ASTMA745A745M85奧氏體鍛鋼件超聲檢測方法(中譯掃描本)

1、ASTMASTM無損檢測標準奧氏體鍛鋼件超聲檢測方法745/A745M-861適用范圍1.1本方法概述了以克射波或軒対波或兩昔對奧氏體眩鋼件作接竝式球沖反射趙聲檢剛的標準和檢劃工藝。1.2本方法適用于在咨詢建議.箜約.訂貨，或規(guī)范中規(guī)定要按實施方法ASTMA745對奧氏體鍛鋼件作超聲檢灣的場合。無磁性護環(huán)嚴件的超蘆檢團宴用推薦實施方法.而不暑本實施方法.K3用英制和公制表示的數(shù)值郡是標準值正文中公制（SI）單位值放在括號中。兩種制式所表達的數(shù)值不完全相等，因此每種制式都只能單1*便用。兩種制式混用可能適成不符合本標準要求的結果。14本實童方法和適用材料規(guī)范均以英制和公制兩種單位制表達.然而，除

2、定單指定應用督字母即采用公制（S1）單位）的標準外.數(shù)據(jù)資料應以英制表示1.5農莽*可能涉及到有總書掛的材料糅作和段備.但儀妹攻的宗旨不在于論述與使用有關的安全問題。使用儀標朮才在使用肅有十任制訂祕蟲的有關安仝仿護和佟址的實施方次.蔓項定有關應用范田的管理條阿。I參考文件l.ASTM標準A531汽輪發(fā)電機銅護環(huán)趙卅檢測實施方法E317不采用電子測量儀番評價脈沖回波式超聲檢冏系統(tǒng)性能的方法E428超再檢測用鋼參考試塊的制作與檢鴻方法2類國無扭檢測學會文件SNTTCUA無搖檢測人員資格鑒定和證弟頒發(fā)推薦實施方法1訂貨責料S.1當咨詢或購貨訂草規(guī)定應用本實施方法時，用戶應提供以下資料*LL1檢熬質承

3、等級（見12章”1-1.2對本標準的附加耍求.S.I.S補充要求的適用性（見補充要求一章人.2如有規(guī)定，制造廠應提交檢測工藝給用戶批準。該檢測工藝至少應包括（但不受此限制一張時間圖和一份說明簡圖用以表示超聲檢測的掃衣表面.打査方向.切槽位置和大?。ㄈ绻阌萌藦洼娣秶ㄈ绻麘玫龋谡f明中應列出儀器校驗.檢測計劃及其所處的制適階A745/A74IMA745/A74IM4設備4.1本検詔應用電子的脈沖反射式儀備。該僅器系統(tǒng)至少應具有工作頻*從0.5MHz5.0MHA視頻顯示或射頻顯示的能力.4.2趙聲儀器應在至少75%的示波屏高度范圍內（從打描基線到示波屏頂部）提供線性顯示（倍號高度的5%以內人這

4、5%的線性是指示波屏的緬度顯示。儀器的線性應按推薦實施方法E3J7校正.4.8儀器帶有的增益控制器（在越個使用范國內苗度為其標稱衰堿率的士10%）,用于雷僦超過儀簽線性顯示范國的信號。4.4探頭4.1石英換能益或其他壓電換能器的探頭郁可使用二4.4.2最大標冰有效面積為1%平方英寸（970mm）f邊長為英寸（13mm）（最小值）到I英欠30mm最大值）矩形或直徑為巧英寸（20mm）W形換能器可甲于直射治束掃査。4.4.3斜射波換旌務的抹稱有效而積為、IF方奧寸325650mmn=軒射波檢樽用探頭在被楡材料中的波束角哎應為3070。4.4.4苴他探頭.包括痣宰不在8章所列范用的採頭.在評價抉陷題

5、示和帚確定位時也頃采用.4.5疇臺制應便用艮有建好潤榆性的適F囑合剤作為換能器與檢灣左面的購合之用段準和檢測宙晉使用相同的隅合制4.6參考試塊4.6.1所有趙點標準參考試塊都肪得合推薦實鏈方法E428的股庶南由于本嫌準涉.及的材鋁的特殊性.干強求絕對符令推薦實施方法E428c4.6.2參考試塊的屈粒度（遹過對參考試塊作ffl對透聲性的灣最確定）電當與被測鍛件的品粒度峯本相近但必龜認識到由于大型奧氏體鍛件在整個體積上的晶粒度和組織結構的不同.苴透審性明2變化所有參考試塊的透聲性應與被團霞件的平均透聲性基本一致。在作第I】章所述的缺陷評定時可采用比上述試塊晶粒更粗或更細的補充試塊。4.6.3作為一

