SPC統(tǒng)計實用培訓(xùn)教程2

1、SPC培訓(xùn)教程一、持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計過程控制概述二、SPC基礎(chǔ)三、計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖1產(chǎn)品質(zhì)量量波動及及其統(tǒng)計計描述產(chǎn)品質(zhì)量量特性定性定量連續(xù)離散計量值計數(shù)值計件值計數(shù)值2變異異誤差=X-X0偶然性誤誤差：誤誤差大小小和方向向的變化化是隨機(jī)機(jī)的。系統(tǒng)性誤誤差：誤誤差大小小和方向向的變化化保持不不變或按按一定規(guī)規(guī)律變化化。過程控制制中常用用精度這個概念念來反映映質(zhì)量的的波動（變異）程度。3精 度精度又可可分為：準(zhǔn)確度(Accuracy)：反映系統(tǒng)統(tǒng)誤差的的影響程程度；精密度(Precision)：反映偶然然誤差的的影響程程度；精確度(Uncertainty)：反映系統(tǒng)統(tǒng)誤差和和偶然誤誤差綜合合的影響響

2、程度4精度的概概念準(zhǔn)確度好好精密度好好系統(tǒng)誤差差小偶然誤差差小準(zhǔn)確度差差精密度高高系統(tǒng)誤差差大偶然誤差差小準(zhǔn)確度高高精密度差差系統(tǒng)誤差差小偶然誤差差大準(zhǔn)確度差差精密度差差系統(tǒng)誤差差大偶然誤差差大5持續(xù)改進(jìn)進(jìn)及統(tǒng)計計過程控控制概述述預(yù)防與檢檢測過程控制制系統(tǒng)變差：普普通原因因及特殊殊原因局部措施施和對系系統(tǒng)采取取措施過程控制制和過程程能力過程改進(jìn)進(jìn)循環(huán)及及過程控控制控制圖：過程控控制工具具控制圖的的益處6持續(xù)改進(jìn)進(jìn)及統(tǒng)計計過程控控制概述述之一檢測與預(yù)預(yù)防過程控制制的需要要檢測容容忍浪費(fèi)費(fèi)預(yù)防避避免浪費(fèi)費(fèi)7持續(xù)改進(jìn)進(jìn)及統(tǒng)計計過程控控制概述述之二過程控制制系統(tǒng)我們工作作的方式資源的融融合產(chǎn)品或服務(wù)顧

3、客識別不斷斷變化的需求和和期望顧客的聲聲音人設(shè)備材料方法環(huán)境輸入過程/系統(tǒng)輸出過程的聲聲音統(tǒng)計方法法有反饋的的過程控控制系統(tǒng)統(tǒng)模型8持續(xù)改進(jìn)進(jìn)及統(tǒng)計計過程控控制概述述之三變差的普普通原因因及特殊殊原因9SPC基基礎(chǔ)SPC(Statistical ProcessControl)統(tǒng)計過程程控制：利用統(tǒng)統(tǒng)計技術(shù)術(shù)對過程程中的各各個階段段進(jìn)行監(jiān)監(jiān)控，從從而得到到保證產(chǎn)產(chǎn)品質(zhì)量量的目的的。二十世紀(jì)紀(jì)二十年年代美國國休哈特特(W.A.Shewhart)首創(chuàng)過程程控制(ProcessControl)理論極其其監(jiān)控過過程的工工具控制圖(ControlChart)形成SPC的基礎(chǔ)，后擴(kuò)展展到任何何可以應(yīng)應(yīng)用的數(shù)

4、數(shù)理統(tǒng)計計方法?？刂茍D(ControlChart)：對過程程質(zhì)量特特性記錄錄評估，以監(jiān)察察過程是是否處于于受控狀狀態(tài)的一一種統(tǒng)計計方法圖圖。1924年5月6日休哈特特提出的的不合格格樣品率率P控制圖為為世界第第一張控控制圖。10產(chǎn)品質(zhì)量量的統(tǒng)計計觀點(diǎn)一一產(chǎn)品質(zhì)量量具有變變異性影響產(chǎn)品品質(zhì)量的的因素有有6MMan:人Machine:機(jī)Material:料Method:法Mother-nature:環(huán)Measurement:測無論人類類社會如如何進(jìn)步步發(fā)展，產(chǎn)品質(zhì)質(zhì)量不可可能保持持絕對恒恒定，一一定具有有變異性性。11產(chǎn)品質(zhì)量量的統(tǒng)計計觀點(diǎn)二二產(chǎn)品質(zhì)量量的變異異具有統(tǒng)統(tǒng)計規(guī)律律性確定性現(xiàn)現(xiàn)象，確確

