整理-博士生資格考試歷年考題

1、 8/8整理-博士生資格考試歷年考題 2004年資格考試 一、簡(jiǎn)答題 1. 溶化金屬為何要有一定的過(guò)冷度才能觀察到析晶現(xiàn)象？ 2. 陶瓷燒結(jié)后期晶粒長(zhǎng)大的動(dòng)力是什么？ 3. 為什么純固體相變總是放熱反應(yīng)？ 二、滑移、孿生、形變帶，這三種缺陷如何從形貌上來(lái)判斷。 三、應(yīng)變-硬化、彌散-硬化、晶粒細(xì)化，這三種強(qiáng)化機(jī)制的異同點(diǎn)。 四、三元相圖中，垂直截面的線與二元相圖中的線有何區(qū)別，能否應(yīng)用杠桿定律，在什么情 況下適用？ 五、純金屬在凝固、溶解、固-液平衡過(guò)程中Gibbs自由能與焓變關(guān)系圖。 六、某金屬熔點(diǎn)為600度，問(wèn)在590度時(shí)，凝固能否自發(fā)進(jìn)行，并求此時(shí)的熵變。（已知凝 固熱H） 七、關(guān)于配分

2、函數(shù)，已知Cp，證明U和Cv的關(guān)系式。 八、Au和Ag的晶格常數(shù)為0.408和0.409，問(wèn) 1.在Au基體上鍍一層100nm的 Ag，用XRD能否檢測(cè)出這層膜； 2.在Au（111）基體上鍍一層100nm的 Ag，用XRD能否檢測(cè)出這層膜； 3.在Au（111）基體上，用外延生長(zhǎng)的方法生長(zhǎng)Ag的（111）面，用XRD能否檢測(cè)出 這層膜； 九、透射電鏡衍射，如為單晶，則衍射花樣為規(guī)則排列的斑點(diǎn)，如為單晶，則衍射花樣為環(huán)。 如有一一維無(wú)限長(zhǎng)單原子鏈，用一束電子垂直照射，會(huì)出現(xiàn)什么樣的衍射花樣。 十、單晶Si上鍍一層的SiC薄膜，設(shè)計(jì)一個(gè)試驗(yàn)方案分析SiC薄膜的厚度，成份和結(jié)構(gòu)。 2005年4月資

3、格考試（可能） 1.說(shuō)明|Fs|、|Ls|、I電子的含義及其物理意義。（10分） 2.簡(jiǎn)述雙面法測(cè)滑移面指數(shù)的原理。（10分） 3.給出8個(gè)2seita角，判斷晶體結(jié)構(gòu)，計(jì)算晶格常數(shù)a，寫出出現(xiàn)衍射線的面族。（10分） 4.某單晶體，X射線沿0 -1 0方向入射，晶體-1 0 0 方向豎直，0 0 1方向 平行于底片。 （a）（-3 -1 0）面一級(jí)反射X光的波長(zhǎng)。 （b）底片與晶體相距5cm，求勞厄斑在底片上的位置。（12分） 5.Ag、Fe的混合粉末，固溶度極小。計(jì)算在2seita屬于45，110范圍內(nèi)衍射線條數(shù)。 入1.973；Fe為bcc結(jié)構(gòu)，a2.8x；Ag為fcc結(jié)構(gòu)，a4.xx。

4、（12分） 6.內(nèi)標(biāo)法物相分析。試樣：標(biāo)物80：20；I（TiO2）：I（Al2O3）1.7：2； I（TiO2）/Ic3.4。求試樣組成。（12分） 7.簡(jiǎn)述何為織構(gòu)? 給出Ag的110織構(gòu)與搖擺曲線，判定織構(gòu)類型。 搖擺曲線分別在0、90、180、270、360度的位置有峰值。（12分） 8.簡(jiǎn)述宏觀應(yīng)力、微觀應(yīng)力、微晶對(duì)X衍射線的影響。如何區(qū)別它們？（12分） 9.簡(jiǎn)述精確測(cè)定點(diǎn)陣參數(shù)時(shí)候外推法消除誤差的原理。（10分） 1.給出立方和六方晶胞，標(biāo)指數(shù)。（8分） 2.fcc、bcc、hcp密排方向、密排面、密排方向最小單位長(zhǎng)度。（5分） 3.某晶體從高溫降低至低溫后空位密度降低6個(gè)數(shù)量級(jí)

