承壓設備無損檢測

1、承壓設備無損檢測第2部分：射線檢測1 范圍JB/T4730的本部分規(guī)定了承壓設備金屬材料板和管的熔化焊對接接頭的X射線和射線檢測技術和質量分級要求。本部分適用于承壓設備的制造、安裝、在用檢測中對接焊接接頭的射線檢測。用于制作焊接接頭的金屬材料包括碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金和鈦及鈦合金、鎳及鎳合金。本部分規(guī)定的射線檢測技術分為三級：A級低靈敏度技術；AB級中靈敏度技術； B級高靈敏度技術。承壓設備的有關支承件和結構件的對接焊接接頭的射線檢測，也可參照使用。1、 理解：（1）適用對象包括承壓設備的制造、安裝、在用（2）檢測的金屬材料包括； 碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金

2、、鋁及鋁合金和鈦及鈦合金、鎳及鎳合金（3）A級AB級B級系指檢測技術分級，不是底片質量分級。2 、應用：（1）對不同的金屬材料透照的厚度不同例如碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金、鎳及鎳合金透照厚度2400mm（5.1.1）鋁及鋁合金透照厚度280mm（5.2.1）鈦合金250mm（5.3.1）（2）不適用范圍；鍛件、管材、棒材。T型焊縫、角焊縫、堆焊層一般也不宜采用。（使用原則4.2.2）3 、注意：如承壓設備的支承件或結構件也采用該標準時應在檢測報告中注明參照同時應有委托方的確認。2 規(guī)范性引用文件下列文件中的條款，通過JB/T 4730的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用

3、文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本部分。然而，鼓勵根據本部分達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。GB 115331989 標準對數視力表 GB 163571996 工業(yè)射線探傷放射衛(wèi)生防護標準GB 184652001 工業(yè)射線探傷放射衛(wèi)生防護要求GB 188712002 電離輻射防護及輻射源安全基本標準GB/T 19348.12003 無損檢測 工業(yè)射線照相膠片 第1部分： 工業(yè)射線膠片系統的分類GB/T 19348.22003 無損檢測 工業(yè)射線照相膠片 第2部分： 用參考值方法控制膠片處理HB 768

4、42000 射線照相用線型像質計JB 4730.12005 承壓設備無損檢測 第1部分：通用要求JB/T 79021999 線型像質計 JB/T 79031999 工業(yè)射線照相底片觀片燈（共計10個)1、理解：（1）JB/T4730直接引用了文件中的某些條款（2）在工作中要執(zhí)行這些標準中的有關規(guī)定。例如3.3.1觀片燈的主要性能應符合JB/T 79031999的有關規(guī)定。2、應用：（1）除JB/T4730外，以上10個標準也是我們編制檢測通用工藝和管理規(guī)定的主要依據。（2）如果這些文件有新的版本鼓勵采用，但雙方要達成一致意見。3、注意：（1）凡從事射線檢測的單位或部門應有這10個標準的原件（2

5、）當某些條款與JB/T4730不相符時，以JB/T4730規(guī)定的內容為準。（GB標準除外）例如附錄F專用像質計的標識。4、中國工業(yè)標準匯編（第二版）金屬無損檢測與探傷卷一般要求 射線檢測的一般要求除應符合JB/T4730.1的有關規(guī)定外，還應符合下列規(guī)定。3.1 射線檢測人員3.1.1 從事射線檢測人員上崗前應進行輻射安全知識的培訓，并取得放射工作人員證。3.1.2 射線檢測人員未經矯正或經矯正的近（距）視力和遠（距）視力應不低于5.0（小數記錄值為1.0）, 測試方法應符合GB 11533的規(guī)定。從事評片的人員應每年檢查一次視力。 1、理解：取放射工作人員證的對象2、應用：（1）對已取得國家

6、質檢總局或要取得國家質檢總局所頒發(fā)的無損檢測資質單位的射線檢測人員均應有放射工作人員證（2）對其他單位（制造、安裝和檢驗）現場操作人員應有放射工作人員證3、注意：從事評片人員每年的視力檢查情況應存檔。3.2 射線膠片3.2.1 膠片系統按照GB/T 19384.1分為四類，即T1、T2、T3和T4類。T1為最高類別，T4為最低類別。膠片系統的特性指標見附錄A（資料性附錄）。膠片制造商應對所生產的膠片進行系統性能測試并提供類別和參數。膠片處理方法、設備和化學藥劑可按照GB/T 19384.2的規(guī)定，用膠片制造商提供的預先曝光膠片測試片進行測試和控制。3.2.2 A級和AB級射線檢測技術應采用T3

7、類或更高類別的膠片，B級射線檢測技術應采用T2類或更高類別的膠片。膠片的本底灰霧度應不大于0.3。3.2.3 采用射線對裂紋敏感性大的材料進行射線檢測時,應采用T2類或更高類別的膠片。1、理解：（1）按膠片系統進行分類，不是按膠片的感光速度分類。膠片系統包括了膠片、增感屏和沖洗條件。（2）檢測的技術級別與膠片的類別有關。2、應用：選擇的原則（1）A級和AB級檢測技術不得低于T3類、B級檢測技術不得低于T2類（2）采用射線允許采用T3類膠片，但靈敏度應滿足要求。3、注意：（1）當對公稱厚度或透照厚度較薄的工件進行射線照相時應采用高類別的膠片。（2）對可焊性差的材料或Rm540MPa高強鋼， 射線

