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1、FPA-320 x256-K InGaAs FPA-320 x256-K InGaAs NEARINFRARED(0.9um-1.7um)IMAGEFPA-320 x256-K InGaAs FPA-320 x256-K InGaAs NEARINFRARED(0.9um-1.7um)IMAGE320 x256Array28-etalDIPTypical Pixel Operability 99.5% Quantum Efficiency 70%Near-infrared Imaging Imaging Spectroscopy Covert Surveillance Semiconducto
2、r Inspection MedicalScienceandBiologyAstronomy and Scientific IndustrialThermalImaging Moisture Map西安同創(chuàng)光電科技FPA-320 x256-InGaAs FPACHARACTERISTICS(Ta=25C*PixelOperabilityisdefinedhecenter318x254UMOperationTemperature:-2085C Storage Temperature: -4085C*Withoutdrivingthe西安同創(chuàng)光電科技DarkFPA-320 x256-InGaAs
3、FPACHARACTERISTICS(Ta=25C*PixelOperabilityisdefinedhecenter318x254UMOperationTemperature:-2085C Storage Temperature: -4085C*Withoutdrivingthe西安同創(chuàng)光電科技Dark0.4 Pixelbias=0.1 Quantum =1.0um-FillAdjacentpixel5x1012=16ms,HighGain, ResponseUnder50%Over 10%-90%FullWellMax.PixelHigh:13.3Low:0.7FullLow:3.5MPi
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5、nd西安同創(chuàng)光電科技FPA-320 x256-K InGaAs LESisticalHistogramofDarkSisticalHistogramofQuantumQuantumEfficiency 西安同創(chuàng)光電科技TestNonuniformity Array AverageTestNonuniformity FPA-320 x256-K InGaAs LESisticalHistogramofDarkSisticalHistogramofQuantumQuantumEfficiency 西安同創(chuàng)光電科技TestNonuniformity Array AverageTestNonuniformity 5msec,50%Array AverageTestNonuniformity 5msec,50%EffectiveTestEffectiveFPA-320 x256-InGaAs OUTAwaveformunderOUTAwaveformFPA-320 x256-InGaAs OUTAwaveformunderOUTAwavef
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