電子元件抽樣方案

1、.：.；元器件的抽樣方案1. 目 的本規(guī)范為制定方案及檢驗(yàn)程序的基準(zhǔn), 并為未來(lái)抽樣方案之多樣化提供資上的支持,保管繼續(xù)的文件適用性。2. 適用范圍 本文件適用于公司范圍內(nèi)質(zhì)量保證部所進(jìn)的檢驗(yàn)活動(dòng)。3. 抽樣水準(zhǔn)：3.1除書面規(guī)定的廠商采用固定抽樣檢驗(yàn)方案外,其它,普通采用本文件給出的動(dòng)態(tài)檢驗(yàn)轉(zhuǎn)換抽樣表,抽樣樣本數(shù)通常以批數(shù)為準(zhǔn), 一個(gè)批的數(shù)通常為一個(gè)單據(jù)的記錄數(shù).這樣的單據(jù)有: 進(jìn)貨驗(yàn)收單, 入庫(kù)驗(yàn)收單等.3.2根據(jù)產(chǎn)質(zhì)量量特性(含構(gòu)造, 尺寸,電氣特性,機(jī)械性能,功能等)決議抽驗(yàn)方案，抽驗(yàn)數(shù)及允收質(zhì)量.水準(zhǔn)(AQL).根據(jù)物料類別區(qū)分,各產(chǎn)質(zhì)量量特性抽檢數(shù)量3.3 新產(chǎn)品之初次(批)廢品,

2、貴重的進(jìn)貨品等,當(dāng)無(wú)特別規(guī)定時(shí),通常需全數(shù)檢驗(yàn).產(chǎn)品資料類別CRIMAJMIN備注電容00.25%0.65%三極管00.25%0.65%二極管00.25%0.65%芯片00.25%0.65%電阻00.25%0.65%4. 檢驗(yàn)根據(jù)4.1 工程圖紙4.2 檢驗(yàn)指示43 產(chǎn)品規(guī)格書4.4 檢驗(yàn)方案4.5 樣品對(duì)照4.6 評(píng)價(jià)報(bào)告和成認(rèn)書4.7 客戶訂單五.檢驗(yàn)轉(zhuǎn)換：5.1 轉(zhuǎn)換闡明f NR 延續(xù)三批合格f RN 一批退貨f TN 延續(xù)三批合格f NT 延續(xù)三批中有二批拒收f(shuō) N- 正 常f T - 加 嚴(yán)f R 放 寬原那么上采用上述檢驗(yàn)次序轉(zhuǎn)換, 根據(jù)需求公司也可根據(jù)實(shí)踐需求進(jìn)加嚴(yán),正常,放寬的

3、轉(zhuǎn)換程序.5.2 正常檢驗(yàn)批量樣本允收質(zhì)量水準(zhǔn)(AQL)0.50.250.40.6510.1.5Ac ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc Re2-829-15316-25526-5080 151-90130 191-150200 1151-280320 11 2281-500500 11 22 3501-1200800 11 22 33 41201-32001251 22 33 45 63201-100002001 22 33 45 67 810001-350003151 22 33 45 67 810 1135001-1500005002 33 45 67 810 1114 1

4、5150001-5000008003 45 67 810 1114 1521 22500001-12505 67 810 1114 1521 22備注:f Ac 允收數(shù)f Re 拒收數(shù)f : 采用箭頭下第一個(gè)抽樣方案,如樣本大小超越或等于批那么用 100%之檢驗(yàn).f : 采用箭頭上第一個(gè)抽樣方案.5.3 放寬檢驗(yàn)批量樣本允收質(zhì)量水準(zhǔn)(AQL)0.50.250.40.6510.1.5Ac ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc Re2-829-15216-25226-5030 151-9050 191-15080 1151-280130 10 2281-500200 10 21 350

5、1-1200320 10 21 31 41201-3200500 21 31 42 53201-10000800 21 31 42 53 610001-350001250 21 31 42 53 65 835001-1500002001 31 42 53 65 87 10150001-5000003151 42 53 65 87 1010 13500001-5002 53 65 87 1010 13備注:f Ac 允收數(shù)f Re 拒收數(shù)f : 采用箭頭下第一個(gè)抽樣方案,如樣本大小超越或等于批那么用 100%之檢驗(yàn).f : 采用箭頭上第一個(gè)抽樣方案.f 如二個(gè)次數(shù)樣本已超越允收數(shù), 但尚未到達(dá)拒