8、照相時應選擇T2類或更高類別的膠片。3.3 觀片燈 3.3.1 觀片燈的主要性能應符合JB/T 7903的 有關規(guī)定。3.3.2 觀片燈的最大亮度應能滿足評片的要求。1、理解：（1）觀片燈的主要性能指標除了亮度以外還包括:亮度的均勻性、外殼溫度、噪聲、絕緣程度等（2）觀片燈亮度和照度的關系，即140000lx45000cd/m22、應用：當底片評定范圍內的黑度2.5時，觀片燈的亮度不應低于9400 cd/m2、當底片評定范圍內的黑度2.5D4時觀片燈的亮度不應低于100000 cd/m2 (已知底片的黑度，應會計算觀片燈的亮度）3、注意：生產觀片燈的廠家所提供的亮度指標應用cd/m2表示。3.

9、4 黑度計（光學密度計）3.4.1 黑度計可測的最大黑度應不小于4.5，測量值的誤差應不超過0.05。3.4.2 黑度計至少每6個月校驗一次。校驗方法可參照附錄B（資料性附錄）的規(guī)定進行。1、理解：在一定情況下底片的黑度允許大于4 （4.11.2）2、應用：黑度計屬于自校驗儀器，不是強制校驗設備，而標準黑度片是要強制檢驗的。黑度計的校驗應有記錄并有校驗者和審核者簽字，保存到下一校驗周期。3、注意：校準黑度計用的標準黑度片必須在有效期內，并通過計量部門的鑒定(2年）新購置的標準黑度片只要在有效期內也允許。3.5 增感屏射線檢測一般應使用金屬增感屏或不用增感屏。增感屏的選用應符合表1的規(guī)定 1、理

10、解：（1）X射線照相，能量在500KV以下增感屏的材料應是鉛，鉛屏的厚度不涉及技術級別只與射線能量有關（2）如采用Se-75或Ir-192，增感屏的厚度與技術級別有關。（3）如采用Co60或高能X射線（4MeV以下）選擇增感屏所用的材料和厚度均與技術級別有關。2、應用：（1）前屏和后屏的厚度可以相同也可以不同（2）如采用Se-75和Ir-192射線照相，AB級或B級檢測技術，前屏和后屏的厚度均不能小于0.1mm。3、注意： AB級或B級檢測技術使用前屏0.03mm真空包裝膠片時，另有規(guī)定。（僅限于射線）3.6 像質計3.6.1 底片影像質量采用線型像質計測定。線型像質計的型號和規(guī)格應符合JB/

11、T 7902的規(guī)定，JB/T 7902中未包含的絲徑、線號等內容，應符合HB 7684的有關規(guī)定。3.6.2 像質計的材料、材料代號和不同材料的像質計適用的工件材料范圍應符合表2的規(guī)定。1、理解：（1）取消了象質指數“Z”的概念，用線徑或線號表示底片的靈敏度。（2）原JB4730標準選用的是R10等比系列像質計最細線的編后為16號，線徑為0.100mm,這一線徑已不能滿足JB/T4730厚度的下線（2mm）AB級和B級的要求，因此JB/T4730標準引出HB 76842000增加了小于0.100mm的線，即17號，0.080mm、18號，0.063mm,19號，0.050mm.組成了4組像質計

12、：17、612、1016、1319。2、應用：（1）應根據檢測技術級別、透照方式和像質計擺放的位置及公稱厚度（T）透照厚度（W）確定像質計靈敏度（2）以低原子序數材料制作的像質計可以用于高原子序數材料制成的工件照相。即鐵（Fe）像質計可以用于鎳（Ni）、銅（Cu）材料的照相，但不能用于鈦（Ti）、鋁（AI）材料的照相。3.7 表面要求和射線檢測時機3.7.1 在射線檢測之前，對接焊接接頭的表面應經外觀檢測并合格。表面的不規(guī)則狀態(tài)在底片上的影像不得掩蓋或干擾缺陷影像，否則應對表面作適當修整。3.7.2 除非另有規(guī)定，射線檢測應在焊后進行。有延遲裂紋傾向的材料，至少應在焊接完成24h后進行射線檢測

13、。1、理解：（1）焊縫的外觀檢查一般由焊工檢查員進行。（2）除非另有規(guī)定系指設計圖紙的規(guī)定、制造方的規(guī)定或焊縫返修后焊接工藝的規(guī)定。（3）有延遲裂紋的材料一般指低合金高強鋼。2、應用：（1）射線檢測工藝卡中應明確檢測時機（2）當底片上存在不影響評定的偽缺陷時應在底片評定原始記錄中注明。3、注意：所謂適當修整是指打磨或較淺補焊。3.8 射線檢測技術等級選擇3.8.1 射線檢測技術等級選擇應符合制造、安裝、在用等有關標準及設計圖樣規(guī)定。承壓設備對接焊接接頭的制造、安裝、在用時的射線檢測，一般應采用AB級射線檢測技術進行檢測。對重要設備、結構、特殊材料和特殊焊接工藝制作的對接焊接接頭，可采用B級技術

