用耦合器的設計、生產、檢驗和使用。2引用標準下列標準包含的條文，通過在本標準中引用而構成為本標準的條文。在標準出版時，所示版本均為有效。所有標準都會被修訂，使用本標準的各方應探討使用下列標準最新版本的可能性。GB 28281987 逐批檢查計數(shù)抽樣程序及抽樣表(適用于連續(xù)批的檢查)GB 2421-1989 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則YDT 826-1996 FCPC型單模光纖光纜活動連接器技術條件YDT 893-1997 光纖耦合器技術條件YDT 8951997 SCPC型單模光纖活動連接器

9、技術條件YD/T 964-1998 1310nm1550nm波分復用器技術要求和測試方法IEC 61300-32(1999) 纖維光學互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第3-2部分檢驗和測量單模纖維光學器件的偏振相關損耗3定義 本標準采用下列定義。3.1 端口 隸屬于光無源器件的光信號輸入口或輸出口。3.2光纖分支器件 在兩根或兩根以上光纖之間實現(xiàn)光信號的耦合及再分配的光無源器件。3.3光纖耦合器 也稱為“非波長選擇性光分支器件”，用于實現(xiàn)特定波段光信號的功率耦合及再分配功能的光纖器件。3.4光纖波分復用耦合器 也稱為“波長選擇性光分支器件”，用于實現(xiàn)兩個不同波長光信號的復用和解復用功能的光

10、纖器件。3.5工作(gngzu)帶寬 本標準規(guī)定的器件光學性能指標適用(shyng)的光波長范圍，用nm表示(biosh)。3.6光纖標準耦合器 工作帶寬“標稱中心波長20nm”的光纖耦合器。3.7光纖寬帶耦合器 工作帶寬“標稱中心波長40nm”的光纖耦合器。3.8光纖單窗口寬帶耦合器 在單一光通信窗口(如1310nnm或1550nm)下，滿足工作帶寬“標稱中心波長40nm”的光纖耦合器。3.9光纖雙窗口寬帶耦合器 在兩個光通信窗口(如1310nm和1550nm)下，同時滿足工作帶寬“標稱中心波長40nm”的光纖耦合器纖耦合器。3.10全光纖型光器件 光信號傳輸通路全部由通信石英光纖構成的光器

11、件。3.11尾纖型光纖分支器件 用光纖作輸入和輸出端口引出形式的光纖分支器件。3.12連接器型光纖分支器件 用各種連接器作輸入和輸出端口引出形式的光纖分支器件。3.13光纖分支器芯件 指直接由制作工藝形成的12或2x2光纖分支器基本元件。3.14光纖標準連接器 這種連接器是精確制造或選擇的，包括標準插頭和標準適配器。其性能參數(shù)應符合YDT 826或YDT 895中要求。3.15附加損耗(EL)定義為光纖分支器所有輸出端口的光功率總和相對于全部輸入光功率(被測波長)的減小值。該值以分貝(dB)表示，用(1)式計算： PoutiEL=-10lg (dB) (1) Pin 式中：Pouti第i個輸出

12、端口的光功率，單位mw； Pin注入光功率，單位mw。 注：該參數(shù)(cnsh)用于評定器件的物理制作質量，通常對于12或2x2的光纖耦舍器芯件要求該項指標。3.16分光(fn un)比(CR) 定義(dngy)為被測波長在光纖耦合器各輸出端口的輸出功率的比值，在具體應用中常常用相對輸出總功率的百分比來表示，用(2)式計算：PoutiCRi=x100% (i=1,2,3n) (2) Pouti 式中：CRi 第i個輸出端的分光比； Pouti在第i個輸出端口的光功率，單位mW。3.17插入損耗(IL)定義為工作波長在指定輸出端口的光功率相對全部輸入光功率的減少值。該值以分貝(dB)表示，用(3)

