IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范

1、. ：.；Page PAGE 43 of NUMPAGES 43 文件類別：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次1 of 35IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范同意記錄擬制審核同意受控文件公用章登錄印章受控印章報(bào)廢印章發(fā)行記錄 董事長(zhǎng) 消費(fèi)部PDA 質(zhì)量部QD 運(yùn)作部OD 董事總經(jīng)理 消費(fèi)工程部PIE 文件控制中心DCC 人力資源部HR 廠務(wù)經(jīng)理 元件貼裝部SMT 進(jìn)料檢驗(yàn)部IQC 財(cái)務(wù)部FIN 管理者代表 產(chǎn)品組裝部PD 過程檢驗(yàn)部IPQC 銷售部SD 研發(fā)部RD 物料方案部PMC 出貨檢驗(yàn)部QA 報(bào)關(guān)部CUS 倉管部WH

2、技術(shù)支持部FAE 電腦部MIS 廢品維修部RMA 驗(yàn)證明驗(yàn)室VL 采購部PUR文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次2 of 35修正記錄次數(shù)版本晉級(jí)記錄修正時(shí)間修正類別修正頁次修正內(nèi)容簡(jiǎn)述修正人員審核同意1生效時(shí)間2生效時(shí)間3生效時(shí)間4生效時(shí)間5生效時(shí)間6生效時(shí)間7生效時(shí)間8生效時(shí)間9生效時(shí)間10生效時(shí)間11生效時(shí)間12生效時(shí)間FM-QM-XX-01 Ver: A0 文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修

3、正日期/頁 次3 of 35(一) PCB檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC檢驗(yàn)PCB物料之根據(jù) 。2. 適用范圍適用于本公司一切之PCB檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；詳細(xì)抽樣方式請(qǐng)參考。4. 職責(zé)供應(yīng)商擔(dān)任PCB質(zhì)量之控制執(zhí)行及管理，IQC擔(dān)任供應(yīng)商之管理及進(jìn)料檢驗(yàn)。5. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺陷(CR): 0;主要缺陷(MA): 0.4;次要缺陷(MI): 1.5.6. 參考文件1. IPC A - 600E, Acceptability of Printed Circuits Boards. 2. IPC R -700C, Rework Met

4、hods & Quality Conformance.7. 檢驗(yàn)規(guī)范定義： 檢驗(yàn)工程缺陷稱號(hào)缺陷定義檢驗(yàn)規(guī)范檢驗(yàn)方式備注線 路線路凸出MAa. 線路凸出部分不得 大于廢品最小間距30%。帶刻度放大鏡殘銅MAa. 兩線路間不允許有殘銅。b. 殘銅距線路或錫墊不得小于0.1mm。c. 非線路區(qū)殘銅不可大于2.5mm2.5mm，且不可露銅。帶刻度放大鏡線路缺口、凹洞MAa. 線路缺口、凹洞部分不可大于最小線寬的30%。帶刻度放大鏡斷路與短路CRa. 線路或錫墊之間絕不允許有斷路或短路之景象。放大鏡、萬用表線路裂痕MAa. 在線路或線路終端部分的裂痕，不可超越原線寬1/3。帶刻度放大鏡線路不良MA線路

5、因蝕銅不良而呈鋸齒狀部分不可超越原線寬的 1/3。帶刻度放大鏡線路變形MAa. 線路不可彎曲或扭折。放大鏡線路變色MAa. 線路不可因氧化或受藥水、異物污染而呵斥變色。目檢線路剝離CRa. 線路必需附著性良好，不可翹起或零落。目檢補(bǔ)線MA補(bǔ)線長(zhǎng)度不得大于5mm，寬度為原線寬的80%100%。線路轉(zhuǎn)彎處及BGA內(nèi)部不可補(bǔ)線。C/S面補(bǔ)線路不得超越2處，S/S面補(bǔ)線不得超越1處。帶刻度放大鏡目檢板邊余量MAa. 線路距成型板邊不得少于0.5mm。帶刻度放大鏡刮傷MAa. 刮傷長(zhǎng)度不超越6mm，深度不超越銅鉑厚度的1/3。放大鏡孔孔塞MAa. 零件孔不允許有孔塞景象。目檢孔黑MAa. 孔內(nèi)不可有錫面

6、氧化變黑之景象。目檢變形MAa. 孔壁與錫墊必需附著性良好，不可翹起，變形或零落。目檢PAD，RING錫墊缺口MA錫墊之缺口、凹洞、露銅等，不得大于單一錫墊之總 面積1/4。目檢、放大鏡文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次4 of 35檢驗(yàn)工程缺陷稱號(hào)缺陷定義檢驗(yàn)規(guī)范檢驗(yàn)方式備注PAD，RING錫墊氧化MAa. 錫墊不得有氧化景象。目檢錫墊壓扁MA錫墊之錫面厚度力求均勻，不可有錫厚壓扁之景象或 呵斥間距缺乏。目檢錫墊MAa. 錫墊不得零落、翹起、短路。目檢防焊線路防焊零落、起泡、漏印。MA線

7、路防焊必需完全覆蓋，不可零落、起泡、漏印，而 呵斥沾錫或露銅之景象。目檢防焊色差Minor a. 防焊漆外表顏色在視覺上不可有明顯差別。目檢防焊異物Minor防焊面不可沾附手指紋印、雜質(zhì)或其他雜物而影響外 觀。目檢防焊刮傷MA不傷及線路及板材(未露銅之防焊刮傷，長(zhǎng)度不可大于 15mm，且C/S面不可超越2條，S/S面不可超越1條。目檢防焊補(bǔ)漆MA補(bǔ)漆同一面總面積不可大于30mm2，C/S面不可超越3 處；S/S面不可超越2處且每處面積不可大于20mm2 。補(bǔ)漆應(yīng)力求平整，全面色澤一致，外表不得有雜質(zhì)或 涂料不均等景象。目檢防焊氣泡MAa. 防焊漆面不可內(nèi)含氣泡而有剝離之景象。目檢防焊漆殘留MA

