電子元器件抽檢方案

1、電子元器件檢驗(yàn)規(guī)范編號(hào):一、目的作為IQC檢驗(yàn)PCB物料之依據(jù)。二、適用范圍適用于本公司所有之PCB檢驗(yàn)。三、抽樣計(jì)劃依據(jù)MIL-STD-105D，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參照國(guó)標(biāo) GB2828-2012四、職責(zé)供應(yīng)商負(fù)責(zé)PCB質(zhì)量之管制執(zhí)行及管理，IQC負(fù)責(zé)供應(yīng)商之管理及來(lái)料檢驗(yàn)。五、允收水準(zhǔn)（AQL）5.1嚴(yán)重缺陷（CR）： 05.2主要缺陷（MA）： 0.45.3次要缺陷（MI）:1.5六、參照文件6.1IPC-A-600E，Accpetability of Printed Cirsuits Boards6.2IPC-R-700C,Rework Methods &

2、 Quality Conformance.七、檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)定義檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷名稱缺陷定義檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)方式備注線路凸出MA線路凸出部分不得大 于成品最小間距30%帶刻度放大鏡殘銅MA兩線路間不允許有 殘銅殘銅距線路或錫墊 不得小于0.1mm非線路區(qū)殘銅不可 大于 2.5mm*2.5mm, 且不可露銅放大鏡線 路線路缺口，凹洞MAa.線路缺口，凹洞部 分不可大于最小線寬 的30%放大鏡斷路與短路MAa.線路或錫墊之間絕 不允許有斷路或短路 現(xiàn)象線路裂痕MAa.在線路或線路終端 部分的裂痕，不可超 過(guò)原線寬的1/3線路不良MAa.線路因蝕銅不良而 呈鋸齒狀部分不可超 過(guò)原線寬的1/3線路變形MAa.線路不

3、可彎曲或折 彎線路變色MAa.線路不可因氧化或 受藥水，異物污染而 造成變色。線路剝離CRa.線路必須附著性良 好，不可翹起或脫落補(bǔ)線MAa.補(bǔ)線長(zhǎng)度不得大于 5mm，寬度為原線寬 的 80%-100%板邊余量MAa.線路足巨成型板邊不得少于0.5mm刮傷MAa.刮傷長(zhǎng)度不超過(guò) 6mm，深度不超過(guò)銅 箔厚度的1/3?？卓兹鸐A零件孔不允許有孔塞 現(xiàn)象孔黑MA孔內(nèi)不可有錫面氧化 變黑現(xiàn)象變形MA孑L壁與錫墊必須附著 性良好，不可翹起， 變形或脫落線路防焊脫落，起 泡，漏印MA線路防焊必須完全覆 蓋，不可脫落，起 泡，漏印防焊色差Minor防焊漆表面顏色在視 覺(jué)上不可有明顯差異防焊異物MA防焊面不

4、可沾手指 印，雜物或其他雜物 而影響外觀刮傷MA不可傷及線路或板 材，長(zhǎng)度不可大于 15mm,且每個(gè)面不可 超過(guò)2條氣泡MA表面上不可有氣泡而 有脫落的現(xiàn)象殘留MA表面不可有殘留異物 影響外觀不良板角撞傷MA因外力撞擊而造成板 邊損壞或變形現(xiàn)象焊錫性MA鍍層不可有翹起或脫 落現(xiàn)象編制：審核:IC類檢驗(yàn)規(guī)范（包括BGA ）編號(hào):一、目的作為IQC人員檢驗(yàn)IC類物料之依據(jù)二、適用范圍適用于本公司所有IC （包括BGA）之檢驗(yàn)三、抽樣計(jì)劃依據(jù)MIL-STD-105E, LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃，具體抽樣方式請(qǐng)參照國(guó)標(biāo) GB2828-2012四、允收水準(zhǔn)4.1嚴(yán)重缺陷（CR）:04.2主要缺陷

5、（MA）： 0.44.3次要缺陷（MI）:1.5五、檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)定義檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來(lái)料送檢單核 對(duì)外包裝或LABEL 上的P/N及實(shí)物是 否都正確，任何有 誤，均不接受。目視包裝必須采用防靜 電包裝，否則不可 接受數(shù)量MA實(shí)際包裝數(shù)量與 label上的數(shù)量是 否相同，如有差 異，不可接受目視 點(diǎn)數(shù)實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送 檢單上的數(shù)量是否 吻合，如不吻合， 不可接受外觀檢驗(yàn)MAMarking錯(cuò)或模糊 不清難以辨認(rèn)不可目視接受來(lái)料品名錯(cuò)或不規(guī) 則U的混裝，均不可接受放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶 防靜電手套或手環(huán) 作業(yè)本體變形，或肉眼 可見的裂紋不可接 受元器件封裝材料表 面因

6、封裝過(guò)程中留 下的沙孔，其面積 不超過(guò)0.5mm2,且 未露出基層，可接 受，否則不可接受Pin氧化生銹，或 上錫不良，均不可 接受元器件角彎曲，偏 位，缺損或少角， 均不可接受備：凡用于真空完全密閉方式包裝的IC,由于管理與防護(hù)的特殊要求不能現(xiàn)場(chǎng)打開封裝 的，IQC僅進(jìn)行包裝檢驗(yàn)，并加蓋檢驗(yàn)印章，該IC在在SMT上拉前須拆封檢驗(yàn)，拆封 后首先確認(rèn)包裝袋內(nèi)的濕度顯示卡20%RH對(duì)應(yīng)的位置有沒(méi)有變成粉紅色，若已變成 粉紅色則使用前必須按供應(yīng)商的要求進(jìn)行烘烤。編制：審核:貼片元器件檢驗(yàn)規(guī)范（電容，電阻，電感）編號(hào)：一、目的便于IQC人員檢驗(yàn)貼片元器件類物料二、適用范圍適用于本公司有貼片元器件（電容