5、；已知T1、T2求空位形成能。（10） 4.Ni單晶，給出晶格常數(shù)a與某面族間距d，算是哪個(gè)晶面族。（5分） 5.推導(dǎo)二元系綜合擴(kuò)散系數(shù)與分?jǐn)U散系數(shù)以及二組員摩爾含量間的關(guān)系。（10分） 6.請(qǐng)分析調(diào)幅分解與脫溶分解的區(qū)別。（10分） 7.請(qǐng)分析馬氏體相變的特征，并加以解釋。（10分） 8.按照位錯(cuò)名稱、類型、b、運(yùn)動(dòng)方式、形成方式5方面總結(jié)fcc中的位錯(cuò)類型。（12分） 9.分析合金強(qiáng)化的機(jī)制并舉出實(shí)例。（10分） 10.Fe-C相圖2合金的相關(guān)分析。（20分） 2005年11月份資格考試 1 固溶強(qiáng)化，彌散強(qiáng)化，細(xì)晶強(qiáng)化和加工硬化的強(qiáng)化機(jī)制； 答：A 固溶強(qiáng)化是固溶體的強(qiáng)度高于純組元的現(xiàn)象

6、。無(wú)論溶質(zhì)以置換、還是間隙方式固溶，都能產(chǎn)生強(qiáng)化效果，其實(shí)質(zhì)在于溶質(zhì)對(duì)位錯(cuò)滑動(dòng)的阻礙作用。包括：溶質(zhì)對(duì)位錯(cuò)的釘扎；溶質(zhì)與位錯(cuò)的化學(xué)交互作用；溶質(zhì)與位錯(cuò)的電交互作用；溶質(zhì)周圍的應(yīng)力場(chǎng)對(duì)位錯(cuò)滑動(dòng)的阻礙作用。其結(jié)果導(dǎo)致位錯(cuò)滑動(dòng)阻力增大，強(qiáng)度提高。影響固溶強(qiáng)化的因素有：溶質(zhì)種類、固溶體濃度、溶劑和溶質(zhì)原子尺寸差、電子濃度因素和溶質(zhì)原子的強(qiáng)化效應(yīng)。一般遵循一下規(guī)律：不同溶質(zhì)原子有不同的強(qiáng)化效應(yīng)；固溶體濃度越高，強(qiáng)化作用越大；溶質(zhì)與溶劑原子尺寸差別越大，強(qiáng)化越好；溶質(zhì)與溶劑的化學(xué)價(jià)相差越大，強(qiáng)化效果越明顯。 B 彌散強(qiáng)化，合金中機(jī)械混摻于基體材料中的硬質(zhì)顆粒會(huì)引起合金強(qiáng)化，是第二相（彌散相）周圍形成很強(qiáng)的

7、應(yīng)力場(chǎng)，阻礙了位錯(cuò)的滑移，其中彌散相和基體原子間沒(méi)有化學(xué)的交互作用。 C 細(xì)晶強(qiáng)化，根據(jù)Hall-petch公式，屈服點(diǎn)s同晶粒直徑d之間的關(guān)系是：s=0+kd1/2,所以晶粒減小后，屈服強(qiáng)度就會(huì)增大。另外，晶粒細(xì)化后，晶界就會(huì)增多，在低溫或室溫下，晶界強(qiáng)度大于晶粒強(qiáng)度，滑移難以穿過(guò)晶界，同時(shí)由于晶界內(nèi)大量缺陷的應(yīng)力場(chǎng)，使晶粒內(nèi)部滑移更加困難，從而阻礙滑移的進(jìn)行。 D 加工硬化，晶體塑性變形時(shí)其流變應(yīng)力隨應(yīng)變量增加而增大的現(xiàn)象，稱為應(yīng)變硬化。其表現(xiàn)形式為在對(duì)金屬或合金進(jìn)行冷加工時(shí)，其強(qiáng)度增加，故稱之為加工硬化或加工強(qiáng)化。加工硬化的原因按位錯(cuò)理論可以解釋為：位錯(cuò)間的長(zhǎng)程相互作用；位錯(cuò)交割生成割階