14、進行檢測。3.8.2 由于結構、環(huán)境條件、射線設備等方面限制，檢測的某些條件不能滿足AB級（或B級）射線檢測技術的要求時, 經檢測方技術負責人批準，在采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片）的前提下，若底片的像質計靈敏度達到了AB級（或B級）射線檢測技術的規(guī)定,則可認為按AB級（或B級）射線檢測技術進行了檢測。3.8.3 承壓設備在用檢測中，由于結構、環(huán)境、射線設備等方面限制,檢測的某些條件不能滿足AB級射線檢測技術的要求時, 經檢測方技術負責人批準,在采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片）后可采用A級技術進行射線檢測，但應同時采用其他無損檢測方法進行補充檢測。1、理解：（1）承壓類設備

15、的制造、安裝、在用的檢測技術級別一般不應低于AB級（2）承壓設備在用檢測特殊情況下可以采用A級檢測技術（3）檢測方技術負責人系指無損檢測單位的技術負責人，如是制造、安裝單位或檢驗單位，檢測方技術負責人是指該單位的總工程師或分管技術的領導（4）有效措施一般包括：高類別膠片、提高底片黑度、采用最佳透照方式、最大限度的控制散亂射線等措施。2、應用：（1）技術負責人要確認是否確實存在“結構、環(huán)境、射線設備等方面的限制”（2）技術負責人一般應在專用工藝或工藝卡批準欄中簽字。3、注意：底片靈敏度必須達到相應技術級別的規(guī)定。對在用設備如采用A級檢測技術應補充其他檢測方法進行檢測。返修焊縫應采用AB級或達到A

16、B級靈敏度3.9 輻射防護3.9.1 放射衛(wèi)生防護應符合GB 18871、GB 16357和GB 18465的有關規(guī)定。3.9.2 現場進行射線檢測時，應按GB16357的規(guī)定劃定控制區(qū)和管理區(qū)、設置警告標志。檢測工作人員應佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。3.9.3 現場進行射線檢測時，應按GB18465的規(guī)定劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)、設置警告標志，檢測作業(yè)時，應圍繞控制區(qū)邊界測定輻射水平。檢測工作人員應佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。1、理解：（1）現場進行射線檢測或進行射線檢測時對輻射防護提出了不同的要求。（2）在兩個標準都提出了輻射照射量的新名詞比釋動能和空氣比釋動能率，比釋動能是指不帶電

17、粒子與物質相互作用，在單位質量的物質中釋放出來的所有帶電粒子的初始動能的總和。2、應用：（1）空氣比釋動能率用儀器可以測出（2）控制區(qū)、管理區(qū)、監(jiān)督區(qū)范圍的確定均根據空氣比釋動能率量值進行劃分的。3、注意：盡管兩個標準的某些條款內容相同或相近，但在使用中不能相互代替。4 具體要求4.1 透照布置4.1.1 透照方式 應根據工件特點和技術條件的要求選擇適宜的透照方式。在可以實施的情況下應選用單壁透照方式,在單壁透照不能實施時才允許采用雙壁透照方式。典型的透照方式參見附錄C（資料性附錄）。4.1.2 透照方向 透照時射線束中心一般應垂直指向透照區(qū)中心，需要時也可選用有利于發(fā)現缺陷的方向透照。4.1

18、.3 一次透照長度 一次透照長度應以透照厚度比K進行控制。不同級別射線檢測技術和不同類型對接焊接接頭的透照厚度比應符合表3的規(guī)定。整條環(huán)向對接焊接接頭所需的透照次數可參照附錄D（資料性附錄）的曲線圖確定。1、理解：（1）單壁透照最有利于發(fā)現缺陷，但并不是最便捷的透照方法。（2）對在單壁透照不能實施時才允許采用雙壁透照方式要有正確的理解，不能實施時主要針對工況條件和檢驗檢測單位的資源條件而言，不是指最佳的透照方式。（3）一次透照長度與檢測技術級別有關。2、應用：透照方式不能任意選取，在可以實施的情況下應選用單壁透照方式。（在用設備）3、注意：其他方式透照環(huán)向對接接頭時，有不能實施的部位即陰影區(qū)。

19、4.1.4 小徑管環(huán)向對接焊接接頭的透照布置小徑管采用雙壁雙影透照布置，當同時滿足下列兩條件時應采用傾斜透照方式橢圓成像：T（壁厚）8mm； g（焊縫寬度）Do /4橢圓成像時，應控制影像的開口寬度（上下焊縫投影最大間距）在1倍焊縫寬度左右。不滿足上述條件或橢圓成像有困難時可采用垂直透照方式重疊成像。4.1.5 小徑管環(huán)向對接接頭的透照次數 小徑管環(huán)向對接焊接接頭100%檢測的透照次數：采用傾斜透照橢圓成像時，當T/ Do0.12時,相隔90透照2次。當T/ Do0.12時,相隔120或60透照3次。垂直透照重疊成像時，一般應相隔120或60透照3次。 由于結構原因不能進行多次透照時，可采用橢

20、圓成像或重疊成像方式透照一次。鑒于透照一次不能實現焊縫全長的100%檢測，此時應采取有效措施盡量擴大缺陷可檢出范圍，并保證底片評定范圍內黑度和靈敏度滿足要求。1、理解：（1）雙壁雙影橢圓成像的實施原則，即T（壁厚）8mm、 g（焊縫寬度）Do /4（605mm）（2）橢圓成像有困難一般是指焦距不滿足要求。（3）小徑管的透照次數與管外徑和壁厚有關，與檢測技術級別無關（4）規(guī)定小徑管的透照次數的主要目的是控制透照厚度比（5）結構：一般系指排管或盤管2、應用：（1）為控制影像的開口寬度應采用偏心距法（2）擴大缺陷可檢出范圍的有效措施一般包括：雙膠片技術、適當提高管電壓、窗口加濾波板3、注意：當Do