13、式計算： PoutiILi=-10lg (dB) (3) Pin 式中：ILi第i個輸出端口的插入損耗。3.18方向性(DL)用來衡量器件定向傳輸特性的參數(shù)，在描述“波分復用耦合器”時，也稱為“近端隔離度”。定義為在器件正常工作時，輸入一側非注入光的一端的輸出光功率與注入光功率(被測波長)的比值，以分貝(dB)表示，用(4)式計算： PjDLij=-10lg (dB) (4) Pi 式中：Pi注入光功率，單位mW； Pj輸入一側非注入光端口的輸出光功率，單位mW。3.19均勻性(FL)用來衡量均分器件的“不均勻程度”的參數(shù)。定義為在工作帶寬范圍內，均勻分光的光耦合器各輸出端口輸出光功率的最大變

14、化量。以分貝(dB)表示，用(5)式計算： MIN(Pout)FL=-10lg (dB) (5) MAX(Pout)3.20偏振(pin zhn)相關損耗(PDL)用來衡量器件性能對于傳輸光信號的偏振態(tài)的敏感程度的參數(shù)。定義為傳輸光信號的偏振態(tài)在0360變化時，器件各輸出端口輸出光功率的最大變化量，以分貝(fnbi)(dB)表示，用(6)式計算： MIN(Poutj)PDLj=-10lg (dB) (6) MAX(Poutj) 式中：PDLj第j個輸出端口的偏振(pin zhn)相關損耗; Poutj 第j個輸出端口的輸出光功率，單位mw。3.21波長隔離度(I)又稱為“遠端隔離度”，指波分復

15、用耦合器中某一波長的通路對另一波長信號的隔離能力，以分貝(dB)表示，用(7)式計算： Pj(i)Ii=-10lg (dB) (i,j=1,2,3n, ji) (7) Pi(i) 式中：Pj(i)從第j光路輸出端測到波長為(i)的信號的光功率，單位mw； Pi(i)從第i光路輸出端測到波長為(i)的信號的光功率，單位mw。3.22回波損耗(RL)是對光纖分支器件引起的輸入光功率中沿輸入路徑返回的量度，以分貝(dB)表示，用(8)式計算： PrIi=-10lg (dB) (8) Pj式中：Pj入射到輸入端的光功率，單位mw； Pr從同一輸入端接收到返回的光功率，單位mw。4光纖分支器件描述4.1

16、 光纖寬帶(kun di)耦合器4.1.1 分類(fn li) 按器件性能(xngnng)覆蓋的工作窗口分為單窗口寬帶耦合器和雙窗口寬帶耦合器； 按器件工作形態(tài)分為樹形寬帶耦合器(1xN)和星形寬帶耦合器(NxN)； 按器件引出端口的組態(tài)分為尾纖型和連接器型。4.1.2光纖寬帶耦合器用光纖 所用光纖一般為單模光纖。4.2光纖波分復用耦合器4.2.1分類 熔融拉錐型光纖波分復用耦合器通常為兩波長復用/解復用器件。 按復用波長的不同，目前主要有下列幾種類型： a)1310nm1550nm波分復用耦合器； b)1480nm1550nm波分復用耦合器； c)980nm1 550nm波分復用耦合器： d

17、)980nm1310nm波分復用藕合器。 按器件引出端口的組態(tài)分為尾纖型和連接器型。4.2.2光纖波分復用耦合器用光纖光纜 在421條中的類型a)和b)，采用單模光纖；c)和d)采用截止波長滿足980nm(規(guī)定工作帶寬內)傳輸為單模的石英光纖。5技術要求5.1光學特性5.1.1 lx2或2x2光纖寬帶耦合器光學特性如表l所示。表1 lx2或2x2光纖寬帶耦合器光學特性性能參數(shù)指標要求單窗口寬帶雙窗口寬帶注工作波長(rim)1310或15501310和1550工作帶寬(nm)4040分光比1/99到50：501/99到50：50附加損耗(dB)0.20.3插入損耗(dB)22.411.019(P

18、)24.011.8lg(P)2均勻性(dB)0.9l，23方向性(dB)5555偏振相關損耗(dB)0.30.3最大承載功率(mW)300工作溫度(C)-40+85注：1.上述指標針對0.25mm尾纖型耦合器芯件，不包括連接器損耗。2 .P是以百分比表示的相關一端的光功率百分數(shù)。如某一端的光功率為50，則IL=22.411.0lg50=3.7(dB)。3針對均勻分光器件。5.1.2 lxN(N2)樹型光纖寬帶耦合器光學(gungxu)特性如表2所示。表2 lxN(N2)樹型光纖寬帶(kun di)耦合器光學特性指標要求性能參數(shù)單窗口寬帶雙窗口寬帶注工作波長(nm)1310或15501310和1