8、a. 金手指、SMT PAD&光學(xué)定位點(diǎn)不可有防焊漆。目檢防焊剝離MA以3M scotch NO.600 0.5寬度膠帶密貼于防焊面,密貼 長(zhǎng)度約25mm,經(jīng)過30秒,以90度方向垂直拉起,不可有 零落或翹起之景象。目檢BGABGA防焊MA在BGA部分，不得有油墨覆蓋錫墊之景象，線路防焊 必需完全覆蓋。放大鏡BGA區(qū)域 導(dǎo)通孔塞孔MAa. BGA區(qū)域要求100%塞孔作業(yè)。放大鏡BGA區(qū)域 導(dǎo)孔沾錫MAa. BGA區(qū)域?qū)撞坏谜村a。目檢BGA區(qū)域線 路沾錫、露銅MAa. BGA區(qū)域線路不得沾錫、露銅。目檢BGA區(qū)域補(bǔ)線MAa. BGA區(qū)域不得有補(bǔ)線。目檢BGA PADMABGA PAD不得零落

9、、缺口、露銅、沾附防焊油墨及異物。目檢外觀 內(nèi)層黑棕化MAa. 內(nèi)層采用黑化處置，黑化缺乏或黑化不均，不可超越 單面總面積0.5%棕化亦同。目檢空泡&分層MAa.空泡和分層完全不允許。目檢文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次5 of 35檢驗(yàn)工程缺陷稱號(hào)缺陷定義檢驗(yàn)規(guī)范檢驗(yàn)方式備注外觀板角撞傷MAa. 因制造不良或外力撞擊而呵斥板邊角損壞時(shí)，那么 依成型線往內(nèi)推不得大于0.5mm或板角以45度最大 值1.3mm為允收上限。目檢及帶刻度放大鏡章記MA焊錫面上應(yīng)有制造廠之UL號(hào)碼、消費(fèi)日期、Ve

10、ndor Mark；消費(fèi)日期YY年、WW周采用蝕刻方式標(biāo)示。目檢外觀尺寸MAa. 四層板及金手指的板子，量板子最厚的部分銅箔及鍍金處厚度為1.60mm0.15mm，板長(zhǎng)和寬分別參考不同Model的SPEC?？ǔ甙鍙?板翹MAa. 板彎，板翹與板扭之允收百分比最大值為0.5%。塞規(guī) 平板玻璃板面污染MAa. 板面不得有外來雜質(zhì)，指印，殘留助焊劑，標(biāo)簽， 膠帶或其他污染物。目檢基板變色MAa.基板不得有焦?fàn)钭兩?。目檢絲印文字明晰度Minora. 一切文字、符號(hào)均需明晰且能識(shí)別，文字上線條之中 斷程度以可識(shí)別該文字為主。目檢重影或漏印MAa.文字，符號(hào)不可有重影或漏印。目檢印錯(cuò)MAa.極性符號(hào)、零件

11、符號(hào)及圖案等不可印錯(cuò)。目檢文字零落MAa.文字不可有溶化或零落之景象。目檢 異丙醇文字覆蓋 錫墊MAa.文字油墨不可覆蓋錫墊無論面積大小。目檢Model No.MAa. MODEL NO不可印錯(cuò)或漏印。目檢焊錫性焊錫性MAa. 鍍層不可有翹起或零落景象且焊錫性應(yīng)良好。用供 應(yīng)商提供的試錫板分別過回流爐和波峰焊，上錫不良 的點(diǎn)不可大于單面錫墊點(diǎn)數(shù)的0.3%。目檢金手指G/F刮傷MAa.金手指不可有見內(nèi)層之刮傷。放大鏡G/F變色MAa.金手指外表層不得有氧化變色景象。目檢 放大鏡G/F鍍層剝離MA以3M scotch NO.600 0.5寬度膠帶密貼于G/F鍍層上,密貼長(zhǎng)度約25mm,經(jīng)過30秒,

12、以90度方向垂直拉起,不可有零落或翹起之景象。目檢G/F污染MAa. 金手指不可沾錫、沾漆、沾膠或?yàn)槠渌廴疚?。目檢金手指G/F凹陷MAa. 金手指凹陷、凹洞見底材或銅面刮傷，不得在金手指中間3/5的關(guān)鍵位置，唯測(cè)試探針之針點(diǎn)可允收，凹陷長(zhǎng)度不可超越0.3mmMAX。放大鏡 G/F露銅MAa.金手指上不可有銅色顯露。放大鏡文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次6 of 358. 板彎、板翹與板扭之丈量方法8.1. 板彎：將PCB凸面朝上，放置于平板玻璃上，用塞規(guī)丈量其凸起的高度。(如圖一)8.

13、2. 板翹與板扭：將PCB翹曲面朝上，放置于平板玻璃上，用塞規(guī)丈量其翹起的高度。 (如圖二)文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次7 of 35(二)IC類檢驗(yàn)規(guī)范(包括BGA)1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)IC類物料之根據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司一切IC包括BGA之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；詳細(xì)抽樣方式請(qǐng)參考。4.允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺陷(CR): 0;主要缺陷(MA): 0.4;次要缺陷(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗(yàn)工程缺陷

14、屬性缺陷描畫檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物能否 都正確,任何有誤,均不可接受。包裝必需采用防靜電包裝，否那么不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)踐包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量能否一樣,假設(shè)不同不可接受；b. 實(shí)踐來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量能否吻合,假設(shè)不吻合不可接 受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking錯(cuò)或模糊不清難以識(shí)別不可接受；b. 來料品名錯(cuò)，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c. 本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可接受；d. 元件封裝資料外表因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超 過0.5mm2,且未顯露基質(zhì), 可接受；否那么不可接受；e. Pi

