計算機硬件及網(wǎng)絡(luò)QC七大手法簡報課件

1、品管七大手法1 瞭解品管七大手法基本概念 掌握品管七大手法使用要點 Two hours lesson課程目的2品管七大手法改善手法時間地點內(nèi)容QC七大手法1962年日本科技連盟石川馨1.因果圖 2.查檢表 3.柏拉圖 4.層別法5.散佈圖 6.直方圖 7.管制圖數(shù)據(jù)型新QC七大手法1972年日本科技連盟納谷嘉信1.親和圖法 2.關(guān)連圖法 3.系統(tǒng)圖法 4.矩陣圖法 5.箭形圖法6.過程決策程序圖法7.矩陣數(shù)據(jù)分析法語言型3品管七大手法7.管制圖6.直方圖5.散布圖4.層別法3.柏拉圖2.查檢表1.因果圖品管七大手法4因果圖也稱:魚骨圖,石川圖, 特性要因圖.分類和鑑別與某個問題或某種情況相關(guān)的

2、所有可能原因15因果圖因 素因 素因 素因 素因 素因 素問題特性 一個問題的特性是由許多因素造成的，如：上班遲到有很多的原因：睡過頭，鬧鐘壞，天下雨，交通堵塞，等等6問題特性將這些因素按照大、中、小要因分類整理成為有條理且相互關(guān)聯(lián)的圖形，這個圖形稱為因果圖， 也稱為魚骨圖，石川圖和特性要因圖 。大要因大要因大要因大要因中因中要因小要因中要因小要因因果圖中要因中要因中要因7製作步驟步驟一：決定問題或品質(zhì)的特性為什麼延遲交貨問題特性因果圖8步驟二：依腦力激蕩法(集思廣益法)收集所有可能的原因.步驟三：原因分類, 按大要因分類。 如: 大要因 6M人,機器,材料,方法,量測和環(huán)境 人機器方法材料為

3、什麼延遲交貨環(huán)境因果圖量測製作步驟9步驟四：大要因分為中要因，中要因分為小要因.步驟五：填上製作目的，日期及製作者等資料.人機器方法材料為什麼延遲交貨情報錯誤經(jīng)驗不足生產(chǎn)計劃不相吻合不良率高存放位置不佳庫存量低交期過短會議目的：會議日期：與會者：因果圖設(shè)備不足人力不足量測環(huán)境氣溫高量具不準(zhǔn)設(shè)備易壞無計劃製作步驟10 1 以目視掌握因果關(guān)系和各要因的關(guān)聯(lián)性 2 問題的歸類和整理, 將多數(shù)的意見和構(gòu)想整理為一個體系, 通用更多的細(xì)節(jié)來鑒別和分析存在的問題 3 通過尋找所有與問題相關(guān)的可能原因，為下一步發(fā)現(xiàn)最可能的原因以便進行更深層的分析作準(zhǔn)備。因果圖11查檢表2為收集數(shù)據(jù)和檢查確認(rèn)而設(shè)計的容易使用

4、的表格12查檢表 查檢表是一種常用的為便於收集數(shù)據(jù)和檢查確認(rèn)而設(shè)計的容易使用的表格。只要記上查檢記號，加以統(tǒng)計整理，作為管理及分析改善的工具。如：IPQA日?；瞬闄z表,儀器設(shè)備保養(yǎng)點檢表, 生產(chǎn) 品質(zhì)狀況查檢表。 分類： 1. 收集數(shù)據(jù)用查檢表 2. 調(diào)查異常原因用查檢表 3. 點檢用查檢表。13 日常管理：對品質(zhì)管制項目的查檢，儀器設(shè)備保養(yǎng)的查 檢， 作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的要求與遵守等。 特別調(diào)查：品質(zhì)異常問題需要調(diào)查，重點調(diào)查，不良原 因調(diào)查及發(fā)現(xiàn)改善點的查檢。數(shù)據(jù)收集：為了要報告，調(diào)查需取得記錄，做成統(tǒng)計表 以便分析。使用目的查檢表14 1 查檢內(nèi)容要使工作現(xiàn)場的人員了解，並能作為在職訓(xùn)練。2 明

5、確查檢責(zé)任者。3 決定查檢的項目，查檢表的格式 以及記錄方式。4 對事實，現(xiàn)場的觀察要客觀，詳細(xì)。5 根據(jù)記錄做成數(shù)據(jù)及統(tǒng)計圖。6 盡快將發(fā)現(xiàn)的情況，向主管階層報告。7 有了對策要立即採取行動。8 查檢的結(jié)果，有關(guān)人員需了解。使用方法查檢表15例1.IPQA日?；瞬闄z表查檢表16例5.外出旅游避免物品遺漏查檢表No.查檢項目結(jié)果1身份証V2信用卡V3現(xiàn) 金V4機 票V5衣 服V6盥洗用品V7相機,相機電池V8手 機V9旅游指南V10筆, 筆記本V查檢表17柏拉圖3柏拉圖顯示所有數(shù)據(jù)項目的相對重要性18柏拉圖 柏拉圖又叫重點分析圖。意大利經(jīng)濟學(xué)家Pareto在統(tǒng)計國民所得時發(fā)現(xiàn)全國80的收入歸