21、20mm、T 8mm 、g Do /4重點檢查根部裂紋或未焊透時應采用垂直透照4.2 射線能量4.2.1 X射線照相應盡量選用較低的管電壓。在采用較高管電壓時，應保證適當的曝光量。圖1規(guī)定了不同材料、不同透照厚度允許采用的最高射線管電壓。 對截面厚度變化大的承壓設備，在保證靈敏度要求的前提下，允許采用超過圖1規(guī)定的射線管電壓。但對鋼、銅及銅合金材料，管電壓增量不應超過50kV；對鈦及鈦合金材料，管電壓增量不應超過40kV；對鋁及鋁合金材料，管電壓增量不應超過30kV。1、理解：（1）不同材料、不同透照厚度允許采用的最高射線管電壓與檢測技術級別無關（2）控制射線管電壓的目的是保證底片的對比度，避

22、免影響小缺陷的檢出率。（3）截面厚度變化大（以AB級T3類膠片為基準，如較厚部位黑度為2.0，而較薄部位的黑度大于4 .0）2、應用：（1）在能穿透工件的前提下，應盡量選擇較低的KV值（2）對截面厚度變化大的承壓設備，適當提高管電壓、利用中心指示器使射線束中心對準較厚部位、采用雙膠片技術、補償技術3、注意：選擇能量時必須考慮穿透厚度。4.2.2射線源和高能射線適用的透照厚度范圍應符合表4的規(guī)定。 采用源在內中心透照方式，在保證像質計靈敏度達到4.11.3要求的前提下，允許射線最小透照厚度取表4下限值的二分之一。 采用其他透照方式，在采取有效補償措施并保證像質計靈敏度達到4.11.3要求的前提下

23、，經合同各方同意，A 級 ,AB級技術的Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm， Se-75源的最小透照厚度可降至5mm。1、理解：（1）鼓勵和提倡采用源在內中心透照方式盡可能實現單壁透照，同時也有利于橫向裂紋的檢出（2）其他透照方式包括：雙壁雙影、雙壁單影、內透法FR、FR（3）經合同各方同意的主要目的是 對放寬最小透照厚度要慎重（4） 射線源和高能射線適用的透照厚度范圍與檢測的技術級別有關，其他透照方式放寬最小透照厚度與技術級別有關（僅限于A級AB級）2、應用：（1）采用Ir-192源中心透照時最小透照厚度可為10mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm時，即使合同各方同意

24、也不能實施。采用其他透照方式當透照厚度小20mm時，應經合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm時，即使合同各方同意也不能實施。（2）采用Se-75源中心透照時最小透照厚度可為5mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于5mm時，即使合同各方同意也不能實施。采用其他透照方式當透照厚度小10mm時，應經合同各方同意。如最小透照厚度小于5mm時，即使合同各方同意也不能實施。（3）有效補償措施包括：高類別的膠片、適當提高底片黑度、提高增感屏的厚度、散射線的屏蔽。3、注意：（1）最小透照厚度以公稱厚度計算。（2）合同各方同意：一般指在施工方案上或工藝文件上有甲方簽字認可，并存檔。4.3 射線源至工件

25、表面的最小距離4.3.1 所選用的射線源至工件表面的距離f應滿足下式的要求： A 級射線檢測技術： f 7.5db 2/3 AB級射線檢測技術： f 10db 2/3 B 級射線檢測技術： f 15db 2/3圖2是A級和B級射線檢測技術確定f的諾模圖，圖3是AB級射線檢測技術確定f的諾模圖。有效焦點尺寸d 按附錄E（規(guī)范性附錄）的規(guī)定計算。4.3.2 采用源在內中心透照方式周向曝光時，只要得到的底片質量符合4.11.2和4.11.3的要求，f值可以減小，但減小值不應超過規(guī)定值的50%。4.3.3 采用源在內單壁透照方式時，只要得到的底片質量符合4.11.2和4.11.3的要求，f值可以減小，

26、但減小值不應超過規(guī)定值的20%。1、理解：（1）確定射線源至工件表面的最小距離與檢測技術級別有關。減小值與檢測技術級別無關，與透照方式有關。（2）鼓勵和提倡采用內透法特別是中心內透法。體現了采用單壁透照的原則。減少透照厚度，有利與檢驗缺陷；減少照射角，有利裂紋檢出。2、應用：（1）由諾模圖中可直接得出射線源至工件表面最小距離（2）工件表面至膠片的距離應根據透照方式確定，同時應考慮焊縫余高和墊板（雙壁單影、單壁單影）的厚度3、注意：由諾模圖中給出的數據是射線源至工件表面的最小距離。4.4 曝光量4.4.1 射線照相，當焦距為700mm時，曝光量的推薦值為：A級和AB級射線檢測技術不小于15mAm