19、550工作帶寬(nm)4040插入損耗(dB)0.5+3.5log2NO6+3.6log2N1、2均勻性(dB)1.0+0.7log2N1.5+0.7log2N2方向性(dB)55l偏振相關損耗(d8)O1(1+log2N)1最大承載功率(mw)300工作溫度(C)-40+85注：1不包括連接器損耗。2針對均勻分光器件。5.1.3 NxN(N2)星型光纖寬帶耦合器光學(gungxu)特性如表3所示。表3 NxN(N2)星型光纖寬帶耦合器光學特性性能參數(shù)指標要求單窗口寬帶雙窗口寬帶注工作波長(nm)1310或15501310和1550工作帶寬(nm)4040插入損耗(dB)1.0+3.5log2

20、N0.9+3.6log2N1、2均勻性(dB)1.0+0.7log2N1.5+0.7log2N2方向性(dB)551偏振相關損耗(dB)0.1(1+log2N)l最大承載功率(mw)300工作溫度(C)-40+85注：1.不包括連接器損耗。2.針對均勻分光器件。5.1.4光纖波分復用耦合器光學(gungxu)特性如表4所示。表4光纖波分復用耦合器光學(gungxu)特性性能參數(shù)指標要求類型a)類型b)類型c)類型d)工作波長(nm)131015501480,155098015509801310工作帶寬(nm)15510插入損耗(dB)O30.50.4波長隔離度(dB)1815l8方向性(dB)

21、555555回波損耗(dB)404040偏振相關損耗(dB)0.150.20.15最大承載功率(mw)300工作溫度(C)-40+85注：1.上述波分復用耦合器均為單級(非級連)基本型器件，全光纖結構。2.插入損耗值為0.25mm尾纖型芯件指標，不包括連接器損耗。3.回波損耗指器件本身的指標，若端口為連接器，則連接器回波損耗須優(yōu)于40dB。5.2環(huán)境和機械性能試驗后的指標變化要求(yoqi)(包括本標準所有全光纖分支器件)如表5所示。表5環(huán)境和機械性能試驗后的插入損耗變化量要求試驗項目插入損耗變化量(dB)振動試驗0 1 log2N沖擊試驗0.1 log2N濕熱試驗0.1 log2N高溫試驗O

22、.2 log2N低溫試驗0.2 log2N高低溫循環(huán)試驗O.2 log2N光纜抗拉試驗O.1 log2N光纜扭轉試驗O.1 log2N水浸泡試驗0.1 log2N6測量方法6.1 外觀(wigun)檢查 進行光學性能測量前，首先對器件進行外觀檢查。其外觀必須平滑、潔凈(jijng)，無油漬、無傷痕及裂紋，整個器件牢固，引線無松動(sngdng)或與連接器插拔平順。6.2環(huán)境 器件的性能測試應在滿足GB 2421規(guī)定的正常大氣條件下進行，即： 溫度：l5C 35C； 濕度：4575； 氣壓：86 kPa106 kPa6.3測量條件 用于進行分支器件光學性能測量的儀器及配置，應當滿足下列條件要求。

23、6.3.1光源(S) 測試中所用的光源應是穩(wěn)定激光器光源，性能指標滿足： 輸出功率：-3 dBm 中心波長：(13100.02)nm(15500.02)nm -30dB譜寬：5 nm(=1310 nm)、10 nm(=1550 nm) 功率穩(wěn)定度：優(yōu)于005 dB(_10+50、l h)6.3.2擾模單元(E) 采用的擾模單元是一段l km長度的單模光纖，或5 m單模光纖中間打兩個30mm的圈，光纖參數(shù)應符合YDT 895的規(guī)定。6.3.3探測單元(D) 采用(ciyng)光功率計，其性能指標須符合下面要求： 波長(bchng)：075-17m 測量絕對(judu)精度（-23 dBm)：5