8、；位錯(cuò)反應(yīng)形成固定位錯(cuò)；位錯(cuò)增殖使位錯(cuò)密度不斷增加，造成位錯(cuò)纏繞；位錯(cuò)在雜質(zhì)、析出物、第二相粒子等周圍的塞積，位錯(cuò)切過(guò)或繞過(guò)析出物而附加應(yīng)力；還有晶界強(qiáng)化等。這些因素使位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)的阻力越來(lái)越大，從而造成加工硬化。 2三元相圖垂直截面與二元相圖有何不同？為何杠桿定律不適用？三元相圖垂直截面何時(shí) 適用杠桿定律？ 答：二元相圖是表示二組元系統(tǒng)相的平衡狀態(tài)、成分關(guān)系隨溫度變化的平面圖形，在分析合金結(jié)晶過(guò)程時(shí)，可以用杠桿定律定量確定兩相共存狀態(tài)下兩相的相對(duì)量。三元相圖的垂直截面可分析相應(yīng)于成分特性線上任一三元合金的結(jié)晶過(guò)程，但是在三元垂直截面中不能應(yīng)用杠桿定率確定二相的成分和相對(duì)量，這是因?yàn)閮上喑煞肿兓€

9、并不是沿垂直截面的液、固相線。而是兩條空間彎曲線，垂直截面的液、固相線僅是垂直截面與立體相圖的相區(qū)分界面的交線。垂直截面圖分析與投影圖分析結(jié)果一致，但垂直截面所分析的結(jié)晶過(guò)程更為直觀，缺點(diǎn)是不能確定成分和量的關(guān)系，而投影圖則可以給出反應(yīng)中相成分和量的變化，故而者可以配合使用。 （其他答案：在三元相圖的垂直截面中，兩相成分變化線并不是沿垂直截面的液固相線，而是兩條空間彎曲線，垂直截面上的液因相線僅是垂直截面與立體相圖的相區(qū)分界面的交線。因此二元相圖的杠桿定律不能實(shí)現(xiàn)。 當(dāng)垂直截面是沿三元相圖邊線截下時(shí)，此時(shí)三元相圖退變?yōu)槎鄨D，杠桿定律就可以應(yīng)用了。） 3溶化金屬為何要有一定的過(guò)冷度才能觀察到

10、析晶現(xiàn)象？陶瓷燒結(jié)后期晶粒長(zhǎng)大的動(dòng)力是 什么？ 答：液態(tài)金屬是長(zhǎng)程無(wú)序，短程有序的結(jié)構(gòu)，有序區(qū)稱為晶胚，這種短程有序是此起彼伏的稱為結(jié)構(gòu)起伏，同時(shí)伴隨著能量起伏。結(jié)晶就是晶核不斷形成并長(zhǎng)大的過(guò)程。凝固轉(zhuǎn)變遵循熱力學(xué)條件，即GGs-G L0.非自發(fā)。） 6在si基片上上沉積100nm厚的多晶SiC薄膜，怎樣確定其結(jié)構(gòu)、厚度和成分？ 答：首先，由X光衍射分析，F(xiàn)T-IR，Raman光譜以及XPS譜分析可以判斷薄膜的結(jié)構(gòu)，XRD 是晶體的指紋，不同的物質(zhì)具有不同的XRD特征峰（晶面間距和相對(duì)強(qiáng)度），對(duì)照PDF卡片即可進(jìn)行定性分析。紅外光譜在材料領(lǐng)域的研究中占有十分重要的地位，是研究材料的物理和化學(xué)結(jié)