27、in；B級射線檢測技術不小于20mAmin。當焦距改變時可按平方反比定律對曝光量的推薦值進行換算。4.4.2 采用射線源透照時, 總的曝光時間應不少于輸送源往返所需時間的10倍。1、理解：（1）曝光量的大小與焦距有關（2）X射線的曝光量的選擇與檢測技術級別有關（3）采用射線源透照時，在某一時段焦距是在不斷變化，為保證底片質量，從而確定了總的曝光時間2、應用：以AB級為例：當焦距700mm時，曝光量應大于或等于15mAmin、當焦距大于700mm時，曝光量應大于15mAmin、當焦距小于700mm時，曝光量可小于或等于15mAmin、焦距改變時按平方反比定律對曝光量的推薦值進行換算。3、注意：對

28、小口徑薄壁管采用射線源透照時，強度不宜太大4.5 曝光曲線4.5.1 對每臺在用射線設備均應做出經常檢測材料的曝光曲線，依據曝光曲線確定曝光參數。4.5.2 制作曝光曲線所采用的膠片、增感屏、焦距、射線能量等條件以及底片應達到的靈敏度、黑度等參數均應符合本部分的規(guī)定。4.5.3 對使用中的曝光曲線，每年至少應校驗一次。射線設備更換重要部件或經較大修理后應及時對曝光曲線進行校驗或重新制作。1、理解：（1）曝光曲線是針對X射線機（2）每臺X射線機必須有曝光曲線且不能混用（3）射線設備重要部件是指X射線管和高壓包2、應用：（1）曝光曲線橫坐標上的厚度應是穿透厚度（2）當實際拍片的條件與制作曝光曲線的

29、條件不一致時，必須對曝光曲線作相應的修正。3、注意：曝光曲線的校驗日期（至少每年一次）4.6 無用射線和散射線屏蔽4.6.1 應采用金屬增感屏、鉛板、濾波板、準直器等適當 措施，屏蔽散射線和無用射線，限制照射場范圍。4.6.2 對初次制定的檢測工藝或當在使用中檢測工藝的 條件、環(huán)境發(fā)生改變時,應進行背散射防護檢查。 檢查背散射防護的方法是：在暗盒背面貼附“B”鉛字標記，一般B鉛字的高度為13mm、厚度為1.6mm,按檢測工藝的規(guī)定進行透照和暗室處理。若在底片上出現黑度低于周圍背景黑度的“B”字影像，則說明背散射防護不夠,應增大背散射防護鉛板的厚度。若底片上不出現 “B”字影像或出現黑度高于周圍

30、背景黑度的“B”字影像，則說明背散射防護符合要求。1、理解：（1）金屬增感屏、鉛板、濾波板、準直器等是屏蔽和控制散射線的主要器件（2）屏蔽和控制散射線與檢測技術級別無關（3）背散射檢查的前提條件（初次制定的檢測工藝或當在使用中檢測工藝的條件、環(huán)境發(fā)生改變）2、應用：對不是初次制定的檢測工藝或在使用中檢測工藝的條件、環(huán)境未發(fā)生變化時，不用每次都進行背散射檢查3、注意：在薄工件或不用增感屏時，有時會出現黑度高于周圍背景黑度的“B”字影像4.7 像質計的使用4.7.1 像質計一般應放置在工件源側表面焊接接頭的一端（在被檢區(qū)長度的1/4左右位置）,金屬絲應橫跨焊縫，細絲置于外側。當一張膠片上同時透照多

31、條焊接接頭時,像質計應放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處。4.7.2 像質計放置原則a) 單壁透照規(guī)定像質計放置在源側。雙壁單影透照規(guī)定像質計放置在膠片側。雙壁雙影透照像質計可放置在源側，也可放置在膠片側。b) 單壁透照中，如果像質計無法放置在源側，允許放置在膠片側。c) 單壁透照中像質計放置在膠片側時，應進行對比試驗。對比試驗方法是在射源側和膠片側各放一個像質計，用與工件相同的條件透照，測定出像質計放置在源側和膠片側的靈敏度差異，以此修正像質指數規(guī)定，以保證實際透照的底片靈敏度符合要求。d) 當像質計放置在膠片側時，應在像質計上適當位置放置鉛字“F”作為標記， F標記的影像應與像質計的標記同時出現在

32、底片上，且應在檢測報告中注明。4.7.3 原則上每張底片上都應有像質計的影像。當一次曝光完成多張膠片照相時，使用的像質計數量允許減少但應符合以下要求: a) 環(huán)形對接焊接接頭采用源置于中心周向曝光時，至少在圓周上等間隔地放置3個像質計;b) 球罐對接焊接接頭采用源置于球心的全景曝光時，至少在北極區(qū)、赤道區(qū)、南極區(qū)附近的焊縫上沿緯度等間隔地各放置3個像質計，在南、北極的極板拼縫上各放置1個像質計; c) 一次曝光連續(xù)排列的多張膠片時，至少在第一張、中間一張和最后一張膠片處各放置一個像質計。4.7.4 小徑管可選用通用線型像質計或附錄F（規(guī)范性附錄）規(guī)定的專用（等徑金屬絲）像質計，金屬絲應橫跨焊縫

33、放置。4.7.5 如底片黑度均勻部位（一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)）能夠清晰地看到長度不小于10mm的連續(xù)金屬絲影像時，則認為該絲是可識別的。專用像質計至少應能識別兩根金屬絲。1、理解：（1）在像質計擺放原則中對1/4處是一個相對概念（2）根據透照方式的不同規(guī)定了像質計應的擺放位置（3）規(guī)定了允許減少的三種情況（環(huán)形焊縫周向曝光：3；連續(xù)多張一次曝光：3；球：332）（4）小徑管即可以選用通用線型像質計也可以選用專用線型像質計（4）像質計的觀察一般在母材上而不是在焊縫上。（考慮深槽焊）（5）“ F”標記的影像應與像質計的標記同時出現在底片上（像質計的標記是指像質計上的標準號）2、應用：（1）只有