24、動態(tài)范圍：-80-0 dBm 線性度：優(yōu)于005 dB6.3.4光譜分析儀(OSA) 光譜分析儀的分辨率應高于測量光源的譜寬。6.3.5光纖標準連接器(SR) 符合本標準314條要求。6.3.6臨時接點(TJ) 將兩光纖端對接，接點損耗應01dB，穩(wěn)定性好。6.3.7器件引出端光纖(光纜)長度 器件引出端光纖(光纜)長度不得小于lm。6.4附加損耗的測量(剪斷法) 按YDT 8931997中64條進行。6.5插入損耗的測量 按YDT 8931997中64條和YDT 964-1998中64條進行。6.6方向性的測量 按YDT 8931997中65條進行。6.7均勻性的測量 在器件工作窗口內，選擇

25、任意波長進行測量。對于雙窗口寬帶耦合器，可分別選擇兩個工作窗口內的各一個波長進行測量。具體測量方法按本標準65條規(guī)定的測量辦法，分別在輸入波長條件下，測量分支器件(僅限于均勻分光器件)各輸出端口的插入損耗值，其最大值與最小值的差，便是器件的均勻性；對于在多個波長下測量的情況，應選擇其中的最大值作為被測器件的均勻性指標。6.8工作帶寬的測量 測量系統(tǒng)如圖l所示。白光源 擾模單元 臨時接點 光纖分支器件 光譜分析儀F2F3F1SEOSAL1L2TJ圖1工作帶寬測量(cling)原理 測量步驟(bzhu)如下： 1)打開各有源部件(寬帶(kun di)光源、光譜分析儀)預熱； 2)待有源部件穩(wěn)定后，

26、首先直接連接白光源和光譜分析儀，在各試樣測量涉及的光譜區(qū)存儲光譜曲線Pl，最好的測試條件可以采用：lnm分辨率、l0nm格、開始和終止波長剛好覆蓋所規(guī)定的通帶寬度； 3)按上述結構進行光路系統(tǒng)連接，注意Fl，F(xiàn)2、F3三段應采用同種光纖類型； 4)在2)選定的光譜區(qū)，掃描系統(tǒng)的光譜曲線P2； 5)在光譜分析儀中執(zhí)行P2-P1功能，得到試樣本身的光譜特性； 6)從光譜區(qū)記錄試樣插入損耗及隔離度的變化量，在表l表4規(guī)定的器件指標范圍內，讀取最大和最小的波長值，兩者之差就是器件的工作帶寬。6.9偏振相關損耗的測量 按IEC 6130032(1999)中方法A進行。6.10波長隔離度的測量 按YDT

27、9641998中66條進行。6.11回波損耗的測量 按YDT 9641998中65條進行。7環(huán)境和機械性能試驗 試驗條件應與61相同。試驗前，試樣應先在正常大氣條件下做預處理，試驗后亦應在正常大氣條件下恢復。7.1機械性能試驗7.1.1振動試驗 a)條件 頻率范圍：1055Hz 掃頻要求(yoqi)：掃描的速率應為每分鐘一個倍頻程，其容差為l0 振幅(zhnf)：075mm恒定(hngdng)位移 每個方向持續(xù)時間：30min 對試樣進行在線光學性能監(jiān)測 b)程序 先將試樣在室溫下進行預處理，測量其插入損耗并記錄；然后，將試樣固定在振動臺上，在X，Y， Z 3個垂直方向的每個方向上承受振動，方

28、向之一與器件的公共軸線平行，每個方向振動持續(xù)時間為30min。觀察并記錄其插入損耗數(shù)據(jù)。 c)試驗后，試樣應滿足下面的要求： 1)無機械損傷，如變形、裂痕、松弛等，不得出現(xiàn)光纖斷裂，光纜拉出、光纖端點處的故障以及光纜密封損壞等。 2)光學性能符合表5的要求。7.1.2沖擊試驗 a)條件 沖擊嚴酷度和波形應從表6中選擇。表6沖擊嚴酷度和波形加速度，ms2波 形脈沖持續(xù)時間(ms)294半正弦波18490半正弦波11981半正弦波64900半正弦波1 b)程序 先將試樣在室溫下進行預處理，測量其插入損耗并記錄；選擇一種條件做試驗，將試樣放在沖擊臺上(應使被測樣品剛性固定，使沖擊可以傳到器件內部而不