6、種替代方法.如果可行.可在毀件上某些代表性區(qū)域鉆一些適當尺寸的孔或切槽用于校準和檢整，只要下道工序能去徐它們即可。如果這些孔或切槽在下道工序中不能去徐.這些鉆孔或切槽的位置必棗由用戶批準.5檢測人員要或5.1依據(jù)本標準作超聲檢越的人員碰當樁據(jù)推薦實翁方法SNT.TC-1A.附錄C超聲檢測作資格鑒罡.小位認為勝任按本標準執(zhí)行超聲檢灣的人員的資塔鑒定記錄應可供備査。8鍛件狀玄6.1鍛件應在熱處理看再作超聲憐靜.6.2鍛件的檢灣表面應無異物.如疏松的黃化皮.油嫌.聊物爭二A745/A745MA745/A745M6.3掃査面的表面粗糙友不得超過250做英寸（6nm）f除非在訂單或合同中另有建定。6.4

7、置件應加工成簡單的形狀，如矩形平行面或同心SI環(huán)，以獲得全體積的復澄。6.5在某些情況下如模甌件.要100%體積復蓋是不實際的。這種鍛件應作最大可能范圍的檢査表明檢驗范圍的檢稱工藝應提交用戶批準（見3.2條人7檢測方法7.1超聲檢測應在最件作熱處理之后并已加工成適于趙聲檢剛的形狀時進行，但灰在鉆孔、開鍵梢車臺階挖槽或加工成最后外形之前。7.2為了確保鍛件全體積的復蓋。掃査時探頭軌透間至少應有15%的復蓋量。7.3掃査連度不得趙過6英寸/秒（150mm/s）e7.4為對鍛件作盡可能帛大范圍的檢測鍛件的每一個掃査區(qū)域至少在二個相互垂克的方向上進行掃杏。7.5檢雋餅形舉件時如有町能，就至少應從個平面

8、上和圓周面上作徑向直射聲束掃査。所謂講形鍛件只長就執(zhí)行本標準而言.其實咼把直徑超高度的畫柱形鍛件統(tǒng)稱為餅形鍛件.它幻只是在檢測階段.通過縮敢鍛打成“煎餅”形時才稱為講形鍛件的.它幻可能是帶有中心孔倒模的臺階.或其他形狀的零部件D7.6為了作最大范圍的險鴻，應使用直射聲束從整個外麥面（囪面或岡周面）對園拄形部件、環(huán)形或空心鍛件進行掃査.還應對鍛件作抽向掃査。當岡柱形敢件的長度與亶徑比（細長率別過6H（或軸向長度超過24英寸（600mm）時.從兩個端面作范圍盡可能大的輯向掃査.如果由于衰減因素無法在鈾向穿透時則應用倡射聲束代替軸向的直射聲束作軸向掃査。當環(huán)形或空心竄件的外徑與內徑的比小于2而且壁厚

9、小于8英寸（200mm）,用斜射聲束在外徑或內徑（或兩者袤面上作全跨距或半跨距的掃衣見103.2和L0.1.3條），以達到100%全體積的復蓋或達到由用戶批準的檢鴻工藝所規(guī)定的復畫雖耍求（見3.2條九8檢測頻率8.1超聲檢測都應在最髙可用頻率（如8.1.X8.1.2或8.1.3條中規(guī)定的下進行，在該續(xù)率下可獲得對鍛件厚度的充分穿透並能分辨所應用的參考標準陷。在超聲橙測按告中應包括使用的檢測頻率。按下述導則在實際檢樽時確定檢測頻率.B.L1標稱檢測頻率為2.25MH由于衰祓因素使用該頻率一般會受到限制。8.1.2.11MHz的檢測頻率是可以接受的，這是一般所采用的頻宰.8.1.3由于衰減，必要時