34、在單壁透照，象質計放在膠片測時才進行對比試驗，其他方式均不用做對比試驗。（2）像質計可放置在源側，也可放置在膠片側僅限于小徑管雙壁雙影時使用（3）“F”標記一般應放置在像質計標識的右上角。（4）當焊縫寬度較大時應加長金屬絲的長度，或適當移動像質計的位置。（5）當象質計放在膠片測時，應在檢驗報告像質計靈敏度一欄中注明注意：（1）雙壁雙影最大透照厚度上限；A級為54mm、AB為54mm、B級為56mm（表6）（2）小徑管使用專用像質計時要看到2根4.8 標記4.8.1 透照部位的標記由識別標記和定位標記組成。標記一般由適當尺寸的鉛（或其他適宜的重金屬）制數字、拼音字母和符號等構成。4.8.2 識別

35、標記一般包括：產品編號、對接焊接接頭編號、部位編號和透照日期。返修后的透照還應有返修標記,擴大檢測比例的透照應有擴大檢測標記。4.8.3 定位標記一般包括中心標記和搭接標記。中心標記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編號的方向,一般用十字箭頭“ ”表示。搭接標記是連續(xù)檢測時的透照分段標記，可用符號“”或其他能顯示搭接情況的方法表示。4.8.4 標記一般應放置在距焊縫邊緣至少5mm以外的部位，搭接標記放置的部位還應符合附錄G（規(guī)范性附錄）的規(guī)定。所有標記的影像不應重疊，且不應干擾有效評定范圍內的影像。1、理解：（1）未對返修標記,擴大檢測比例的擴大檢測標記作出統一規(guī)定。（2）搭接標記可以用“表示也

36、可以用其他符號表示（如1、2、或A、B、C）（3）（3）根據射線源、工件、膠片的相互位置按附錄G規(guī)定放置搭接標記。2、應用：（1）應在工藝文件中對返修標記、擴大檢測標記以及搭接標記的符號作出明確規(guī)定。（2）小徑管雙壁雙影或垂直透照不用搭接標記。（3）除中心100透照或連續(xù)多張一次曝光外，否則每張底片上均應有中心標記。（20mm以下小徑管除外）3、注意：不是100透照的焊接接頭也要放置搭接標記。（有效區(qū)段標記）4.9 膠片處理4.9.1 可采用自動沖洗或手工沖洗方式處理,推薦采用自動沖洗方式處理。 4.9.2 膠片處理一般應按膠片使用說明書的規(guī)定進行。1、理解：（1）手工沖洗方式處理是指槽洗不是

37、盤洗（2）推薦采用自動沖洗方式處理的目的是盡量防止采用增加或減少顯影時間來控制底片的黑度。2、應用：在工藝文件中要明確膠片處理的方式和處理的條件。3、注意：采用自動洗片機時要經常清洗防止產生劃傷。4.10 評片要求4.10.1 評片一般應在專用的評片室內進行。評片室應整潔、安靜，溫度適宜,光線應暗且柔和。4.10.2 評片人員在評片前應經歷一定的暗適應時間。從陽光下進入評片的暗適應時間一般為5 min10min；從一般的室內進入評片的暗適應時間應不少于30s。4.10.3 評片時，底片評定范圍內的亮度應符合下列規(guī)定： 當底片評定范圍內的黑度 D2.5時，透過底片評定范圍內的亮度應不低于30cd

38、/m2； 當底片評定范圍內的黑度 D2.5時,透過底片評定范圍內的亮度應不低于10cd/m2。 4.10.4 底片評定范圍的寬度一般為焊縫本身及焊縫兩側5mm寬的區(qū)域。1、理解：增加評片暗適應過程規(guī)定的目的是光強的突然變化會使人的視覺靈敏度下降從而造成評片時的漏檢2、應用：（1）評片室不能全黑，一般要等于或略低于透過底片光的亮度。（2）觀片燈的亮度必須可以調節(jié)（3）觀片燈應有足夠的照明區(qū)一般是30080mm（4）要用亮度度計測定透過底片后，可見光的強度是否達到標準的要求。3、注意：對低合金高強鋼要特別注意熱影響區(qū)的觀察。4.11 底片質量4.11.1 底片上,定位和識別標記影像應顯示完整、位置

39、正確。4.11.2 底片評定范圍內的黑度D應符合下列規(guī)定: A 級：1.5D4.0； AB級：2.0D4.0 ； B 級：2.3D4.0。 用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時，AB級最低黑度允許降至1.5；B級最低黑度可降至2.0。 采用多膠片方法時，單片觀察的黑度應符合以上要求。雙片疊加觀察僅限于A級，疊加觀察時，單片的黑度應不低于1.3。 對評定范圍內的黑度D4.0的底片，如有計量檢定報告證明底片評定范圍內的亮度能夠滿足4.10.3的要求，允許進行評定。1、理解：（1）底片評定范圍內的黑度與技術級別有關（2）只有當用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時，黑度才可降低而且