11、構(gòu)及其表征的基本手段。具有相同化學(xué)鍵或者官能團(tuán)的一系列化合物具有近似相同的吸收頻率基團(tuán)特征頻率。不過(guò)，同一種基團(tuán)處于不同的化學(xué)環(huán)境時(shí)，其特征頻率會(huì)略有差異。測(cè)出薄膜的紅外光譜后，與標(biāo)準(zhǔn)譜對(duì)照峰位就可以堅(jiān)定SiC的結(jié)構(gòu)。測(cè)得樣品的拉曼譜以后，對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)譜就可以確定其結(jié)構(gòu)。XPS是一種研究物質(zhì)表層元素組成與離子狀態(tài)的表面分析技術(shù)。測(cè)得XPS譜后，通過(guò)與已知元素的原子或者離子的不同殼層的電子的能量相比較，就可以確定未知樣品中原子或者離子的組成和狀態(tài)。另外利用HRTEM也可以觀察薄膜的形貌，并利用電子衍射進(jìn)行結(jié)構(gòu)的分析。利用EELS（電子能量損失譜）可以觀察物質(zhì)之間鍵的差別，通過(guò)比較薄膜的電子能量損失譜

12、和標(biāo)準(zhǔn)的EELS譜就可以判斷薄膜的結(jié)構(gòu)。 對(duì)于厚度，可以采用XRR（X光反射）技術(shù)，RBS，或者SEM技術(shù)分析薄膜的厚度，對(duì)于XRR 技術(shù)，一種無(wú)損檢測(cè)手段，通過(guò)相關(guān)公式，編程對(duì)實(shí)驗(yàn)測(cè)得的反射率曲線進(jìn)行模擬。直到模擬曲線和測(cè)量曲線相差不多?？梢垣@得薄膜的質(zhì)量密度、厚度、表面粗糙度、界面粗糙度等信息。利用Si的解理性，可以制備出截面干凈，整齊的SEM截面樣品，通過(guò)觀察截面的二次電子圖像或背散射電子圖像，可以得到碳薄膜厚度的信息。由于散射截面與離子發(fā)生散射時(shí)的能量E的平方成反比，在靶內(nèi)深度x處被散射的離子由于能量損失具有較低的能量，具有較大的產(chǎn)額。所以，RBS的被展寬的能譜帶有了深度信息。對(duì)于厚度

13、較大的樣品，可以通過(guò)測(cè)量峰的能寬，然后除以阻止截面因子，得到薄膜的厚度（單位是每單位面積內(nèi)的原子數(shù)Nt）。如果要換算成厚度，需要知道材料的體積密度值。對(duì)于很薄的的樣品，不能再使用能量寬度的方法計(jì)算，而應(yīng)該使用信號(hào)積分的方法計(jì)算，只要測(cè)得了RBS能譜，將窄峰進(jìn)行積分，得到信號(hào)總計(jì)數(shù)就可以得到樣品的厚度了。橢圓偏振測(cè)量是測(cè)量薄膜光學(xué)特性的一種重要手段，橢圓偏振測(cè)量技術(shù)是研究?jī)擅劫|(zhì)間界面或薄膜中發(fā)生的現(xiàn)象及其特性的一種光學(xué)方法。 對(duì)于成分分析，可以利用EDS，電子能量損失譜，AES，RBS，SIMS分析其成分，EDS一 般為SEM 或者TEM 的附件，所以在觀察形貌的同時(shí)對(duì)樣品進(jìn)行點(diǎn)，線掃描或者面掃

14、描，從而得到其成分的分布。利用AES,SIMS 還可以利用離子束進(jìn)行濺射對(duì)薄膜進(jìn)行沿垂直方向的剝離，從而得到沿薄膜垂直方向上的成分分布。對(duì)于RBS ，因?yàn)樽柚菇孛媸且粋€(gè)帶有深度信息的量，所以如果我們將樣品看成許多足夠薄的薄層，認(rèn)為在同一薄層里阻止截面是一定的，通過(guò)模擬我們就可以算出每個(gè)薄層中的各個(gè)元素的含量，從而得到延深度方向的各元素的分布。 （其他答案：6、也是拿不準(zhǔn),RBS,用溝道譜定結(jié)構(gòu),能譜峰積分定厚度,峰位定成分。） 7、在金屬的凝固過(guò)程、溶化過(guò)程、和固液平衡過(guò)程中，吉布斯自由能如何變化？ 答：純金屬是單組元系，沒(méi)有成分變化，其吉布斯自由能主要隨溫度變化，隨著溫度升高，熵增大，一定溫