6、於20之人口所有，提出柏拉圖法則。應(yīng)用於品管中， 大部分的問題源於小部分的原因。 從柏拉圖中能迅速看出哪一個項目的影響程度最大，可針對關(guān)鍵的問題點採取改善措施。191. 針對發(fā)生的問題，收集數(shù)據(jù)2. 數(shù)據(jù)整理分類，計算累積數(shù)，比率及累積比率 數(shù)據(jù)分類: 原因別分類：材料，機械，作業(yè)者，作業(yè)方法等； 內(nèi)容別分類：不良項目，場所，工程，時間等。 柏拉圖作法柏拉圖203. 依比率的大小自左而右排列繪制柱狀圖。4. 繪累積比率線。柏拉圖作法柏拉圖21哪一項目問題最大； 問題大小排列一目了然； 各項目對整體所佔分量及其影響程度如何 ； 減少不良項目對整體效果的預(yù)測及評估。柏拉圖柏拉圖顯示22柏拉圖不良項

7、目不良數(shù)累積不良不良率累積不良率Cover變形32932949%49%House變形19452329%78%刮痕8761013%91%毛邊346445%96%其它306744%100%例2. 品質(zhì)不良項目柏拉圖23柏拉圖例2. 品質(zhì)不良項目柏拉圖24層別法將數(shù)據(jù)按不同類別篩選歸類，期望發(fā)現(xiàn)不同類別之間的差異，呈現(xiàn)問題的狀況 。425層別法層別法的目的: 分層別類地搜集數(shù)據(jù),檢查不同分類或分組之間量測值的差別, 尋找潛在變異源. 應(yīng)用層別法: 以什麼觀點來加以層別: Man 人 Machine 機器設(shè)備 Material 材料 Method 方法 Measurement 量測 Environme

8、nt 環(huán)境26a.有關(guān)人的層別b.機器設(shè)備的層別c.作業(yè)方法、條件的層別d.時間的層別e.原材料零件別f.測量檢查的層別g.環(huán)境的層別h.製品的層別層別法的對象和項目層別法271 應(yīng)考慮共同因素的不同水準(zhǔn)，如: 因素 例類型 產(chǎn)品型別、抱怨型態(tài)、缺點類別時間 年、月、周、日、班別地點 國家、城市、工作場所人員 不同業(yè)務(wù)、不同部門、不同人員層別法應(yīng)用數(shù)據(jù)層別法2 在蒐集數(shù)據(jù)之前就應(yīng)使用層別法28例1.PC電腦交付時間層別法29例2.層別法的使用層別不良 層別法30散布圖通過散布圖手法,瞭解當(dāng)一個計量數(shù)值改變時，另一計量數(shù)值是否會可隨之相應(yīng)改變。531散布圖 將兩組數(shù)據(jù)繪在坐標(biāo)的X軸和Y軸上，通常

9、以X軸表示原因（輸入），以Y軸表示結(jié)果（輸出），根據(jù)點的分布形態(tài)來判斷兩組對應(yīng)數(shù)據(jù)之間是否相關(guān),以及相關(guān)的程度. 例如： 玻璃中含鉛量與抗輻射能力. 氣溫與穿衣服的多少 運動強度與身體出汗量32 1 收集兩組特性值相對應(yīng)的數(shù)據(jù)，一組對應(yīng)輸入，一組對應(yīng)輸出， 每組數(shù)據(jù)至少要30個以上； 2 在坐標(biāo)的X軸和Y軸上標(biāo)明數(shù)據(jù)的特性； X軸 輸入, Y軸 輸出. 3 把兩組數(shù)據(jù)分別標(biāo)示在坐標(biāo)上. 4 記錄必要事項,(時間, 責(zé)任人等) 散布圖作法散布圖33散布圖作法散布圖34散布圖的類型 a.正相關(guān)-強 b. 正相關(guān)-弱散布圖35散布圖的類型 c. 負(fù)相關(guān)-強 d. 負(fù)相關(guān)-弱散布圖36散佈圖的類型 e

10、.不相關(guān) f.曲線相關(guān) 散布圖37 可判斷兩組數(shù)據(jù)是否關(guān)聯(lián). 可判斷有關(guān)聯(lián)的兩組數(shù)據(jù)的相關(guān)程度. 若收集到的數(shù)據(jù)在圖上無法判定 - - - - 應(yīng)先層別，再繪散布圖。散布圖重點散布圖38直方圖直方圖通過各不同區(qū)間內(nèi)數(shù)據(jù)出現(xiàn)次數(shù)的累積條形圖來顯示數(shù)據(jù)的分配。639直方圖 一種次數(shù)分配表，沿橫軸以各組組界為分界，組距為底邊，依各組次數(shù)為高度，在每一組距上畫一矩形.直方圖可說明數(shù)據(jù)的分配形態(tài). 直方圖使用目的： 了解平均值和眾數(shù)； 了解分配范圍或差異； 訂定規(guī)格界限； 了解制程能力； 調(diào)查是否混入兩個以上 不同的群體 40不同的直方圖直方圖41直方圖與規(guī)格比較合適的制程能力較好的制程能力制程能力偏左