29、被引出線吸收或緩沖)，在X，Y兩個垂直方向的每個方向上承受沖擊，每個方向沖擊3次；試驗后測量并記錄其插入損耗數(shù)據(jù)。 c)試驗后，試樣應滿足下面的要求： 1)無機械損傷，如變形、裂痕、松弛等，不得出現(xiàn)光纖斷裂、光纜拉出、光纖端點處的故障(gzhng)以及光纜密封(mfng)損壞等。 2)光學性能(xngnng)符合表5的要求。7.1.3光纜抗拉 a)條件 負荷：90N(2030mm尾纜) 負荷時間：2min 負荷施加速率：50Nmin速率250 Nmin 負荷施加點A離插頭距離：L=2228cm 對試樣不進行在線光學性能監(jiān)測。 b)程序 先將試樣在室溫下進行預處理，測量插入損耗并記錄；將試樣固定

30、在固定夾具上，自然下垂，以規(guī)定的速率在A點處施加負荷，持續(xù)2min，取下試樣進行插入損耗測量。 c)試驗后，試樣應滿足下面的要求： 1)無機械損傷，如變形、裂痕、松弛等，不得出現(xiàn)光纖斷裂、光纜拉出、光纖端點處的故障以及光纜密封損壞等。2)光學性能符合表5的要求。7.1.4光纜扭轉 a)條件 負載重量：15 kg(203Omm尾纜) 載重點A離插頭距離：L=2228cm 扭轉速率：10次min 扭轉次數(shù)：25 對試樣不進行在線光學性能監(jiān)測。 b)程序 先將試樣在室溫下進行預處理，測量插入損耗并記錄；將試樣固定在固定夾具上，自然下垂，在A點處懸掛規(guī)定的負載重量，將尾纜按規(guī)定速率扭轉_+180，共計

31、25次，取下試樣進行插入損耗測試。 c)試驗后，試樣應滿足下面(xi mian)的要求： 1)無機械損傷，如變形、裂痕、松弛等，不得出現(xiàn)光纖斷裂、光纜拉出、光纖端點(dun din)處的故障以及光纜密封(mfng)損壞等。 2)光學性能符合表5的要求。 注：713和7. 14兩項試驗僅對尾纜引出型器件而言，可任意選出一個引出尾纜做試驗。7.2環(huán)境試驗7.2.1 低溫試驗 a)條件 最低溫度：-40C 溫度變化速率：不超過5min的時間內的平均值不大于1Cmin 對試樣進行在線光學性能監(jiān)測。 b)程序先將試樣在室溫下進行預處理，測量插入損耗并記錄；然后，把其放入精度為2C的高低溫恒溫箱中，降低溫

32、度，每降低5C觀察并記錄一次插入損耗值，直至-40C，保持恒溫2h，記錄其插入損耗；最后，恢復到室溫lh后，記錄其插入損耗值。 c)試驗后，試樣應滿足下面的要求： 1)無機械損傷，如變形、裂痕、松弛等，不得出現(xiàn)光纖斷裂、光纜拉出、光纖端點處的故障以及光纜密封損壞等。 2)光學性能符合表5的要求。7.2.2高溫試驗 a)條件 最高溫度：+85C 溫度變化速率：不超過5min的時間內的平均值不大于lCmin 對試樣進行在線光學性能監(jiān)測。 b)程序(chngx) 先將試樣(sh yn)在室溫下進行預處理，測量插入損耗并記錄；然后，把其放入精度為2C的高低(god)溫恒溫箱中，如圖5所示，升高溫度，每