10、0.5MHz的檢測頻率也是可用的。當用這一低頻時要通知用戶知道。8J.4在某些情況下，甚至0.5MHz也無法獲得充分穿透時，在用戶與制適廠同童的情況下，可以使用祥代的無損檢測方搓（如射線人以磯保鍛件的完善性。9直射聲東檢測9.1校正方法9.1.1對直射聲束檢測的枝正是在平嫌孔上進行的。平底孔的尺寸由實用的質量等級確定(見12章人9.1.2以檢測材料探度距離確定較正方法.9.1.2.1被檢厚度小于或等于6英寸150mm)時可用單試塊法或距離波幅曲線校正法。單試塊法用能代表鍛件厚度的參考標準建立檢團靈敏度。對于中零涇度至15英寸(40mm)的鍛件在試塊上鉆一些平底孔.使之垂直于表面.對于孕度范圍為

11、1.56英寸(40T50mm)的中等邸度的鍛件.平底孔的繪小深度為0.75英寸(20mm).最大探度不超過被檢嚴件厚度。在觀察到鐵陷回波的深度位置上對缺陷SI示作出評價.如眾必要可使用補充參考標準孔距離-波幅曲線枝正法用參考標準建立檢灣靈敏度所用的參考試塊厚度應能代衰晟大的披檢厚度.溟差在士1英寸(25mm)內。9.1.2.2檢甜厚度在624英寸(150mm600mm)之內的洽件用距離波幅曲線校正法。倘若檢鴻從兩對面進行，校正到檢測厚度即可。9.1.2.3對于H度超過24英寸(600mm)的駁件.以下述檢稍方法之一進行.)至少在一個表面上進行底波法檢測按QL-5見12.1條或用戶批準的檢測方法

12、(見3.2條)進行。b)壁厚小于8英寸(200mm)的中空圓柱形醱件.用斜射聲束掃脊代替在竭面上作直射聲束掃杳。這種掃査的校正在切槽上進行.即在現(xiàn)成的用于周向掃査校正的軸向切槽上進行也可在為軸向料射聲東掃査而加工的橫向切槽上進行。9.2校正方法在鍛件的無缺陷顯示的區(qū)域UI合適的檢稱頻車詞節(jié)儀器增益，便底波綢度達到儀器垂亶線性上限.無論是單試塊或多試塊校正方法.都把將儀器測節(jié)到匕述靈敏度顯示狀杰作為校正的基本參考靈敏度如果在該靈級度狀杏下.深度距離最遠的校正試塊上的平底孔反射波高度(從掃描線到波蜂)達不到05英寸(13mmk剛進一步灣髙儀器增益.使之達到0.5英寸(13mm)o為完成距離幅度曲線

13、，莊該靈敏度狀態(tài)下雋定確定該靈敏度狀喬下曲線形狀的其余各點的波高。然右把曲線圭在示波屏上或繪成曲線表。至少要用三塊深度不同的試塊，深度分別為3英寸(75mm),%幾和為被檢材料厚度人但任何兩塊試塊之阿的間陽距離不能大于1興英寸(40mm).如果雯對其指示回波離始豚沖距離小于3英寸75mm)的缺陷進行評價.那么就應用一塊其聲程為】X英寸(40mm)的附如試塊進行.這是一個固定的參考基準任何深度上的缺陷回波都應以它的最大回波幅度同該參考基準相比較來進行評價。如杲?jīng)]有趨過鯊收界限線的缺陷出現(xiàn).便可按整收處理。在大墊鍛件檢測時.距離-波輻曲線的一裁分會趙過儀器的垂直線性范圍如果在該區(qū)域出現(xiàn)缺陷顯示可通

14、過使用校正的增益控制器或通過重新校準.將儀器詞節(jié)到它的初始標準靈敏度狀杰下.將用于評價的這一特定區(qū)域的相應部分。注.當椰莊平面姜考試塊上的校正用于檢測曲頁鍛存時.應當做曲面補堂.曲面校正方法應由制造廠與用0高定.您包在80英寸上時.可不必便電曲面修疋系敦.10倒財聲束檢測A745/A745MA745/A745MAT45/A74SM10.1按7.6條規(guī)定環(huán)形和中空Bi形最件應當用斜射聲束，在鍛件的外岡面上，從兩個岡周方向上進行檢測，校正方法如下10.1.1用切槽作校正標準.切槽最大表面長度為1.25英寸（30mm）,長度方向與聲傳播方向垂XT,切槽深度依據(jù)質fit等級（見12章）確定.可用矩形切