5、定性規(guī)規(guī)律：在在一定條條件下，必然發(fā)發(fā)生或不不可能發(fā)發(fā)生的事事情。如如一個大大氣壓（760mm汞柱）下下，H2O的變化規(guī)規(guī)律。溫度0固體狀態(tài)態(tài)溫度0 t25)計算每個個子組的的不合格格率（p）記錄每個個子組的的下列值值被檢項目目的數(shù)量量n發(fā)現(xiàn)的不不合格項項目np計算不合合格率p=np/p選擇控制制圖的坐坐標(biāo)刻度度（1.52倍）將不合格格品率描描繪在控控制圖上上29不合格率率的p圖圖計算控制制界限計算過程程平均不不合格品品率P=計算上、下控制制界限（UCL、LCL）UCL=p+3LCL=p-畫線并標(biāo)標(biāo)注過程平均均水平實線線控制線路路（UCL、LCL）水平虛線線30、變變化示意意圖時間特性值不變傾

6、向性性變化31、變變化示意意圖時間特性值不變無規(guī)律律變化32、變變化示意意圖時間特性值規(guī)律性性變化不變33、變變化示意意圖時間特性值無規(guī)律律變化不變34、變變化示意意圖時間特性值無規(guī)律律變化無規(guī)律律變化35X-R控控制圖計量值最最常用、重要的的控制圖圖適用范圍圍廣：X圖：X正態(tài)X正態(tài)X非正態(tài)近似正正態(tài)（中中心極限限定理）中心極限限定理使使得X圖廣為應(yīng)應(yīng)用。R圖通過計算算機(jī)上的的模擬試試驗證實實：只要要X不是非常常不對稱稱，則R的分布無無大的變變化。36X-R控控制圖靈敏度高高X圖：X通過平均均R圖：無此此優(yōu)點(diǎn)偶因至少少可以部部分抵消消（偶因反反映在上）異因不變變靈敏度高高異因突出出37X圖的控

7、控制線設(shè)過程正正常，xN(，2)則可證明明XN(，2/n)，n為樣本大大小若、已知，則X圖的控制制線為UCL=CLLCL38若、未未知，則則需對其其進(jìn)行估估計，即即39A.收集集數(shù)據(jù)A1選擇子組組大小、頻率和和數(shù)據(jù)A2建立控制制圖及記記錄原始始數(shù)據(jù)A3計算每個個子組的的均值（X）和極差差（R）A4選擇控制制圖的刻刻度A5將均值和和極差畫畫到控制制圖上40A1選擇擇子組大大小、頻頻率和數(shù)數(shù)據(jù)子組大小小使各樣本本之間出出現(xiàn)變差差的機(jī)會會小在過程的的初期研研究中，子組一一般由45件連續(xù)生生產(chǎn)的產(chǎn)產(chǎn)品的組組合，僅僅代表一一個單一一的過程程流。子組頻率率在過程的的初期研研究中，通常是是連續(xù)進(jìn)進(jìn)行分組組或

8、很短短的時間間間隔進(jìn)進(jìn)行分組組過程穩(wěn)定定后，子子組間的的時間間間隔可以以增加。子組數(shù)的的大小一般100個單值讀讀數(shù)，25個子組4142A2建立控制制圖及記記錄原始始數(shù)據(jù)X-R圖通常是是將X圖畫在R圖之上方方，下面面再接一一個數(shù)據(jù)據(jù)欄。X和R的值為縱縱坐標(biāo)，按時間間先后的的子組為為橫坐標(biāo)標(biāo)。數(shù)據(jù)據(jù)值以及及極差和和均值點(diǎn)點(diǎn)應(yīng)縱向向?qū)R。數(shù)據(jù)欄應(yīng)應(yīng)包括每每個讀數(shù)數(shù)的空間間。同時時還應(yīng)包包括記錄錄讀數(shù)的的和、均均值（X）、極差差（R）以及日日期/時間或其其他識別別子組的的代碼的的空間。43A3計算每個個子組的的極差和和均值畫在控制制圖上的的特性量量是每個個子組的的樣本均均值（X）和樣本本極差（R），合在在一起后后它們分分別反映映整個過過程的均均值及其其變差。對每個子子組，計計算：式中：X1，X2為子組內(nèi)內(nèi)的每個個測量值值。N為子組的的樣本容容量。4445A4選擇控制制圖的刻刻度兩個控制制圖的縱縱坐標(biāo)分分別用于于X和R的測量值值。X圖：坐標(biāo)標(biāo)上的刻刻度值的的最大值值與最小小值之差差應(yīng)至少少為子組組均值勤勤（X）的最大大值與最最小值差差的2倍。R圖：刻度度值應(yīng)從從最低值值為0開始到最最大值之之間的差差值為初初始階段段所遇到到的最大大極差（R）的2倍。46A5將均值和和極差畫畫到控制制圖上將均值和和極差分分別畫在在其各自自的圖上上。該工工作在確確定了刻刻