33、升高5C觀察并記錄一次插入損耗值，直至+85C，保持恒溫2h，記錄其插入損耗；最后，恢復到室溫lh后，記錄其插入損耗值。 c)試驗后，試樣應滿足下面的要求： 1)無機械損傷，如變形、裂痕、松弛等，不得出現(xiàn)光纖斷裂、光纜拉出、光纖端點處的故障以及光纜密封損壞等。 2)光學性能符合表5的要求。7.2.3高低溫循環(huán)試驗 a)條件 編度范圍：低溫TA=-25C高溫TB=+70C 溫度變化速率：不超過5min時間內的平均值不大于lCmin 高、低溫恒溫持續(xù)時間：t1=t2=lh 循環(huán)次數(shù)：12 對試樣不進行在線光學性能監(jiān)測。 b)程序 先將試樣在室溫下進行預處理，測量插入損耗并記錄；然后，把其放入精度為

34、2C的高低溫恒溫箱中，以規(guī)定的速率剛氐溫度至TA，保持恒溫1h；接著，再以規(guī)定的速率升高溫度至TB，保掙匿溫lh；最后，以規(guī)定的速率恢復到室溫。至此構成一個完整的循環(huán)。以同樣的程序繼續(xù)進行第二個循環(huán)。 結束規(guī)定的循環(huán)次數(shù)后，取出試樣，擦凈水珠，在常溫下恢復2h，測量并記錄其插入損耗值。 c)試驗后，試樣應滿足下面的要求： 1)無機械損傷，如變形、裂痕、松弛等，不得出現(xiàn)光纖斷裂、光纜拉出、光纖端點處的故障以及光纜密封損壞等。 2)光學(gungxu)性能符合表5的要求。7.2.4濕熱(sh r)(靜態(tài))試驗 a)條件(tiojin) 溫度：+40C 溫度變化速率：不超過5min時間內的平均值不大

35、于lCmin 相對濕度：9095 持續(xù)時間：4d 對試樣不進行在線光學性能監(jiān)測。 b)程序 先將試樣在室溫下進行預處理，測量插入損耗并記錄；然后，把其放入精度為2C的高低溫恒溫箱中，如圖4所示，以規(guī)定的速率升高溫度至+40C，相對濕度調至90%-95%，保持4d;最后，以規(guī)定的速率恢復到室溫2h后，取出試樣并清潔干凈，測量并記錄其插入損耗值。 c)試驗后，試樣應滿足下面的要求： 1)無機械損傷，如變形、裂痕、松弛等，不得出現(xiàn)光纖斷裂、光纜拉出、光纖端點處的故障以及光纜密封損壞等。 2)光學性能符合表5的要求。7.2.5水浸泡 a)條件 浸泡用水：PH=5505；溫度+(432) 浸泡時間：7d

36、 對試樣不進行在線光學性能監(jiān)測。 b)程序 將試樣在室溫下進行預處理，測量插入損耗并記錄；然后將試樣放入符合規(guī)定的水中浸泡7d，期間應定期檢查PH值并給予維持(PH值的確定是通過混合溶有氫氧化鈉的標準緩沖溶劑和醋酸)。浸泡期結束后，拿出試樣并進行清洗、擦凈，室溫下自然干燥24h后，進行插入損耗測試。 c)試驗后，試樣應滿足下面(xi mian)的要求： 1)無機械損傷，如變形(bin xng)、裂痕、松弛等，不得出現(xiàn)光纖斷裂、光纜拉出、光纖端點處的故障以及光纜密封(mfng)損壞等。 2)光學性能符合表5的要求。8質量評定程序 8.1鑒定批準程序8.1.1初始制造階段 初始制造階段定義為：將構

37、成單個元件的零件組裝成光纖分支器件的制造階段。8.1.2結構類似元器件 為鑒定批準和質量一致檢驗按下列界限對結構類似元器件作分組。 結構類似元器件應： a)具有相同結構圖形； b)用基本相同的材料制造； c)按基本相同的設計制造； d)采用基本相同的工藝和方法制造； e)采用相同端口引出技術； f)采用相同的光纖，光纜保持技術。 它們可以： a)具有不同的外形尺寸； b)不同外徑的光纜尺寸。8.1.3鑒定批準 本標準按固定樣品質量檢驗程序進行。8.1.3.1 固定樣品質量檢驗 a)鑒定樣品 當同時鑒定一批產品的全部元器件時，鑒定樣品應為完整的光纖分支器件。被鑒定的樣品應為采用當前生產中使用的設