15、度下H 減去相應(yīng)的TS 值即可得到吉布斯自由能。吉布斯自由能隨溫度變化的斜率由熵S 決定。隨溫度升高，吉布斯自由能下降，單下降的程度，或變化的斜率對(duì)固、液相不同，在溫度很低時(shí)，吉布斯自由能中TS 項(xiàng)可忽略，在H=PV+U 中，PV 項(xiàng)也可以忽略，故G U, G L =U L ,G S =U S 。由于液相比固相有更高的內(nèi)能，故U L U S ,G L G S .當(dāng)溫度升高，原子排列混亂程度增加使熵增大，TS 項(xiàng)增加，吉布斯自由能則隨溫度升高而降低，由于液相原子混亂排列，比固相有更高的熵，相應(yīng)，TS L TS S ，所以液相的G 的下降比固相的G 下降的更快，因而在一定溫度下相交。在相交溫度Tm

16、 處G L G S ，液、固相處于平衡狀態(tài)，低于相交溫度G s G L ，固相處于穩(wěn)定狀態(tài)；高于相交溫度，G L 固相變過(guò)程中若體積增大或減小，對(duì)熔點(diǎn)有何變化？（條件記得不完全了） 6鈣鈦礦室溫下為正交晶系（1atm），在高溫（T1），高壓（P）下轉(zhuǎn)變成三方晶系，試分析其熱力學(xué)依據(jù)。 7選擇題 1)xrr可用來(lái)分析？ 2)紅外和拉曼常用來(lái)分析？ 3)光電子能譜常用來(lái)分析？ 8CNT可看作是卷起來(lái)的石墨片，請(qǐng)定性畫出當(dāng)電子束分別垂直入射在CNT和石墨片上所得的衍射花樣，并分析其相同與不同之處。 9有報(bào)道顯示CaB有超過(guò)室溫的居里溫度下鐵磁性，后經(jīng)研究證實(shí)該鐵磁性是由于一定量的Fe雜質(zhì)引起的，請(qǐng)?jiān)O(shè)

17、計(jì)一套實(shí)驗(yàn)方案來(lái)驗(yàn)證以上結(jié)論。 2007年11月資格考試 暫缺 2008年春資格考試 1.綜述材料增強(qiáng)方法比較； 2.高品質(zhì)透明氧化鋁的制備方法要點(diǎn)和結(jié)構(gòu)要點(diǎn)； 3.簡(jiǎn)立方薄膜的LEED衍射斑點(diǎn)。重構(gòu) 4.固體相變的熱力學(xué)分析； 5.熱力學(xué)常數(shù)就哪些？分別的物理化學(xué)意義是什么？ 6.固溶體的兩種缺陷，其分別在功能材料和結(jié)構(gòu)材料中的應(yīng)用。 7.畫薄膜的XRD的衍射花樣；衍射線數(shù)目。 8.二元相圖（杠桿原理）共晶 9.XPS分析 10.立方晶系中畫出（110）位錯(cuò) 2008年11 月資格考試 單組元材料系統(tǒng)加熱過(guò)程中，常發(fā)生密排結(jié)構(gòu)到疏排結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)變，分析其原因。鋼的轉(zhuǎn)變符合這一規(guī)律嗎？ 2. 熱力