15、n氧化生銹，或上錫不良，均不可接受；f. 元件腳彎曲，偏位, 缺損或少腳，均不可接受；目檢或10倍以上 的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必需佩帶靜電帶。 備注：凡用于真空完全密閉方式包裝的IC，由于管理與防護(hù)的特殊要求不能現(xiàn)場(chǎng)翻開封裝的，IQC僅進(jìn)展包裝檢驗(yàn)，并加蓋免檢印章；該IC在SMT上拉前IQC須進(jìn)展拆封檢驗(yàn)。拆封后首先確認(rèn)包裝袋內(nèi)的濕度顯示卡20%RH對(duì)應(yīng)的位置有沒有變成粉紅色，假設(shè)已變?yōu)榉奂t色那么運(yùn)用前必需按供應(yīng)商的要求進(jìn)展烘烤。文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次8 of 35三 貼片元件檢驗(yàn)規(guī)

16、范(電容,電阻,電感)1. 目的便于IQC人員檢驗(yàn)貼片元件類物料。2. 適用范圍適用于本公司一切貼片元件電容,電阻,電感之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；詳細(xì)抽樣方式請(qǐng)參考。4.允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺陷(CR): 0;主要缺陷(MA): 0.4;次要缺陷(MI): 1.5.5. 參考文件檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描畫檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是 否都正確,任何有誤,均不可接受。 b. 包裝必需采用防靜電包裝，否那么不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MA實(shí)踐包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量能否一樣,假設(shè)不同不可接受；實(shí)踐

17、來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量能否吻合,假設(shè)不吻合不可接受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAMarking錯(cuò)或模糊不清難以識(shí)別不可接受；來料品名錯(cuò)，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可接受；元件封裝資料外表因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超越0.5mm2,且未顯露基質(zhì), 可接受；否那么不可接受；Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受； 目檢10倍以上的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必需佩帶靜電帶。電性檢驗(yàn)MA元件實(shí)踐丈量值超出偏向范圍內(nèi).LCR測(cè)試儀數(shù)字萬用表檢驗(yàn)時(shí)，必需佩帶靜電帶。二極管類型檢 測(cè) 方 法LED 選擇數(shù)字萬用表的二極管檔，正向丈量，LED需發(fā)出與要求相符的顏色的光，而反向丈量不發(fā)

18、光；否那么該二極 管不合格。 注：有標(biāo)志的一端為負(fù)極。其它二極管 選擇數(shù)字萬用表的二極管檔，正向丈量，讀數(shù)需小于1，而反向丈量讀數(shù)需無窮大；否那么該二極管不合格。 注：有顏色標(biāo)志的一端為負(fù)極。備注 抽樣方案闡明：對(duì)于CHIP二極管，執(zhí)行抽樣方案時(shí)來料數(shù)量以盤為單位，樣本數(shù)也以盤為單位；從抽檢的每 盤中取35pcs元件進(jìn)展檢測(cè)；AQL不變。檢驗(yàn)方法見LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀操作指引 和 數(shù)字萬用表操作指引。文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次9 of 35四 插件用電解電容.1. 目的作為IQC人

19、員檢驗(yàn)插件用電解電容類物料之根據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司一切插件用電解電容之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；詳細(xì)抽樣方式請(qǐng)參考。4. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺陷(CR): 0;主要缺陷(MA): 0.4;次要缺陷(MI): 1.5.5. 參考文件、。檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描畫檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物能否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MA實(shí)踐包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量能否一樣,假設(shè)不同不可接受；實(shí)踐來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量能否吻合,假設(shè)不吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa.

20、極性等標(biāo)志符號(hào)印刷不清，難以識(shí)別不可接受；b. 電解電容之熱縮套管破損、零落，不可接受；c. 本體變形，破損等不可接受；d.Pin生銹氧化，均不可接受。目檢可焊性檢驗(yàn)MAa.Pin上錫不良，或完全不上錫不可接受。(將PIN沾上現(xiàn)使 用之合格的松香水，再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN能否100%良好上錫；假設(shè)不是那么拒收)實(shí)踐操作每LOT取510PCS在 小錫爐上驗(yàn) 證上錫性尺寸規(guī)格檢驗(yàn)MA a. 外形尺寸不符合規(guī)格要求不可接受。卡尺假設(shè)用于新的Model，需在PCB上對(duì)應(yīng)的位置進(jìn)展試插電性檢驗(yàn)MA電容值超出規(guī)格要求那么不可接受。用數(shù)字電容表或LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀量測(cè)文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI

21、-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次10 of 35五 晶體類檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)晶體類物料之根據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所用晶體之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；詳細(xì)抽樣方式請(qǐng)參考。4. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺陷(CR): 0;主要缺陷(MA): 0.4;次要缺陷(MI): 1.5.5. 參考文件檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描畫檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物能否都 正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)M

22、A實(shí)踐包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量能否一樣,假設(shè)不同不可接受；實(shí)踐來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量能否吻合,假設(shè)不吻合不可接 受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 字體模糊不清，難以識(shí)別不可接受；b. 有不同規(guī)格的晶體混裝在一同，不可接受；元件變形，或受損顯露本體等不可接受；Pin生銹氧化、上錫不良，或斷Pin，均不可接受。目檢每LOT取510PCS在小錫爐上驗(yàn)證上錫性電性檢驗(yàn)MAa. 晶體不能起振不可接受；b. 丈量值超出晶體的頻率范圍那么不可接受。測(cè)試工位 和數(shù)字頻率計(jì)電性檢測(cè)方法晶體檢 測(cè) 方 法32.768KHz 16.934MHz25.000MHz 在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體, 再接通電源開機(jī)