38、備與程序生產的產品。 b)樣本(yngbn) 按表7中規(guī)定的樣本大小隨機(su j)抽取樣品，在完成了“0”組樣品檢驗后，其它(qt)各組樣品應從“0”組樣品中隨機抽取。 C)試樣制備 按照相關試驗方法的規(guī)定進行試樣制備和試樣預處理。 d)檢驗程序 按表7規(guī)定的方法和順序進行檢驗，檢驗樣品應滿足本標準規(guī)定的性能要求。 e)檢驗一經成功完成，作為結構類似元器件而提交全部規(guī)格產品將獲得鑒定批準。8.1.3.2按逐批和周期檢驗程序的鑒定 當有規(guī)定時，進行逐批和周期檢驗，逐批和周期檢驗程序按照821和822進行。 檢驗一經成功完成，以結構類似元器件而提交的全部規(guī)格產品將獲得鑒定批準。表7固定樣品檢驗程

39、序檢驗項目順序本標準相應的章節(jié)樣品數(shù)允許不合格數(shù)0組檢驗一外觀檢查6.11101組檢驗一分光比測量(1x2、2x2耦合器)一附加損耗測量(1池、2x2耦合器)一插入損耗測量一均勻性測量(均勻分光器件)一波長隔離度測量(波分復用耦合器)3.166-46.56.76.101l02組檢驗一方向性測量一工作帶寬測量一偏振相關損耗測量一回波損耗測量(波分復用耦合器)6.66.86.96.1l4O3組檢驗一低溫試驗一高溫試驗一溫度循環(huán)試驗一濕熱試驗一水浸試驗7.2.17.2.27.2.37.2.47.2.5404組檢驗一振動試驗一沖擊試驗一光纜抗拉試驗一光纖扭轉試驗7.1.17.1.27.1.37.1.4

40、30注：允許備用試樣替代那些不是由于制造廠商的原因而導致不合格的試樣。8.2質量(zhling)一致性檢驗 質量(zhling)一致性檢驗分逐批檢驗和周期檢驗。8.2.1 逐批檢驗(jinyn) a)檢驗批 檢驗批應由結構類似的生產批組成 集合檢驗批的整個周期不應超過一個月 b)逐批檢驗包括對樣品進行表8中規(guī)定的A組和B組檢驗。被檢樣品應從近期批量生產中隨機抽取，抽取樣品數(shù)量按國標GB2828規(guī)定進行。 c)拒收批 不符合要求的檢驗批稱為拒收批，對拒收批可進行返工，以糾正缺陷或篩選去除失效產品，然后應提交返工批按加嚴檢驗作重新檢驗，并應清楚標志為重新檢驗批。8.2.2周期(zhuq)檢驗 周期

41、檢驗(jinyn)包括對樣品進行表9中C組和/或D組檢驗。應相互維持檢驗周期(zhuq)，以便在D組周期情況下由D組檢驗代替C組檢驗。檢驗一經成功完成，以結構類似元器件而提交的全部規(guī)格產品，將獲得周期檢驗批準。表8逐批質量檢驗程序檢驗項目順序本標準相應的章節(jié)評定水平AILAQLA組一外觀檢查6.1II4B組一分光比測量(1x2、2x2耦合器)一附加損耗測量(1x2、2x2耦合器)一損耗測量一均勻性測量(均勻分光器件)一波長隔離度測量(波分復用耦合器)3.166.46.56.76.10II4注：為檢驗水平，AQL為允許質量水平。 a)周期檢驗試樣 被檢驗樣品應是本標準規(guī)定的整件光纖分支器件，試驗應為鑒定中所采用的同樣規(guī)格的產品，并為當前生產中采用的設備、工藝和生產程序生產的產品。 b)樣本 按表9中規(guī)定的樣本大小從檢驗試樣中隨機抽取試樣，在完成“C0”或“D0”組檢驗后，其它各組的試樣應從“C0”或“D0”組試樣中隨機抽取。 c)檢驗按表9規(guī)定的方法和順序進行檢驗，檢驗樣品應滿足本標準規(guī)定的性能要求。表9周期質量檢驗程序評定水平A檢驗項目順序相應方法，lpC0