40、與技術級別有關（ AB級最低黑度允許降至1.5；B級最低黑度可降至2.0）（3）允許黑度降低的前提條件；a.只能是工件不能是設備的焊接接頭4.2.1b.當較薄部位的黑度為4.0時，較厚部位的黑度尚未達到1.5時。（AB級T3類膠片為基準）（4）雙膠片技術一般是指兩張感光速度不同的膠片也可以是兩張感光速度相同的膠片2、應用：（1）評片時每張底片均應測定其黑度值（2）黑度一般測三點即兩搭接標記的焊縫上各測一點，焊縫中心靠近焊縫母材部位測一點。（3）小徑管無論是雙壁雙影或垂直透照黑度均可降至1.5（X射線、AB級）3、注意：（1）AB級、B級不能采用雙片觀察（2）小徑管只有在黑度大于1.5以上的區(qū)域

41、是有效評定范圍（X射線、AB級）（3）當底片評定范圍內的黑度大于4時需有計量檢定報告證明底片評定范圍內的亮度能夠滿4.10.3的要求時，才允許進行評定。4.11.3 底片的像質計靈敏度 單壁透照、像質計置于源側時應符合表5的規(guī)定；雙壁雙影透照、像質計置于源側時應符合表6的規(guī)定；雙壁單影或雙壁雙影透照、像質計置于膠片側時應符合表7的規(guī)定。4.11.4底片評定范圍內不應存在干擾缺陷影像識別的水跡、劃痕、斑紋等偽缺陷影像。1、理解：底片的像質計靈敏度不僅與檢測技術級別有關，而且還與透照方式、公稱厚度、透照厚度有關。2、應用：（1）除單壁透照像質計放在膠片側外，其他形式的底片像質計靈敏度均可從表中查出

42、（2）底片評定范圍以外的偽缺陷不屬于底片質量不合格的依據。3、注意：（1）當對接接頭兩邊的公稱厚度不等時以較薄為準。（2）底片的像質計靈敏度不能按穿透厚度計算。5 承壓設備熔化焊對接焊接接頭射線檢測質量分級5.1 鋼、鎳、銅制承壓設備熔化焊對接焊接接頭射線檢測質量分級5.1.1 范圍本條規(guī)定適用于厚度為2 mm400mm，材質為碳素鋼、低合金鋼、奧氏體不銹鋼、鎳及鎳基合金制承壓設備，以及厚度為2 mm80mm銅及銅合金制承壓設備的熔化焊對接焊接接頭射線檢測的質量分級。管子和壓力管道環(huán)向對接焊接接頭射線檢測質量分級按照第6條的規(guī)定執(zhí)行 1、理解：（1）必須是對接接頭（2）適用范圍和厚度（碳素鋼、

43、低合金鋼、奧氏體不銹鋼、鎳及鎳基合金、銅和銅合金。厚度2 mm400mm、 2 mm80mm。2、應用：凡不在本標準規(guī)定的范圍之內，均不能按本標準進行質量分級。3、注意：厚度是指母材的公稱厚度。5.1.2 缺陷類型對接焊接接頭中的缺陷按性質可分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷和圓形缺陷五類。5.1.3 質量分級依據根據對接接頭中存在的缺陷性質、數量和密集程度，其質量等級可劃分為、級。5.1.4 質量分級一般規(guī)定5.1.4.1 級對接焊接接頭內不允許存在裂紋、未熔合、未焊透和條形缺陷。5.1.4.2 級和級對接焊接接頭內不允許存在裂紋、未熔合和未焊透。5.1.4.3 對接焊接接頭中缺陷超過級者為

44、級。5.1.4.4 當各類缺陷評定的質量級別不同時，以質量最差的級別作為對接焊接接頭的質量級別。5.1.5 圓形缺陷的質量分級5.1.5.1 圓形缺陷用圓形缺陷評定區(qū)進行質量分級評定，圓形缺陷評定區(qū)為一個與焊縫平行的矩形，其尺寸見表8。圓形缺陷評定區(qū)應選在缺陷最嚴重的區(qū)域。5.1.5.2 在圓形缺陷評定區(qū)內或與圓形缺陷評定區(qū)邊界線相割的缺陷均應劃入評定區(qū)內。將評定區(qū)內的缺陷按表9的規(guī)定換算為點數，按表10的規(guī)定評定對接焊接接頭的質量級別。 1、理解：（1）特種設備對接接頭內的缺陷分為5種即裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷和圓形缺陷。（2）以對接接頭中存在缺陷的性質、數量和密集程度進行質量分級與技

45、術級別無關。2、應用：（1）圓形缺陷評定區(qū)的尺寸要根據公稱厚度確定。（2）在確定圓形缺陷嚴重部位的數量時，評定區(qū)應與焊縫平行。（3）圓形缺陷的長徑大于T/2時應注明其尺寸3、注意：必須與圓形缺陷評定區(qū)邊界線相割的缺陷才能劃入評定區(qū)內5.1.5.3 由于材質或結構等原因,進行返修可能會產生不利后果的對接焊接接頭，各級別的圓形缺陷點數可放寬1點2點。5.1.5.4 對致密性要求高的對接焊接接頭，制造方底片評定人員應考慮將圓形缺陷的黑度作為評級的依據。通常將黑度大的圓形缺陷定義為深孔缺陷,當對接焊接接頭存在深孔缺陷時，其質量級別應評為級。5.1.5.5 當缺陷的尺寸小于表11的規(guī)定時，分級評定時不計