23、; 在正常開機(jī)后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)丈量晶體，看 丈量的頻率能否在規(guī)格范圍內(nèi)，假設(shè)不能開機(jī)或丈量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，那么該晶體不合格。24.576MHz在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體、CPU、內(nèi)存條等，再接通電源開機(jī)，看能否正常開機(jī)顯示；在正常開機(jī)顯示后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)丈量晶體，看丈量的頻率能否在規(guī)格范圍內(nèi)，假設(shè)不能開機(jī)顯示或丈量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，那么該晶體不合格。文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次11 of 35六 三極管檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)三極管類物料之根據(jù)。2

24、. 適用范圍適用于本公司一切三極管之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；詳細(xì)抽樣方式請(qǐng)參考。4. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺陷(CR): 0;主要缺陷(MA): 0.4;次要缺陷(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描畫檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物能否 都正確,任何有誤,均不可接受。包裝必需采用防靜電包裝，否那么不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MA實(shí)踐包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量能否一樣,假設(shè)不同不可接受；實(shí)踐來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量能否吻合,假設(shè)不吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAMarkin

25、g錯(cuò)或模糊不清難以識(shí)別不可接受；來料品名錯(cuò)，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可接受；元件封裝資料外表因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超 過0.5mm2,且未顯露基質(zhì), 可接受；否那么不可接受；Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受。目檢10倍以上的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必需佩帶靜電帶。電性檢驗(yàn)無文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次12 of 35七 CPU Scoket檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)CPU Socket類物料之根據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司一切類

26、型CPU Scoket之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；詳細(xì)抽樣方式請(qǐng)參考。4. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺陷(CR): 0;主要缺陷(MA): 0.4;次要缺陷(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描畫檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物能否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MA 實(shí)踐包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量能否一樣,假設(shè)不同不可接受；實(shí)踐來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量能否吻合,假設(shè)不吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAMarking錯(cuò)；塑料與針腳不能緊固銜接；塑料體破損，體臟，變

27、形，明顯色差，劃傷，縮水；過錫爐后塑料體外觀變色，變形，脫皮;針腳擰結(jié)，彎曲，偏位, 缺損，斷針或短少；針腳高低不平、歪針、針氧化、生銹;內(nèi)部端子變形，不貼壁，氧化;拉桿松緊不適，或產(chǎn)生較大的磨擦聲目檢放大鏡焊錫性檢驗(yàn)MAa.PIN上錫不良，或完全不上錫,均不可接受；(將零件腳插入現(xiàn)運(yùn)用之合格松香水內(nèi)，全部浸潤(rùn)，再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN能否100%良好上錫；假設(shè)不是那么拒收)實(shí)踐操作每LOT取510PCS在小錫爐上驗(yàn)證上錫性安裝檢驗(yàn)MA針腳不能與規(guī)范PCB順利安裝;上蓋過松不可接受;針腳顯露機(jī)板長(zhǎng)度小于0.5mm或大于2.0mm;將拉桿扳至卡位處稍用力繼續(xù)下壓，檢查上蓋能否松脫,

28、假設(shè)過松易零落不可接受. 針腳顯露機(jī)板長(zhǎng)度的規(guī)范為0.5mm2.0mm范圍內(nèi)。文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次13 of 35(八) 排針&插槽(座)類檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)排針&插槽(座)類物料之根據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司一切排針&插槽(座)之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；詳細(xì)抽樣方式請(qǐng)參考。4. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺陷(CR): 0;主要缺陷(MA): 0.4;次要缺陷(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗(yàn)工程

29、缺陷屬性缺陷描畫檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物能否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MA 實(shí)踐包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量能否一樣,假設(shè)不同不可接受；實(shí)踐來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量能否吻合,假設(shè)不吻合不可接受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAMarking錯(cuò)或模糊不能辯認(rèn)；塑料與針腳不能緊固銜接；c. 塑料體破損，體臟，變形，明顯色差，劃傷，縮水；d. 過錫爐后塑料體外觀變色，變形，脫皮;e. 針腳擰結(jié)，彎曲，偏位, 缺損，斷針或短少；f. 針腳高低不平、歪針、針氧化、生銹;g. 針腳端部成蘑菇狀影響安裝.目檢焊錫性檢驗(yàn)MAPIN上錫不良，或完全不上

30、錫,均不可接受；(將零件腳插入 現(xiàn)運(yùn)用之合格松香水內(nèi)，全部浸潤(rùn)，再插入小錫爐5秒鐘 左右后拿起觀看PIN能否100%良好上錫；假設(shè)不是那么拒收)實(shí)踐操作每LOT取510PCS在小錫爐上驗(yàn)證上錫性安裝檢驗(yàn)MA針腳不能與規(guī)范PCB順利安裝;針腳顯露機(jī)板長(zhǎng)度小于0.5mm或大于2.0mm;卡尺針腳顯露機(jī)板長(zhǎng)度的規(guī)范為0.5mm2.0mm范圍內(nèi)。文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次14 of 35(九) 電池檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)電池類物料之根據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所用電池之檢

31、驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；詳細(xì)抽樣方式請(qǐng)參考。4. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺陷(CR): 0;主要缺陷(MA): 0.4;次要缺陷(MI): 1.5.5. 參考文件。檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描畫檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物能否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MA 實(shí)踐包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量能否一樣,假設(shè)不同不可接受；實(shí)踐來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量能否吻合,假設(shè)不吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 外表要光滑，假設(shè)有明顯劃痕不可接受；b. 電池外表腐蝕、生銹等，不可接受；電池極性