6、收數(shù)時(shí), 可允收此批, 惟以后須恢復(fù)正常檢驗(yàn).5.4 加嚴(yán)檢驗(yàn)批量樣本允收質(zhì)量水準(zhǔn)(AQL)0.50.250.40.6510.1.5Ac ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc Re2-829-15316-25526-50851-90130 191-150200 1151-280320 1281-500500 11 2501-1200800 11 22 31201-32001250 11 22 33 43201-100002001 22 33 45 610001-350003151 22 33 45 68 935001-1500005001 32 33 45 68 912 13150

7、001-5000008001 43 45 68 912 1318 19500001-12502 55 68 912 1318 19備注:f Ac 允收數(shù)f Re 拒收數(shù)f : 采用箭頭下第一個(gè)抽樣方案,如樣本大小超越或等于批那么用 100%之檢驗(yàn).f : 采用箭頭上第一個(gè)抽樣方案.6.0 C=0 抽樣方案明: 本節(jié)內(nèi)容變僅供參考, 作為其它文件的援用參考根據(jù).指示數(shù)值(相關(guān)聯(lián)的 AQLS).010 .015 .025040.065 .10 .15 .25.40 .55 1.0 1.52.5 4.0 6.5 10.0批量數(shù)樣本數(shù)289152625* * * * * * * * * * * * *

8、 * * * * * * * * * * 13 8* 20 13 85 3 2 25 3 2 25 3 2 22650519091150* * * * * * * * * * * * * * 80 50* 125 80 5032 20 13 832 20 13 832 20 13 125 5 5 37 6 5 411 7 6 51512802815005011200* * * * * * 315* 800 500315200 125 8050200 125 805032 20 20 1948 47 20 2173 47 34 2713 10 7 616 11 9 719 15 11 81201

9、320032011000010001350001250 800 5003151250 800 500315200 125 120116200 192 18911673 53 42 3586 68 50 38108 77 60 4623 18 13 929 22 15 935 29 15 9350011500001500015000005000011250 800 5004901250 800 750715476 294 218170476 345 270200123 96 74 56156 119 9064189 143 10240 29 15 940 29 15 940 29 15 9備注:

10、f “* 表示整批都須檢驗(yàn)f 允收數(shù)均為零7.0 較完好 MIL-STD-105E 單次抽樣方案摘錄闡明: 除非特別指出, 本章節(jié)為本公司抽樣檢驗(yàn)方案的基準(zhǔn), 為規(guī)范的抽樣方案表.相關(guān)聯(lián)的(AQLS)普通檢驗(yàn)水準(zhǔn)()批樣本大 小允收質(zhì)量水準(zhǔn)(AQL)0.100.150.250.40.651.01.52.54.0Ac ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc ReAc Re2 89 1516 252350 10 126 5051 9091 150813200 10 10 121 22 3151 282815005011200325080 0 10 10 11 2232

11、342 33 45 6 3 45 67 81201 32003201 1000010001 350001252003150 11 2232342 33 45 63 45 67 85 67 810 117 810 1114 1510 1114 1521 2235001 150000150001 500000500001 50080012501 22 33 42 33 45 63 45 67 85 66 710 117 810 1114 1510 1114 1521 2214 1521 2221 22備注:f Ac 允收數(shù)f Re 拒收數(shù)f :采用箭頭下第一個(gè)抽樣方案,如樣本大小超越或等于批時(shí)那么用 100%之檢驗(yàn).f :運(yùn)用箭頭上第一個(gè)抽樣方案.f 本表摘自 MIL-STD-105E 抽樣方案表.8.0 缺陷定義闡明: 本章節(jié)給出缺陷定義的規(guī)范,作為一切相關(guān)文件的援用根據(jù).8.1 嚴(yán)重缺陷(CRITICAL DEFECT,簡(jiǎn)寫為: CRI)缺陷,使產(chǎn)品在消費(fèi)運(yùn)輸或運(yùn)用過(guò)程中能夠出現(xiàn)危及人身財(cái)富平安之缺陷,稱為嚴(yán)重缺陷.8.2 主要缺陷(MAJOR DEFECT. 簡(jiǎn)寫為 MAJ) 缺陷,使產(chǎn)品失去全部或部分主要功能,或者相對(duì)嚴(yán)重影響的構(gòu)造裝配的,從而顯著低產(chǎn)品運(yùn)用性的缺陷,稱為主要缺陷.8.3 次要缺陷(MINOR