7、，電阻，電感）之檢驗(yàn)。三、抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃，具體抽樣方式請(qǐng)參考國(guó)標(biāo)GB2828- 2012四、允收水準(zhǔn)（AQL）4.1嚴(yán)重缺陷（CR）： 04.2主要缺陷（MA）： 0.44.3次要缺陷（MI）: 1.5五、參考文件5.1LCR數(shù)字電橋操作指南5.2數(shù)字萬(wàn)用表操作指南六、檢驗(yàn)項(xiàng)目定義檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來(lái)料送檢 單核對(duì)外包裝或LABEL上的 P/N及實(shí)物是 否都正確，任 何有誤，均不 可接受包裝必須采用 防靜電包裝， 否則不可接受數(shù)量檢驗(yàn)MA實(shí)際包裝數(shù)量 與LABEL上的 數(shù)量是否相 同，若不同不 接受，實(shí)際來(lái)

8、 料數(shù)量與送檢 單上的數(shù)量是 否吻合，若不 吻合，不接受外觀檢驗(yàn)MAMarking錯(cuò)或模 糊不清難以辨 認(rèn)不可接受來(lái)料名稱錯(cuò)， 或不同規(guī)格的 混裝，不可接 受本體變形，或 有肉眼可見的 裂紋等不可接 受元器件封裝材 料表面因封裝 過(guò)程中留下的 沙孔，且露出 基板，不可接 受Pin氧化生銹， 或上錫不良， 不可接受電性能檢驗(yàn)MA元器件實(shí)際測(cè) 量值超出偏差 范圍內(nèi)二極管類型LED選擇數(shù)字萬(wàn)用表的_極管檔，正向測(cè)量,LED需發(fā)出與要求相符顏色 的光，而反向測(cè)量不發(fā)光，否則該極管不合格。注：有標(biāo)記的一端為負(fù)極其它_極管選擇數(shù)字萬(wàn)用表的_極管檔，正向測(cè)量，讀數(shù)需小于1，而反向測(cè)量 讀數(shù)需無(wú)窮大，否則該極

9、管不合格 注：有顏色標(biāo)記的一端未負(fù)極。備注抽樣計(jì)劃說(shuō)明：對(duì)于CHIP二極管，執(zhí)行抽樣計(jì)劃時(shí)來(lái)料數(shù)量以盤為 單位，樣本數(shù)也以盤為單位，從抽檢的每盤中取3到5片元器件進(jìn) 行檢測(cè),AQL不變，檢驗(yàn)方法見匕日數(shù)字電橋測(cè)試儀操作指導(dǎo)書 和數(shù)字萬(wàn)用表操作指南，二極管沒(méi)有電性能測(cè)試項(xiàng)編制：審核:排針&插槽（座）類檢驗(yàn)規(guī)范編號(hào):一、目的作為IQC人員檢驗(yàn)排針&插槽（座）類物料之依據(jù)二、適用范圍適用于本公司所有排針&插槽（座）之檢驗(yàn)三、抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽檢計(jì)劃，具體抽樣方式請(qǐng)參考GB2828-2012四、允收水準(zhǔn)（AQL）4.1嚴(yán)重缺陷（CR）：04.2主要缺陷（MA

10、）：0.44.3次要缺陷（MI）:1.5五檢驗(yàn)項(xiàng)目定義檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來(lái)料送檢 單核對(duì)外包裝或LABEL上的 P/N及實(shí)物是 否都正確，任 何有誤，均不 可接受數(shù)量檢驗(yàn)MA實(shí)際包裝數(shù)量 與LABEL上的 戶數(shù)量是否相 同，若不同， 不可接受 實(shí)際來(lái)料數(shù)量 與送檢單上的 數(shù)量是否吻合，若不吻合 不可接受外觀檢驗(yàn)MAMarking錯(cuò)或上一頁(yè)。9/10跳轉(zhuǎn)。下一頁(yè)II1. 姑沖麗也用亍工出=:.奇有打計(jì)&插伯酒之檢茜.J. IWH劃依皿名皿1皓E.LEVE1 HI常建炊抽麻計(jì)劃；弓體抽樣方五清岳?；虺榱钟?jì)劃旗4.北枚木 推(AQT.)頃CEj.、.場(chǎng)域取MA) CM.周斐fi整(MI： 1.55.赫考文無(wú)珍弗項(xiàng)H酸限回性株略描述備注根棋車場(chǎng)惟單枝牟 世車就.，。由上淅,1謁孑曜辨正輯 ffimt均彳叩我安*目校部！幽驗(yàn)MA隊(duì)實(shí)橋快叛金與山日上的散址是否相或若不同不可櫻， 賓酥史刀冬坦與送桔單上的段里旱否r吉.特不葉仁不W奇登“目檢點(diǎn)敦外避牲琦MAH M,；叫府戒椎梅懷沖札；b塑料與令制H能肇固詳佳，.S6料悚瞄，W.眺.用屈電差.蚪傷.蠣術(shù)，d過(guò)新呼后嘲搟外期文色，知.度；0.&眼瞞，宵曲，國(guó)位.缺瓠 燃針Sdw鳧E針刖女不*距針、料剝t、擋L目粒MAa.PDf上耕不良，