32、標(biāo)志要明晰，否那么不可接受；來料品名錯(cuò)或混裝不同規(guī)格的電池均不可接受。目檢尺寸規(guī)格檢驗(yàn)MAa.池外徑：D=2.0cm，假設(shè)不符不可接受?？ǔ唠娦詸z驗(yàn)MA字萬用表指向直流電壓檔20V，兩表筆分別接在電池兩端(即正負(fù)極)，電壓的讀數(shù)需在3.1V以上。假設(shè)電池電壓小于3.10V那么不可接受。用數(shù)字萬用表量測(cè)檢驗(yàn)時(shí)不能短路電池兩端文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次15 of 35(十) CABLE類檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為C人員檢驗(yàn)CABLE類物料之根據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司一切CABLE類之

33、檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；詳細(xì)抽樣方式請(qǐng)參考。4. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺陷(CR): 0;主要缺陷(MA): 0.4;次要缺陷(MI): 1.5.5 參考文件無檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描畫檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物能否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 數(shù)量與Label上的數(shù)量能否一樣,假設(shè)不同不可接受；b. 料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量能否吻合,假設(shè)不吻合不可接受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 五金件變形、劃傷、生銹、起泡、發(fā)黃或其它電鍍不良；b.塑料體變形、劃傷、毛邊、破斷裂、異色

34、等不良；c.排線破損、斷裂、變形、異色、露銅絲、切口不齊等均不 可接受；d.排線與支架等組裝不牢，易松脫；e.標(biāo)識(shí)CABLE接插方向的顏色不能明確分辯；排線接頭的顏色不符合規(guī)格要求;g.排線外表的絲印錯(cuò).1.目檢2.按前后左右上下各輕搖3次排線接頭處，看有無松脫景象參考Mechanical Drawing of Cable尺寸檢驗(yàn)MAa.長(zhǎng)度不符合規(guī)格要求不可接受.卷尺尺寸參考Mechanical Drawing of Cable電性測(cè)試檢驗(yàn)MA排線的接線方式錯(cuò)不可接受;排線接觸不良或不能運(yùn)轉(zhuǎn)不可接受;IDE排線的傳輸速率不符合要求不可接受.每批取10pcs送QA,請(qǐng)QA的同事協(xié)助 測(cè)試?yán)y(cè)

35、試檢驗(yàn)MA與公端對(duì)插,插拔力不符合規(guī)格要求的不可接受.( 拉力測(cè)試: 用規(guī)范Box Header與排線對(duì)插好，用拉力計(jì)測(cè)出其CABLE完全被拉出后的最大拔出力。)實(shí)踐操作備注 1. 要求如下(低于20PIN 的不作要求)： 80PIN: 4.07.0Kgf ; 40PIN:3.56.0kgf : 34PIN:3.05.0kgf ;26PIN:2.04.0kgf ;20PIN:1.43.4kg2.接插CABLE要輕插，不可插壞主板之插座；3.測(cè)拉力時(shí)，必需沿程度方向拔出，假設(shè)拉拔力均不符合要求，須重測(cè)三次；如有一次符合，那么此CABLE拉拔 力合格；如三次均不符合要求，需轉(zhuǎn)換另一BOX HEAD

36、ER (可延續(xù)轉(zhuǎn)換三次新的BOX HEADER)，以同樣的 方式測(cè)試。改換三次后仍不符合，那么拒收退貨。文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次16 of 35(十一) 散熱片檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)散熱片類物料之根據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司一切散熱片之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；詳細(xì)抽樣方式請(qǐng)參考。4. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺陷(CR): 0;主要缺陷(MA): 0.4;次要缺陷(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗(yàn)工程缺陷

37、屬性缺陷描畫檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物能否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)踐包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量能否一樣,假設(shè)不同不可接受；實(shí)踐來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量能否吻合,假設(shè)不吻合不可接 受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MA將散熱片的正面朝向檢驗(yàn)員，假設(shè)可見外表的鍍漆零落且露 出內(nèi)部基材，那么不可接受；假設(shè)正外表有“TOMATOLOGO印刷要求的，那么字體斷層、 模糊，或字體上有直徑大于0.2mm的漏漆等，不可接受;散熱片的四個(gè)側(cè)面假設(shè)有碰撞掉漆,其直徑大于1.0mm那么不可 接受;對(duì)于兩個(gè)剪切側(cè)面的電鍍痕,假設(shè)未延伸至正面那么可接

38、受;外表、邊沿或凹槽內(nèi)殘留任何臟污、鐵屑及毛邊等，均不 可接受；對(duì)于正外表上未顯露基材的劃痕，可將散熱片置于檢驗(yàn)者的正前方約一臂遠(yuǎn)，與視野分別成90度和45度，假設(shè)兩個(gè)角度均可見那么不可接受；散熱片正外表在拉鋁過程中留下的針孔，假設(shè)其直徑大于 0.5mm那么不可接受；散熱片被切割不整齊不可接受；散熱片反面的雙面膠須平整地貼在其內(nèi)部，假設(shè)膠紙皺在一 起或伸出散熱片均不可接受。目檢樣品比對(duì)尺寸檢驗(yàn)MA用直尺或卷尺丈量實(shí)踐尺寸與規(guī)格尺寸能否相符,不符不可 接受。直尺或卷尺試貼檢驗(yàn)MA按BOM要求，將散熱片貼到對(duì)應(yīng)的主板上的芯片上，假設(shè)散熱片的尺寸小于芯片或散熱片過大而碰撞到芯片周圍的元件均不接受。試

39、貼文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次17 of 35(十二) 海棉檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)海綿類物料之根據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司一切海棉之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；詳細(xì)抽樣方式請(qǐng)參考。4. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺陷(CR): 0;主要缺陷(MA): 0.4;次要缺陷(MI): 1.5.5. 參考文件。檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描畫檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝LABEL上的P/N及實(shí)物能否都 正確,任何有誤