18、學(xué)過(guò)程參量和狀態(tài)參量分別有哪些，與材料的微觀組織變化有什么聯(lián)系。 3. 用統(tǒng)計(jì)熱力學(xué)的知識(shí)，解釋馬氏體相變發(fā)生原因。 4. 純金屬的點(diǎn)缺陷主要什么形式存在，試述其形成的主要途徑。 5. 滑移帶，機(jī)械孿晶，退火孿晶和拋光殘留滑痕，如何在光鏡下區(qū)分。 6. 金屬中加入硬質(zhì)顆粒，對(duì)金屬的塑性變形、再結(jié)晶和強(qiáng)度有什么影響。 7. 從Ag-Cu相圖分析，制造銀幣為何不用純銀，而用92.5wt%Ag-7.5wt%Cu。 8. 如何用X射線衍射法確定晶體的滑移面。 9. 樣品-衍射儀聯(lián)動(dòng)（-2聯(lián)動(dòng)），樣品單動(dòng)，衍射儀單動(dòng)等方式，其分析原理和應(yīng)用范圍。 10. 給了XRD譜及峰位，分析晶體結(jié)構(gòu)和晶胞參數(shù)。 2

19、009年資格考試 暫缺 2010年資格考試 1.畫出BCC結(jié)構(gòu)的一個(gè)密排方向，以及包含這個(gè)方向的兩個(gè)晶面，并說(shuō)明這兩 個(gè)晶面與該方向的關(guān)系。 2.FCC結(jié)構(gòu)中原子的堆垛為ABCABC，寫出以下過(guò)程的原子堆垛方式 (1)孿生后； (2)肖脫基不全位錯(cuò)； (3)正弗蘭克不全位錯(cuò)； (4)負(fù)弗蘭克不全位錯(cuò)； (5)FCC到HCP的相變過(guò)程。 3.屈服現(xiàn)象的三條曲線 (1)解釋三條曲線屈服現(xiàn)象的原因以及2、3曲線屈服點(diǎn)上升的原因； (2)屈服現(xiàn)象對(duì)材料強(qiáng)化的意義； (3)舉例說(shuō)明該現(xiàn)象的應(yīng)用。 4.菲克第二擴(kuò)散定律的表達(dá)式，各項(xiàng)的物理意義，特殊解，舉一例說(shuō)明具體應(yīng) 用。 5.推導(dǎo)Gibbs自由能與有效

20、功之間的關(guān)系， 6.溫度由T1變?yōu)門2，壓強(qiáng)有P1變?yōu)镻2過(guò)程中的，dU= 7.Al-Zn合金在高溫下為單向固溶體，在300時(shí)不穩(wěn)分解為富含Al的相和 富含鋅的相，分析在300時(shí)影響自由能的因素，畫出Gibbs自由能成分曲線，該合金能發(fā)生有序無(wú)序相變嗎？ 8.Co靶的K1（=0.17928nm），某材料？BCC結(jié)構(gòu)，a=3.17*nm，分析可 能出現(xiàn)的衍射線。 9.X射線衍射能夠分析材料的塑性變形，設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)方案表征滑移面。 10.宏觀應(yīng)力和微觀應(yīng)力均對(duì)晶面間距產(chǎn)生影響，試具體分析之，微觀應(yīng)力的大 小、宏觀應(yīng)力的大小和方向?qū)?duì)衍射線產(chǎn)生什么影響？ 2011年4月資格考試 1.-Fe和-Fe轉(zhuǎn)變體

21、積變化、原子大小變化？從擴(kuò)散角度解釋滲碳過(guò)程。 2.金屬中的各種缺陷？對(duì)材料性能影響？ 3.擴(kuò)散，晶體結(jié)構(gòu)、溫度、缺陷對(duì)擴(kuò)散的影響？ 4.柯氏氣團(tuán)？對(duì)金屬有什么影響？ 5.各種過(guò)程的U、H、S、F、G變化（大于0、小于0、等于零或無(wú)法判斷） 等溫絕熱自由膨脹過(guò)程、熱輻射.過(guò)程、。（記不太清了，四個(gè)） 6.-Fe至-Fe轉(zhuǎn)變與正常不一樣，從疏排到密排結(jié)構(gòu)，從熱力學(xué)解釋原因 7.釹鐵硼快冷薄片鑄錠，相比平衡冷卻，能夠避免晶界偏析、成分均勻的原因 8.衍射儀使用時(shí)有-2連動(dòng)，只動(dòng)試樣-不動(dòng)探測(cè)儀（掃描），不動(dòng)試樣-只動(dòng)探測(cè)儀，說(shuō)明這些方法的特點(diǎn)和用途。 9.請(qǐng)?jiān)O(shè)計(jì)一種方法利用布拉格定律測(cè)定X光譜。