15、槽，也可用v形切槽矩形切槽的寬度不大于其兩借的深度V形切槽夾角為60-（小值75（ft大值片它們在鍛件上的位置以相互不產生干擾為原則.10.1.2將探頭置于每個切槽產生金大響應液幅的位置上確定內外壑上切槽的響應波幅。調英超聲儀器的靈級度使最大聲程上切椿的響應波幅（掃描線至波峰不小于0.5英寸（13mrn）F將內外壁切梢上產生的晌應波福的峰值點用直線連接起來.這就是基本參考靈收度線，該較正方法叫做全跨距校正。10.E3當同時用內外嚏上切槽校正從內外壁的切槁上不能得到0.5英寸（13mm）的波幅響應時.可分別從外囲表面（外徑麥面）上和內81表而上校正，謂整儀器靈救度，使對面切槽的浚幅響應至少為0.

16、5英寸（13mm）.這種校正方法叫做半跨距枝正.當有規(guī)定時.可以用軸向斜射聲束代替從瑞面上作宜射聲束的校驗。注.關的BS柱怵或帶小內孔的柱依懺件走以從蟲塾表面作検直.通常內徑小于18英寸（450mm）.咸住度大千豹英（900mm）,就不朱內離掃査.11材料評價11.1檢團粗晶奧氏休材料時往往會顯示出成片的噪聲尤其在以高靈敏度檢雋時。為此仔細推敲記錄或拒收的見示畫波究竟由統(tǒng)陷產生的還是由晶粒結構產生的就顯得很重要.為了更精確地估計繪小塊陷尺寸.希望備幾套不同晶粒度的校正試塊，以便使缺陷區(qū)城的衰祓與有關試塊基本一致鑒于在一個具體的大型臭氏體厳件上各處的衰減總會有很大的不同輿此.允許以選用其克情況同

17、激件上存在缺陷的區(qū)域的衰減大體一致的那些試塊進行比較的方法.對拒收SL示回波進行評價同時也允許在鍛件的有代表性的區(qū)域鉆一些參考孔（但要得到用戶的批準用以校正和評價顯示回波不僅內部袋陷會造成底波幅度下降，粗晶或不均勻的組織結構，構合的變化不平行的反射表面等也會產生同樣結果因此在作出由于缺陷造成底波幅度下降的結論之前，必須考慮上述諸因索的形響12驗牧質等級12.1用戶可以指定下述質錄符級之一作為對驗收質童的要求。12J.1直射聲束12.1.1.1當材料中產生的缺陷顯示最大波縮等于或超過了基本參考靈敏度100%或缺陷代盤處的距離液幅曲線時.應作拒收處理。a）質量等級QL-PU8號平底孔8/64英寸（

18、3mm）：的波幅響應為恨據(jù)的距離波幅曲線.b）質豐等級QL-2-以號平底孔16/64英寸（6mm）的波幅響應為根據(jù)的距離波福曲線c）質量等級QL-3-U24號平底孔24/64英寸（10mm）的波幅響應為根據(jù)的距離波幅曲線。d）質址尊級QL4以32號平底孔匸32/64英寸!3mm）：的波幅響應為根據(jù)的距離波幅曲線.e質蜃等級Q5-以底面反射法檢測.要保證在出現(xiàn)缺陷顯示時無底波完全消失的情況。底波幅度小于廣屏鬲度5%時認為底波完全清失。12.1.1.2采用的貢金等級必梅圈被檢材料的邸度，用戶的要求.以及毀件的形式和尺寸而不同。大型的餅形鍛件.環(huán)形蝦件或實心鍛件以及復雜舉件可能出畏的異常情況和有關實用質*等級的選用等應該由制造廠和用戶雙方商定。作為總的指導原則.下面列出的檢測厚度和所對應的可達到的質蜀等級作為一般性倍息提供出來。a）Q卜一般適用于厚度小于或等于3英寸（75mm）的鍛件。b）QL-2一般適用于厚度小于或等于8英寸（200mm的舉件。cQL-3般適用于厚度小于或等于12英寸（300mm的敵件。d）QL7般適用于耳度小于或等于24英寸（600mm）的散件。c）QL-5-般適用于卑度超過24英t（600mm）的瑕件。H.1.2斜射聲束當材料中產生的統(tǒng)陷顯示其福度尋于或超過了岐陷位遺上的基本