46、該缺陷的點數。質量等級為級的對接焊接接頭和母材公稱厚度T 5mm的級對接焊接接頭，不計點數的缺陷在圓形缺陷評定區(qū)內不得多于10個，超過時對接焊接接頭質量等級應降低一級。 1、理解：（1）圓形缺陷放寬的原則（2）致密性要求高的對接焊接接頭是指一旦泄漏將會發(fā)生起火、爆炸或嚴重污染環(huán)境的焊接接頭。（3）制造方底片評定人員：（包括檢驗檢測，設備制造或安裝單位的評片人員）2、應用：（1）圓形缺陷的放寬不能是普遍現象只能是個別現象，如果對圓形缺陷放寬應在檢測報告的附件中說明圓形缺陷的實際點數，以及放寬的理由和依據。（2）只有對薄板焊接接頭評定時當圓形缺陷的黑度明顯大于母材的黑度時才能定義為深孔（并在報告中

47、注明）3、注意：監(jiān)檢人員以及第三方抽檢一般不考慮將圓形缺陷的黑度作為評級的依據。5.1.6 條形缺陷的質量分級條形缺陷按表12的規(guī)定進行分級評定。1、理解：（1）條形評定區(qū)的寬度與母材的公稱厚度有關（T25mm.4mm、100mm T25mm.6mm 、T100mm.8mm（2）對條形缺陷的累計長度規(guī)定了最小值（3）T為公稱厚度2、應用：（1）當測定條形缺陷的累計長度時，條形評定區(qū)應與焊縫平行（)應用條形評定區(qū)的目的是確定當底片上有多處條形缺陷時，根據間距大小確定是否為一組或兩組（3）凡在同一直線的條狀缺陷應根據間距的情況是否按單個條狀缺陷處理.（相鄰缺陷的間距大于較短缺陷時除外）圖1、23、

48、注意：當母材公稱厚度不等時取薄板的厚度值。5.1.7 綜合評級5.1.7.1 在圓形缺陷評定區(qū)內同時存在圓形缺陷和條形缺陷時，應進行綜合評級。5.1.7.2 綜合評級的級別如下確定：對圓形缺陷和條形缺陷分別評定級別，將兩者級別之和減一作為綜合評級的質量級別。1、理解：只有在圓形缺陷評定區(qū)內存在條狀缺陷時才進行綜合評級。2、應用：對缺陷進行綜合級，應在檢測報告?zhèn)渥谥凶⒚?、注意：綜合評級后只要大于級者均為級5.2 鋁制承壓設備熔化焊對接焊接接頭射線檢測質量分級5.2.1 范圍本條規(guī)定適用于厚度為2 mm80mm鋁及鋁合金承壓設備的熔化焊對接焊接接頭射線檢測的質量分級。5.2.2 缺陷類型（略）

49、5.2.3 質量分級依據（略）5.3 鈦及鈦合金制承壓設備熔化焊對接焊接接頭射線檢測質量分級5.3.1 范圍本條規(guī)定適用于厚度為2mm50mm，材質為鈦及鈦合金的熔化焊對接焊接接頭射線檢測的質量分級。5.3.2 缺陷類型（略）5.3.3 質量分級依據（略）6 承壓設備管子及壓力管道熔化焊環(huán)向對接焊接接頭射線檢測質量分級6.1 鋼、鎳、銅承壓設備管子及壓力管道熔化焊環(huán)向對接焊接接頭射線檢測質量分級6.1.1 范圍 本條適用于壁厚T 2mm碳素鋼、低合金鋼、奧氏體不銹鋼、鎳及鎳基合金、銅及銅合金承壓設備管子及壓力管道的熔化焊環(huán)向對接焊接接頭射線檢測的質量分級。1、理解：（1）必須是環(huán)向對接接頭（2

50、）接頭的壁厚應大于或等于2mm（3）對管子的外徑沒設上限2、應用：承壓設備管子及壓力管道系指無縱向焊縫的管道。對于采用鋼板卷管制作壓力管道縱向焊縫的評定應按5.1條的規(guī)定進行3、注意：螺旋管焊縫的質量評級應由合同各方商定。6.1.2 缺陷類型 對接焊接接頭中的缺陷按性質可分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷、圓形缺陷、根部內凹、根部咬邊等七類。1、理解：把根部內凹、根部咬邊外觀缺陷也納入評級范圍之列。2、應用：要正確判斷根部咬邊和外咬邊，外咬邊缺陷不能作為評級的依據3、注意：根部內凹和根部咬邊均按累計長度計算，對斷續(xù)根部內凹和根部咬邊，以根部內凹和根部咬邊本身的長度累計計算。（不包括間距長度，也沒有間距的概念）6.1.3 質量分級依據 根據對接焊接接頭中存在的缺陷性質、數量和密集程度，其質量等級可劃分為、級。6.1.4 質量分級的一般規(guī)定6.1.4.1 級對接焊接接頭內不允許存在裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷、根部內凹、根部咬邊。6.1.4.2 級和級對接焊接接頭內不允許存在裂紋、未熔合，雙面焊以及加墊板單面焊中的未焊透。6.1.4.3 對接焊接接頭中缺陷超過級者為級。6.1.4.4 當各類缺陷評定的質量級別不同時,以質量最差的級別作為對接焊接接頭的質量級別。6.1.5