11、制程能力偏右制程能力超出規(guī)格直方圖42直方圖的製作步驟 1.蒐集數(shù)據(jù)2.找出所收集數(shù)據(jù)中的最大值與最小值,計算全距. 全距 = 最大值 - 最小值3.根據(jù)數(shù)據(jù)量的大小決定數(shù)據(jù)分組的組數(shù)數(shù)據(jù)的數(shù)量分組數(shù)小于 505750100610100250712大于 2501020數(shù)據(jù)分組參考表 直方圖43直方圖的製作步驟 NO組 界組中心點次數(shù)1119.5126122.7532126132.5129.25113132.5139135.75104139145.5142.25305145.5152148.75216152158.5155.25157158.5165161.75118165171.5168.25

12、34.計算組距: 組距全距組數(shù)5.決定各分組的上組界與下組界6.決定組的中心點: 中心點=(上組界+下組界)/27.製作次數(shù)分配表直方圖44直方圖的製作步驟 8.製作直方圖9.填上主題、規(guī)格、日期等資料XXX 直方圖USL:LSL:Target:N:日期：2004年8月19日作者：XXX直方圖45例1.銅柱直徑分布直方圖 直方圖No.DimensionNo.DimensionNo.Dimension11.92181.99351.9621.93191.98362.0031.97201.96371.9641.96211.95381.9251.95221.94391.9961.96231.94401

13、.9571.98241.95411.9781.97251.93421.9791.98261.94431.96101.93271.95441.98111.97281.96451.96121.99291.95461.97131.95301.94471.99141.96311.96481.99151.96321.98492.00161.97331.97501.97171.97341.93511.93用卡尺測量一個銅柱直徑，連續(xù)測量51次的數(shù)據(jù)。46直方圖例1.銅柱直徑分布直方圖 47管制圖7通過過程隨時間的變化關(guān)系,顯示過程是否在管制中 48管制圖 管制圖是一種走勢圖，在過程平均數(shù)的兩側(cè)有管制上限線

14、和管制下限線。 一般來說，上、下管制界限線距離中心線位置是3.0個標(biāo)準(zhǔn)差。 管制界限 規(guī)格界限管制上限線: UCL管制下限線: LCL 49管制圖管制圖功能： 可判定制程的變異是屬隨機原因還是特殊原因 可做制程能力解析過程在管制中的鑑別基準(zhǔn): 沒有數(shù)據(jù)點逸出管制界限, 管制界限內(nèi)的數(shù)據(jù)點呈隨機分佈(數(shù)據(jù)點的分布無規(guī)則可循)。50管制圖說明管制圖511 一個以上的點落在 3管制界限外。2 連續(xù)7個以上的點位於中心線的同一側(cè)。3 連續(xù)7個以上的上升或下降點。4 3個連續(xù)點中有2個點位於中心線的同一側(cè)且在 2的區(qū)域外5 5個連續(xù)點中有4個點位於中心線的同一側(cè)且在1的區(qū)域外。6 其他非隨機模式，如管制

15、界限內(nèi)的走勢、擺盪或點的異常分佈等。過程不在管制中的規(guī)則管制圖52計數(shù)數(shù)據(jù)管制圖計量數(shù)據(jù)計數(shù)數(shù)據(jù)是計算某一已知品質(zhì)特性的發(fā)生頻率。如某件事情發(fā)生或不發(fā)生的次數(shù)。計量數(shù)據(jù)反映出事情發(fā)生的程度,其量測值是連續(xù)的，能夠劃分爲(wèi)更精細(xì)的增量。 如:長度、重量、面積、溫度、時間等。 管制圖P ChartU ChartI-MR ChartXbar-R Chart53計數(shù)管制圖不良件數(shù)(Defectives):不符合標(biāo)準(zhǔn)或不可接受的產(chǎn)品 (單元或零件)個數(shù)。 p 管制圖 - 跟蹤每個批量或分組中不良產(chǎn)品 比例（不良件百分比)的簡單管制 圖。無論樣本大小是否固定都 可使用p管制圖。 缺點數(shù)(Defects):產(chǎn)品上存在的不符合標(biāo)準(zhǔn)或 不可接受的具體數(shù)量。 U管制圖 - 跟蹤每個產(chǎn)品缺點總數(shù)的簡單管制 圖。無論樣本大小是否固定，都可 使用U管制圖。 管制圖54n=樣本大小np=不良產(chǎn)品的件數(shù) p=不良件比例 p = (n1p1+n2p2+.+nkpk) / (n1+n2+.+nk), (p爲(wèi)過程平均,k為分組序號) UCLp = p + 3 p ( 1- p ) / nkLCLp = p - 3 p ( 1- p ) / nk P 管制圖 - 不良件數(shù)管制圖55P 管制圖 - 不良件數(shù)管制圖56U 管制圖 - 缺點數(shù) c 為產(chǎn)品的缺點數(shù)，nk