40、,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)踐包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量能否一樣,假設(shè)不同不可接受；實(shí)踐來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量能否吻合,假設(shè)不吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MA 外表無明顯色差，或空洞，虛邊，劃傷，破裂等,否那么不可 接受;外表無明顯污跡等，否那么不可接受； 外表無永久性折皺，否那么不可接受。目檢尺寸檢驗(yàn)CR用直尺或卷尺丈量實(shí)踐尺寸與規(guī)格尺寸能否相符,不符不可接 受。直尺或卷尺外表阻抗檢測(cè)MAa. 外表阻抗要求到達(dá)1081011,否那么不可接受。外表阻抗表試裝檢驗(yàn)MA將對(duì)應(yīng)MODEL裝配后的主板與海棉配疊好，假設(shè)海棉明顯小于機(jī)板或海棉尺寸過大均不接受;試裝文件稱號(hào)：文件編號(hào)S

41、I-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次18 of 35(十三) 靜電袋檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)靜電袋類物料之根據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司一切靜電袋之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；詳細(xì)抽樣方式請(qǐng)參考。4. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺陷(CR): 0;主要缺陷(MA): 0.4;次要缺陷(MI): 1.5.5. 參考文件。檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描畫檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝LABEL上的P/N及實(shí)物能否都 正確,任何有誤,均不可接受。目

42、檢數(shù)量檢驗(yàn)MA a. 實(shí)踐包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量能否一樣,假設(shè)不同不可接受；實(shí)踐來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量能否吻合,假設(shè)不吻合不可接 受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MA外表光滑，無明顯折皺、破損、裂紋等,否那么不可接受;外表無明顯污跡、水跡等，否那么不可接受；兩側(cè)邊的壓合須結(jié)實(shí)，假設(shè)壓合不牢，開裂等不可接受。目檢尺寸檢驗(yàn)CR用直尺或卷尺丈量實(shí)踐尺寸與規(guī)格尺寸能否相符,不符不可接 受。直尺或卷尺所測(cè)尺寸為內(nèi)部尺寸外表阻抗檢測(cè)MAa. 外表阻抗要求到達(dá)1081011,否那么不可接受。外表阻抗表試裝檢驗(yàn)MAa. 將對(duì)應(yīng)MODEL裝配后的主板與海棉小心翼翼地裝入靜電袋，留意不要刮傷袋口,假設(shè)不能順利裝入袋內(nèi)

43、或袋的尺寸太大均不接受；實(shí)踐操作文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次19 of 35(十四) 闡明書檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)闡明書類物料之根據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司一切闡明書之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；詳細(xì)抽樣方式請(qǐng)參考。4. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺陷(CR): 0;主要缺陷(MA): 0.4;次要缺陷(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描畫檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL

44、上的P/N及實(shí)物能否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)踐包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量能否一樣,假設(shè)不同不可接受；實(shí)踐來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量能否吻合,假設(shè)不吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MA 少頁，空白頁(指漏印了內(nèi)容)，內(nèi)容短少等均不可接受；假設(shè)闡明書中間夾有空白頁，即使沒有漏印內(nèi)容，也不可接受；關(guān)鍵內(nèi)容錯(cuò)誤，或張冠李戴制造了不屬于本闡明書的內(nèi)容， 致使產(chǎn)品運(yùn)用會(huì)出錯(cuò)誤；內(nèi)容明顯制造錯(cuò)誤，雖不會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品運(yùn)用出現(xiàn)錯(cuò)誤，也不可 接受；內(nèi)容模糊，不能了解其意思，不論能否會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品運(yùn)用出現(xiàn) 錯(cuò)誤，均不可接受；大面積污跡，如墨印，發(fā)黃等，嚴(yán)重影響閱讀，不可接受；掉頁，指內(nèi)容完

45、全，但某一頁或多頁掉落，未裝訂等，不可 接受；頁面破損,導(dǎo)致影響閱讀或外觀,均不可接受； 封面明顯印刷不良或印錯(cuò)，包括：明顯色差，多墨；字體不易辯認(rèn)，或易于混淆等，字體印錯(cuò)；明顯污跡，明顯折皺，刮傷，壓痕等外表嚴(yán)重不良。目檢樣品比對(duì)對(duì)于新MODEL的闡明書，假設(shè)沒有樣品核對(duì)，首先取樣送VL，請(qǐng)VL的同事協(xié)助 檢查。MAa.多頁，指某頁或多頁反復(fù)出現(xiàn)，不可接受；b.書內(nèi)有污跡,雖不影響閱讀，但明顯影響外觀，不可接受；c.連頁，頁未裁開，或頁內(nèi)有多余的紙屑等均不可接受；闡明書的邊沿裁剪不齊，不可接受。目檢 文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定

46、日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次20 of 35(十五) CD 碟檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)CD碟類物料之根據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司一切之CD 碟檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；詳細(xì)抽樣方式請(qǐng)參考。4. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺陷(CR): 0;主要缺陷(MA): 0.4;次要缺陷(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描畫檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物能否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MA 實(shí)踐包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量能否一樣,假設(shè)不同

47、不可接受；實(shí)踐來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量能否吻合,假設(shè)不吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MA光碟外表刮傷嚴(yán)重，不能讀出其內(nèi)容；或讀碟時(shí)不能正常 起動(dòng)；內(nèi)容制造錯(cuò)誤，或內(nèi)容脫漏,或張冠李戴制造了不屬于該光 碟的內(nèi) 容，致使產(chǎn)品無法運(yùn)用；c.光碟外表有刮花、臟污等景象，不可接受；d.光碟外表印刷內(nèi)容不符合要求，不可接受；e.光碟袋臟污、破損等不可接受。目檢用CD ROM 讀碟對(duì)于新版的CDdriver, 取樣送VL,請(qǐng)VL同事協(xié)助 安裝檢驗(yàn).文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次21 of 35(