22、10.用勞埃法得到點(diǎn)陣常數(shù)為0.4nm的立方晶系的單晶體，0-10為光的入射方向，-100為晶體表面的豎直方向，001為水平方向。晶體距離底片為5cm。（1）求(-3-10)發(fā)生一次衍射的X光波長(zhǎng)；（2）（-3-10）衍射斑在照片上的位置。 2012年3月資格考試 1 面心立方（-1 1 1）面有哪些全位錯(cuò)，若這些位錯(cuò)為螺位錯(cuò)，則位錯(cuò)可沿那個(gè)面進(jìn)行滑移和交滑移？ 2固相燒結(jié)液相燒結(jié)的特點(diǎn)類型，相同與不同之處 3求理想混合溶液的U, H,V,S,G,F與濃度的關(guān)系 4實(shí)際溶液的G與濃度的關(guān)系并作圖說(shuō)明 5證明-（G）TP=W 6晶粒長(zhǎng)大和二次再結(jié)晶，引起二次再結(jié)晶的原因，如何防止 7實(shí)際構(gòu)件經(jīng)常

23、使用多相合金，為什么不用單相合金 8Al-Ni 合金退火前后的d（A）值 退火前 2.074 1.799 1.265 1.078 1.022 0.893 退火后3.6 2.547 2.074 1.799 1.603 1.461 1.265 1.078 1.022 0.893 分析退火前后晶體結(jié)構(gòu)以及點(diǎn)陣參數(shù)的變化。 9 正空間與倒易空間的概念和物理意義，由s=g,推導(dǎo)布拉格公式 10 入射線與測(cè)角儀分居試樣法線兩次，theta-2theta聯(lián)動(dòng)，只測(cè)得002,004,006,006的衍射峰，分析可能存在什么情況，并應(yīng)用xrd進(jìn)一步分析 2012年9月資格考試 1. 幾種強(qiáng)化的分類等（原題） 2

24、. 陶瓷燒結(jié)后期晶粒長(zhǎng)大的動(dòng)力是什么？（原題） 3. ABCBABC類型晶面，經(jīng)過(guò)各種變化（滑移、孿生、其他忘記了）后的排列順序 4. 怎樣從形貌上區(qū)分?jǐn)伨А⒒茙Ш托巫儙Вㄔ}） 5. 雙面法測(cè)滑移面的步驟（原題） 6. 吉布斯自由能G的定義和含義 7. 衍射儀使用時(shí)有-2 連動(dòng)，只動(dòng)試樣-不動(dòng)探測(cè)儀（ 掃描），不動(dòng)試樣-只動(dòng)探測(cè)儀，說(shuō)明這些方法的特點(diǎn)和用途。（原題） 8. 調(diào)幅分解的吉布斯自由能關(guān)系（材科書351） 9. 常規(guī)的給出各個(gè)2，判斷晶體結(jié)構(gòu)和晶面指數(shù) 10. 證明：等溫等壓下，有用功等于吉布斯自由能變（即dG=W） 11. 用樣品-衍射一聯(lián)動(dòng)，衍射儀速度是樣品速度的兩倍，晶體衍射只出現(xiàn)002，004，006，008的衍射峰，分析可能的晶體結(jié)構(gòu)。 2013年3月資格考試試題 一、（10分）純金屬凝固時(shí)，均勻形核和非均勻形核的形核功大小是否相同？一般情況下，二者哪個(gè)大？為什么？什么情況下二者相同。 二、（10分）分析反應(yīng)擴(kuò)散速度的影響因素及其對(duì)擴(kuò)散層深度的影響