48、十六) 彩盒檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)彩盒類物料之根據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司一切彩盒之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；詳細(xì)抽樣方式請(qǐng)參考。4. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺陷(CR): 0;主要缺陷(MA): 0.4;次要缺陷(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描畫檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物能否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)踐包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量能否一樣,假設(shè)不同不可接受；實(shí)踐來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量能否吻合,假設(shè)不吻合不可接 受。目

49、檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MA正面印刷良好，無明顯色差，否那么不可接受;印刷要求正確，假設(shè)字體圖案等錯(cuò)印、印反、漏印及重影等， 不可接受;字體缺損及字體模糊等能容易區(qū)分，且不易混淆那么可接受； 假設(shè)字體難以辨識(shí)那么不可接受；外表多余的墨跡，假設(shè)其直徑大于1.0mm2或單個(gè)面上多于3 個(gè)點(diǎn)，那么不可接受；外表上殘留任何臟污等污跡，均不可接受；外表有明顯壓傷，劃傷，破裂，永久性折皺等,均不可接受；彩盒潮濕，分層，脫皮等均不可接受；彩盒外外表漏涂膠不可接受。目檢樣品比對(duì)尺寸檢驗(yàn)MA用直尺或卷尺丈量實(shí)踐尺寸與規(guī)格尺寸能否相符,不符不可 接受。直尺或卷尺試裝檢驗(yàn)MA將對(duì)應(yīng)MODEL裝配后的主板與海棉配疊好裝入靜電

50、袋，再將該靜電袋與需求包裝的附件一同裝入彩盒內(nèi)，假設(shè)裝不下或彩盒尺寸過大均不接受;試裝文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次22 of 35(十七) 卡通檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)卡通類物料之根據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司一切卡通之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；詳細(xì)抽樣方式請(qǐng)參考。4. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺陷(CR): 0;主要缺陷(MA): 0.4;次要缺陷(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描畫檢驗(yàn)方式備注

51、包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物能否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MA 實(shí)踐包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量能否一樣,假設(shè)不同不可接受；實(shí)踐來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量能否吻合,假設(shè)不吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MA正面印刷良好，無明顯色差，否那么不可接受;印刷要求正確，假設(shè)字體圖案等錯(cuò)印、印反、漏印及重影等， 不可接受;字體缺損及字體模糊等能容易區(qū)分，且不易混淆那么可接受； 假設(shè)字體難以辨識(shí)那么不可接受；外表多余的墨跡，假設(shè)其直徑大于3.0mm2或單個(gè)面上多于5 個(gè)點(diǎn)，那么不可接受；外表上殘留任何臟污等污跡，均不可接受；外表有明顯壓傷，劃傷，破裂，

52、永久性折皺等,均不可接受；卡通潮濕，分層，脫皮等均不可接受；卡通折疊成形困難不可接受；卡通的一切邊沿須裁剪整齊，假設(shè)邊沿參差不齊或殘留有毛 邊等不可接受。目檢樣品比對(duì)假設(shè)卡通沒有絲印要求那么不考慮絲印質(zhì)量尺寸檢驗(yàn)MA用直尺或卷尺丈量實(shí)踐尺寸與規(guī)格尺寸能否相符,不符不可 接受。直尺或卷尺試裝檢驗(yàn)MA按BOM要求，將對(duì)應(yīng)的裝有主板與附件的彩盒裝入卡通 內(nèi)，假設(shè)裝不下或卡通尺寸過大均不接受。試裝 文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次23 of 35(十八) 整機(jī)機(jī)箱檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員

53、檢驗(yàn)消費(fèi)整機(jī)用機(jī)箱之根據(jù) 。2. 適用范圍適用于本公司一切消費(fèi)整機(jī)用機(jī)箱之檢驗(yàn)。3. 抽樣方案依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣方案；詳細(xì)抽樣方式請(qǐng)參考。4. 允收水準(zhǔn)AQL嚴(yán)重缺陷(CR): 0;主要缺陷(MA): 0.4;次要缺陷(MI): 1.5.5. 參考文件無6. 檢驗(yàn)規(guī)范定義定義名詞定義內(nèi)容備注6.1 檢驗(yàn)方式6.1.1.1 照明燈光: 目檢檢測(cè)應(yīng)在工廠正常照明下進(jìn)展，即10020呎遠(yuǎn)的白色熒光冷光 照明。6.1.1.2 位置: a. 將待檢測(cè)零組件置于檢測(cè)者面前45至60cm約一手臂長(zhǎng)； b. 檢測(cè)者應(yīng)以正視即垂直于外表和45兩方向進(jìn)展零組件目檢檢測(cè)。6.2

54、 機(jī)箱外表等級(jí)面之定義6.2.1 I級(jí)面： I級(jí)面應(yīng)定義為操作人員隨時(shí)可以看得見的區(qū)域，是外觀要求最嚴(yán)厲之處。 如：整機(jī)的頂面及正前面；6.2.2 II級(jí)面： II級(jí)面定義為操作人員偶爾可見的區(qū)域，其外觀要求次于I級(jí)面的要求。 如：整機(jī)的反面及側(cè)面；6.2.3 III級(jí)面： III級(jí)面定義為操作人員極少看見的區(qū)域，其外觀要求次于II級(jí)面的要求。 如：整機(jī)的底面；6.2.4 IV級(jí)面： IV級(jí)面定義為操作人員看不見的區(qū)域，其外觀要求最低。 如：整機(jī)的內(nèi)部。6.2.5 I，II，III等級(jí)面表示圖： 文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2

55、002-04-17制定人員修正日期/頁 次24 of 357. 機(jī)箱外觀判別規(guī)范：等級(jí)面檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描畫檢驗(yàn)方式A. I級(jí)面電鍍外表/此等級(jí)面不適用。/烤漆面烤漆附著力MA起泡不接受；烤漆附著不良以致裸顯露金屬為不可接受；目檢顏色均一性MAa. 烤漆面之顏色和花紋應(yīng)一致，不同面可允許稍有差別，但同一面上 不得有任何顏色差別， 顏色不均勻或不符合規(guī)定之色度為不可接受；目檢 色度儀劃傷或刮花MA在單個(gè)面內(nèi)存在劃傷或刮花的痕跡而且劃傷或刮花導(dǎo)致裸顯露金屬 為不可接受；在單個(gè)面的范圍內(nèi)只需一個(gè)未顯露金屬的劃傷或刮花并且保證未改變外表顏色及直徑小于2.0mm者可以接受， 超出定義的缺陷景象均不可

56、接受；任何目檢可見的破壞花紋的刮花或劃傷等均不可接受；目檢 量度臟污MA臟污改動(dòng)了外表顏色或污跡點(diǎn)直徑大于0.6mm為不可以接受；假設(shè) 直徑小于0.25mm的污跡視為看不見，可以接受恣意二個(gè)臟污點(diǎn)間的最小間隔 小于50mm者不可接受；但假設(shè)是在 搬運(yùn)過程中呵斥的并可以吹掉的灰塵等那么可以接受；目檢 量度雜質(zhì)MA直徑大于1.0mm之雜質(zhì)不可接受；在單個(gè)面的范圍內(nèi)不得有4個(gè)以上或任兩個(gè)間隔 小于50mm之雜質(zhì)；目檢 量度凹痕或壓痕MAa. 直徑大于2.0mm之凹痕或壓痕不予接受；b. 單個(gè)面的范圍內(nèi)不得超越一個(gè)凹痕或壓痕。目檢 量度邊沿毛刺MA在剪切邊或沖壓孔的邊緣不可存在任何毛邊或毛刺，假設(shè)存在

57、，為 不可接受。目檢 字體和標(biāo)志印刷MAa. 字體和標(biāo)志的顏色必需符合要求, 否那么不可接受；b. 字體和標(biāo)志上有直徑大于0.3mm的針孔、漏漆、臟污等不可接受；每個(gè)字體或標(biāo)志上不得有超越一個(gè)直徑小于0.3mm的針孔、漏漆、 臟污等缺陷；字體或標(biāo)志印錯(cuò)、漏印、歪斜等不可接受；目檢整體美觀MA面板絲印明晰，無污跡FDD，CDROM無明顯單邊或內(nèi)陷內(nèi)陷0.5mm前置AUDIO，USB到位，為明顯偏向裝飾片安裝到位，無松動(dòng)，歪斜，損壞。目檢 量度B. II 級(jí)面電鍍外表/不適用?？酒崦婵酒岣街A起泡不接受；附著不良以致裸顯露金屬者不接受；目檢 顏色均一性MAa. 烤漆面之顏色和花紋應(yīng)一致，不同面

58、可允許稍有差別，但同一面上 不得有任何顏色差別；目檢文件稱號(hào)：文件編號(hào)SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修正日期/頁 次25 of 35等級(jí)面檢驗(yàn)工程缺陷屬性缺陷描畫檢驗(yàn)方式B. II級(jí)面烤漆面劃傷或刮花MA劃傷或刮花以致裸顯露金屬者不接受；在單個(gè)面的范圍內(nèi)不超越二個(gè)未顯露金屬的劃傷或刮花并且保證未改 變外表顏色及直徑小于3.0mm者可以接受；假設(shè)二個(gè)點(diǎn)之最小間隔 小于50mm者不可接受；d.任何目檢可見的破壞花紋的刮花波紋或裂紋等均不可接受；目檢 量度漆面臟污MAa. 臟污改動(dòng)了外表顏色或污跡點(diǎn)直徑大于0.6mm為不可以

59、接受；假設(shè)直 徑小于0.25mm的污跡視為看不見，可以接受恣意二個(gè)臟污點(diǎn)間的最小間隔 小于50mm者不可接受；但假設(shè)是在搬運(yùn) 過程中呵斥的并可以吹掉的灰塵等那么可以接受；目檢 量度雜質(zhì)MA直徑大于1.0mm之雜質(zhì)不接受；b. 在單個(gè)面的范圍內(nèi)不得有4個(gè)以上或任兩個(gè)間隔 小于50mm之雜質(zhì)；目檢 量度凹痕或壓痕MA直徑大于3.0mm之凹痕或壓痕不予接受；單個(gè)面的范圍內(nèi)不得超越一個(gè)凹痕或壓痕；目檢 量度邊沿毛刺MA在剪切邊或沖壓孔的邊緣不可存在任何毛邊或毛刺，否那么不可接受。目檢字體和標(biāo)志印刷MA字體和標(biāo)志的顏色必需符合要求,否那么不可接受；字體和標(biāo)志上有直徑大于0.3mm的針孔、漏漆、臟污等不可

60、接受；每個(gè)字體或標(biāo)志上不得有超越一個(gè)直徑小于0.3mm的針孔、漏漆、臟 污等缺陷；字體或標(biāo)志印錯(cuò)、漏印、歪斜等不可接受；目檢 量度整體美觀MA面板絲印明晰，無污跡COM,LAN無明顯單邊或內(nèi)陷內(nèi)陷0.5mm后置USB到位，無明顯偏向裝飾片安裝到位，無松動(dòng)，歪斜，損壞。目檢 量度C. III級(jí)面電鍍外表/不適用?？酒崦婵酒岣街Aa.起泡不接受；b.附著不良以致裸顯露金屬者不接受；目檢顏色均一性MAa. 烤漆面之顏色和花紋應(yīng)根本一致，不可有明顯之差別；目檢劃傷或刮花MA劃傷或刮花以致裸顯露金屬者不接受；在單個(gè)面的范圍內(nèi)不超越四個(gè)未顯露金屬的劃傷或刮花并且保證未改動(dòng)外表顏色及直徑小于3.0mm者